KR101950011B1 - 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템에 관한 것으로, 자동시험장비에 탑재되는 스위칭 장치를 구성하는 회로카드 조립체들에 대해 개별적으로 성능 시험을 실시하는 시험 장비, 상기 회로카드 조립체들 중 선택된 시험대상 회로카드 조립체의 성능 시험을 제어하는 제어 단말, 및 상기 제어 단말의 제어에 따라 상기 시험 장비의 입출력 데이터를 측정하여 측정 데이터를 전송하는 계측자원을 포함한다.

Description

자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템{SYSTEM FOR TESTING SWITCHING DEVICE IN AUTOMATIC TEST EQUIPMENT}

본 발명은 자동시험장비 내 탑재되는 스위칭 장치의 성능을 검증하기 위한 검증 시스템에 관한 것이다.

군 야전에서 사용하는 자동시험장비(Automatic Test Equipment, ATE)는 신호공급용 계측자원을 이용하여 시험대상품에 필요한 신호를 생성 및 공급하고, 시험대상품에서 출력되는 신호를 신호측정용 계측자원에 연결하여 측정 후 시험결과를 판단한다. 자동으로 이러한 시험을 수행하려면 신호 종류가 상이한 다수의 시험대상과 ATE 사이에서 적절하게 연결을 제어해주는 기능이 필요하며 ATE에 탑재된 스위칭 장치가 이러한 역할을 한다. 스위칭 장치는 모체기판(MB)를 기준으로 스위칭제어보드(Switching Control Board, SCB), 채널스위칭보드(Channel Switching Board, CSB), 디지털인터페이스보드(Digital Interface Board, DIB), 추가형인터페이스보드(Optional Interface Board, OIB), 전원변환모듈(AC/DC), 송풍팬(FAN)으로 구성된다.

시험대상품(Unit Under Test, UUT)을 시험하기 위해서 ATE는 기본적으로 자체진단 기능을 가지며 내장된 기능에 의한 BIT(Built-In Test)와 입출력 신호의 경로 확인을 통해 정상여부를 판단한다. 자체진단을 수행하기 위한 핵심적인 기능은 대부분 스위칭 장치에 탑재되어 있으며, 스위칭 장치의 정상여부에 따라 자체진단 시험에 대한 신뢰성에 상당한 영향을 준다.

일반적으로 스위칭 장치의 정상여부를 확인하기 위해서는 ATE에 탑재된 상태에서 자체진단 시험을 수행하여야 하며 반드시 모든 계측자원이 ATE에 구성되어 있어야하기 때문에 문제 해결을 위한 많은 제약사항이 있다. 이는 스위칭 장치 검증에 대한 효율성을 떨어뜨리는 결과를 초래한다.

KR 10228378 B1 KR 101618722 B1

본 발명은 자동시험장비에 탑재되는 스위칭 장치 내 회로카드 조립체들에 대한 보드 단위 성능 검증이 가능하도록 하는 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템을 제공하고자 한다.

상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시 예에 따른 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템은 자동시험장비에 탑재되는 스위칭 장치를 구성하는 회로카드 조립체들에 대해 개별적으로 성능 시험을 실시하는 시험 장비, 상기 회로카드 조립체들 중 선택된 시험대상 회로카드 조립체의 성능 시험을 제어하는 제어 단말, 및 상기 제어 단말의 제어에 따라 상기 시험 장비의 입출력 데이터를 측정하여 측정 데이터를 전송하는 계측자원을 포함한다.

상기 시험대상 회로카드 조립체는, 스위칭 제어 보드, 채널 스위칭 보드, 디지털 인터페이스 보드 및 추가형 인터페이스 보드 중 어느 하나의 보드인 것을 특징으로 한다.

상기 시험 장비는, 적어도 하나 이상의 기준 회로카드 조립체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 적어도 하나 이상의 기준 회로카드 조립체는, 기검증된 스위칭 제어 보드, 채널 스위칭 보드 및 디지털 인터페이스 보드를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 시험 장비는, 상기 기검증된 기준 회로카드 조립체를 통해 상기 시험대상 회로카드 조립체에 대한 성능 시험을 수행하는 것을 특징으로 한다.

상기 제어 단말은, 스위칭 제어 보드를 직접 제어하여 통신 상태를 점검하는 것을 특징으로 한다.

상기 스위칭 제어 보드는, 상기 제어 단말의 제어에 따라 내부 로직에 대한 자체진단 기능을 수행하는 것을 특징으로 한다.

상기 제어 단말은, 상기 계측자원을 이용하여 측정한 측정값을 토대로 외부 리시버와 연결되는 스위칭 제어 보드의 릴레이와 계측자원 경로의 정상여부를 확인하는 것을 특징으로 한다.

상기 제어 단말은, 상기 계측자원의 측정값에 근거하여 채널 스위칭 보드의 내외부 경로에 대한 정상여부를 확인하는 것을 특징으로 한다.

상기 제어 단말은, 디지털 인터페이스 보드를 제어하여 환경 파일을 다운로드하여 채널별 쓰기 및 읽기 기능을 점검하는 것을 특징으로 한다.

상기 제어 단말은, 채널간 루프백을 통해 상기 디지털 인터페이스 보드의 외부 리시버로 연결되는 경로의 이상유무를 점검하는 것을 특징으로 한다.

상기 제어 단말은, 상기 계측자원을 통해 추가형 인터페이스 보드에서 출력되는 링신호 출력값을 측정하고 측정된 링신호 출력값을 토대로 상기 추가형 인터페이스 보드의 이상유무를 확인하는 것을 특징으로 한다.

한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 시험 장비는, 제어 단말과의 통신을 위한 통신 포트, 계측자원과의 연결을 위한 측정 포트, 시험대상 회로카드 조립체를 장착하기 위한 복수 개의 슬롯, 및 상기 통신 포트, 상기 측정 포트 및 상기 복수 개의 슬롯에 연결되고 기준 회로카드 조립체를 구비하는 모체기판을 포함하고, 상기 제어 단말의 제어에 따라 상기 기준 회로카드 조립체를 통해 상기 시험대상 회로카드 조립체의 성능 점검을 실시하는 것을 특징으로 한다.

상기 복수 개의 슬롯은, GA(Geographical Address) 신호에 의해 구분되는 것을 특징으로 한다.

상기 시험대상 회로카드 조립체는, 상기 복수 개의 슬롯 중 지정된 슬롯에 장착되는 것을 특징으로 한다.

본 발명은 자동시험장비에 탑재되는 스위칭 장치 내 회로카드 조립체들에 대한 보드 단위 성능 검증이 가능하게 한다. 따라서, 스위칭 장치 검증에 대한 효율성을 개선할 수 있다.

도 1은 본 발명과 관련된 스위칭 장치의 블록구성도.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템을 도시한 블록구성도.
도 3은 도 2에 도시된 슬롯 구성을 설명하기 위한 도면.
도 4는 도 2에 도시된 제어 단말의 제어 프로그램 실행화면을 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 시험 장비의 외관을 도시한 도면.
도 6은 본 발명에 따른 스위칭 제어 보드의 릴레이 동작 시험을 위한 시험케이블의 연결 구성을 도시한 도면.
도 7은 외부 리시버(RCV)로 연결되는 경로에 대한 루프백 시험의 연결 구성을 도시한 도면.
도 8은 본 발명에 따른 회로카드 조립체의 부품 단위 시험을 설명하기 위한 도면.

이하, 본 발명의 일부 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.

본 발명의 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 또한, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가진 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.

도 1은 본 발명과 관련된 스위칭 장치의 블록구성도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 자동시험장비(ATE)에 탑재되는 스위칭 장치(Switching Device)(10)는 모체기판(Mother Board, MB)(11), 스위칭 제어 보드(Switching Contorl Board, SCB)(12), 채널 스위칭 보드(Channel Switching Board, CSB)(13), 디지털 인터페이스 보드(Digital Interface Board, DIB)(14), 추가형 인터페이스 보드(Optional Interface Board, OIB)(15), 전원변환모듈(AC/DC converter)(16) 및 송풍팬(17)을 포함한다. 각 보드(12 내지 15)는 모체기판(11)에 마련된 지정 슬롯(slot)에 각각 장착된다. 각 보드(12 내지 15)는 요구되는 경로를 제공하고 필요로 하는 디지털 신호를 생성한다. 이러한 각 보드(12 내지 15)는 회로카드 조립체(circuit card assembly) 형태로 구현될 수 있다.

스위칭 장치(10)에는 상용전원(220V/60Hz)(20), 제어단말(30) 및 계측자원(measurement resources)(40) 등이 연결된다. 스위칭 장치(10)는 리시버(RCV), 시험치구 및 케이블과 같은 접속장치(interface device)를 통해 피시험대상과 연결된다. 전원변환모듈(16)은 상용전원(20)을 입력받아 직류전원으로 변환하여 모체기판(11)을 통해 스위칭 장치(10)의 각 구성요소로 공급한다.

스위칭 장치(10)의 불량은 회로카드 조립체 즉, 스위칭 제어 보드(12), 채널 스위칭 보드(13), 디지털 인터페이스 보드(14) 및 추가형 인터페이스 보드(15)에서 대부분 발생한다. 이러한 불량은 개별 보드(회로카드 조립체)의 성능검증을 통해 문제해결이 가능하다. 이에, 본 명세서에서는 4종(SCB, CSB, DIB 및 OIB)의 회로카드 조립체에 대한 보드 단위 시험이 가능하도록 하는 방안을 제안한다.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템을 도시한 블록구성도이고, 도 3은 도 2에 도시된 슬롯 구성을 설명하기 위한 도면이다.

도 2를 참조하면, 검증 시스템은 시험 장비(100), 제어 단말(200) 및 계측자원(300)를 포함한다. 시험 장비(100)는 제어 단말(200)과 TCP/IP (Transmission Control Protocol/Internet Protocol) 통신을 통해 연결된다. 또한, 시험 장비(100)는 USB(Universal Serial Bus) 케이블 등의 접속장치를 통해 계측자원(300)와 연결된다.

시험 장비(100)는 제어 단말(200)의 제어에 따라 기준 회로카드 조립체를 통해 시험대상 회로카드 조립체의 성능 검증을 실시한다. 이러한 시험 장비(100)는 모체기판(110)을 기준으로 통신 포트(120), 복수 개의 슬롯(130), 측정 포트(140), 전력변환모듈(AC/DC Converter)(150) 및 송풍팬(160)를 포함한다. 시험 장비(100)는 기존 스위칭 장치(10)의 기구적인 부분을 유지하되 불필요한 부분을 제거하고 사용자 편의성을 고려하여 시험이 가능하도록 설계되었다.

통신 포트(120)는 제어 단말(200)과 연결하기 위한 것이다. 시험 장비(100)는 통신 포트(120)를 통해 제어 단말(200)과 연결되어 TCP/IP 통신을 수행한다.

복수 개의 슬롯(130)는 적어도 하나 이상의 시험대상 회로카드 조립체 및 적어도 하나 이상의 기준 회로카드 조립체를 장착하기 위한 것이다. 각 슬롯(S1 내지 S5)에는 지정된 회로카드 조립체가 장착될 수 있다. 예컨대, 도 3에 도시된 바와 같이, 제1슬롯(S1)에는 스위칭 제어 보드, 제2슬롯(S2)에는 디지털 인터페이스 보드, 제3슬롯(S3)에는 디지털 인터페이스 보드 또는 채널 스위칭 보드, 제4슬롯(S4)에는 채널 스위칭 보드, 제5슬롯(S5)에는 추가형 인터페이스 보드가 장착될 수 있다. 각 슬롯(S1 내지 S5)은 GA(Geographical Address) 신호를 통해 구분된다.

측정 포트(140)는 계측 자원(300)과 연결하기 위한 연결 수단이다. 즉, 시험 장비(100)는 측정 포트(140)를 통해 계측 자원(300)에서 측정된 측정 데이터를 수신한다.

전력변환모듈(150)은 상용전원을 인가받아 직류전원(DC power)로 변환한다. 전력변환모듈(150)는 변환된 직류전원을 모체기판(110)를 통해 시험 장비(100) 내 각 구성요소로 공급한다.

송풍팬(160)은 시험 장비(100)의 발열을 냉각시키는 역할을 한다. 송풍팬(160)은 작동에 필요한 전원을 전력변화모듈(150)로부터 직접 공급받는다.

제어 단말(200)은 시험 장비(100)에 장착된 시험대상 회로카드 조립체의 성능 검증을 제어한다. 시험대상 회로카드 조립체는 스위칭 제어 보드, 채널 스위칭 보드, 디지털 인터페이스 보드 및 추가형 인터페이스 보드 중 어느 하나의 보드이다. 제어 단말(200)은 사용자 인터페이스(미도시)를 통해 입력되는 입력 데이터에 근거하여 시험대상 회로카드 조립체에 대한 시험 항목(test items)을 선택한다. 제어 단말(200)는 시험 장비(100)를 제어하여 선택된 시험 항목별 시험(검증)을 수행한다. 제어 단말(200)는 시험결과를 디스플레이 화면에 표시하여 사용자가 확인할 수 있게 한다.

제어 단말(200)은 컴퓨팅 시스템으로, 적어도 하나 이상의 프로세서, 메모리, 사용자 인터페이스, 출력 장치, 및 네트워크 인터페이스 등을 포함한다. 프로세서는 중앙 처리 장치(CPU) 또는 메모리 및/또는 스토리지에 저장된 명령어들에 대한 처리를 실행하는 반도체 장치일 수 있다. 메모리 및 스토리지는 다양한 종류의 휘발성 또는 비휘발성 저장 매체를 포함할 수 있다. 예를 들어, 메모리는 ROM(Read Only Memory) 및 RAM(Random Access Memory)을 포함할 수 있다.

계측자원(300)은 측정 포트(140)를 통해 시험 장비(100)에 연결되고 외부 입출력 신호를 측정한다. 계측자원(300)은 측정된 측정값을 시험 장비(100)로 전송한다. 여기서, 계측자원(300)으로는 디지털 멀티미터(Digital Multi-Meter, DMM) 등이 이용될 수 있다.

이하, 시험대상 회로카드 조립체의 성능 검증 방법을 구체적으로 설명한다.

제어 단말(200)은 TCP/IP 통신을 통해 스위칭 제어 보드(SCB)를 직접 제어한다. 제어 단말(200)는 스위칭 제어 보드(SCB)를 통해 채널 스위칭 보드(CSB), 디지털 인터페이스 보드(DIB) 및 추가형 인터페이스 보드(OIB)를 제어한다.

제어 단말(200)은 시험대상 회로카드 조립체에 따라 시험항목별 성능시험을 제어한다. 회로카드 조립체별 시험항목은 다음 [표 1]과 같다.

제어 단말(200)은 스위칭 제어 보드(SCB)와의 TCP/IP 통신 상태를 점검한다. 스위칭 제어 보드(SCB)는 정의된 명령에 의해 내부 로직에 대한 자체진단 기능을 수행한다(CPLD test). 제어 단말(200)은 디지털 멀티미터(300)를 이용하여 측정한 측정값을 토대로 외부 리시버(RCV)와 연결되는 스위칭 제어 보드(SCB)의 릴레이와 계측자원 경로의 정상여부를 확인한다.

채널 스위칭 보드(CSB)는 4개의 하이웨이(Highway)와 96개의 채널이 스위치와 릴레이를 통하여 연결 또는 분리되는 구조를 가진다. 채널 스위칭 보드(CSB)는 스위칭 제어 보드(SCB)와 연결되는 로컬버스 신호를 통해 제어된다. 제어 단말(200)은 디지털 멀티미터(300)의 측정값에 근거하여 채널 스위칭 보드(CSB)의 4＊96채널의 내외부 경로에 대한 정상여부를 확인한다.

디지털 인터페이스 보드(DIB)는 스위칭 제어 보드(SCB)의 제어에 따라 필요한 디지털 신호를 FPGA에 다운로드하는 기능과 방향설정이 가능한 96채널의 디지털 입출력 신호로 설계되어 있다. 디지털 인터페이스 보드(DIB)는 제어 단말(200)의 제어에 따라 기본적인 환경(Configuration) 파일을 FPGA에 다운로드하여 채널마다 쓰기(Write) 및 읽기(Read) 기능을 점검한다. 디지털 인터페이스 보드(DIB)의 외부 리시버(RCV)로 연결되는 경로는 채널간 루프백(loopback)을 통해 이상유무를 점검한다.

추가형 인터페이스 보드(OIB)는 스위칭 제어 보드(SCB)의 제어에 따라 전용신호인 링신호를 생성하고 출력한다. 디지털 멀티미터(300)로 추가형 인터페이스 보드(OIB)에서 ON/OFF 하는 링신호 출력값을 측정한다. 제어 단말(200)는 측정된 링신호 출력값을 토대로 추가형 인터페이스 보드(OIB)의 이상유무를 확인한다.

시험 장비(100)는 회로카드 조립체의 정상적인 성능시험을 위해 검증된 기준 회로카드 조립체를 통해 시험대상 회로카드 조립체가 실제 운용과 동일한 조건에서 동작하게 한다. 따라서, 본 발명에 따른 시험 장비(100)는 실제 운용과 동일한 조건에서 시험대상 회로카드 조립체의 성능 시험을 가능하게 한다.

회로카드 조립체의 성능시험을 위해서는 시험 장비(100)의 슬롯들(130)에 시험대상 회로카드 조립체 및 기준 회로카드 조립체를 장착해야 한다. 다음 [표 2]에 도시된 바와 같이, 시험대상 회로카드 조립체에 따라 요구되는 기준 회로카드 조립체를 시험 장치(100)의 지정된 슬롯에 장착시킨다.

모체기판(110)은 5개의 슬롯(S1 내지 S5)을 포함한다. 각 슬롯(S1 내지 S5)은 GA 신호를 통해 구분되고 지정된 회로카드 조립체가 장착된다. 스위칭 장치(100)에서 회로카드 조립체가 장착되는 슬롯(S1 내지 S5)의 GA신호를 적용하여 ATE 본체에서와 동일한 시험 조건을 갖도록 하였다. 외부 계측자원(300)과 연결되는 모체기판 경로에는 저항을 배치하여 측정이 가능하게 한다.

시험케이블은 제어 단말(200)과 시험 장비(100) 간의 통신연결과 시험 장비(100)의 전원공급 이외에 ATE본체에서 사용하는 자체진단 치구를 대체하는 역할을 한다. 자체진단 치구는 채널 루프백 시험을 위한 경로 제공, 스위칭 장치(100)와 리시버(RCV)로 이어지는 경로에 대한 측정경로 등을 제공한다. 이러한 자체진단 치구는 시험케이블로 대체 가능하고 루프백 케이블 및 회로카드 조립체간 연결 케이블 등을 포함한다. 케이블의 피복은 회로카드 조립체 상부에서의 연결 편의성을 고려하여 익스펜더 튜브를 적용하였다. 루프백 케이블은 DIB와 CSB에 공용으로 사용할 수 있다. DIB와 CSB 전면 커넥터의 신호를 분석하여 하나의 케이블로 루프백 시험이 가능하도록 하였다.

시험 장비(100)는 회로카드 조립체에 펌웨어를 다운로딩하고 보다 정밀한 측정을 위해 VME(Versa Module Europa) 확장카드를 포함한다. 따라서, 시험 장비(100)는 회로카드 조립체의 부품 단위 고장유무도 점검할 수 있다.

본 실시 예에서는 기준 회로카드 조립체가 별도로 구성되어 시험 장비(100)에 마련된 지정 슬롯에 장착하는 것으로 설명하고 있으나, 시험 장비(100)의 본체 내부에 기준 회로카드 조립체가 탑재되도록 구현될 수도 있다.

도 4는 도 2에 도시된 제어 단말의 제어 프로그램 실행화면을 도시한다.

제어 단말(200)은 메모리에 기저장된 제어 프로그램을 통해 시험 장비(100)의 제어, 시험 수행 및 시험 결과를 확인한다. 제어 단말(200)이 제어 프로그램을 실행하면, 실행화면을 디스플레이 화면에 표시한다. 실행화면은 시험대상품 선택영역(R1), 점검항목 선택영역(R2) 및 시험결과 표시영역(R3)으로 구분된다.

시험대상품 선택영역(R1)은 트리 형태의 회로카드 조립체 목록에서 어느 하나의 회로카드 조립체이 선택되면 현재 선택된 시험대상을 표시한다. 점검항목 선택영역(R2)은 시험대상 선택에 따른 점검항목(시험항목)을 나열하고, 항목별 시험상태를 표시한다. 점검항목는 전체 또는 개별로 선택이 가능하다. 시험결과 표시영역(R3)은 시험항목에 대한 세부 시험항목과 측정결과에 따른 시험결과를 표시한다.

제어 단말(200)은 회로카드 조립체의 전반적인 성능시험 이외에도 고장빈도가 상대적으로 높은 릴레이에 대한 부품단위 시험이 가능하다. 회로카드 조립체 단위 성능시험에서 릴레이와 관련된 불량이 발생한 경우 해당 릴레이에 대한 정보와 측정치를 팝업창을 통해 화면에 표시한다. 팝업된 정보를 참고하여 해당 회로카드 조립체를 VME 확장카드에 장착 후, 제어 단말(200)의 제어 프로그램을 통해 릴레이를 ON/OFF 동작시킨다. 디지털 멀티미터(300)로 릴레이 동작에 따른 접점 저항값을 측정하여 불량이 의심되는 릴레이에 대한 직접적인 시험을 수행한다.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 시험 장비의 외관을 도시한 도면이다.

시험 장비(100)의 상부에는 슬롯(130)에 장착하기 위해 회로카드 조립체를 삽입하는 삽입구(E)가 형성된다. 통신 포트(LAN 포트)(120)와 측정 포트(DMM 포트)(130)는 모체기판(110)과의 연결이 용이하도록 시험 장비(100)의 하부에 배치된다. 시험 장비(100) 본체 내부의 공기가 순환될 수 있도록 시험 장비(100)의 외측면에 흡기구(I)를 형성한다. 시험 장치(100)의 상부 보호 및 오염 방지를 위해 상부 덮개를 배치된다. 시험장비 본체 상부에는 모체기판(110)을 통해 회로카드 조립체로 공급되는 5V, 12V, 15V, 48V DC전원의 상태 확인을 위한 발광소자(LED)가 배치된다.

도 6은 본 발명에 따른 스위칭 제어 보드의 릴레이 동작 시험을 위한 시험케이블의 연결 구성을 도시한 도면이고, 도 7은 외부 리시버(RCV)로 연결되는 경로에 대한 루프백 시험의 연결 구성을 도시한다.

ATE 본체에 장착된 상태에서 수행하는 자체진단 시험과 동일한 수준의 성능 시험이 가능하고, 험 대상인 회로카드 조립체 4종에 대해 [표 1]에서 제시한 성능 시험 항목을 시험할 수 있다.

도 8은 본 발명에 따른 회로카드 조립체의 부품 단위 시험을 설명하기 위한 도면이다.

도 8에 도시된 바와 같이, 회로카드 조립체를 구성하는 릴레이에 대한 부품 단위 시험은 직접적인 측정이 가능하다. 제어 단말(200)이 릴레이 동작 시험에 대한 불량이 발생하면 해당 시험 결과를 팝업으로 표시한다. 이때, 시험 결과는 불량이 발생한 릴레이의 번호와 측정 위치, 측정값 등을 포함한다.

불량이 발생한 회로카드 조립체를 VME 확장카드에 장착하고, 제어 단말(200)은 불량 릴레이 정보가 입력되면 릴레이의 ON/OFF 동작에 따라 디지털 멀티미터(300)를 활용하여 직접적인 측정한다.

이와 같은 시험은 최초 제작된 회로카드 조립체의 납땜 불량 또는 소자 자체의 불량에 대한 고장배제를 가능하게 하며 회로카드 조립체의 검증 시간을 단축시킨다.

시험 장비의 보관 및 이동 편의성을 확보하기 위해 견고화 케이스를 적용하며, 각 구성품의 크기에 맞게 내부 폼을 설계하여 보관을 용이하게 한다. 견고화 케이스 외부에 장착된 바퀴는 이동시 캐리어와 같은 타입으로 이동이 가능하여 시험장비의 무게 부담을 줄여 준다.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

100: 시험 장비
110: 모체기판
120: 통신 포트
130: 슬롯들
140: 측정 포트
150: 전력변환모듈
200: 제어 단말
300: 계측자원

Claims (15)

1. 자동시험장비에 탑재되는 스위칭 장치를 구성하는 회로카드 조립체들에 대해 개별적으로 성능 시험을 실시하는 시험 장비,
   상기 회로카드 조립체들 중 선택된 시험대상 회로카드 조립체의 성능 시험을 제어하는 제어 단말, 및
   상기 제어 단말의 제어에 따라 상기 시험 장비의 입출력 데이터를 측정하여 측정 데이터를 전송하는 계측자원을 포함하되,
   상기 시험대상 회로카드 조립체는,
   스위칭 제어 보드, 채널 스위칭 보드, 디지털 인터페이스 보드 및 추가형 인터페이스 보드 중 어느 하나의 보드인 것을 특징으로 하되,
   상기 시험 장비는,
   적어도 하나 이상의 기준 회로카드 조립체를 포함하되,
   상기 적어도 하나 이상의 기준 회로카드 조립체는,
   기검증된 스위칭 제어 보드, 채널 스위칭 보드 및 디지털 인터페이스 보드를 포함하되,
   상기 시험 장비는,
   상기 기검증된 기준 회로카드 조립체를 통해 상기 시험대상 회로카드 조립체에 대한 성능 시험을 수행하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
   
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6. 제1항에 있어서,
   상기 제어 단말은,
   스위칭 제어 보드를 직접 제어하여 통신 상태를 점검하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
   
7. 제6항에 있어서,
   상기 스위칭 제어 보드는,
   상기 제어 단말의 제어에 따라 내부 로직에 대한 자체진단 기능을 수행하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
   
8. 제1항에 있어서,
   상기 제어 단말은,
   상기 계측자원을 이용하여 측정한 측정값을 토대로 외부 리시버와 연결되는 스위칭 제어 보드의 릴레이와 계측자원 경로의 정상여부를 확인하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
   
9. 제1항에 있어서,
   상기 제어 단말은,
   상기 계측자원의 측정값에 근거하여 채널 스위칭 보드의 내외부 경로에 대한 정상여부를 확인하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
   
10. 제1항에 있어서,
    상기 제어 단말은,
    디지털 인터페이스 보드를 제어하여 환경 파일을 다운로드하여 채널별 쓰기 및 읽기 기능을 점검하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
    
11. 제10항에 있어서,
    상기 제어 단말은,
    채널간 루프백을 통해 상기 디지털 인터페이스 보드의 외부 리시버로 연결되는 경로의 이상유무를 점검하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
    
12. 제1항에 있어서,
    상기 제어 단말은,
    상기 계측자원을 통해 추가형 인터페이스 보드에서 출력되는 링신호 출력값을 측정하고 측정된 링신호 출력값을 토대로 상기 추가형 인터페이스 보드의 이상유무를 확인하는 것을 특징으로 하는 검증 시스템.
    
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