KR20170135140A - 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 검사 대상 부품에 따라 표준화된 테스트 모듈들을 조합하여 검사를 위한 회로를 구성하여 검사 품질을 높일 수 있도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치에 관한 것으로, 입출력 인터페이스를 통하여 표준화된 검사를 진행하기 위한 프로그램을 탑재하고 있는 컴퓨터 시스템과 연결되고, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈들이 결합되는 다수 개의 슬롯을 구비하고 검사 장치 본체 케이스 내부에 구성되는 베이스보드;검사를 위한 제어 로직 회로가 구성되고 카드 형태로 이루어져 베이스보드의 포트에 결합되는 입출력 단자를 갖는 표준화 테스트 모듈;상기 베이스보드를 통하여 표준화 테스트 모듈과 연결되고, P/WDW 유닛에 연결되어 검사 진행시에 내부 전환 및 제어를 수행하는 내부 전환 및 제어부 회로부;로직 인터페이스를 통하여 표준화 테스트 모듈과 연결되어 검사 대상이 되는 제품이 연결되는 제품 구동용 지그를 제어하는 지그 제어부;를 포함하는 것이다.

Description

표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치{Inspection apparatus using a variable combination of standardized test modules}
본 발명은 부품 검사 장치에 관한 것으로, 구체적으로 검사 대상 부품에 따라 표준화된 테스트 모듈들을 조합하여 검사를 위한 회로를 구성하여 검사 품질을 높일 수 있도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치에 관한 것이다.
최근 세계경제의 디지털화 및 지식정보화가 급속히 진행됨에 따라 세계 전자산업의 경쟁구도가 조립완제품에서 부품 중심으로 전환되면서 부품이 신기술신제품 창출의 원천이 되고 있으며 이 부문의 기술혁신이 전자산업 전체의 경쟁력을 좌우하고 있다.
전자부품산업의 경쟁력을 제고하기 위해서는 기존 핵심부품을 국산화하고 차세대 핵심부품을 개발하는 한편, 부품의 신뢰성 및 표준화를 제고하여야 하며 기업의 전문화가 필요하다.
기업의 품질 관리에서 품질특성에 대한 규격의 결정과 사용은 절대적이며 항구적인 것이 아니라 고객의 요구수준에 따라 변화하게 된다. 규격의 요구에 만족하는 제품을 양품이라고 하며 그러하지 못한 제품을 불량품이라고 한다.
일반적으로 전자부품 검사장비는 PCB나 FPCB 등의 전자부품의 성능을 검사할 수 있는 장비로서, 검사 대상인 전자부품에 직접 접촉되는 진단 장치를 이용하여 테스트 신호를 인가하여 검출된 신호를 설정된 범위와 비교하여 전자부품의 성능이 정상인지 또는 불량인지를 판단할 수 있다.
특히, 자동차 전장 시장의 확대로 다변화된 수많은 자동차 전장 부품의 효율적인 검사가 요구되고 있다.
도 1은 종래 기술의 부품 검사 장치의 구성도이다.
종래 기술의 부품 검사 장치는 크게 서브 컨트롤 박스(10), 컴퓨터 시스템(13), P/WDW 유닛(14), 제품 구동용 지그(15)를 포함한다.
서브 컨트롤 박스(10)는 검사 대상 제품 전용으로 제작된 제품 검사 보드(11)들이 내부 배선(12)에 의해 연결되어 검사 회로를 구성하고, 쇼트 검사를 수행하는 쇼트 검사 로직부(16)와, 신호 제어 및 전압, 전류 측정을 위한 제품 전원 및 측정용 전원 공급 장치(18), 쇼트 검사 및 신호 제어 및 전압, 전류 측정시의 회로 절환을 위해 릴레이로 구성되는 회로 전환부(17)가 구성된다.
I/O 카드, A/DC 카드, D/AC 카드, COMM(CAN/LIN) 카드를 구비하는 컴퓨터 시스템(13)이 검사 대상 제품 전용으로 제작된 제품 검사 보드(11)들과 시리얼 케이블을 통하여 연결된다.
이와 같은 구조의 종래 기술의 부품 검사 장치는 검사 대상이 되는 제품에 따라 전용 보드를 제작하여 사용하는 것으로 검사 회로가 고정되는 형태이다.
전용 검사 또는 구동 회로의 사용으로 불량 발생시 대응이 늦고, 검사 회로 구성을 위하여 내부 배선으로 고정 형태로 회로를 구성하므로 회로별 연결 방식이 상이하고, 검사기 내부 중앙에 부품이 배치되는 관계로 연결 구조상 복잡성을 갖는다.
특히, 내부 배선으로 고정 형태로 회로를 구성하여 수리 및 교체시 회로 검토 시간 발생하고, 설비 수리 시간의 장기화 및 검사기 내부 부품의 교체시 검사기 해체 후 분해 및 조립 과정 필요하다.
이와 같은 종래 기술의 구조는 손상 부분의 교체 및 수리시에 추가 불량 발생의 가능성이 있어 비효율적이다.
이와 같이 종래 기술의 검사 장치는 검사 제품의 종류 및 검사 방식에 따라 특화되어 있는 측정 회로 및 구동 회로 개별 구성하여 적용하기 때문에 다음과 같은 문제가 있다.
검사 대상이 되는 제품에 따라 그에 특화된 검사 설비 및 시스템을 반드시 구축하여야 하므로, 제품의 업그레이드 등의 변수가 발생하는 경우에는 업그레이드 형태에 따라 다시 검사 설비 및 시스템을 재구축하여야 하므로 제품 업그레이드 등의 일부 사양 변경에 효율적으로 대응하는 것이 어렵다.
즉, 다양한 형태의 업그레이드 제품 적용시 회로 전체의 재구성 및 수정 사항이 많고, 검사 대상이 되는 제품을 위한 검사 설비 및 시스템이 고정된 형태이므로 유지 보수 등 설비 문제 발생시 즉각 대응이 어렵다.
특히, 구성 부품의 적용 방식에 따라 단락 및 과전압 등 회로 보호 기능 등의 구성이 일률적이지 않고, 검출 방식이 표준화되어 있지 않은 관계로 균일한 검사 품질 확보가 어렵다.
또한, 제품 검사 진행을 위한 제어 단계에서의 검사 및 제어 방식이 표준화되어 있지 않고, 규격화되어 있지 않은 제어 시스템의 사용으로 다수 설비 사용시 사용자 및 운용자에게 혼란을 야기하는 문제가 있다.
따라서, 검사 대상이 되는 제품에 따라 검사 설비 및 시스템의 구축이 용이하고, 검사를 위한 회로 구성이 용이한 새로운 방식의 검사 장치의 개발이 요구되고 있다.
대한민국 공개특허 제10-2015-0069852호 대한민국 공개특허 제10-2015-0007535호
본 발명은 이와 같은 종래 기술의 부품 검사 장치의 문제를 해결하기 위한 것으로, 검사 대상 부품에 따라 표준화된 테스트 모듈들을 조합하여 검사를 위한 회로를 구성하여 검사 품질을 높일 수 있도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 표준 및 공용화된 검사 시스템의 구축으로 균일한 검사 품질을 확보하고, 설비 운용 방법 및 검사 방법의 표준화로 사용자의 편의성을 높인 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 제품의 업그레이드 등의 변수가 발생하는 경우에는 업그레이드 형태에 따라 카드 형태를 갖는 표준화 테스트 모듈들을 조합하여 검사 장치 본체의 베이스 보드에 장착하는 것에 의해 검사 제품의 사양 변경에 효율적으로 대응할 수 있도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 P/WDW 검사기 제작시 사용되는 계측 회로 및 프로그램을 공용화 및 표준화하여 검사기 제작 비용을 절감하고 시간 단축 및 유지 보수 등에 대한 대응을 신속하게 할 수 있도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 설비 제작시 사용되는 부품 및 검출 회로를 신뢰성 있는 표준 회로를 사용하여 제작하고, 운용 프로그램의 경우 검사 적용 관련 정보를 사용자 환경에서 직접 작성할 수 있는 방식으로 검사의 신뢰성 확보 및 설비 회로 변경 및 검사 항목 변경에 보다 신속하게 대응할 수 있도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 검사기 적용하는 테스트 모듈 카드의 임의 위치 접속 및 해체 방식으로 제품 컨셉에 맞게 임의 변경 가능한 구조를 갖고 테스트 모듈 카드의 탈부착이 용이한 검사 시스템의 구축이 가능하도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 검사 장치의 본체 케이스에 테스트 모듈 카드의 장착 및 탈착이 용하도록 슬라이드 마운트 형태의 슬롯을 다수개 구성하여 검사를 위한 회로 전체의 재구성 및 수정 사항의 적용이 용이하도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 구성 부품의 적용 방식에 따라 달라지는 단락 및 과전압 등 회로 보호 기능 등의 구성을 표준화하고 검출 방식을 표준화하여 균일한 검사 품질 확보가 가능하도록 한 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 입출력 인터페이스를 통하여 표준화된 검사를 진행하기 위한 프로그램을 탑재하고 있는 컴퓨터 시스템과 연결되고, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈들이 결합되는 다수 개의 슬롯을 구비하고 검사 장치 본체 케이스 내부에 구성되는 베이스보드;검사를 위한 제어 로직 회로가 구성되고 카드 형태로 이루어져 베이스보드의 포트에 결합되는 입출력 단자를 갖고 검사 대상 제품에 따라 서로 다르게 조합되어 장착되는 표준화 테스트 모듈들;상기 베이스보드를 통하여 표준화 테스트 모듈과 연결되고, P/WDW 유닛에 연결되어 검사 진행시에 내부 전환 및 제어를 수행하는 내부 전환 및 제어부 회로부;로직 인터페이스를 통하여 표준화 테스트 모듈과 연결되어 검사 대상이 되는 제품이 연결되는 제품 구동용 지그를 제어하는 지그 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 베이스보드는, 검사 대상 부품의 파손 방지하기 위한 RC 필터를 내장하고, 접속 및 해제시 초기 상태 유지 기능, 리셋 회로의 적용으로 셀프 리셋 기능을 갖고, 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합시에 전원 미차단 상태에서 표준화 테스트 모듈의 접속 및 해제가 가능하도록 하는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈에 의해 구성되는 제어 로직은, 저전압(DC 5V 이하) 공급 상태에서의 회로 패턴 쇼트 및 회로 상태 검출 회로와,DC/AC 40V 이하 전압 레벨 신호를 16CH/SLOT으로 동시에 검출하고, 신호의 동작 상태에 영향을 주지 않는 차동 회로 사용으로 DC/AC 40V 이하의 고전압 신호를 실시간 취득 및 판정하는 실시간 전압 검출 회로와,제품 연결 회로와 연결 및 차단 가능 구조로 보호 회로가 내장되어 과전류에 대한 보호 기능을 갖는 신호의 동작 출력 및 입력 제어 회로와,연결 및 차단 가능한 10.00mA / 1.00A Range 전류 검출을 하는 소전류/대전류 검출 회로와,컴퓨터에서 실시간 계측 및 검사에 적용하고, 사용 채널 및 신호 위치별 신호 레벨 보정 기능을 갖는 PC 장착형 DAQ(Data Acquisition) 회로를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 베이스보드의 슬롯은, 슬롯 내부의 상하측에 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 진입 안내 및 고정을 위한 슬라이딩 레일을 구비하는 것을 특징으로 한다.
그리고 카드 형태의 표준화 테스트 모듈은, 베이스보드의 포트와 결합된 상태에서 카드 형태의 표준화 테스트 모듈을 고정하기 위한 클램프가 구비되는 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는, 32CH 절연 입력, NPN 스위칭 입력, PLC 출력에 호환 구조, MAX 128CH 입력 가능 구조를 갖는 카드 형태의 외부 입력 보드 또는 외부 출력 보드인 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는, 최대 24 POINT의 쇼트 검사 포인트를 갖고, 제어 구조는 시스템 버스에 의한 PC 직접 제어(N.I. CARD) 방식, 검출 방식은 전압 레벨 검출 방식으로, 별도의 전환 회로 없이 제품 직접 연결 및 차단하는 구조, 프로그램 방식에 따라 검출 포인트를 가변하는 구조이고, 무접점 소자 사용 및 과전류 방지 회로 내장 및 자체 진단 기능을 포함하는 쇼트 검사 보드인 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는, 20 채널, 입력 전압 범위는 DC 60 ~0V으로 GAIN 조정에 의한 측정 레벨 변경, GAIN 조정에 의해 0.1mV 측정을 하고, 응답 주파수는 1KHz, 모든 채널 차동 입력 회로가 구성되고, 계측 장치는 N.I. 62xx SERIES AD/C Port, 응답 주파수는 100KHz 이상인 전압 검출 보드인 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는, 24CH 절연형 입력 포트를 구비하고, 제품 연결부 차단 회로 내장하고 제품 동작 상태 실시간 감시 기능을 갖고, 입력 형태는 N.O./N.C. 입력, PULL-UP / PULL-DOWN 입력, OPEN COLLECTOR 입력인 신호 검출 보드인 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는, 24CH 절연형 출력 포트를 구비하고, 제품 신호 직접 구동 방식, 무접점 소자 사용한 제어 구조를 갖고, 과전류 차단 회로를 내장하고, 입력 형태는 N.O./N.C. 입력, PULL-UP / PULL-DOWN 입력, OPEN COLLECTOR 입력의 입력 형태를 갖는 신호 제어 보드인 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는, 4채널, 1.00A의 범위, 과전류 차단용 POLY FUSE 내장(1.5A)하고, 회로 차단용 무접점 소자 구동으로 ON/OFF 가능하고, N.I. DAQ. AD/C로 계측을 실행하고, 저항 옵션에 따라 게인을 조정하는 전류 검출 보드인 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 다음과 같은 효과를 갖는다.
첫째, 검사 대상 부품에 따라 표준화된 테스트 모듈들을 조합하여 검사를 위한 회로를 구성하여 검사 품질을 높일 수 있다.
둘째, 표준 및 공용화된 검사 시스템의 구축으로 균일한 검사 품질을 확보하고, 설비 운용 방법 및 검사 방법의 표준화로 사용자의 편의성을 높일 수 있다.
셋째, 제품의 업그레이드 등의 변수가 발생하는 경우에는 업그레이드 형태에 따라 카드 형태를 갖는 표준화 테스트 모듈들을 조합하여 검사 장치 본체의 베이스 보드에 장착하는 것에 의해 검사 제품의 사양 변경에 효율적으로 대응할 수 있다.
넷째, 검사 장치의 제작시 사용되는 계측 회로 및 프로그램을 공용화 및 표준화하여 검사기 제작 비용을 절감하고 시간 단축 및 유지 보수에 대한 대응을 신속하게 할 수 있다.
다섯째, 신뢰성 있는 표준 회로를 사용하고, 운용 프로그램의 검사 적용 관련 정보를 사용자 환경에서 직접 작성할 수 있는 방식으로 검사의 신뢰성 확보 및 설비 회로 변경 및 검사 항목 변경에 보다 신속하게 대응할 수 있다.
여섯째, 검사기 적용하는 테스트 모듈 카드의 임의 위치 접속 및 해체 방식으로 제품 컨셉에 맞게 임의 변경 가능한 구조를 갖고 테스트 모듈 카드의 탈부착이 용이한 검사 시스템의 구축이 가능하다.
일곱째, 검사 장치의 본체 케이스에 테스트 모듈 카드의 장착 및 탈착이 용하도록 슬라이드 마운트 형태의 슬롯을 다수개 구성하여 검사를 위한 회로 전체의 재구성 및 수정 사항의 적용이 용이하다.
여덟째, 구성 부품의 적용 방식에 따라 달라지는 단락 및 과전압 등 회로 보호 기능 등의 구성을 표준화하고 검출 방식을 표준화하여 균일한 검사 품질 확보가 가능하다.
아홉째, 동일 제품군의 표준화된 검사 방식 및 내용으로 불량 유출을 억제하고 고품질의 제품 생산력 증대를 가능하게 한다.
도 1은 종래 기술의 부품 검사 장치의 구성도
도 2는 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치의 전체 구성도
도 3a내지 도 3c는 본 발명에 따른 검사 장치의 내부 구성, 전면 및 후면 구성도
도 4는 본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈 장착부의 구성도
도 5a내지 도 5f는 본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈 사진
이하, 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치의 바람직한 실시 예에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치의 특징 및 이점들은 이하에서의 각 실시 예에 대한 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.
도 2는 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치의 전체 구성도이다.
본 발명은 검사 대상 부품에 따라 표준화된 테스트 모듈들을 조합하여 검사를 위한 회로를 구성하는 것으로, 표준 및 공용화된 검사 시스템의 구축으로 균일한 검사 품질을 확보하고, 설비 운용 방법 및 검사 방법의 표준화로 사용자의 편의성을 높인 것이다.
특히, 제품의 업그레이드 등의 변수가 발생하는 경우에는 업그레이드 형태에 따라 카드 형태를 갖는 표준화 테스트 모듈들을 조합하여 검사 장치 본체의 베이스 보드에 장착하는 것에 의해 검사 제품의 사양 변경에 효율적으로 대응할 수 있다.
또한, P/WDW 검사기 제작시 사용되는 계측 회로 및 프로그램을 공용화 및 표준화하여 검사기 제작 비용을 절감하고 시간 단축 및 유지 보수에 대한 대응을 신속하게 할 수 있다.
본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 표준화 검사를 진행하는 베이스보드를 내부에 구비하는 본체 케이스의 일측에 카드 형태의 표준화 테스트 모듈을 장착할 수 있는 다수 개의 슬롯이 구비된다.
표준화 테스트 모듈을 장착할 수 있는 다수 개의 슬롯은 내부의 상하측에 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 진입 안내 및 고정을 위한 슬라이딩 레일을 구비한다.
또한, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈은 슬라이딩 레일을 통하여 진입이 이루어져 베이스보드의 포트와 결합하는 입출력 단자가 구비되고, 베이스보드의 포트와 결합된 상태에서 카드 형태의 표준화 테스트 모듈을 고정하기 위한 클램프가 구비된다.
클램프는 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 일측과 타측 양단에 구성되어 슬롯의 양단에 구성되는 고정홈에 결합되는 형태를 갖고 체결된다.
이와 같은 본 발명에 따른 슬롯의 구성 위치 및 형태, 슬롯 구조, 슬라이딩 레일, 클램프, 표준화 테스트 모듈의 형태는 본 발명의 실시를 위한 일 예를 나타낸 것으로, 도면 또는 상기한 내용으로 한정되는 것이 아님은 당연하다.
또한, 베이스보드의 포트 및 베이스보드의 포트에 결합되는 표준화 테스트 모듈의 입출력 단자는 회로 구성 및 고정성을 위하여 카드 양단에 구성되는 것으로 설명하였으나, 형태 및 위치가 이로 제한되지 않는다.
그리고 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈은 표준화 테스트를 위한 제어 로직 회로가 구성되는 것으로, 외부 입력 보드, 외부 출력 보드, 전압 검출 보드, 신호 검출 보드, 신호 제어 보드, 전류 검출 보드, 쇼트 체크 보드를 포함한다.
구체적으로 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 도 2에서와 같이, 입출력 인터페이스를 통하여 표준화 테스트를 진행하기 위한 프로그램을 탑재하고 있는 컴퓨터 시스템(60)과 연결되고, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈들이 결합되는 다수 개의 슬롯을 구비하고 검사 장치 본체 케이스 내부에 구성되는 베이스보드(20)와, 테스트를 위한 제어 로직 회로가 구성되고 카드 형태로 이루어져 베이스보드(20)의 포트에 결합되는 입출력 단자를 갖는 표준화 테스트 모듈(31)(32)(33)(34)(35)(36)(37)과, 베이스보드(20)를 통하여 표준화 테스트 모듈(31)(32)(33)(34)(35)(36)(37)과 연결되고, P/WDW 유닛(70)에 연결되어 테스트 진행시에 내부 전환 및 제어를 수행하는 내부 전환 및 제어부 회로부(50)와, 로직인터페이스를 통하여 표준화 테스트 모듈(31)(32)(33)(34)(35)(36)(37)과 연결되어 검사 대상이 되는 제품이 연결되는 제품 구동용 지그(80)를 제어하는 지그 제어부(40)를 포함한다.
이와 같은 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 검사를 위한 제어 로직을 구성하는 보드의 접속 및 해제가 용이한 구조의 프레임을 갖도록 한 것으로, 슬라이드 타입의 가이드 레일을 적용하여 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합시에 작업의 용이성을 높일 수 있다.
또한, 베이스보드(20)는 이와 같은 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합시에 전원 미차단 상태에서 표준화 테스트 모듈의 접속 및 해제가 가능하고, 전자 부품의 파손 방지용 RC 필터를 내장하고, 접속 및 해제시 초기 상태 유지 기능, 리셋 회로의 적용으로 셀프 리셋 기능을 갖는다.
그리고 본 발명의 제어 로직은 회로 쇼트 및 비정상 회로 상태 검출 회로를 포함한다.
저전압(DC 5V 이하) 공급 상태에서의 회로 패턴 쇼트 및 회로 상태 검출 회로를 구비하고, 고분해능의 측정 데이터 취득 방식 및 고속 스캔 회로구성으로 검사 시간을 단축한다.(400 POINT MUX. LOGIC SELECT & DAQ./SEC 데이터 취득 구조 및 24 POINT/SLOT으로 최대 4 SLOT(96 POINT) 동시 검출)
그리고 본 발명의 제어 로직은 실시간 전압 검출 회로를 포함하여, DC/AC 40V 이하 전압 레벨 신호를 16CH/SLOT 동시에 검출하고, 신호의 동작 상태에 영향을 주지 않는 차동 회로 사용으로 고전압(DC/AC 40V이하) 신호를 실시간 취득 및 판정 가능하다.
그리고 본 발명의 제어 로직은 신호의 동작 출력 및 입력 제어 회로를 포함하고, 제품 연결 회로와 연결 및 차단 가능 구조로 제품의 회로에 영향을 주지 않는 구조를 갖고, 신호 구동 자체 보호 회로가 내장되어 과전류에 대한 보호 기능을 갖는다.
그리고 본 발명의 제어 로직은 소전류/대전류 검출 회로를 포함하고, 연결 및 차단 가능한 10.00mA / 1.00A Range 전류 검출 및 적용 제품의 종류에 따라 선택 사용을 하는 구조이다.
그리고 본 발명의 제어 로직은 PC 장착형 DAQ(Data Acquisition) 보드의 적용으로, 컴퓨터에서 실시간 계측 및 검사에 적용하고, 사용 채널 및 신호 위치별 신호 레벨 보정 기능을 갖는다.
또한, 표준 버스 및 I/O의 지원으로 제품에 따른 외부 연결부 및 배선 수정으로 타 제품 검사에 적용할 수 있다.
이와 같은 구조를 갖는 본 발명의 일 실시 예에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 도 3a 내지 도 3c에서와 같은 구조를 갖는다.
도 3a내지 도 3c는 본 발명에 따른 검사 장치의 내부 구성, 전면 및 후면 구성도이다.
본 발명에 따른 검사 장치는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 것으로 이전의 폐쇄형 구조가 아니라, 검사 대상 제품에 따라 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합이 용이하고, 설비 회로 변경 및 검사 항목 변경에 보다 신속하게 대응할 수 있도록 개방형 구조를 갖는다.
그리고 본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈 장착을 위하여 다음과 같은 구조를 갖는다.
도 4는 본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈 장착부의 구성도이다.
그리고 도 5a내지 도 5f는 본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈 사진이다.
본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 표준화 검사를 진행하는 베이스보드를 내부에 구비하는 본체 케이스의 일측에 카드 형태의 표준화 테스트 모듈을 장착할 수 있는 다수 개의 슬롯이 구비된다.
표준화 테스트 모듈을 장착할 수 있는 다수 개의 슬롯은 내부의 상하측에 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 진입 안내 및 고정을 위한 슬라이딩 레일(42)을 구비한다.
또한, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈은 슬라이딩 레일(42)을 통하여 진입이 이루어져 베이스보드의 포트(41)와 결합하는 입출력 단자(52)가 구비되고, 베이스보드의 포트(41)와 결합된 상태에서 카드 형태의 표준화 테스트 모듈을 고정하기 위한 클램프(51)가 구비된다.
클램프(51)는 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 일측과 타측 양단에 구성되어 슬롯의 양단에 구성되는 고정홈에 결합되는 형태를 갖고 체결된다.
그리고 본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 특성에 관하여 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 카드 형태의 표준화 테스트 모듈은, 외부 입력 보드, 외부 출력 보드, 전압 검출 보드, 신호 검출 보드, 신호 제어 보드, 전류 검출 보드, 쇼트 검사 보드를 포함한다.
도 5a는 카드 형태의 외부 입력 보드, 외부 출력 보드를 나타낸 것으로, P/WDW 검사기, 베젤 검사기, M/F SW 검사기, REMOCON SW 검사기에 적용할 수 있다.
외부 입력 보드 및 외부 출력 보드는 32CH 절연 입력, NPN 스위칭 입력, PLC 출력에 호환 구조, MAX 128CH 입력 가능 구조를 갖는다.
도 5b는 쇼트 검사 보드를 나타낸 것으로, P/WDW 검사기, 베젤 검사기, M/F SW 검사기, REMOCON SW 검사기에 적용할 수 있다.
쇼트 검사 보드는 최대 24 POINT의 쇼트 검사 포인트를 갖고, 제어 구조는 시스템 버스에 의한 PC 직접 제어(N.I. CARD) 방식, 검출 방식은 전압 레벨 검출 방식이다.
그리고 별도의 전환 회로 없이 제품 직접 연결 및 차단하는 구조, 프로그램 방식에 따라 검출 포인트를 가변하는 구조이다.
그리고 기준 전압 입력 방식으로, 외부 또는 내부 전환이 가능하고, 무접점 소자 사용 및 과전류 방지 회로 내장 및 자체 진단 기능을 포함하고, 회로 전환 시간은 최대 2ms이다.
도 5c는 전압 검출 보드를 나타낸 것으로, P/WDW 검사기에 적용할 수 있다.
전압 검출 보드는 20 채널, 입력 전압 범위는 DC 60 ~0V으로 GAIN 조정에 의한 측정 레벨 변경, GAIN 조정에 의해 0.1mV 측정을 하고, 응답 주파수는 1KHz, 모든 채널 차동 입력 회로가 구성되고, 계측 장치는 N.I. 62xx SERIES AD/C Port, 응답 주파수는 100KHz 이상이다.
도 5d는 신호 검출 보드를 나타낸 것으로, P/WDW 검사기에 적용할 수 있다.
신호 검출 보드는 24CH 절연형 입력 포트를 구비하고, 제품 연결부 차단 회로 내장하고 제품 동작 상태 실시간 감시 기능을 갖는다.
입력 형태는 N.O./N.C. 입력, PULL-UP / PULL-DOWN 입력, OPEN COLLECTOR 입력 등의 다양한 입력 형태를 갖는다.
도 5e는 신호 제어 보드를 나타낸 것으로, P/WDW 검사기에 적용할 수 있다.
신호 제어 보드는 24CH 절연형 출력 포트를 구비하고, 제품 신호 직접 구동 방식, 무접점 소자 사용한 제어 구조를 갖는다.
과전류 차단 회로(300mA,MAX,POLY FUSE 내장)를 내장하고, 입력 형태는 N.O./N.C. 입력, PULL-UP / PULL-DOWN 입력, OPEN COLLECTOR 입력 등의 다양한 입력 형태를 갖는다.
도 5f는 전류 검출 보드를 나타낸 것으로, P/WDW 검사기, 베젤 검사기, M/F SW 검사기, REMOCON SW 검사기에 적용할 수 있다.
전류 검출 보드는 4채널, 1.00A의 범위, 과전류 차단용 POLY FUSE 내장(1.5A)하고, 회로 차단용 무접점 소자 구동으로 ON/OFF 가능한 구조이다.
N.I. DAQ. AD/C로 계측을 실행하고, 저항 OPTION에 따라 GAIN(x1 or x10) 조정할 수 있다. 게인 조정은 CH 1/3 : 0.0 ~ 500mA(x 1 Gain), CH 2/4 : 0.0 ~ 50.0mA(x 10 Gain)으로 이루어진다.
이상에서 설명한 본 발명에 따른 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치는 제품 종류와 상관없이 적용 가능한 표준화된 계측 보드 적용 방식으로 제품 검사에 적용되는 표준 보드를 공용으로 사용할 수 있도록 한 것이다.
또한, 표준 버스 적용 및 탈부착 방식의 회로 구성으로, 회로의 위치에 관계없이 임의 위치에 회로 구성이 가능하다.
그리고 전원 투입과 관계없이 계측 보드 탈부착 방식으로 회로 구성을 하여,
외부 배선의 수정만으로 다양한 제품의 검사에 적용할 수 있고, 동일 제품군에 대한 복합 회로 구성으로 제품에 따라 배선 수정만으로 동일 제품군에서 다양한 종류의 제품 검사를 할 수 있다.
이상에서의 설명에서와 같이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 본 발명이 구현되어 있음을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 명시된 실시 예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 하고, 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구 범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
20. 베이스 보드
31.32.33.34.35.36.37. 표준화 테스트 모듈
40. 지그 제어부
50. 내부 전환 및 제어부 회로부
60. 컴퓨터 시스템
70. P/WDW 유닛
80. 제품 구동용 지그

Claims (11)

  1. 입출력 인터페이스를 통하여 표준화된 검사를 진행하기 위한 프로그램을 탑재하고 있는 컴퓨터 시스템과 연결되고, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈들이 결합되는 다수 개의 슬롯을 구비하고 검사 장치 본체 케이스 내부에 구성되는 베이스보드;
    검사를 위한 제어 로직 회로가 구성되고 카드 형태로 이루어져 베이스보드의 포트에 결합되는 입출력 단자를 갖고 검사 대상 제품에 따라 서로 다르게 조합되어 장착되는 표준화 테스트 모듈들;
    상기 베이스보드를 통하여 표준화 테스트 모듈과 연결되고, P/WDW 유닛에 연결되어 검사 진행시에 내부 전환 및 제어를 수행하는 내부 전환 및 제어부 회로부;
    로직 인터페이스를 통하여 표준화 테스트 모듈과 연결되어 검사 대상이 되는 제품이 연결되는 제품 구동용 지그를 제어하는 지그 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 베이스보드는,
    검사 대상 부품의 파손 방지하기 위한 RC 필터를 내장하고, 접속 및 해제시 초기 상태 유지 기능, 리셋 회로의 적용으로 셀프 리셋 기능을 갖고,
    표준화 테스트 모듈들의 가변 조합시에 전원 미차단 상태에서 표준화 테스트 모듈의 접속 및 해제가 가능하도록 하는 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈에 의해 구성되는 제어 로직은,
    저전압(DC 5V 이하) 공급 상태에서의 회로 패턴 쇼트 및 회로 상태 검출 회로와,
    DC/AC 40V 이하 전압 레벨 신호를 16CH/SLOT으로 동시에 검출하고, 신호의 동작 상태에 영향을 주지 않는 차동 회로 사용으로 DC/AC 40V 이하의 고전압 신호를 실시간 취득 및 판정하는 실시간 전압 검출 회로와,
    제품 연결 회로와 연결 및 차단 가능 구조로 보호 회로가 내장되어 과전류에 대한 보호 기능을 갖는 신호의 동작 출력 및 입력 제어 회로와,
    연결 및 차단 가능한 10.00mA / 1.00A Range 전류 검출을 하는 소전류/대전류 검출 회로와,
    컴퓨터에서 실시간 계측 및 검사에 적용하고, 사용 채널 및 신호 위치별 신호 레벨 보정 기능을 갖는 PC 장착형 DAQ(Data Acquisition) 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 베이스보드의 슬롯은,
    슬롯 내부의 상하측에 카드 형태의 표준화 테스트 모듈의 진입 안내 및 고정을 위한 슬라이딩 레일을 구비하는 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  5. 제 1 항 또는 제 4 항에 있어서, 카드 형태의 표준화 테스트 모듈은,
    베이스보드의 포트와 결합된 상태에서 카드 형태의 표준화 테스트 모듈을 고정하기 위한 클램프가 구비되는 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는,
    32CH 절연 입력, NPN 스위칭 입력, PLC 출력에 호환 구조, MAX 128CH 입력 가능 구조를 갖는 카드 형태의 외부 입력 보드 또는 외부 출력 보드인 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는,
    최대 24 POINT의 쇼트 검사 포인트를 갖고, 제어 구조는 시스템 버스에 의한 PC 직접 제어(N.I. CARD) 방식, 검출 방식은 전압 레벨 검출 방식으로,
    별도의 전환 회로 없이 제품 직접 연결 및 차단하는 구조, 프로그램 방식에 따라 검출 포인트를 가변하는 구조이고, 무접점 소자 사용 및 과전류 방지 회로 내장 및 자체 진단 기능을 포함하는 쇼트 검사 보드인 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는,
    20 채널, 입력 전압 범위는 DC 60 ~0V으로 GAIN 조정에 의한 측정 레벨 변경, GAIN 조정에 의해 0.1mV 측정을 하고, 응답 주파수는 1KHz, 모든 채널 차동 입력 회로가 구성되고, 계측 장치는 N.I. 62xx SERIES AD/C Port, 응답 주파수는 100KHz 이상인 전압 검출 보드인 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  9. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는,
    24CH 절연형 입력 포트를 구비하고, 제품 연결부 차단 회로 내장하고 제품 동작 상태 실시간 감시 기능을 갖고,
    입력 형태는 N.O./N.C. 입력, PULL-UP / PULL-DOWN 입력, OPEN COLLECTOR 입력인 신호 검출 보드인 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  10. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는,
    24CH 절연형 출력 포트를 구비하고, 제품 신호 직접 구동 방식, 무접점 소자 사용한 제어 구조를 갖고,
    과전류 차단 회로를 내장하고, 입력 형태는 N.O./N.C. 입력, PULL-UP / PULL-DOWN 입력, OPEN COLLECTOR 입력의 입력 형태를 갖는 신호 제어 보드인 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
  11. 제 1 항에 있어서, 상기 표준화 테스트 모듈의 어느 하나는,
    4채널, 1.00A의 범위, 과전류 차단용 POLY FUSE 내장(1.5A)하고, 회로 차단용 무접점 소자 구동으로 ON/OFF 가능하고,
    N.I. DAQ. AD/C로 계측을 실행하고, 저항 옵션에 따라 게인을 조정하는 전류 검출 보드인 것을 특징으로 하는 표준화 테스트 모듈들의 가변 조합을 이용하는 검사 장치.
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