KR102520338B1 - 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법 - Google Patents

야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 야전 장비의 시험 대상품(예를 들어, 야전 장비의 내부 회로 조립체)를 1차적으로 야전 정비 장비를 통해 시험 후, 시험 결과 정보(예를 들어, 고장 부품 정보 및 고장원인 정보)를 시험 대상품에 기록하고, 수리창 정비 장비에서 해당 시험 대상품에 기록된 시험 결과 정보를 이용하여 고장 부품에 대해서 우선적으로 점검함으로써, 정비 시간을 크게 단축시킬 수 있도록 한 것이다.

Description

야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법{Fault test system for field equipment and method therefor}
본 발명은 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 특히, 야전 장비의 시험 대상품(예를 들어, 야전 장비의 내부 회로 조립체)를 1차적으로 야전 정비 장비를 통해 시험 후, 시험 결과 정보(예를 들어, 고장 부품 정보 및 고장원인 정보)를 시험 대상품에 기록하고, 수리창 정비 장비에서 해당 시험 대상품에 기록된 시험 결과 정보를 이용하여 고장 부품에 대해서 우선적으로 점검함으로써, 정비 시간을 크게 단축시킬 수 있도록 한 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 야전 운용부대에서 작전을 수행하다가 장비가 불량이 나면 야전 정비부대로 고장난 장비를 후송하여 점검한다.
야전 정비부대에서 고장을 확인한 후 고장이 발생된 대상품(예를 들어, 회로카드)은 육군종합정비창(Depot이하, 정비창)으로 후송하여 수리를 진행하게 된다.
이러한 과정에서 각 단계(운용부대, 정비부대, 정비창)에서는 각각의 절차대로 시험을 수행하여 운용부대->정비부대-> 정비창으로 진행한다.
운용부대에서 고장 발생시, 고장이 발생한 현상에 대하여 따로 기록하거나 로그를 남기지 않고 정비부대로 후송하고, 정비부대에서도 야전정비장비로 점검 시 시험기록(ex 통신기능 불량, 전원 입력 불량)등을 남기지 않고 단순히 해당보드 불량으로 판정한다.
또한, 정비창으로 후송되어 수리 시, 해당 대상품의 불량 정보만 가지고 수리를 진행하게 된다. 이러한 점검 기록을 유지하지 않는 상황에서 각 정비단계(야전정비, 창 정비)에서는 각각의 시험장비로 시험을 진행하게 된다.
따라서, 시험 대상품을 수리 진행하는 수리창 정비 시스템(DEPOT system)에서는 고장 탐지 시간이 증가될 수밖에 없는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래 기술에 따른 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은, 야전 장비의 시험 대상품(예를 들어, 야전 장비의 내부 회로 조립체)를 1차적으로 야전 정비 장비를 통해 시험 후, 시험 결과 정보(예를 들어, 고장 부품 정보 및 고장원인 정보)를 시험 대상품에 기록하고, 수리창 정비 장비에서 해당 시험 대상품에 기록된 시험 결과 정보를 이용하여 고장 부품에 대해서 우선적으로 점검함으로써, 정비 시간을 크게 단축시킬 수 있도록 한 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법을 제공함에 있다.
즉, 기존의 정비 흐름을 보면 야전시험장비에서 유닛 단위(LRU) 시험을 통해 회로카드 조립체 단위(SRU)의 고장탐지로 수행하고 불량이 확인된 회로카드조립체를 수리하기 위하여 창(육군종합정비창)으로 후송된다. 각정비단계에서의 시험장비들로 시험한 시험이력(고장이력)을 유지하여 다음단계의 정비에서 그 데이터를 활용하여 정비의 시간을 단축시킬 수 있도록 한 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
다만, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 상기된 바와 같은 과제로 한정되지 않으며, 또 다른 과제들이 존재할 수 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 시스템은, 야전 장비 내에 구성되고, 야전 정비 장비를 통한 시험 결과에 대한 이력 정보가 저장되어, 요청에 따라 저장된 시험 이력 정보를 제공하는 회로카드 조립체; 및 운용자의 시험 요청에 따라, 상기 회로카드 조립체로 야전 장비를 통한 시험 이력 정보를 요청하고, 요청에 따라 수신되는 회로카드 조립체에 대한 시험 이력 정보를 기반으로 불량 부품 및 불량 원에 대해 시험을 수행하여 시험 수행 결과 정보를 저장하는 수리창 정비 장비를 포함할 수 있다.
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상기 회로카드 조립체는, 야전 정비 장비로부터 제공되는 회로카드 조립체 내 각 부품들에 대한 시험 이력 정보를 저장하는 저장부를 포함할 수 있다.
상기 수리창 정비 장비는, 상기 회로카드 조립체의 시험을 운영자의 선택에 따라 요청하는 입력부; 상기 회로카드 조립체와 연결되어, 회로카드 조립체와 시험을 위한 데이터의 통신 및 회로카드로 조립체로부터 제공되는 야전 정비 장비를 통해 시험 이력 정보를 요청 및 수신하는 통신부; 회로카드 조립체에 대한 시험 결과 정보를 저장하는 저장부; 시험 요청에 따라 회로카드 조립체의 부품에 대한 시험을 수행하고, 시험 결과 정보를 생성하는 시험부; 및 상기 통신부를 통해 수신되는 회로카드 조립체에 대한 야전 정비 장비의 시험 이력 정보를 기반으로 하는 불량 부품 및 불량 원인에 대한 시험 제어신호를 상기 통신부를 통한 회로카드 조립체로 요청하며, 요청에 따른 피드백 신호를 시험을 위한 신호로 상기 시험부로 제공하며, 시험부에서 생성된 시험 결과 정보를 상기 저장부에 저장하는 제어부를 포함할 수 있다.
상기 저장부에 저장되는 시험 결과 정보는, 불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
상기 수리창 정비 장비는, 상기 제어부의 제어에 따라 상기 저장부에 저장된 시험 결과 정보를 운용자가 시각적으로 확인할 수 있도록 전시하는 전시부를 더 포함할 수 있다.
상기 전시부에 전시되는 시험 결과 정보는, 불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 시험 결과 항목에 따라 텍스트 또는 그래프, 또는 텍스트와 그래프를 혼용된 시각 정보로 전시할 수 있다.
상기 제어부는, 회로카드 조립체에 저장된 야전 정비 장비의 시험 이력 정보에 따라 상기 시험부에서 시험한 결과, 해당 시험 이력 정보와 달리 해당 불량 부품에 대한 불량이 발생하지 않은 경우, 회로카드 조립체를 구성한 모든 부품들에 대하여 기 설정된 항목 및 순서대로 시험이 이루어지도록 상기 시험부를 제어할 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 야전 장비의 고장 시험 방법은, 수리창 정비 장비에서, 운용자의 시험 요청에 따라, 야전 정비 장비를 통한 시험 결과에 대한 이력 정보가 저장된 회로카드 조립체로 시험 이력 정보를 요청하는 단계; 및 상기 요청에 따라 상기 회로카드 조립체로부터 수신되는 회로카드 조립체에 대한 시험 이력 정보를 기반으로 불량 부품 및 불량 원인에 대해 시험을 수행하여 시험 수행 결과 정보를 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
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상기 시험 이력 정보는, 상기 회로카드 조립체를 구성하는 각 부품들에 대한 시험 결과에 따른, 불량 부품 식별 정보, 불량 원인 정보, 불량 부품이 포함된 회로카드 조립체에 대한 식별 정보, 시험 시간 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
상기 시험 수행 결과 정보를 저장하는 단계는, 상기 회로카드 조립체의 시험을 운영자의 선택에 따라 요청하는 단계; 상기 요청에 따라 상기 회로카드 조립체로부터 야전 정비 장비의 시험 이력 정보를 수신하는 단계; 상기 수신되는 회로카드 조립체에 대한 야전 정비 장비의 시험 이력 정보를 기반으로 하는 불량 부품 및 불량 원인에 대한 시험을 수행하는 단계; 및 상기 시험 결과에 대한 시험 결과 정보를 메모리에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 메모리에 저장되는 시험 결과 정보는, 불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
상기 시험 결과에 대한 시험 결과 저오를 메모리에 저장하는 단계 이후, 운용자의 요청에 따라 상기 메모리에 저장된 시험 결과 정보를 전시장치에 전시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 전시장비에 전시되는 시험 결과 정보는, 불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 시험 결과 항목에 따라 텍스트 또는 그래프, 또는 텍스트와 그래프를 혼용된 시각 정보로 전시할 수 있다.
상기 시험 수행 결과 정보를 저장하는 단계에서, 회로카드 조립체에 저장된 야전 정비 장비의 시험 이력 정보에 따라 시험한 결과, 해당 시험 이력 정보와 달리 해당 불량 부품에 대한 불량이 발생하지 않은 경우, 회로카드 조립체를 구성한 모든 부품들에 대하여 기 설정된 항목 및 순서대로 시험이 이루어지도록 제어하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 다른 면에 따른 컴퓨터 프로그램은, 하드웨어인 컴퓨터와 결합되어 가변형 메시지를 사용하는 시스템에서의 메시지 변환방법을 실행하며, 컴퓨터 판독가능 기록매체에 저장된다.
본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명에 따르면, 야전 장비의 시험 대상품(예를 들어, 야전 장비의 내부 회로 조립체)를 1차적으로 야전 정비 장비를 통해 시험 후, 시험 결과 정보(예를 들어, 고장 부품 정보 및 고장원인 정보)를 시험 대상품에 기록하고, 수리창 정비 장비에서 해당 시험 대상품에 기록된 시험 결과 정보를 이용하여 고장 부품에 대해서 우선적으로 점검함으로써, 정비 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
이하에 첨부되는 도면들은 본 실시 예에 관한 이해를 돕기 위한 것으로, 상세한 설명과 함께 실시 예들을 제공한다. 다만, 본 실시 예의 기술적 특징이 특정 도면에 한정되는 것은 아니며, 각 도면에서 개시하는 특징들은 서로 조합되어 새로운 실시 예로 구성될 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 시스템에서, 야전장비와 야전 정비 장비에 대한 연결 구성 및 야전 장비의 개략적 내부 블록 구성을 나타낸 도면.
도 2는 도 1에 도시된 회로카드 조립체에 대한 내부 블록 구성을 나타낸 도면.
도 3은 수리창으로 후송된 회로카드 조립체와 수리창 정비장비와의 연결 관계 및 수리창 정비 장비의 상세 블록 구성을 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 방법에서, 야전 정비 장비에서 시험 대상품의 시험 플로우를 나타낸 도면.
도 5는 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 방법에서, 수리창 정비 장비에서 시험 대상품의 시험 플로우를 나타낸 도면.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 상세 설명에 앞서 본 발명의 개념에 대한 설명을 먼저 수행한 후, 상세 설명을 하도록 한다.
먼저, 두 개의 정비 단계(야전 정비, 수리창 정비)에서 연계성을 가질 수 있는 부분은 야전 고장 데이터이다. 야전 고장 데이터(고장코드)를 기반으로 수리창 정비 단계에서 고장데이터를 DB화한다면 즉, 야전에서 고장 발생한 데이터를 근거로 수리창 정비 단계에서 고장발생 부품에 대한 데이터를 구축한다면, 동일한 야전 고장 증상 발생 시 이전 수리창 정비의 운용 방안 보다 더 빠른 운용방안을 찾을 수 있을 것이다.
야전 장비 시험 시, 수리창 정비 대상품목(회로카드 조립체)에 야전고장 정보를 저장해주는 것이다. 여기에 필수적으로 저장되어야 할 정보를 간략히 요약해보면 야전 고장코드, 고장발생 일시, 정비부대 정보 등이 될 수 있다. 일반적으로 야전용 시험장비는 회로카드조립체 단위로 시험(통신 포함)을 하기 때문에 해당 기능을 구현하는 것은 기술적으로 충분히 구현 가능하다. 회로카드조립체 자체에 관련 정보를 저장할 수 있는 부품이 설계에 적용되어야 하는 부분도 고려를 하여야 한다. 앞에 조건이 충족이 되면 고장정보를 가지고 있는 회로카드 조립체가 수리창으로 후송 시, 시험을 위해 수리창 정비장비(BTS)에 연결을 하면 BTS 장비에서 자동으로 관련 고장정보를 획득하여 DB화할 수 있을 것이다.
이하, 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 시스템 및 그 방법에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명해 보기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 시스템에서, 야전장비와 야전 정비 장비에 대한 연결 구성 및 야전 장비의 개략적 내부 블록 구성을 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 야전 장비의 고장 시험 시스템, 야전 장비(1000) 및 야전 정비장비(2000)를 포함할 수 있다.
상기 야전 장비(1000)는 다수의 유닛(1100, 1200, 1300), 제어부(1400), 및 통신부(1500)를 포함할 수 있다.
상기 다수의 유닛(1100, 1200, 1300)은 다수의 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130), 제어부(1140) 및 통신부(1150)를 포함할 수 있다.
한편, 상기 각 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)는 도 3에 도시된 바와 같이, 다수의 부품들(1111, 1112, 1113), 제어부(1114), 통신부(1115) 및 저장부(1116)를 포함할 수 있다.
이와 같은 구성을 이용한 야전 정비 장비(2000)를 이용하여 야전 장비(1000)의 시험 동작을 살펴보자.
먼저, 야전 장비(1000)의 정비를 위해 야전 정비 장비(2000)와 연결한 후, 야전 정비 장비(2000)로부터 기 설정된 시험 항목에 따라 다수의 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)로 구성된 다수의 유닛들(1100, 1200, 1300)의 시험을 야전 장비(1000)의 통신부(1500) 및 제어부(1400)를 통해 순차적으로 수행한다. 여기서, 야전 정비 장비(2000)를 통해 야전 장비(1000)의 각 유닛(1100, 1200, 1300)의 고장 시험 방법은 이미 공지된 기술이고, 본 발명의 요지를 벗어날 수 있기 때문에 구체적인 시험 동작에 대해서는 그 설명을 생략하기로 한다.
그리고, 야전 정비 장비(2000)는 상기 다수의 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)를 포함하는 각 유닛(1100, 1200, 1300)들의 시험 결과, 임의의 일 유닛의 불량이 발견된 경우, 즉, 불량 유닛(1100,1200, 1300) 내 임의의 회로카드 조립체의 불량이 발생한 경우, 불량이 발생된 회로카드 조립체내의 다수의 부품들에 대한 불량 여부에 대한 시험을 수행한다.
이상의 기술적 사상은 종래 기술에 따른 야전 정비 장비의 시험 동작과 동일하기 때문에 이 이상의 상세 설명은 생략하고, 불량이 발생된 일 회로카드 조립체 내 다수의 부품들에 대한 불량 여부에 대한 시험 동작을 도 2를 참조하여 설명해 보자.
도 2는 도 1에 도시된 회로카드 조립체에 대한 대한 내부 블록 구성을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 먼저 각 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)는 도 3에 도시된 바와 같이, 다수의 부품들(1111, 1112, 1113), 제어부(1114), 통신부(1115) 및 저장부(1116)를 포함할 수 있다.
야전 정비 장비(2000)로부터 통신부(1115)를 통해 시험을 위한 순차적 신호가 수신되면, 수신된 시험 요청 신호를 순차적으로 제어부(1114)로 제공한다.
제어부(1114)는 통신부(1115)로부터 제공되는 순차적 시험 요청 신호에 따라 각 부품(1111, 1112, 1113)으로 시험을 위한 제어신호를 제공한다.
각 부품들(1111, 1112, 1113)은 제어부(1114)로부터 수신된 시험을 위한 제어신호에 따라 피드백 신호를 생성한 후, 생성된 시험 요청 피드백 신호를 제어부(1114)로 순차적으로 제공한다.
제어부(1114)는 각 부품(1111, 1112, 1113)로부터 제공되는 피드백 신호를 통신부(1115)를 통해 야전 정비 장비(2000)로 전송한다. 여기서, 통신부(1115)를 통해 직접 야전 정비 장비(2000)로 전송하는 것이 아니라 도 1에 도시된 제어부(1400) 및 통신부(1500)를 통해 전송하는 것임을 이해해야 할 것이다.
상기 야전 정비 장비(2000)로 전송하는 피드백신호에는, 자신이 속한 회로 카드 조립체 식별 정보 및 자신(부품)의 식별 번호를 포함할 수 있다.
야전 정비 장비(2000)는 수신된 피드백 신호를 이용하여 부품(1111, 1112,1113)들의 불량 여부를 시험하고, 시험 결과 불량이 발생한 부품(1111, 1112, 1113)이 존재하는 경우, 해당 부품(1111, 1112, 1113)이 속한 회로카드 조립체의 식별정보, 자신(부품)에 대한 식별 정보 및 불량원인 정보를 포함하는 시험 결과에 대한 이력 정보를 해당 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)로 전송한다. 여기서, 상기 정보들은 도 1에 도시된 통신부(1500) 및 제어부(1400)를 통해 해당 회로카드 조립체로 전송될 수 있다.
해당 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)의 통신부(1115)는 수신되는 시험 결과에 대한 이력 정보를 제어부(1114)로 제공하고, 제어부(1114)는 통신부(1115)로부터 제공되는 시험 결과에 대한 이력 정보를 저장부(1116)에 저장한다. 여기서, 저장부(1116)에 저장되는 정보로는, 해당 야전 장비(1000) 고유 식별 정보, 불량이 발생된 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130) 식별 정보, 해당 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)내 불량이 발생된 부품(1111, 1112, 1113)에 대한 식별 정보, 불량 원인 정보, 정비 시간 정보 중 적어도 하나 이상을 포함할 수 있다.
이와 같이, 야전 정비 장비(2000)를 통해 시험을 수행한 후, 불량이 발생된 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)내 불량 부품의 수리를 위하여 운용자는 해당 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)를 수리창으로 후송한다.
이하, 수리창으로 후송된 불량 회로카드 조립체(1110, 1120, 1130)에 대하여 수리창 정비 장비(3000)의 시험 동작에 대하여 도 3을 참조하여 살펴보자. 여기서, 회로카드 조립체(1110)의 내부 구성은 상기 도 2에서 설명하였기에 상세 설명은 생략하고, 수리창 정비 장비(3000)의 구성 및 수리창 정비 장비(3000)를 이용한 불량 회로카드 조립체(1110)에 대한 시험 동작을 살펴보자.
도 3은 수리창으로 후송된 회로카드 조립체와 수리창 정비장비와의 연결 관계 및 수리창 정비 장비에 대한 내부 블록 구성을 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 수리창 정비 장비(3000)는 입력부(3100), 통신부(3200), 제어부(3300), 시험부(3400), 저장부(3500) 및 전시부(3600)를 포함할 수 있다.
먼저, 입력부(3100)를 통해 수리창 운용자가 불량으로 접수된 회로카드 조립체(1110)의 시험 요구가 있는 경우, 제어부(3300)는 통신부(3200)를 통해 시험하고자 하여 연결된 회로카드 조립체(1110)로 야전 정비 장비(200)를 통해 시험한 시험 이력 정보 요구신호를 전송한다.
회로 카드 조립체(1110)의 통신부(1115)는 수리창 정비 장비(3000)로부터 전송된 시험 이력 정보 요구신호를 제어부(1114)로 제공한다.
회로카드 조립체(1110)의 제어부(1114)는 수리창 정비 장비(3000)로부터 수신된 시험 이력 정보 요구신호에 따라 저장부(1116)에 저장된 이전 야전 정비 장비(2000) 시험 이력 정보를 리드한 후, 리드한 야전 정비 장비(2000) 시험 이력 정보를 통신부(1115)를 통해 수리창 정비 장비(3000)로 전송한다. 여기서, 시험 이력 정보는, 야전 장비 고유 식별 정보, 정비 시간 정보, 회로카드 조립체 고유 식별번호 정보, 회로 카드 조립체내 다수의 부품 중 불량이 발생된 부품에 대한 고유 식별 정보, 불량 원인 정보 중 적어도 하나 이상을 포함할 수 있다.
수리창 정비 장비(3000)의 통신부(3200)는 회로카드 조립체(1110)로부터 전송되는 시험 이력 정보를 수신한 후, 수신된 시험 이력 정보를 제어부(3300)로 제공한다.
제어부(3300)는 통신부(3200)를 통해 수신된 회로카드 조립체의 시험 이력 정보를 분석한 후, 불량이 발생된 부품에 대한 정보 및 불량 원인 정보를 시험부(3400)로 제공한다.
시험부(3400)는 제어부(3300)로부터 제공되는 정보를 이용하여 다시 제어부(3300) 및 통신부(3200)를 통해 회로 카드 조립체(1110)의 해당 부품에 대한 시험을 수행한다. 여기서, 시험 방법은 일반적으로 공지된 기술로서, 상세 설명은 생략하기로 한다.
시험부(3400)는 회로카드 조립체(1110)에 저장된 시험 이력 정보에 따라 해당 부품에 대한 시험을 수행한 후, 해당 부품의 불량이 맞는지 판단하고, 해당 부품이 불량이라고 판단되는 경우, 해당 시험 이력 정보를 제어부(3300)를 통해 저장부(3500)에 저장한다.
한편, 시험부(3400)는 회로카드 조립체(1110)의 시험 결과, 시험 이력 정보에 포함된 해당 부품이 불량이 아니라고 판단되는 경우, 기 설정된 시험 과정을 통해 회로 카드 조립체(1110)의 모든 부품에 대한 시험을 수행한 후, 불량이 발생된 부품이 존재하는 경우, 해당 부품에 대한 고유식별 정보, 불량 원인 정보, 정비 시간 정보 등을 제어부(3300)를 통해 저장부(3500)에 저장한다.
한편, 제어부(3300)는 시험부(3400)를 통해 불량 시험이 완료되어 시험 이력 정보가 수신되면, 수신된 정보를 기반으로, 저장부(3500)에 회로카드 조립체 별, 부품별, 불량 원인의 빈도를 분석하여 회로 카드 조립체의 시험 결과에 따른 불량 빈도 정보를 저장부(3500)에 저장할 수 있다.
만약, 입력부(3100)를 통해 운용자가 회로 카드 별 대항 부품의 불량 빈도 정보를 확인하기 위한 요청신호가 입력되는 경우, 제어부(3300)는 저장부(3500)에 저장된 회로 카드 조립체 별 부품들에 대한 불량 빈도 정보(회로카드 조립체 식별 정보, 해당 회로카드 조립체가 장착된 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품 고유 식별 정보, 해당 불량 부품에 대한 불량 원인 정보, 불량 발생 횟수 정보, 불량 발생 시간 정보, 시험 시간 정보 중 적어도 하나 이상의 정보)를 리드한 후, 리드한 불량 빈도 정보를 전시부(3600)에 도 4와 같이 전시할 수 있다.
상기한 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 시스템에 대한 동작과 상응하는 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 방법에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 단계적으로 살펴보기로 하자. 여기서, 고장 시험 방법에 대하여 야전 정비 장비를 통한 시험 방법과, 수리창 정비 장비를 통한 시험 방법을 각각 도 4와 도 5로 구분하여 설명해 보자.
먼저, 도 4를 참조하여 야전 정비 장비에서의 고장 시험 방법에 대하여 살펴보자. 도 4는 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 방법에서, 야전 정비 장비에서 시험 대상품의 시험 플로우를 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 야전 장비의 각 유닛 단위로 시험을 수행하고(S401), 시험 수행 결과, 야전 장비내 각 유닛들에 대한 시험 수행 결과, 임의의 일 유닛에 불량이 발생하였는지를 판단한다(S402). 여기서, 야전 장비의 각 유닛에 대한 시험 방법은 이미 공지된 기술이기 때문에 상세 설명은 생략하기로 한다.
상기 S402 단계에서의 판단 결과, 야전 장비 내 임의의 유닛에 불량이 발생된 것으로 판단된 경우, 해당 유닛 내 각 회로카드 조립체 단위로 기 설정된 시험 항목들을 기반으로 순차적으로 각 회로카드 조립체들의 시험을 수행한다(S403).
이어, 다수의 회로카드 조립체들의 시험 중 임의의 일 회로카드 조립체의 불량이 발생하였는지를 판단하고(S404), 판단 결과, 임의의 일 회로카드 조립체의 불량이 발생된 경우, 해당 회로카드 조립체 내 각 부품들에 대하여 기 설정된 시험 항목들을 기반으로 순차적으로 불량 시험을 수행한다(S405).
시험 결과, 다수의 부품들 중 임의의 적어도 하나 이상의 부품에 대하여 불량이 발생되었는지 판단한다(S406).
판단 결과, 적어도 하나 이상의 부품의 불량이 발생된 경우, 야전 정비 장비는, 해당 부품이 포함된 회로카드 조립체내 메모리에 시험 이력 정보를 저장시키게 된다(S407). 여기서, 메모리에 저장된 시험 이력 정보는, 해당 야전 장비에 대한 고유 식별 정보, 해당 유닛에 대한 고유 식별 정보, 해당 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 불량 부품에 대한 고유식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품의 고장 원인 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
도 4에서 설명한 바와 같이 야전 정비 장비를 통해 야전 장비의 시험을 수행한 후, 야전 장비의 유닛 내 회로카드 조립체의 부품에 불량이 발생되어, 불량이 발생된 회로 카드 조립체에 대하여 수리창으로 후송된 경우, 수리창 정비 장비를 통한 불량 회로카드 조립체의 시험 방법에 대하여 도 5를 참조하여 단계적으로 살펴보자.
도 5는 본 발명에 따른 야전 장비의 고장 시험 방법에서, 수리창 정비 장비에서 시험 대상품의 시험 플로우를 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 먼저 수리창으로 후송된 불량 회로카드 조립체를 수리창 정비 장비에 연결한 후, 회로카드 조립체 내 메모리에 저장된 야전 정비 장비에 의한 시험 이력 정보를 참조하여 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 시험을 수행한다(S501).
시험 결과, 해당 부품에 대한 불량이 발생되었는지를 판단하고(S502), 판단 결과, 야전 정비 장비를 통해 시험한 결과와 동일하게 회로카드 조립체 내 해당 부품의 불량이 발생한 경우, 해당 부품에 대한 교체 작업을 수행한다.
그러나, 상기S502 단계에서, 야전 정비 장비를 통해 시험한 결과와 동일하게 회로카드 조립체 내 해당 부품의 불량이 발생하지 않은 경우, 수리창 정비 장비에 기 설정된 시험 항목 및 순서에 따라 회로카드 조립체내 모든 부품에 대한 시험을 수행한다(S503).
시험 수행 중, 임의의 일 부품에 대한 불량이 발생되었는지 판단한다(S504).
판단 결과, 임의의 일 부품에 대한 불량이 발생하지 않은 경우에 대해서는, 해당 회로 카드 조립체에 이상이 없다고 판단하나, 임의의 일 부품에 대한 불량이 발생한 경우에는, 해당 불량 부품에 대한 교체 지시와, 해당 회로카드 조립체 별 불량 부품에 대한 불량 빈도 정보를 수리창 정비 장치내 메모리에 저장한다(S505).
여기서, 수리창 정비 장비내 메모리에는, 불량 빈도 정보는, 회로카드 조립체 식별 정보, 해당 회로카드 조립체가 장착된 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품 고유 식별 정보, 해당 불량 부품에 대한 불량 원인 정보, 불량 발생 횟수 정보, 불량 발생 시간 정보, 시험 시간 정보 중 적어도 하나 이상의 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
이 상태에서, 운용자로부터, 불량 빈도 정보 표시 요청이 있는 경우(S506), 수리창 정비 장비 내 메모리에 저장된 회로 카드 조립체 별 각 부품들에 대한 불량 빈도 정보를 텍스트 또는 그래프 형식, 텍스트와 그래프가 혼용된 방식으로 전시장치에 전시할 수 있다(S507). 여기서, 전시장치에 전시되는 불량 정보는, 불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
상기한 본 발명의 일 실시예에 따른 야전 장비의 고장 시험방법은 하드웨어인 컴퓨터와 결합되어 실행되기 위해 프로그램(또는 어플리케이션)으로 구현되어 매체에 저장될 수 있다.
상기 전술한 프로그램은, 상기 컴퓨터가 프로그램을 읽어 들여 프로그램으로 구현된 상기 방법들을 실행시키기 위하여, 상기 컴퓨터의 프로세서(CPU)가 상기 컴퓨터의 장치 인터페이스를 통해 읽힐 수 있는 C, C++, JAVA, Ruby, 기계어 등의 컴퓨터 언어로 코드화된 코드(Code)를 포함할 수 있다. 이러한 코드는 상기 방법들을 실행하는 필요한 기능들을 정의한 함수 등과 관련된 기능적인 코드(Functional Code)를 포함할 수 있고, 상기 기능들을 상기 컴퓨터의 프로세서가 소정의 절차대로 실행시키는데 필요한 실행 절차 관련 제어 코드를 포함할 수 있다. 또한, 이러한 코드는 상기 기능들을 상기 컴퓨터의 프로세서가 실행시키는데 필요한 추가 정보나 미디어가 상기 컴퓨터의 내부 또는 외부 메모리의 어느 위치(주소 번지)에서 참조되어야 하는지에 대한 메모리 참조관련 코드를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 컴퓨터의 프로세서가 상기 기능들을 실행시키기 위하여 원격(Remote)에 있는 어떠한 다른 컴퓨터나 서버 등과 통신이 필요한 경우, 코드는 상기 컴퓨터의 통신 모듈을 이용하여 원격에 있는 어떠한 다른 컴퓨터나 서버 등과 어떻게 통신해야 하는지, 통신 시 어떠한 정보나 미디어를 송수신해야 하는지 등에 대한 통신 관련 코드를 더 포함할 수 있다.
상기 저장되는 매체는, 레지스터, 캐쉬, 메모리 등과 같이 짧은 순간 동안 데이터를 저장하는 매체가 아니라 반영구적으로 데이터를 저장하며, 기기에 의해 판독(reading)이 가능한 매체를 의미한다. 구체적으로는, 상기 저장되는 매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있지만, 이에 제한되지 않는다. 즉, 상기 프로그램은 상기 컴퓨터가 접속할 수 있는 다양한 서버 상의 다양한 기록매체 또는 사용자의 상기 컴퓨터상의 다양한 기록매체에 저장될 수 있다. 또한, 상기 매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장될 수 있다.
전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
1000 : 야전 장비
1100, 1200, 1300 : 제1 내지 제n 유닛
1110, 1120, 1130 : 제1 내지 제n 회로카드 조립체
1111, 1112, 1113 : 제1 내지 제n 부품
1114 : 제어부
1115 : 통신부
1116 : 저장부
2000 : 야전 정비 장비
3000 : 수리창 정비 장비
3100 : 입력부
3200 : 통신부
3300 : 제어부
3400 : 시험부
3500 : 저장부
3600 : 전시부

Claims (21)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 야전 장비의 고장 시험 시스템에 있어서,
    야전 장비 내에 구성되고, 야전 정비 장비를 통한 시험 결과에 대한 이력 정보가 저장되어, 요청에 따라 저장된 시험 이력 정보를 제공하는 회로카드 조립체; 및
    운용자의 시험 요청에 따라, 상기 회로카드 조립체로 야전 장비를 통한 시험 이력 정보를 요청하고, 요청에 따라 수신되는 상기 회로카드 조립체에 대한 시험 이력 정보를 기반으로 불량 부품 및 불량 원에 대해 시험을 수행하여 시험 수행 결과 정보를 저장하는 수리창 정비 장비를 포함하고,
    상기 회로카드 조립체는,
    상기 야전 정비 장비로부터 제공되는 상기 회로카드 조립체 내 각 부품들에 대한 시험 이력 정보를 저장하는 저장부를 포함하며,
    상기 수리창 정비 장비는,
    상기 회로카드 조립체의 시험을 운영자의 선택에 따라 요청하는 입력부;
    상기 회로카드 조립체와 연결되어, 상기 회로카드 조립체와 시험을 위한 데이터의 통신 및 회로카드 조립체로부터 제공되는 상기 야전 정비 장비를 통해 시험 이력 정보를 요청 및 수신하는 통신부;
    상기 회로카드 조립체에 대한 시험 결과 정보를 저장하는 저장부;
    시험 요청에 따라 상기 회로카드 조립체의 부품에 대한 시험을 수행하고, 시험 결과 정보를 생성하는 시험부; 및
    상기 통신부를 통해 수신되는 상기 회로카드 조립체에 대한 상기 야전 정비 장비의 시험 이력 정보를 기반으로 하는 불량 부품 및 불량 원인에 대한 시험 제어신호를 상기 통신부를 통한 상기 회로카드 조립체로 요청하며, 요청에 따른 피드백 신호를 시험을 위한 신호로 상기 시험부로 제공하며, 상기 시험부에서 생성된 시험 결과 정보를 상기 저장부에 저장하는 제어부를 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 시스템.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 제5항에 있어서,
    상기 저장부에 저장되는 시험 결과 정보는,
    불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 시스템.
  9. 제5항에 있어서,
    상기 수리창 정비 장비는,
    상기 제어부의 제어에 따라 상기 저장부에 저장된 시험 결과 정보를 운용자가 시각적으로 확인할 수 있도록 전시하는 전시부를 더 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 시스템.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 전시부에 전시되는 시험 결과 정보는,
    불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 시험 결과 항목에 따라 텍스트 또는 그래프, 또는 텍스트와 그래프를 혼용된 시각 정보로 전시하는 것인 야전 장비의 고장 시험 시스템.
  11. 제5항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 회로카드 조립체에 저장된 상기 야전 정비 장비의 시험 이력 정보에 따라 상기 시험부에서 시험한 결과, 해당 시험 이력 정보와 달리 해당 불량 부품에 대한 불량이 발생하지 않은 경우, 상기 회로카드 조립체를 구성한 모든 부품들에 대하여 기 설정된 항목 및 순서대로 시험이 이루어지도록 상기 시험부를 제어하는 것인 야전 장비의 고장 시험 시스템.
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 야전 장비의 고장 시험 방법에 있어서,
    수리창 정비 장비에서, 운용자의 시험 요청에 따라, 야전 정비 장비를 통한 시험 결과에 대한 이력 정보가 저장된 회로카드 조립체로 시험 이력 정보를 요청하는 단계; 및
    상기 요청에 따라 상기 회로카드 조립체로부터 수신되는 회로카드 조립체에 대한 시험 이력 정보를 기반으로 불량 부품 및 불량 원인에 대해 시험을 수행하여 시험 수행 결과 정보를 저장하는 단계를 포함하고,
    상기 시험 이력 정보는,
    상기 회로카드 조립체를 구성하는 각 부품들에 대한 시험 결과에 따른, 불량 부품 식별 정보, 불량 원인 정보, 불량 부품이 포함된 회로카드 조립체에 대한 식별 정보, 시험 시간 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함하며,
    상기 시험 수행 결과 정보를 저장하는 단계는,
    상기 회로카드 조립체의 시험을 운영자의 선택에 따라 요청하는 단계;
    상기 요청에 따라 상기 회로카드 조립체로부터 상기 야전 정비 장비의 시험 이력 정보를 수신하는 단계;
    상기 수신되는 회로카드 조립체에 대한 상기 야전 정비 장비의 시험 이력 정보를 기반으로 하는 불량 부품 및 불량 원인에 대한 시험을 수행하는 단계; 및
    상기 시험 결과에 대한 시험 결과 정보를 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 방법.
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 제15항에 있어서,
    상기 메모리에 저장되는 시험 결과 정보는,
    불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 방법.
  19. 제15항에 있어서,
    상기 시험 결과에 대한 시험결과 정보를 메모리에 저장하는 단계 이후, 운용자의 요청에 따라 상기 메모리에 저장된 시험 결과 정보를 전시장치에 전시하는 단계를 더 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 방법
  20. 제19항에 있어서,
    상기 전시장치에 전시되는 시험 결과 정보는,
    불량이 발생된 회로카드 조립체 고유 식별 정보, 해당 회로카드가 장착되어지는 야전 장비 고유 식별 정보, 불량 회로카드 조립체 내 불량 부품에 대한 고유 식별 정보, 시험 시간 정보, 불량 부품에 대한 불량 원인에 대한 정보, 불량 횟수 정보 중 적어도 하나 이상의 정보를 시험 결과 항목에 따라 텍스트 또는 그래프, 또는 텍스트와 그래프를 혼용된 시각 정보로 전시하는 것인 야전 장비의 고장 시험 방법.
  21. 제15항에 있어서,
    상기 시험 수행 결과 정보를 저장하는 단계에서,
    상기 회로카드 조립체에 저장된 상기 야전 정비 장비의 시험 이력 정보에 따라 시험한 결과, 해당 시험 이력 정보와 달리 해당 불량 부품에 대한 불량이 발생하지 않은 경우, 상기 회로카드 조립체를 구성한 모든 부품들에 대하여 기 설정된 항목 및 순서대로 시험이 이루어지도록 제어하는 단계를 더 포함하는 것인 야전 장비의 고장 시험 방법.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160118126A (ko) * 2015-04-01 2016-10-11 크로마 에이티이 인코포레이티드 자동 테스트 시스템 및 방법
KR101950011B1 (ko) * 2018-07-24 2019-02-19 한화시스템(주) 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160118126A (ko) * 2015-04-01 2016-10-11 크로마 에이티이 인코포레이티드 자동 테스트 시스템 및 방법
KR101950011B1 (ko) * 2018-07-24 2019-02-19 한화시스템(주) 자동시험장비 내 스위칭 장치 검증 시스템

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Dong-Il Kim 외 1인, ‘Design and Fabrication of Test Equipment for mass production of Automatic Test Equipment(ATE)’, Journal of The Korea Society of Computer and Information Vol.22, No.8, 2017.08.* *

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