CN1551217A - 用于检测平台预制坑的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

可更精确的识别DVD－R或者DVD－RW的地址信息。因此，利用采样/保持装置(10)实现该检测器以存储将被用于采样视窗的参考值。可选的积分器(13)用于比较积分信号与参考值(VI)以决定平台预制坑的存在。通过将时钟与预定因数相乘，从被锁定到进入槽摆动信号(TWin)上的锁相环(12)中获得用于控制采样/保持装置(10)以及积分器(13)的定时。有益的是，将不包括必须根据盘速度变化而调谐的带通滤波器。此外，由于未使用限幅器，所以建议的平台预制坑检测器很少受到输入幅值变化的影响。

Description

用于检测平台预制坑的方法及装置
技术领域
本发明涉及一种用于对光记录介质上的标记进行检测的方法，该方法包括通过获得包括一个与待扫描标记相关的信息的扫描信号来对光记录介质上的磁迹进行扫描。此外，本发明涉及一种用于对光记录介质上的标记进行检测的相应装置。
背景技术
在为大家所熟知的DVD-R的ECMA标准(“ECMA-格式化信息和通信系统：80mm(每侧1,23千兆字节)和120mm(每侧3,95千兆字节)”)以及DVD-RW的ECMA 338标准(“ECMA格式化信息和通信系统：80mm(每侧1,46千兆字节)和120mm(每侧4,70千兆字节)DVD可再记录的磁盘(DVD-RW)”)中，将用于识别未记录磁盘上的位置的地址信息保存在所谓的平台预制坑(LPP)中。这些预制坑彼此位于是用于分离记录沟槽，即磁迹的区域的平台中。在磁盘的主处理过程中形成了作为可记录区的沟槽以及用于保持平台预制坑的平台，即其在未记录的/空白磁盘上是可用的。
该沟槽是具有较小半径正弦波的圆形或者螺旋形，该正弦波的形状具有图1所示被称为磁迹摆动的偏离。利用诸如推挽信号的磁迹误差信号来检测各个磁迹摆动信号。另外，可应用某种过滤或者AC耦合。同时，由于所述推挽信号还示出了与平台相邻的沟槽外缘上的反射率变化，所以，也可利用这些推挽信号来检测平台预制坑，。
属于实际上被读取或者被记录的沟槽的平台预制坑总是位于该沟槽的一侧。根据ECMA-279，它们被压印在对抗该磁迹的磁迹摆动调制的预定位置上。沟槽摆动被认为是正弦波并且沟槽摆动与平台预制坑之间的相位关系(PWP)被规定为90°±10°。因此，测定PWP值以作为LPP信号的最大点与摆动的平均零交叉点之间的相位。因此通过检测PWP值来触发LPP搜索。
此外磁迹摆动信号可以被用于在记录或者播放过程中对光记录介质的转速进行控制。为了创建可靠的记录介质速度信号，通常使用被用于锁定磁迹摆动的锁相环(PLL)。该PLL的时钟输出可用于关闭记录介质转速回路。如果该PLL锁定了磁迹摆动，那么也可得到用于对平台预制坑检测块进行控制的定时信号。
在ECMA-279(附录Q)中提出了简单的检测系统(图2)。如已经描述的，从推挽信号1中获得了平台预制坑信号以及磁迹摆动频率。产生推挽信号的信号代数是(A+B)-(C+D)，其中A、B、C、以及D是用于对所反射的激光束的位置进行检测的四象限检测器(在这里未给出)的四个信号。将该推挽信号提供给限幅器2，该限幅器2切掉其大于典型的推挽幅值的峰值，并且此后由带通滤波器3对其进行处理，该带通滤波器3切去其比标准的磁迹摆动频率大或者小的频率分量。此后添加电压V1。利用第一比较器4将该信号处理的结果与原始信号进行比较。PLL(未给出)锁定磁迹摆动频率。PLL创建了其具有与磁迹摆动频率相同频率及相位的锁定正弦波信号。由用于创建检测窗的第二比较器来对PLL的输出信号和第二参考电压V2进行比较。通过噪声选通6来组合两个比较器4、5的输出，该噪声选通6典型的执行逻辑与操作。
图3给出了对应信号的示意图。图3中的曲线A是提供给第一比较器4的信号。推挽信号PPS具有典型的由某种噪音所叠加的正弦波形。在点P1，PPS信号出现了失真。在点P2，由于平台预制坑而使PPS信号变形。图3A中的第二曲线BPF+V1示出了由带通滤波器3所滤波的并且其向下移动了恒定电压V1的PPS信号。比较器4检测到在点P1和P2处信号PPS小于信号BPF+V1。图3B给出了最终的比较器信号。并行的第二比较器5对其具有与PPS信号相同频率的PLL信号与如图3C所示的恒定电压信号V2进行比较。其结果是第二比较器5输出如图3D所示的选通信号。图3B和3D的信号的与操作导致了如图3E所示的信号。因此，通过该AND操作来除去由点P1处的失真所造成的比较器信号并且获得可用的平台预制坑信号。
在ECMA-279系统中，平台预制坑脉冲所产生的信号不具有恒定幅值。此外，由于在减法(A+B)-(C+D)过程中不够理想的公共模式删除，其会受到HF分量的影响。
同样，还出现了由于相邻磁迹所造成的对磁迹摆动幅值及平台预制坑幅值的影响。在磁迹摆幅的情况下，该效果被称作摆动拍。
在ECMA-279中所提出的平台预制坑检测器是基于对受限的且带通的信号与原始信号的比较结果。如果磁迹摆动信号的幅值显著的上升到限幅器值之上或者下降到限幅器值之下，则第一比较器4未能检测到现存的平台预制坑。同时，如果播放速度或者记录速度改变了，如CAV模式中的例子，那么因此必须调整BPF 3。标准检测器电路的另一个缺点就是PLL(未给出)必须创建合成的等幅正弦波以使能创建可靠的噪声选通信号。
就此而言，文件EP1184850A2公开了这样一种录放装置，该录放装置可以较高的精确度来对光盘上的平台预制坑进行可靠的检测。从分离检测器(split detector)输出的多个信号之一与一个预定的系数相乘，所述预定系数依据检测平台预制坑的误差速率、物镜的透镜位移量、以及相对于数据信号而言的平台预制坑信号和摆动信号的电平而变化。
发明内容
本发明的一个目的就是提供一种用于对平台预制坑信号进行可靠检测的可替换方法及装置。
根据本发明，该目的可由一种用于对光记录介质上的标记进行检测的装置来解决，该装置包括：扫描装置、存储装置以及确定装置。该扫描装置通过获得包括与待检测的所述标记相关的信息的扫描信号对所述光记录介质上的磁迹进行扫描。该存储装置在预定的采样时间存储所述扫描信号以作为参考信号。如果所述扫描信号以预定的方式而偏离所述参考信号，那么该确定装置确定一标记。
此外，根据本发明，提出了一种用于对光记录介质上的标记进行检测的方法，该方法包括步骤：通过获得这样的扫描信号来对所述光记录介质上的磁迹进行扫描，该扫描信号即就是包括与所检测的所述标记有关的信息；在预定的采样时间存储所述扫描信号以作为参考信号；以及如果所述扫描信号以预定的方式偏离所述参考信号，那么确定一标记。
与已知的解决方案相比较，本发明具有下述的优点，即不使用根据转速(CAV模式等等)的变化而对其进行调整的带通滤波器。此外，根据本发明所获得的平台预制坑信号呈现出与输入振幅的改变较小的相关性，因为未使用限幅器。另外，由于从时钟计时中获得定时，所以，选通定时的创建呈现出与信号电平较小的相关性，。另外，与单步检测相比较，平台预制坑信号呈现出与检测窗精确度(相位)较小的相关性。
有利的，存储装置包括一采样/保持(S/H)装置或者用于存储实际磁迹摆动信号值的一数字存储装置。
该光记录介质可以是DVD-R或者DVD-RW，并且所检测的标记可以是平台预制坑。
有利的，确定装置包括用于从扫描信号中减去参考信号的相减装置、用于对相减信号进行积分的积分装置、以及用于对积分信号与阈值进行比较的比较装置。在这种情况下积分信号取决于基准信号与采样信号的绝对差。可选的，本发明的装置包括这样的格式化装置，该格式化装置使减法信号格式化。
或者，确定装置包括用于对参考信号与扫描信号进行比较第一比较装置、用于对第一比较信号进行积分的积分装置、以及对积分信号与阈值进行比较的第二比较装置。在这种情况下，积分信号仅取决于参考信号与采样信号之间的相对差。
最好是，扫描信号是磁迹摆动信号。此外，根据采样信号的相位来确定预定的采样时间。
有利的，在用于读和/或写光记录介质的装置中执行根据本发明的方法。这可对光记录介质上的平台预制坑进行可靠的检测。
附图说明
现在结合附图对本发明进行更加详细的描述，在附图中：
图1给出了如ECMA-279及ECMA-338中所描述的摆动与平台预制坑之间的相位关系；
图2给出了在标准中所描述的平台预制坑检测器；
图3给出了标准检测器的信号波形；
图4给出了根据本发明的模拟检测器的方框图；
图5给出了本发明的检测器的信号波形；
图6给出了图4所示的检测器的电路图；
图7给出了数字检测器的方框图；
图8给出了另一种模拟检测器的方框图；
图9给出了另一种数字检测器的方框图；
图10给出了第一格式化电路的方框图；
图11给出了第二格式化电路的方框图；
图12给出了添加到图4电路中的一格式化电路的方框图；
图13给出了添加到图7电路中的一格式化电路的方框图；
图14给出了添加到图6电路中的一格式化电路的方框图；
图15给出了根据现有技术表示没有相移的已锁定状态的一PLL的典型信号示意图；
图16给出了根据现有技术表示没有相移的已锁定状态的一PLL的另一个典型信号示意图；
图17给出了根据图15但分别具有负或正相移的信号示意图；
图18给出了根据现有技术的一PLL，该PLL形成了图15和17所示的信号；
图19给出了根据现有技术的一PLL，该PLL形成了图16所示的信号；
图20给出了当利用现有技术的位于LPP范围内的一PLL时的信号示意图；
图21给出了当利用根据第一实施例的第一方案的一PLL时的信号示意图；
图22给出了当利用根据第二实施例的第一方案的一PLL时的信号示意图；
图23给出了当利用根据第二实施例的第二方案的一PLL时的信号示意图；
图24给出了根据第一实施例的第一方案的一PLL，该PLL形成了图21(A)所示的信号；
图25给出了根据第一实施例的第二方案的一PLL，该PLL形成了图21(C)所示的信号；
图26给出了根据第二实施例的两个方案的一PLL，该PLL形成了图22或者图23所示的信号；
图27给出了一信号示意图，该信号示意图表示了LPP检测所产生的控制信号以及对相位误差信号进行校正而所需的信号；
图28给出了与相位误差的可替换校正有关的信号示意图；以及
图29给出了根据本发明的方法的流程图。
具体实施方式
为了产生用于控制LPP检测器的定时的定时信号，最好使用执行与预定因数相乘的时钟乘法的PLL。例如，如果使用8的时钟乘法，那么可实现在360°磁迹摆动周期内45°的分辨率。因此，利用较高的乘数，这可使从PLL时钟中所得到的时间分辨率增加。因为平台预制坑位于预定的标称中间位置(在DVD-R/RW中270°±10°)并且具有预定的标称幅值(8-10T，即在DVD-R/RW中±7.5°)，因此根据相乘的磁迹摆动PLL时钟而利用一计数器和一逻辑来创建检测窗，其中该逻辑根据计数器值来确定选通信号。这些选通信号控制采样/保持以及可选的积分器。还创建了用于驱动D-FF(D型触发)的触发器，该触发器对比较器输出的逻辑电平进行采样以确定在该选通期间内是否检测到了平台预制坑。
图4中的方框图给出了根据本发明的模拟实现的一例子。直接的以及通过采样/保持元件10而将磁迹摆动输入信号TWin送到减法器11。TWin信号输入到其内的PLL电路12获得了S/H元件10的时间信号。时间信号通过在所希望的LPP的开始位置之前略微的保持而创建了采样窗。保持功能仍对LPP的标称长度是使能的。
将减法器11的输出提供给积分器13，该积分器13还受控于其对PLL电路12的时钟循环进行计数的计数器。在比较器14中对积分器13的输出与恒定电压VI进行比较。将比较器14的输出信号提供给D-FF15，该D-FF15也受控于PLL电路12的时钟。D-FF15在采样窗结束时对比较器14所执行的比较结果进行存储以用于进一步的信号处理。
图5给出了对应信号的示意图。在图5的部分A中，在检测电路的输入端存在TWin信号。TWin信号具有大约正弦波形状。在TWin信号的正极大值处，所检测到的分别位于P3和P4位置处的平台预制坑使正弦波形状失真。略微在所期望的LPP位置之前开始采样视窗S3、S4并且其正好在所期望的LPP结束之后停止。因为LPP相对于摆动信号TWin的过零点而言具有标称相移，因此可从这样一个计数器中得到时间，该计数器即就是作为用于对Twin信号进行锁定的PLL的一部件。因此如图1所示产生了与所期望的LPP触发点相靠近的采样窗。
将位于采样窗开始处的TWin信号值作为参考值。从实际的TWin信号中减去该参考值以便获得图5B的信号。如图5C所示，对该信号进行积分并且将其与阈值进行比较。在图5C的左侧以及右侧这两种情况下，积分信号上升到阈值之上，其表明已检测到平台预制坑。
在图5A的采样点所示的数字信号处理的情况下，在采样窗S3和S4中将实际所采样的值与先前所采样的值进行比较。如果实际值大于先前值，那么计数器加一。否则，如图5D所示计数器减一(图7的比较电路)。
图6给出了位于图4之中的LPP检测器的示例性实施例的详细电路图。
检测选通的(Enlnt；可进行积分)开始将S/H 10从采样状态转换到保持状态，该保持状态使S/H 10的运算放大器的非倒相输入保持在恰好这样一个位置之前的电平上，即希望平台预制坑脉冲位于该位置上(图5中的采样窗S3、S4的开始)。同时，启动积分器13，如果存在平台预制坑，那么该积分器13可显著的改变其输出电压。从这样一个电压中减去TWin信号，即通过减法器11而经由S/H 10来保持上述电压，并且结果是其即就是LPP脉冲的积分的一电压。在LPP脉冲结束时，该积分信号通常具有其最大幅值。将积分器13的差分放大器的输出提供给电压比较器14，该电压比较器14对所积分的电压和预定阈值电压V1进行比较，该预定阈值电压是由分压器所有利创建的。选择阈值电压V1以便积分脉冲电压总是较大的，但是非现存脉冲的积分小于阈值电压。因此阈值电压V1总是正电压。例如，假定TWin信号的LPP内容还具有如标准中所示的标称幅值，V1可以是出厂所调整的其是标称积分电压几分之一的一定值。
标准描述了格式化的作为被除以平均镜像电压A+B+C+D[0.14＜LPP＜0.28]的平台预致坑峰值的平台预制坑幅值。如果在与平台预制坑长度相匹配的恒定周期期间对平台预制坑进行积分，那么所生成的电压仍是镜像电压的几分之一，即被除以镜像电压的积分电压具有视积分时间常数而定的一可预测值。由于叠加在TWin信号上的平台预制坑是利用记录介质的反射以及激光功率定标的，因此可有利的改变阈值电压V1。最容易的用于标度V1的方式就是使分压器的电源电压与镜像信号产生块(未给出)相连，而不是如图6所示的使其与固定电压相连。在选通S3、S4结束之前不久，由D-FF15来对比较器的输出进行采样，此后复位积分器13并且S/H 10转换回到采样模式以对在360°的倍数之后所出现的下一个平台预制坑脉冲进行检测。
可将如上所述的方法转用到数字领域(图7)。首先由A/D转换器16对磁迹摆动信号进行转换。在PLL和控制逻辑18所创建的检测窗的开始时，将经A/D转换的值存储在存储器17中。此后将数字差置入减法器11中以计算实际采样值与所存储的一个采样值之间的差值。数字累加器或积分器13将所采样的差值相加以建立采样差值的积分。在检测窗结束时，比较器14对积分值与预定阈值19进行比较以检测平台预制坑的存在。假定由使TW时钟与预定因数相乘的磁迹摆动PLL 18来控制采样，那么，采样数和积分数与磁迹摆动频率以及由此导致的驱动器记录速度或播放速度无关。在这种情况下，由于数字积分器13使用TW频率自动定标，所以，数字积分器13优于模拟积分器，其中需要对模拟积分器的τ＝R·C定标。如果n是基于预定标称速度/磁迹摆动频率的速度因数，那么必须成反比的定标电阻器或者电容(1/n·C或者1/n·R)。那么，平台预制坑脉冲的积分结果与记录速度无关。
下述是略有不同的方法(图8是模拟实现，图9是数字实现)，第一比较器20获取实际TW值与所存储TW值之间的差值，并且将比较结果(方向信号DIR)提供给积分器13的输入。因此，积分器的电压根据差值结果而上升或者下降，其中，积分斜率不再取决于该差值。这使得积分与平台预制坑脉冲的振幅变化无关。如上所述，利用模拟法的积分仍取决于记录速度或者TW频率。至于其它电路元件，参考图4。
如已指出的，还可以在数字域中实现上述第二方法(图9)。由A/D转换器16量化TW信号并在检测窗开始时将采样值保存在存储器17中。在检测窗期间与采样时钟相同步地对实际采样值与所存储的值进行比较。比较结果确定计数器的数字递增/递减方向，该计数器21通常在检测窗开始时从零值开始计数。计数器21在由检测窗之内的控制逻辑18所创建的每个时钟脉冲处向上或向下计数。在检测窗结束时对计数器值与预定阈值进行比较。这最好由D-FF 15完成。此后存储器14及计数器21被复位以便为利用另一个检测窗开始下一个检测处理作好准备。可利用用于定时的单稳态触发器来实现控制逻辑18，但最好是由受来自被锁定到TW时钟的PLL时钟乘法器的时钟所控制的计数器及比较器来实现。其辅助元件参考图7的元件。
如上所述的检测系统具有若干基本优点。在检测窗结束时的计数值的结果不取决于TW信号的幅值。只是实际值与所存储值的比较结果决定计数方向。由于计数器从控制逻辑对PLL的应答中获得预定数目的时钟脉冲，因此检测脉冲结束时的计数器值不取决于光记录介质的记录速度或者播放速度。由于在整个检测窗过程中执行积分，因此与标准中所提出的单脉冲检测相比，该检测过程受到平台预制坑脉冲失真的影响较小。因为在整个检测窗过程中执行积分，因此与标准中所提出的单脉冲检测相比，该检测处理受两个PLL的相位的相位误差以及平台预制坑脉冲的精确位置的影响较小。
为了在读(由符号间隔反射变化或者指纹影响所造成的)或写期间获得对光记录介质的反射变化的改进的LPP检测，有利的是增加格式化。该格式化例如可应用于TWin信号本身或者应用于根据TWin信号与所采样的(S/H)TWin信号的差值所获得的信号，如图4、图6以及图7所示。如果由比较器对TWin信号与所采样的(S/H)TWin信号进行比较，那么不必应用格式化，因为比较的结果是二进制化。因此，比较的结果不取决于每个信号的电平，并且可省略格式化(如图8、9所示)。
有利的是格式化的分子可以是如图10所示的信号TWin或者如图11所示的TWin与采样TWin(S/H)的差值。有利的是分母可以是直流耦合RF信号(A+B+C+D)或者是在写入处理期间表示激光功率等级的一个信号。
另外，在减法器11之后或积分器13之后的检测比较器14(分别示于图4、6和7)处的阈值电平V1可以被放大(乘以)表示从光记录介质反射的光量的一个信号(倍)。这可有益地通过与图4对应的图12以及与图7对应的图13中所示的乘法器22使用直流耦合的RF信号(A+B+C+D)或表示写处理期间激光功率的一个信号来执行。图14给出了叠加有比例乘法器22的图6的模拟电路。
下面将更加详细的描述图4和图8的PLL块。为了该目的，首先对根据现有技术状态的第一方案中的PLL功能进行简短说明。在由Springer VerlagBerlin所出版的科技书“Halbleiter-Schaltungstechnik”以及另外相关的技术文献中可以找到与PLLs的操作方式有关的更加详细的说明。
图15给出了各个信号的示意图，其示出了相对于标称相位而言没有相移这样一个锁定情况。将正弦式的第一输入信号(TWin)以及矩形第二输入信号(IS)施加到鉴相器上。矩形信号(IS)指出鉴相器是否使第一输入信号(TWin)乘以+1或者-1以产生如图15的最后波形所示的相位误差。
在这种情况下，鉴相器例如可以是所示出的形成了两个输入信号(TWin，IS)乘积这样一个乘法器。在理想情况下，两个输入信号的标称相位使乘积(OS)的平均值是零。这是由虚线上、下相同大小的区域表示的。该乘积被称为相位误差。
在图18中，描述了根据现有技术第一例的PLL。利用环形滤波器121来计算图15的相位误差的平均值，该相位误差的平均值分别是由相位检测器和鉴相器120所检测的。在最容易的情况下，环形滤波器121是由RC低通滤波器组成的。按照这种方法所获得的信号对压控振荡器(VCO)122的频率及相位进行控制，该压控振荡器122的输出被传送到分频器123。将其被n所除的分频器123的输出信号提供给鉴相器120的第二输入，借此以闭合PLL控制回路。例如将分频器123设计成除以40的分频器。
图15所示信号示意图的基础是相对标称相位的相位偏移是零。由此，将图15中压控振荡器122的电源已经被设置为使VCO 122的频率与输入信号TWin频率的四十倍相对应。恰好在该时刻产生分频器123的输出信号，该输出信号的频率与输入信号的频率相同。此后，如图17A和图17B所示，在相位误差信号中，残留的相位差将变得非常明显。在图17A中，相位检测器第一输入端处的输入信号TWin相对于相位检测器第二输入端处的分频器输出信号的标称相位呈现出-45°的相移，借助于该相移，相位检测器的输出信号发生变化，从而使该平均值变成正值。图17B示出了相对两个信号标称相位+45°的相移对于相位检测器120的输出具有什么样的效果。所生成的相位误差信号的平均值变为负值。如果相位误差的平均值不是零，改变VCO的设置以便对由于分频而造成的信号相移进行校正以到达如图15所示的相位位置。
图19给出了根据现有技术的数字PLL的一例子。代替分频器，提供了计数器124以及余弦表125。例如将余弦表125构造成例如在40个计数阶之后产生完整的余弦波。由于在锁定状态下PLL 12的频率和相位必须相同，因此在输入信号的一个周期内必须正好经过40个阶。由此，VCO再次产生输入频率40倍的频率以产生与一个输入频率具有相同周期的余弦波。由于输入信号TWin乘以余弦信号而造成的相位误差信号如图16所示，其中相对标称相位的相移与图15一样也是零。同时，在这种情况下，由于正负区域的大小相同，所以相位误差的平均值是零，。
图20借助于信号示意图示出了在不考虑磁迹摆动信号(TWin)相对于相位检测器120第二输入端处方波信号的实际正确相位情况下平台预制坑(LPP)的发生是如何影响相位误差的产生的。在左手侧描述了LPP信号，该LPP信号未呈现出由容差引起的相对TW信号的任何移位。由于LPP的存在，相位误差对称地变化，其中，由于是相同的区域，所以，通过乘以图20B的信号而造成的相位误差(图20C)仍然是零。在图20的右侧，由于容差所造成的移位，LPP的位置偏离磁迹摆动信号(TWin)的中间。在该点处产生的相位误差信号的平均值(图20C)清楚地具有一负值，所以，即使没有LPP，该实际磁迹摆动信号的相位位置也将是正确的。
使用根据本发明将通过两个实施例来解释的方法，可避免产生有错误的相位误差信号。
图21示出了第一实施例。由于LPP信号出现在磁迹摆动信号的特定位置(图21A)并且其相对于该理论位置具有特定的容差，因此可通过视窗信号(S/H GATE，图21D)来控制采样/保持块以便抑制图21B所示信号接收的相位误差信号失真。为此目的，对采样/保持块进行控制以便在期望存在LPP信号期间保持TW信号的电压值。就在所期望的LPP结束之后再次使采样/保持块退出工作。
图24示出了根据本发明的PLL 12的第一实施例。采样/保持块126连接在相位检测器120的前面。采样/保持块可在由控制信号(S/H GATE，未示出)确定的时间间隔开始时保存输入信号的值，并且在该时间间隔结束之前保持该值。为此目的，还将分频器123设计成视视窗发生器，该视窗发生器将相应的控制信号(S/H GATE)传送到采样/保持块126。此外，该分频器产生将被用在LPP检测中的信号存储使能(Store EN)、使能积分(Enlnt)、复位(RES)和时钟D触发(CLK-DFF)等信号(参见图7和9)。
如果如图21D所示由视窗信号来保持输入信号，那么尽管存在LPP也可产生其具有平均值为零的相位误差信号(图21C)。
在可替换方案中，将采样/保持块126插入到相位检测器输出与环形滤波器之间(图25)。在这种也能产生被校正相位误差信号的情况下，如果使用视窗信号(图21D)，那么，该相位误差信号的形状与图21C中的一个相对应。如图25所示，视窗发生器123产生用于对采样/保持块126进行控制的视窗信号。该视窗发生器123是由一计数器和一数字比较器组成的，如果计数器读数在两个预定值之间，那么该数字比较器将视窗信号设置为“L”。此外，可借助其它的多个数字比较器产生附加的、取决于计数器读数的信号(参看图21)以便可根据图4至14来控制LPP检测。
例如，如果提供了具有40阶的计数器，那么，一阶对应于360°/40＝9°的相位角。如果例如希望LPP位于90°±10°处，那么S/H GATE126例如可在7×9°＝63°处开始并且在13×9°＝117°处结束。在视窗信号是按这种方法所产生的情况下，位于标称位置附近大约±27°宽度之内的LPP不会有助于相位检测器信号。另外，有利的可在计数器读数所定义的位置处使用积分器控制信号(Enlnt)以及D-FF控制信号(Clk-DFF)以用于LPP检测(图4至图14)。有利的，这些控制信号是从与视窗信号(S/H GATE)相同的计数器中获得的，同样如图27所示。
图26给出了用于产生不受LPP影响的相位误差信号的第二实施例。在LPP所存在的时段之内，将相位误差信号转换为零。为此目的，将开关127插入到相位检测器输出与环形滤波器121之间。图22E(图22C中的模拟)给出了所生成的相位误差信号。参看图22D，由于在LPP存在期间有错误的相位误差信号受到抑制，已校正的相位误差信号的平均值(22E)仍然是零。如果需要，相位误差信号的产生受到抑制的时段可以扩展到LPP所处磁迹摆动信号的整个半波。
代替图26所示实施例的，是不使用方波信号控制乘法(+1；-1)去产生用于定义乘法三个因数(+1；0；-1)的信号。还可以根据计数器位置得到所述因数之一有效的位置。图28示出了在存在LPP的区域中因数是零的情况。在这种方式下，在存在LPP的时段内使鉴相器的产物保持为零，并且避免产生有错误的相位误差信号。如上所述，可对计数器读数进行分析以产生用于LPP检测的附加信号，如图27所示。
在图29中给出了根据本发明方法的流程图。在步骤150通过获得这样的扫描信号对光记录介质进行扫描，该扫描信号即就是包括与所检测到的标记有关的信息。在步骤151在预定的采样时间来保存该扫描信号以作为参考信号。在下一个步骤152中对扫描信号与参考信号进行比较。在扫描信号以预定的方式而偏离参考信号的情况下，在步骤153中确定一标记并且该方法返回到步骤150。在扫描信号未以预定的方式而偏离参考信号的情况下，该方法返回到扫描步骤150，而无需确定一标记。

Claims (12)

1.一种用于对光记录介质上的标记进行检测的方法，包括如下步骤：
通过获得包括与将被检测的所述标记相关的信息的扫描信号扫描所述光记录介质上的磁迹；其特征在于，
在预定的采样时间处存储所述扫描信号以作为参考信号，和
如果所述扫描信号以预定的方式偏离所述参考信号，则确定一标记。
2.根据权利要求1的方法，其中，所述标记是平台预制坑。
3.根据权利要求1或2的方法，其中，所述确定标记的步骤是通过从所述扫描信号中减去所述参考信号、积分子跟踪信号和将该积分的信号与一个阈值进行比较来执行的。
4、根据权利要求3的方法，其中，所述减法信号在被积分之前进行格式化。
5、根据权利要求3的方法，其中，使用表示从光记录介质反射的光量或激光功率的信号放大所述阈值信号。
6、根据权利要求1至5中任一个的方法，其中，通过对所述参考信号与所述扫描信号进行比较、对所比较的信号进行积分以及对积分信号与阈值进行比较来执行所述确定一标记的步骤。
7、根据权利要求1至6中任一个的方法，其中，在所述扫描信号的基础上产生定时信号以用于所述采样、保存和/或确定。
8、根据权利要求7的方法，其中，通过抑制所述扫描信号的一部分产生所述定时信号，以便产生与所检测标记无关的所述时间信号。
9、根据权利要求1至8中任一个的方法，其中，根据所述扫描信号的相位确定所述预定采样时间。
10、一种用于对光记录介质上的标记进行检测的装置，其特征在于该装置执行权利要求1-9中任一个权利要求的方法。
11、一种用于对光记录介质上的标记进行检测的装置，该装置包括：
扫描装置，用于通过获得包括与将被检测标记相关的信息的扫描信号扫描所述光盘记录介质上的磁迹；其特征在于还包括：
存储装置(10，17)，用于在预定的采样时间处存储所述扫描信号以作为参考信号；和
确定装置，用于如果所述扫描信号以预定的方式偏离所述参考信号，则确定一标记。
12、用于读/写光记录介质的装置，其特征在于该装置执行权利要求1-9中任一个所述的方法或包括根据权利要求10或11的用于对光记录介质上的标记进行检测的装置。
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