CN1490945A - 通讯设备性能测试方法 - Google Patents

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Abstract

一种通讯设备性能测试方法，包括如下步骤：在老化测试的同时进行内建成自测试BIST，系统设置有能获取老化信息的控制位，CPU通过控制位检测单板是否处于老化测试状态，根据老化测试状态相应地控制单板进行内建成自测试BIST，内建成自测试BIST采用循环测试，其测试结果保存在相应的存储空间；测试结果的保存采用双备份数据并加上相应的标志位，双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果，标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态，测试结果以最新一轮的有效测试结果为准。

Description

通讯设备性能测试方法
技术领域
本发明涉及电通信技术，尤其涉及一种通讯设备性能测试方法。
背景技术
随着信息技术的高速发展，互联网和多媒体等新技术的普及，人们对数据通讯的需求不断增长，大容量数据通讯产品的市场和产量都在不断扩大，通讯设备的复杂度也跟着成正比的增加，在通讯产品设计技术不断成熟的同时，对通讯产品的性能测试也有更高的要求，如何保证测试质量，提高测试效率，降低测试成本，便成为通讯产品测试的关键。
BIST为Built-in self-test的简称，即内建自测试，该技术用电路芯片中增加的硬件构成测试图形产生器、测试响应分析器和测试控制器以自行完成内部测试的过程。内建成自测试BIST不需要复杂的测试设备，可以实现芯片、电路板、系统的层次式测试，提高系统或者单板的自我诊断能力，因而可减少测试设施费和系统维护费。现在通常都是将内建成自测试BIST作为单板可测性设计的一种，在功能测试阶段或者整机测试阶段进行测试。
在相对复杂单板的测试过程中，如图1所示，一般都有老化测试这个阶段，在现有技术中，对于老化测试还没有统一标准，其中一种典型的方法是是仅仅进行上电测试几十个小时，检测在上电的情况下，环境温度对单板加工工艺、器件的影响。
在上述方法中，由于在有信号的情况下，缺少对环境温度等对单板加工工艺、器件的影响，所以具有如下缺点：
1、由于现有的内建成自测试BIST都是在功能测试阶段进行，占用了生产测试时间，降低生产测试效率；
2、在芯片级的内建成自测试BIST中，测试完备性和测试效率之间存在矛盾，如存储器的完备测试由于耗时较长，为了满足产能，往往选择了牺牲测试的完备性，只保证最基本的测试——数据线、地址线的测试；
3、老化测试几十个小时的时间仅仅检测了上电情况下，环境温度对单板工艺、器件的影响，而没有检测在有信号的情况下，环境温度对单板加工工艺、器件的影响，对故障的暴露不明显，测试效率不高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高效率的通讯设备性能测试方法。
本发明所采用的方法为：这种通讯设备性能测试方法包括如下步骤：
在老化测试的同时进行内建成自测试BIST，系统获取老化测试状态，并控制单板相应地进行内建成自测试BIST，内建成自测试BIST采用循环测试，其测试结果保存在相应的存储空间；
系统设置有能获取老化信息的控制位，CPU通过控制位检测单板是否处于老化测试状态，根据老化测试状态相应地控制单板进行内建成自测试BIST；
所述的单板上电，启动系统后，进行控制位检测，若控制位为真，则执行内建成自测试BIST，否则，不执行内建成自测试BIST，将有关测试结果保存后，进行复位，如此循环测试；
所述的内建成自测试BIST进行中，若控制位变为假，则退出内建成自测试BIST；
所述的内建成自测试BIST有多个子测试项时，依次进行各子项测试，在进入每个子项测试时进行控制位检测；
所述的存储空间为不常用存储空间；
所述的存储空间为高端存储空间；
所述的测试结果保存为双备份数据并加上相应的标志位，双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果，标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态；
所述的测试结果以最新一轮的有效测试结果为准；
所述的标志位包括测试成功、测试正在进行、测试失败三种状态。
本发明的有益效果为：本发明在老化测试的同时进行内建成自测试BIST，系统设置有能获取老化信息的控制位，CPU通过控制位检测是否处于老化测试状态，并控制单板相应的进行内建成自测试BIST，内建成自测试BIST采用循环测试方法，测试结果保存在单板上相应的存储空间，这样充分利用了老化测试的时间，完成对内部功能模块、芯片等的内建成自测试BIST，如单板自身误码环回测试，小系统的自检测试，功能模块的自检测试等，可以更充分的暴露芯片、单板工艺等老化故障，大大提高生产测试效率，提高了产能，解决生产测试效率和测试完备性之间的矛盾，因此，本发明提高了测试效率，而且对测试的完备性具有良好的效果。
测试结果保存在单板上的高端存储空间，可供后续的功能测试设备进行查询，并在当前使用中不会用到，因而不影响单板的测试工作；测试结果的保存采用双备份数据并加上相应的标志位，双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果，标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态，测试状态包括测试成功、测试正在进行、测试失败三种状态，测试结果以最新一轮的有效测试结果为准，这样可预防人为操作失误，如测试过程中掉电等导致的测试失败，可以很好的判断是否测试成功，提高了本发明的可靠性和实用性。
总之，本发明提供了一种高效率的通讯设备性能测试方法，可靠性强，实用性高。
附图说明
图1为典型的单板生产测试流程示意图；
图2为本发明流程示意图；
图3为在老化中进行存储器测试的流程示意图。
具体实施方式
下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明：
根据图2，本发明在老化测试的同时进行内建成自测试BIST，系统获取老化测试状态，并控制单板相应地进行内建成自测试BIST，内建成自测试BIST采用循环测试，其测试结果保存在相应的存储空间，系统设置有能获取老化信息的控制位，CPU通过控制位检测单板是否处于老化测试状态，根据老化测试状态相应地控制单板进行内建成自测试BIST。
如图2所示，单板上电，启动系统后，进行控制位检测，若控制位为真，则执行内建成自测试BIST，否则，不执行内建成自测试BIST，将有关测试结果保存后，进行复位，如此循环测试，在内建成自测试BIST进行中，若控制位变为假，则退出内建成自测试BIST。
系统设置有能获取老化信息的控制位，控制位的设置可以从系统本身设计中获得，也可通过设置拨码开关或软件设置等人工方法获得，控制位获取当前正在老化的信息，区分当前状态为老化或者非老化，且该控制位可由CPU处理器等获取，有关测试结果保存在单板上的高端存储空间等不常用的存储空间中，以供功能测试的时候查询。
老化中进行BIST测试采用循环测试方法，为了保证老化测试的有效性，需要取得最后一轮的测试结果作为判断对象，由此，在结果保存的时候，采取双备份加上标志位的方法，用于存取最新一轮测试的信息，以预防人为操作失误导致的测试失败，如测试过程中掉电等，双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果，标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态：测试成功、测试正在进行和测试失败，在功能测试阶段判断测试结果时，使用所保存的最新一轮的有效测试结果作为判断依据，如表1所示的测试状态和标志位。
测试结果标志位 标志位
A、B、C  n
表1
其中，A表示测试成功；
B表示测试正在进行；
C表示测试失败；
n表示第几次测试；
这样的话，假设双备份的结果有如下几种情况时：
a、如表2所示：
 A  10
 B  11
表2
表2表示在第10次测试的时候，测试成功，在进行第11次测试的时候，发生意外情况，导致测试没有进行下去，这样，则取第10次的测试结果作为最终测试结果。
b、如表3所示：
A/B  10
B/A  11
表3
表3表示第10次和第11次都是完整的测试，则取第11次的测试结果。
如图3所示，以在老化中进行存储器的测试为例，存储器的内建成自测试BIST分为3个子测试项，各子测试依次进行，在进入每个子测试时进行控制位ID的检测，在内建成自测试BIST过程中，控制位ID信号也进行循环检测，如果控制位ID信号发生变化，则退出测试，执行后续流程。
测试过程中的测试结果保存起来供后续的功能测试设备进行查询，测试结果的保存空间为一块在当前使用中用不上的空间，如高端存储空间，并且该空间在保存测试结果之前需先完成测试。
如果内建成自测试BIST对象的测试时间较长，无法确定在规定的老化时间中是否可以完成第n轮的测试，则可以在基本输入输出系统BIOS启动的过程中设置定时器，设定定时时间T，根据有关该芯片的实际测试时间进行设定，在启动过程中等待T时间之后才开始进行测试，由于CPU可实现多任务多线程，定时器的设定并不会影响单板的运行，当定时时间T到了以后，触发任务，开始进行内建成自测试BIST。
除了测试存储器以外，其他耗时较长的、可以利用单板自身的资源进行测试的测试项，如本板自身误码环回测试，小系统的自检测试，功能模块的自检测试，均可以采用本发明的测试方法。
从生产加工来看，由于集成芯片IC在出厂前都进行过严格的测试，因此老化测试暴露出的故障更多的集中在单板加工工艺的故障和分离器件的故障这两方面上，因此，在老化中进行内建成自测试BIST，并不会影响单板老化测试的有效性，在保证老化测试质量的情况下，将老化测试的时间利用起来进行内建成自测试BIST，则可以很好地提高生产测试效率，降低生产测试成本，存储器、小系统、功能模块等都是可以实现板级内建成自测试BIST的对象。

Claims (10)

1.一种通讯设备性能测试方法，其特征在于：它采用如下步骤：
A、在对单板进行老化测试的同时，设置获取老化信息的控制位，检测单板是否处于老化测试状态；
B、经控制位检测后，若控制位为真，显示单板处于老化测试状态，则执行内建成自测试(BIST)；
C、将有关内建成自测试(BIST)的测试结果保存在相应的存储空间。
2.根据权利要求1所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的步骤A中，通过设置拨码开关或软件设置标志位获取老化信息。
3.根据权利要求1所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的内建成自测试(BIST)的测试结果保存后，进行复位，循环进行内建成自测试(BIST)。
4.根据权利要求3所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的内建成自测试(BIST)进行中，若控制位变为假，则退出内建成自测试(BIST)。
5.根据权利要求3或4所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的内建成自测试(BIST)有多个子测试项时，依次进行各子项测试，在进入每个子项测试时进行控制位检测。
6.根据权利要求1所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的步骤C中，所述的存储空间为不常用存储空间。
7.根据权利要求6所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的存储空间为高端存储空间。
8.根据权利要求3所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的测试结果保存为双备份数据并加上相应的标志位，双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果，标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态。
9.根据权利要求8所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的测试结果以最新一轮的有效测试结果为准。
10.根据权利要求8所述的通讯设备性能测试方法，其特征在于：所述的标志位包括测试成功、测试正在进行、测试失败三种状态。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100432684C (zh) * 2005-07-29 2008-11-12 华为技术有限公司 对通讯设备进行生产测试的方法
CN102149122A (zh) * 2011-04-01 2011-08-10 大唐移动通信设备有限公司 一种用于基站测试的方法、装置及系统
CN101330708B (zh) * 2008-07-30 2011-10-05 闻泰集团有限公司 一种检测手机是否校准过的方法
CN102222526A (zh) * 2010-04-14 2011-10-19 苹果公司 用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置
CN101374314B (zh) * 2007-08-23 2012-12-12 大唐移动通信设备有限公司 一种原始性能计数器的采集方法及装置
CN105676024A (zh) * 2016-01-06 2016-06-15 北京天诚盛业科技有限公司 电子产品老化测试方法和装置
CN105676105A (zh) * 2014-11-19 2016-06-15 比亚迪股份有限公司 芯片测试方法及芯片测试机
CN106571881A (zh) * 2016-11-10 2017-04-19 上海华为技术有限公司 一种射频发射通道故障管理方法及射频模块
CN114019268A (zh) * 2021-09-30 2022-02-08 惠科股份有限公司 老化测试方法、装置、设备及存储介质

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101127650B (zh) * 2007-09-29 2010-06-02 中兴通讯股份有限公司 一种单板生产测试的方法及测试背板

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100432684C (zh) * 2005-07-29 2008-11-12 华为技术有限公司 对通讯设备进行生产测试的方法
CN101374314B (zh) * 2007-08-23 2012-12-12 大唐移动通信设备有限公司 一种原始性能计数器的采集方法及装置
CN101330708B (zh) * 2008-07-30 2011-10-05 闻泰集团有限公司 一种检测手机是否校准过的方法
CN102222526A (zh) * 2010-04-14 2011-10-19 苹果公司 用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置
CN102222526B (zh) * 2010-04-14 2015-04-01 苹果公司 用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置
CN102149122A (zh) * 2011-04-01 2011-08-10 大唐移动通信设备有限公司 一种用于基站测试的方法、装置及系统
CN105676105A (zh) * 2014-11-19 2016-06-15 比亚迪股份有限公司 芯片测试方法及芯片测试机
CN105676024A (zh) * 2016-01-06 2016-06-15 北京天诚盛业科技有限公司 电子产品老化测试方法和装置
CN105676024B (zh) * 2016-01-06 2019-03-26 北京眼神智能科技有限公司 虹膜产品老化测试方法和装置
CN106571881A (zh) * 2016-11-10 2017-04-19 上海华为技术有限公司 一种射频发射通道故障管理方法及射频模块
CN114019268A (zh) * 2021-09-30 2022-02-08 惠科股份有限公司 老化测试方法、装置、设备及存储介质
CN114019268B (zh) * 2021-09-30 2023-06-27 惠科股份有限公司 老化测试方法、装置、设备及存储介质

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