CN100432684C - 对通讯设备进行生产测试的方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种对通讯设备进行生产测试的方法，该方法主要包括：在通讯设备的单板软件中设置自动老化测试标记和自动老化测试次数参数，所述的自动老化测试次数根据通讯设备的老化时间和进行一次自动装备测试的时间来确定；在通讯设备的老化过程中，根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，对通讯设备进行生产测试。利用本发明所述方法，从而可以充分地利用通讯设备单板老化的时间，完成对通讯设备内部功能模块、芯片等的自动装备测试，提高生产测试效率。

Description

对通讯设备进行生产测试的方法

技术领域

本发明涉及通讯领域，尤其涉及一种对通讯设备进行生产测试的方法。

背景技术

随着互连网和多媒体等信息技术的高速发展，人们对大容量数据通讯设备的需求不断增长，通讯设备的复杂度也跟着成正比的增加。因此，对通讯设备的生产测试也有了更高的要求，在通讯设备的生产测试中，必须实现既要保证生产测试质量，提高生产测试效率，又要降低生产测试成本。

通讯设备单板的典型生产流程如图1所示。该流程中的各部分的简单介绍如下：

单板加工：完成通讯设备的元器件和电路板的焊接组装。

在线测试：即ICT测试，使用ICT测试仪配合专用测试夹具，完成对通讯设备单板的基本性能的测试，使单板能够覆盖开路、短路、简单器件的电性能缺陷。

老化：一般通过在高温环境中给单板加电，使单板加速度过早期失效期，老化过程耗时较长，一般都在10～20小时左右。

功能测试：即FT测试，利用测试设备对单板或模块具备的产品功能进行覆盖测试。

整机测试：将各单板组装成整机系统后，对整机系统进行整体功能的测试验证，该测试可检查出单板间的配合问题。

现有的一种对通讯设备进行生产测试的方法为BIST(Built-in self-test，内建自测试)测试方法。该方法主要是通过在通讯设备的电路芯片中增加一些硬件，并将这些硬件构成测试图形产生器、测试响应分析器和测试控制器，然后，利用这些器件在通讯设备的生产过程中自动对通讯设备进行内部测试。

BIST测试一个相对独立的测试，不需要复杂的测试设备，不需依赖其他的资源来实现测试。BIST测试可以对通讯设备进行多层次(芯片、电路板、系统)的测试。现在业界通常的做法都是将BIST测试作为单板可测性设计的一种，在通讯设备单板的生产流程中的功能测试阶段或者整机测试阶段进行该测试。

上面所述BIST测试方法的缺点为：

1、现有的BIST测试都是在通讯设备单板的功能测试或者整机测试阶段进行，占用了生产测试时间，降低了生产测试效率。

2、在芯片级的BIST测试中，测试完备性和测试效率之间存在矛盾。比如存储器的完备测试由于耗时较长，为了提高效率，往往选择了牺牲测试的完备性，只对存储器进行最基本的数据线、地址线的测试。

3、该测试没有和通讯设备单板的老化过程相结合。对老化故障的暴露不明显，测试效率不高。

现有的另一种对通讯设备进行生产测试的方法为通过硬件控制的自动老化装备测试。该测试方法将BIST测试等测试集成在一起，通过存储器、小系统、功能模块等构成老化装备测试。将该测试放在通讯设备单板的老化过程中进行，并将测试记录保存在某一可靠的、可读取的存储空间，供FT测试时候查询。具体操作为：在老化过程中，当单板不插紧槽位时，则单板背板没有获得在位信号，于是自动进行老化装备测试。当通过人工将单板插紧槽位后，则单板背板获取了在位信号，于是自动停止进行老化装备测试。

上面所述通过硬件控制的自动老化装备测试方法的缺点为：

1、自动老化装备测试的启动和停止需要通过人工插紧或不插紧槽位来控制，增加了人为操作复杂性。

2、自动老化装备测试的可控性差，只要单板不在位就一直自动进行测试，无法确定测试次数。特别对于已发货单板，如果用户使用时没有插紧单板(或者慢插、或者背板插针损坏)，也将会自动启动老化装备测试功能，而这并不是用户需要的，如果在该测试过程中拔板或掉电，会存在单板程序丢失、单板不可用等风险。而且如果存储器的测试次数过多，其寿命也将会减少。

发明内容

鉴于上述现有技术所存在的问题，本发明的目的是提供一种对通讯设备进行生产测试的方法，从而可以充分地利用通讯设备单板老化的时间，完成对通讯设备内部功能模块、芯片等的自动装备测试，提高生产测试效率。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种对通讯设备进行生产测试的方法，包括：

A、在通讯设备的单板软件中设置自动老化测试标记和自动老化测试次数参数，所述的自动老化测试次数根据通讯设备的老化时间和进行一次自动装备测试的时间来确定；

B、在通讯设备的老化过程中，根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，对通讯设备进行生产测试。

所述的生产测试包括自动装备测试。

所述的步骤A具体包括：

将所述的自动老化测试标记和自动老化测试次数保存在单板存储器内一存储空间中。

通过设置单板串口来取消所述自动老化测试次数。

所述的步骤A还包括：

生成自动老化测试标记、自动老化测试次数和自动装备测试的应用程序的合一加载文件，并将该文件烧上通讯设备的单板中。

所述的步骤B具体包括：

根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，在通讯设备的老化过程中控制进行自动装备测试。

所述的步骤B具体包括：

B1、在通讯设备开始进行老化后启动自动装备测试处理流程，判断自动老化测试标记是否正确、自动老化测试次数是否大于零，如果自动老化测试标记和自动老化测试次数都满足条件，则执行步骤B2；否则，执行步骤B3；

B2、在通讯设备的老化过程中进行自动装备测试，并保存测试结果，测试完毕后，将自动老化测试次数减一，执行步骤B1；

B3、退出自动装备测试处理流程，启动正常开工流程。

所述的步骤B2具体包括：

在进行自动装备测试的过程中，单板每测试一个项目之前，还对所述自动老化测试标记和自动老化测试次数检测一次，如果自动老化测试标记正确、自动老化测试次数大于零，则进行该项目的测试。

所述的步骤B2具体包括：

在一次自动装备测试结束后，对自动装备测试的测试过程和结果进行记录，将该记录保存在单板上的某个可读取出来的存储器空间中。

所述的步骤B2还包括：

在进行自动装备测试的过程中，通过单板面板上的红、绿灯的点灯频率来标识不同的测试阶段，通过发送命令查询各阶段具体测试结果。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明通过软件控制，在通讯设备单板的老化过程中进行自动装备测试。具有如下优点：

1、可以充分利用老化测试的时间，完成对内部功能模块、芯片等的自动装备测试。从而可以更充分地暴露芯片、单板工艺等的老化故障，大大提高生产测试效率，降低生产测试成本，提高产能。

2、可以灵活控制自动装备测试的次数，提高自动装备测试的可操作性和可靠性。在老化过程完成后，不再进行自动装备测试。

附图说明

图1为通讯设备单板的典型生产流程示意图；

图2为本发明所述方法的具体处理流程图；

图3为应用了本发明所述方法后，通讯设备单板的生产流程示意图。

具体实施方式

本发明提供了一种对通讯设备进行生产测试的方法。本发明的核心为：在单板软件中设置自动老化测试标记和自动老化测试次数两个参数，并根据该参数将通讯设备的自动装备测试控制在其老化过程中进行。

下面结合附图来详细描述本发明，本发明所述方法的具体处理流程图如图2所示，包括如下步骤：

步骤2-1：生成自动老化测试标记、次数和自动装备测试的应用程序的合一加载文件，并将该文件烧上单板。

本发明首先需要在单板软件上设置自动老化测试标记和自动老化测试次数。自动老化测试标记正确时表示目前可以进行自动装备测试，自动老化测试次数表示自动装备测试的最大测试次数，该次数可以在单板软件中灵活设置。比如：老化过程需要24小时，单板完成一次自动装备测试需要3个小时，则可以将自动老化测试次数设置为6次。

自动老化测试标记和自动老化测试次数在单板存储器(如：flash)内专门开一段空间进行存储。在实际应用中，可以通过软件工具，将该自动老化测试标记、次数和进行自动装备测试的应用程序合成为一个加载文件，然后将该加载文件烧上单板。

步骤2-2：给通讯设备单板上电，启动老化过程和自动装备测试处理流程。

在将上述加载文件烧上通讯设备单板后，将该通讯设备单板转入老化房并上电，于是便启动了通讯设备单板的老化过程，同时也就启动了相关的自动装备测试处理流程。

步骤2-3：进行自动老化测试标记、次数的检测。

根据自动装备测试处理流程，首先进行自动老化测试标记、次数的检测，如果检测结果为自动老化测试标记正确，并且自动老化测试次数大于零，则执行步骤2-5；否则，执行步骤2-4。

步骤2-4：退出自动装备测试处理流程，启动正常开工流程。

如果检测结果为自动老化测试次数不大于零或者自动老化测试标记不正确，则退出自动装备测试处理流程，启动正常开工流程。

步骤2-5：在老化过程中给通讯设备单板进行自动装备测试。

如果检测结果为自动老化测试标记正确，并且自动老化测试次数大于零，则在继续进行老化的过程中，利用所述烧在通讯设备单板上的进行自动装备测试的应用程序，给通讯设备单板进行自动装备测试。自动装备测试可以通过存储器、小系统、功能模块等来实现。执行步骤2-6。

步骤2-6：保存测试结果，标记复位。

在进行自动装备测试的过程中，单板每测试一个项目就先置一个正在测试标记，测完该项目则记录结果。在测试下一个项目之前，再对自动老化测试标记和次数检测一次，如果检测结果为正确，则进行下一个项目的测试。以保证中间有存在取消老化测试的操作得到执行。

在一次自动装备测试结束后，需要对自动装备测试的测试过程和结果进行记录，将该记录保存在单板上的某一个可靠的可读取出来的存储器空间中。在进行FT测试的时候可以查询该记录。然后，将设置的自动老化测试次数减一，一直减到自动老化测试次数为0，中间如果需要取消自动老化测试次数，可以通过单板串口设置来实现。在老化过程结束后，自动老化测试次数将会减到零，因此，发货单板上将不存在自动装备测试。

在自动装备测试过程中，可以通过控制面板上的红、绿灯点灯频率来标识不同的测试阶段，操作人员可以不用接入串口线就查询到当前的测试状态，使操作人员在进行大批量测试操作时，也可以方便地观察到测试的状态，操作人员还可以通过发送命令来查询详细测试结果。

应用了本发明所述方法后，通讯设备单板的生产流程图如图3所示，具体描述如下：

自动老化测试标记、次数和自动装备测试的应用程序被合成到一个ICT加载合一文件中，在单板加工过程中，该ICT加载合一文件被烧到通讯设备单板上。在通讯设备单板的老化过程中进行自动装备测试。该自动装备测试可以包含在线测试或功能测试的部分或全部内容。在老化过程结束后，将不再存在自动装备测试。

因此，图3所示的生产流程操作起来简单，容易实现，充分利用了老化测试的时间自动进行装备测试和测试记录，大大提高了测试效率，提高了产能。而且测试完成后自动老化测试次数标记将清0，出厂单板在使用过程中将不会出现自动老化装备测试，方便可靠。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1、一种对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，包括：

A、在通讯设备的单板软件中设置自动老化测试标记和自动老化测试次数参数，所述的自动老化测试次数根据通讯设备的老化时间和进行一次自动装备测试的时间来确定；

B、在通讯设备的老化过程中，根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，对通讯设备进行生产测试。

2、根据权利要求1所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的生产测试包括自动装备测试。

3、根据权利要求1所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤A具体包括：

将所述的自动老化测试标记和自动老化测试次数保存在单板存储器内一存储空间中。

4、根据权利要求3所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤A具体包括：

通过设置单板串口来取消所述自动老化测试次数。

5、根据权利要求4所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤A还包括：

生成自动老化测试标记、自动老化测试次数和自动装备测试的应用程序的合一加载文件，并将该文件烧上通讯设备的单板中。

6、根据权利要求2、3、4或5所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤B具体包括：

根据所述设置的自动老化测试标记、自动老化测试次数，在通讯设备的老化过程中控制进行自动装备测试。

7、根据权利要求6所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤B具体包括：

B1、在通讯设备开始进行老化后启动自动装备测试处理流程，判断自动老化测试标记是否正确、自动老化测试次数是否大于零，如果自动老化测试标记和自动老化测试次数都满足条件，则执行步骤B2；否则，执行步骤B3；

B2、在通讯设备的老化过程中进行自动装备测试，并保存测试结果，测试完毕后，将自动老化测试次数减一，执行步骤B1；

B3、退出自动装备测试处理流程，启动正常开工流程。

8、根据权利要求7所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤B2具体包括：

在进行自动装备测试的过程中，单板每测试一个项目之前，还对所述自动老化测试标记和自动老化测试次数检测一次，如果自动老化测试标记正确、自动老化测试次数大于零，则进行该项目的测试。

9、根据权利要求8所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤B2具体包括：

在一次自动装备测试结束后，对自动装备测试的测试过程和结果进行记录，将该记录保存在单板上的某个可读取出来的存储器空间中。

10、根据权利要求9所述的对通讯设备进行生产测试的方法，其特征在于，所述的步骤B2还包括：

在进行自动装备测试的过程中，通过单板面板上的红、绿灯的点灯频率来标识不同的测试阶段，通过发送命令查询各阶段具体测试结果。

Images