CN114121120A - 一种存储器的检测系统、方法及芯片 - Google Patents

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CN114121120A
CN114121120A CN202111447061.9A CN202111447061A CN114121120A CN 114121120 A CN114121120 A CN 114121120A CN 202111447061 A CN202111447061 A CN 202111447061A CN 114121120 A CN114121120 A CN 114121120A
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王雪茹
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    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
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    • G11C29/44—Indication or identification of errors, e.g. for repair

Abstract

本申请公开了一种存储器的检测系统、方法及芯片。本申请在检测系统设置检测控制模块，用于在与检测系统连接的内建自测试模块上电后，然后利用检测控制模块监听测试事件，并向测试访问端口控制器提供测试数据，测试访问端口控制器将测试数据通过相应的测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块利用测试数据对存储器进行自动检测，相比现有技术，不再需要人工配置大量的测试策略，节省了测试流程，同时对存储器进行自动测试有效降低了存储器失效的几率，规避了芯片在使用上的风险。另外通过自动测试还能够快速排除存储器出错导致的功能无法正常使用的情况，降低了芯片的损耗。

Description

一种存储器的检测系统、方法及芯片
技术领域
本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种存储器的检测系统、方法及芯片。
背景技术
随着半导体集成技术的发展,存储器因其高带宽,低功耗,硅面积开销小等优点被广泛应用于片上系统(SoC)，在2014年,嵌入式存储器在SoC中的硅面积占有率达到94％；但因存储器本身的高密度结构和复杂的制造工艺也增大了其出现物理缺陷的可能性,同时存储器模拟电路的失效率也随之增大。因此，研究高效的存储器可测性设计方法以及失效存储器的修复技术，开机检测存储器功能是否正常变得十分重要。
在芯片设计环节，对这些存储器，芯片内部会放置内建自测试电路进行测试；在实现本发明的过程中，发明人发现存储器出现失效，很多时候是出现在ATE筛片之后；一般系统上不会专门在boot之前对存储器进行检测，而是通过大量测试策略对存储器进行检测。典型结构会通过外接DIMM或者flush的方式，存放大量的测试策略进行自测试，所有测试策略通过后返回signature；可以通过software或者JTAG读取signature，进而判断故障是否是存储器造成的，由此可见定位存储器的失效问题，并排除干扰。然而在这过程中需要提供大量的pattern，导致系统启动效率低。
发明内容
为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本申请提供了一种存储器的检测系统、方法及芯片。
根据本申请实施例的一个方面，提供了一种存储器的检测系统，一种存储器的检测系统，所述检测系统包括：测试访问端口控制器、检测控制模块；所述检测系统通过内建自测试模块连接所述存储器；
所述检测控制模块连接所述测试访问端口控制器，用于在所述内建自测试模块上电，且监听到测试事件的情况下，向所述测试访问端口控制器发送目标测试数据；
所述测试访问端口控制器还与所述内建自测试模块连接，用于将目标测试数据通过目标测试数据对应的目标测试管脚输入所述内建自测试模块，以使所述内建自测试模块基于目标测试数据对存储器进行自动测试。
进一步的，所述检测控制模块包括：系统测试控制器以及只读存储器；
所述系统测试控制器分别与外部自动化测试设备以及只读存储器连接，用于在监听到自动化测试设备触发测试事件的情况下，从只读存储器中读取目标测试数据，将所述目标测试数据发送至所述测试访问端口控制器。
进一步的，所述系统测试控制器用于从所述测试事件中读取测试类型，并将所述只读存储器中满足所述测试类型的测试数据确定为目标测试数据。
进一步的，所述测试访问端口控制器，还用于接收所述内建自测试模块反馈的实际输出数据，并将所述实际输出数据传输至所述系统测试控制器；
所述系统测试控制器，用于根据所述实际输出数据确定所述存储器的检测结果。
进一步的，所述系统测试控制器，用于在接收到所述实际输出数据的情况下，从所述只读存储器中读取所述目标测试数据对应的目标输出数据，并对比所述实际输出数据和所述目标输出数据得到测试结果，其中，目标输出数据为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据。
根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种存储器的检测方法，所述方法应用于前述的检测控制模块，所述方法包括：
在确定所述检测控制模块所处的检测系统上电运行后，控制存储器切换至测试状态，并监听测试事件；
在监听到测试事件的情况下，获取满足所述测试事件的目标测试数据；
向所述测试访问端口控制器发送所述目标测试数据，以使所述目标测试数据选择相应的目标测试管脚，并将所述目标测试数据通过所述目标测试管脚输入至内建自测试模块，以使所述内建自测试模块对存储器进行自动测试。
进一步的，所述获取满足所述测试事件的目标测试数据，包括：
读取所述测试事件中携带的测试类型；
根据所述测试类型选择相应的目标测试数据。
进一步的，所述方法还包括：
接收所述测试访问端口控制器发送的实际输出数据，其中，所述实际输出数据是所述测试访问端口控制器对所述内建自测试模块进行测试后得到的；
获取所述目标测试数据对应的目标输出数据，其中，所述目标输出数据为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据；
对比所述目标输出数据和所述实际输出数据，得到测试结果。
根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种芯片，包括前述所述的存储器的检测系统以及存储器，所述检测系统通过内建自测试模块与所述存储器连接。
根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种存储介质，该存储介质包括存储的程序，程序运行时执行上述的步骤。
根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种电子装置，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；其中：存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于通过运行存储器上所存放的程序来执行上述方法中的步骤。
本申请实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述方法中的步骤。
本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请在检测系统设置检测控制模块，用于在检测系统上电后，切换存储器进入测试状态，然后利用检测控制模块监听测试事件，并向测试访问端口控制器提供测试数据，测试访问端口控制器将测试数据通过相应的测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块利用测试数据对存储器进行自动检测，相比现有技术，不再需要人工配置大量的测试策略，节省了测试流程，同时对存储器进行自动测试有效降低了存储器失效的几率，规避了芯片在使用上的风险。另外通过自动测试还能够快速排除存储器出错导致的功能无法正常使用的情况，降低了芯片的损耗。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种芯片的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种存储器的检测系统的示意图；
图3为本申请另一实施例提供的一种芯片的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的存储器的检测仿真时序图；
图5为本申请实施例提供的一种存储器的检测方法的流程图；
图6为本申请实施例提供的一种存储器的检测装置的框图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个类似的实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本申请实施例提供了一种存储器的检测系统、方法及芯片。本发明实施例所提供的方法可以应用于任意需要的电子设备，例如，可以为服务器、终端等电子设备，在此不做具体限定，为描述方便，后续简称为电子设备。
根据本申请实施例的一方面，提供了一种存储器的检测系统的实施例。图1为本申请实施例提供的一种芯片的结构示意图，如图1所示，芯片20包括：存储器的检测系统10以及存储器103，检测系统10通过所述内建自测试模块104与存储器103连接.
如图1和图2所示，检测系统10包括：检测控制模块102和测试访问端口控制器1021，检测控制模块102连接测试访问端口控制器1021，用于在内建自测试模块104上电，且监听到测试事件的情况下，向测试访问端口控制器1021发送目标测试数据。
测试访问端口控制器1021还与内建自测试模块104连接，用于将目标测试数据通过目标测试数据对应的目标测试管脚输入内建自测试模块104，以使内建自测试模块104基于目标测试数据对存储器103进行自动测试。
在本申请实施例中，如图2所示，检测控制模块102包括：系统测试控制器1021以及只读存储器1022；系统测试控制器1021分别与外部自动化测试设备以及只读存储器连接，用于在监听到自动化测试设备触发测试事件的情况下，从只读存储器1022中读取目标测试数据，将目标测试数据发送至测试访问端口控制器101。
在本申请实施例中，系统测试控制器1021用于从测试事件中读取测试类型，并将只读存储器1022中满足测试类型的测试数据确定为目标测试数据。
在本申请实施例中，测试访问端口控制器101，还用于接收内建自测试模块104反馈的实际输出数据，并将实际输出数据传输至系统测试控制器1021，系统测试控制器1021，用于根据实际输出数据确定存储器的检测结果。
在本申请实施例中，系统测试控制器1021用于在接收到实际输出数据的情况下，从只读存储器中读取目标测试数据对应的目标输出数据，并对比实际输出数据和目标输出数据得到测试结果，其中，目标输出数据为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据。
作为一个示例，如图3所示，内建自测试模块包括：片上控制器(On Chip Clock，缩写OCC)、联合测试工作组(Joint Test Action Group，缩写JTAG)单元、二极管、存储器内建自测试电路、内建自修复(built-in self repair，缩写BISR)单元、数据选择器。
作为一个示例，系统测试控制器向测试访问端口控制器发送的测试数据可以包括:多个不同测试算法，测试算法中包括测试流程，以及测试流程所需的多个测试参数，测试参数用于测试存储器的可用读写功能，然后测试访问端口控制器将测试算法通过测试管脚传输至MBIST单元，MBIST单元对存储器按照测试算法对存储器进行测试。具体的，MBIST单元按照测试算法的测试流程将测试参数依次输入至存储器，从而得到各个测试参数对应的反馈数据，MBIST单元再对多个反馈数据进行汇总，从而得到存储器实际输出数据，并将实际存储数据反馈给测试访问端口控制器。
具体的连接关系如图3所示，测试访问端口控制器与外部的测试设备(AutomaticTest Equipment，ATE)连接，测试访问端口控制器与系统测试控制器之间双向连接，系统测试控制器与只读存储器之间双向连接。测试访问端口控制器与保险控制器连接，保险控制器与可编程存储器连接，可编程存储器还与内建自修复连接，内建自修复与存储器连接。测试访问端口控制器还与联合测试工作组单元连接、联合测试工作组单元分别连接片上存储器以及二极管，存储器以及二极管分别连接存储器内建自测试电路，存储器内建自测试电路与数据选择器连接，数据选择器与存储器连接。
此处以一具体示例对上述检测系统的工作过程进行说明，如图4所示，在检测系统上电后，确定当前检测控制模块的时钟信号以及复位信号(如图4中的clk以及reset所示)。检测控制模块监听到测试事件后，检测控制模块内部会发生电平变化(如图4中Triggerenable所示)，此时检测控制模块还会控制存储器切换状态，生成控制信号(如图4中的pattern_index所示)，然后检测控制模块进入测试阶段，并生成测试信号(如图4中Test_start所示)。
检测控制模块在进入测试阶段后，检测控制模块中的系统测试控制器会向检测控制模块中的只读存储器读取目标测试数据，此过程会产生数据读取信号以及数据发送信号(如图4中Rom address以及Rom data所示)，在检测控制模块将目标测试数据发送至测试访问端口控制器后，测试访问端口控制器会根据目标测试数据选择相应的目标测试管脚，然后将目标测试数据通过目标测试管脚给到内建自测试模块，以使内建自测试模块根据目标测试数据对存储器进行测试。在测试完成后，内建自测试模块会将实际输出数据反馈给测试访问端口控制器，测试访问端口控制器再将实际输出数据发送至检测控制模块进行对比，对比完成后生成测试结果，从而产生测试完成信号(如图4中Test_done以及Fail_flag所示)。
本申请在检测系统设置检测控制模块，用于在检测系统上电后，切换存储器进入测试状态，然后利用检测控制模块监听测试事件，并向测试访问端口控制器提供测试数据，测试访问端口控制器将测试数据通过相应的测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块利用测试数据对存储器进行自动检测，相比现有技术，不再需要人工配置大量的测试策略，节省了测试流程，同时对存储器进行自动测试有效降低了存储器失效的几率，规避了芯片在使用上的风险。另外通过自动测试还能够快速排除存储器出错导致的功能无法正常使用的情况，降低了芯片的损耗。
本申请实施例的方法可以由上述硬件系统环境中的系统测试控制器来执行，图5为本申请实施例提供的一种存储器的检测方法的流程图，如图5所示，该方法可以包括以下步骤：
步骤S11，在确定内建自测试模块上电运行后，监听测试事件。
本申请实施例提供的方法应用于检测系统中的检测控制模块，检测控制模块所处的检测系统上电运行后，通过向数据选择器发送第一控制指令，以使数据选择器根据第一控制指令将存储器切换至测试状态。另外，本申请实施例中检测控制模块与外部的自动化测试设备连接。当自动化测试设备采用硬件或软件的方式触发用于对存储器进行测试的测试事件时，检测控制模块能够监听该设备触发的测试事件。
步骤S12，在监听到自动化测试设备触发测试事件的情况下，获取满足测试事件的目标测试数据。
在本申请实施例中，通过读取测试事件的事件信息确定测试类型，例如：在事件信息属于外部pad、熔断器或者是MCU控制器中任意一个的情况下，确定测试类型为自动测试类型，此时按照预设测试策略从只读存储器中获取自动测试类型对应的测试数据，并将其确定为目标测试数据。因此通过得到的测试类型自动确定用于进行测试的测试数据，不再需要人工输入测试数据，且能够保证后续对存储器进行测试的完整性。
需要说明的是，逻辑处理通过测试事件的事件信息还可以确定测试事件的来源。例如：如果测试事件的事件信息显示是外部pad或者熔断器，此时可以确定来源是硬件触发系统测试。如果测试事件的事件信息显示是MCU控制器，此时可以确定来源是软件触发系统测试。通过确定测试事件的来源，后续得到测试结果后，根据测试事件的来源选择测试结果相应的发送方式。
另外，在事件信息不属于外部pad、熔断器或者是MCU控制器中任意一个的情况下，确定测试类型为非自动测试类型。在测试类型数据非自动测试类型的情况下，检测控制模块会从事件信息中解析目标测试数据，如果事件信息中不存在目标测试数据的情况下，检测控制模块会向检测系统外部pad发送数据获取请求，通过外部pad获取目标测试数据。
步骤S13，向测试访问端口控制器发送目标测试数据，以使目标测试数据选择相应的目标测试管脚，并将目标测试数据通过目标测试管脚输入至内建自测试模块，以使内建自测试模块对存储器进行自动测试。
在本申请实施例中，检测控制模块会基于目标测试数据生成测试指令，并将测试指令发送至测试访问端口控制器，以使测试访问端口控制器根据测试指令选择相应的目标测试管脚，然后对将目标测试数据通过目标测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块对存储器进行测试。
需要说明的是，由于测试类型包括：自动测试类型和非自动测试类型。不同的测试类型对应不同的测试管脚和测试数据，例如：在测试类型为非自动测试类型时，测试访问端口控制器会从外部的PAD中获取测试数据，此时选择的目标测试管脚包括：测试时钟输入管脚(tck)、测试模式选择管脚(tms)以及测试数据输入管脚(tdi)。在测试类型为自动测试类型时，系统测试控制器会直接向测试访问端口控制器提供测试数据，此时选择的目标测试管脚包括：测试模式选择管脚(tms)以及测试数据输入管脚(tdi)。
在本申请实施例中，在将目标测试数据通过目标测试管脚输入至内建自测试模块，以使内建自测试模块对存储器进行自动测试之后，方法还包括：
步骤A1，接收所述测试访问端口控制器发送的实际输出数据，其中，所述实际输出数据是所述测试访问端口控制器对所述内建自测试模块进行测试后得到的。
步骤A2，获取所述目标测试数据对应的目标输出数据，其中，所述目标输出数据用于表示所述内建自测试模块在正常状态下反馈的输出数据。
步骤A3，对比所述目标输出数据和所述实际输出数据，得到测试结果。
在本申请实施例中，内建自测试模块在对存储器进行测试完成后，会将得到的实际输出数据发送至测试访问端口控制器，即测试访问端口控制器会将接收到的实际输出数据发送至检测控制模块，此时检测控制模块中的系统测试控制器会从检测控制模块中存储器读取的测试数据对应的目标输出数据(expect_data)。需要说明的是，目标输出数据为测试数据对应的期望输出数据，期望输出数据即为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据。
在本申请实施例中，系统测试控制器接收到目标输出数据后，会对比目标输出数据和实际输出数据，得到测试结果。其中，在目标输出数据与实际输出数据匹配的情况下，测试结果为存储器正常。在目标输出数据与实际输出数据不匹配的情况下，测试结果为存储器存在异常/问题。
在本申请实施例中，该方法包括：在测试结果用于指示存储器不存在故障的情况下，向数据选择器发送控制指令，以使数据选择器根据第二控制指令，将存储器由测试状态切换至工作状态。
在本申请实施例中，该方法包括：在测试结果用于指示存储器存在故障的情况下，确定存储器的目标故障信息，从预设知识库中查询是否存在目标故障信息元的目标修复信息，在预设知识库中存在目标修复信息时，将目标修复信息进行显示。或，在预设知识库中不存在目标故障信息对应的目标修复信息时，向目标终端发送提示信息，提示信息中携带存储器的目标故障信息。
作为一个示例，出现异常系统无法boot成功，说明存储器出现故障，需要ATE或者其他测试确定存储器的当前存在故障，例如：借用FUSE、保险控制器以及BISR对存储器进行修复，修复后再进行自检，直到自检成功，否则不会进行下一步的工作。
本申请在检测系统设置检测控制模块，用于在检测系统上电后，切换存储器进入测试状态，然后利用检测控制模块监听测试事件，并向测试访问端口控制器提供测试数据，测试访问端口控制器将测试数据通过相应的测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块利用测试数据对存储器进行自动检测，相比现有技术，不再需要人工配置大量的测试策略，节省了测试流程，同时对存储器进行自动测试有效降低了存储器失效的几率，规避了芯片在使用上的风险。另外通过自动测试还能够快速排除存储器出错导致的功能无法正常使用的情况，降低了芯片的损耗。
在本申请实施例中，测试访问端口控制器执行测试的过程包括以下步骤B1-B2：
步骤B1，将测试数据通过测试管脚输入至内建自测试模块，以使内建自测试模块对存储器进行测试，得到内建自测试模块反馈的实际输出数据。
在本申请实施例中，将测试数据分别通过测试模式选择管脚(tms)以及测试数据输入管脚(tdi)传输至内建自测试模块，以实现内建自测试模块对存储器进行测试，然后获取内建自测试模块在对存储器进行测试后得到的实际输出数据，实际输出数据是通过测试数据输出管脚(tdo)接收的。
步骤B2，将实际输出数据发送至检测控制模块，以使检测控制模块中对比实际输出数据和检测控制模块内存储的目标输出数据，得到测试结果。
在本申请实施例中，测试访问端口控制器在接收到内建自测试模块反馈的实际输出数据后，会将实际输出数据发送至检测控制模块中的系统测试控制器，系统测试控制器会在接收到实际输出数据后会从系统测试控制器连接的只读存储器中读取目标输出数据(expect_data)。需要说明的是，目标输出数据为测试数据对应的期望输出数据，期望输出数据即为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据。检测控制模块的系统测试控制器接收到目标输出数据后，会对比目标输出数据和实际输出数据，得到测试结果。
图6为本申请实施例提供的一种存储器的检测装置的框图，该装置可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为电子设备的部分或者全部。如图6所示，该装置包括：
监听模块41，用于在确定内建自测试模块上电运行后，监听测试事件；
获取模块42，用于在监听到测试事件的情况下，获取满足测试事件的目标测试数据；
发送模块43，用于向测试访问端口控制器发送目标测试数据，以使目标测试数据选择相应的目标测试管脚，并将目标测试数据通过目标测试管脚输入至内建自测试模块，以使内建自测试模块对存储器进行自动测试。
在本申请实施例中，获取模块42，用于读取测试事件中携带的测试类型；根据测试类型选择相应的目标测试数据。
在本申请实施例中，检测装置还包括：处理模块，用于接收所述测试访问端口控制器发送的实际输出数据，其中，所述实际输出数据是所述测试访问端口控制器对所述内建自测试模块进行测试后得到的；获取所述目标测试数据对应的目标输出数据，其中，所述目标输出数据用于表示所述内建自测试模块在正常状态下反馈的输出数据；对比所述目标输出数据和所述实际输出数据，得到测试结果。
本申请实施例通过检测控制模块在监听到测试事件的情况下，检测控制模块向测试访问端口控制器提供测试数据，测试访问端口控制器将测试数据通过相应的测试管脚输入内建自测试模块，以使内建自测试模块利用测试数据对存储器进行自动检测，相比现有技术，不再需要人工配置大量的测试策略，节省了测试流程，同时对存储器进行自动测试有效降低了存储器失效的几率，规避了芯片在使用上的风险。另外通过自动测试还能够快速排除存储器出错导致的功能无法正常使用的情况，降低了芯片的损耗。
在本申请提供的又一实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行以下实施例中任一的存储器的检测方法，该方法包括：
在确定内建自测试模块上电运行后，监听测试事件；
在监听到测试事件的情况下，获取满足测试事件的目标测试数据；
向测试访问端口控制器发送目标测试数据，以使目标测试数据选择相应的目标测试管脚对存储器进行自动测试。
进一步的，获取满足测试事件的目标测试数据，包括：
读取测试事件中携带的测试类型；
根据测试类型选择相应的目标测试数据。
进一步的，方法还包括：
接收测试访问端口控制器发送的实际输出数据，其中，实际输出数据是测试访问端口控制器对内建自测试模块进行测试后得到的；
获取目标测试数据对应的目标输出数据，其中，目标输出数据用于表示内建自测试模块在正常状态下反馈的输出数据；
对比目标输出数据和实际输出数据，得到测试结果。
在本申请提供的又一实施例中，还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中任一的存储器的检测方法。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线)或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk)等。
以上仅为本申请的较佳实施例而已，并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本申请的保护范围内。
以上仅是本申请的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种存储器的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：测试访问端口控制器、检测控制模块；所述检测系统通过内建自测试模块连接所述存储器；
所述检测控制模块连接所述测试访问端口控制器，用于在所述内建自测试模块上电，且监听到测试事件的情况下，向所述测试访问端口控制器发送目标测试数据；
所述测试访问端口控制器还与所述内建自测试模块连接，用于将目标测试数据通过目标测试数据对应的目标测试管脚输入所述内建自测试模块，以使所述内建自测试模块基于目标测试数据对存储器进行自动测试。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测控制模块包括：系统测试控制器以及只读存储器；
所述系统测试控制器分别与外部自动化测试设备以及只读存储器连接，用于在监听到自动化测试设备触发测试事件的情况下，从只读存储器中读取目标测试数据，将所述目标测试数据发送至所述测试访问端口控制器。
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统测试控制器用于从所述测试事件中读取测试类型，并将所述只读存储器中满足所述测试类型的测试数据确定为目标测试数据。
4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试访问端口控制器，还用于接收所述内建自测试模块反馈的实际输出数据，并将所述实际输出数据传输至所述系统测试控制器；
所述系统测试控制器，用于根据所述实际输出数据确定所述存储器的检测结果。
5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，
所述系统测试控制器，用于在接收到所述实际输出数据的情况下，从所述只读存储器中读取所述目标测试数据对应的目标输出数据，并对比所述实际输出数据和所述目标输出数据得到测试结果，其中，目标输出数据为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据。
6.一种存储器的检测方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1-5任意一项所述的检测控制模块，所述方法包括：
在确定内建自测试模块上电运行后，监听测试事件；
在监听到测试事件的情况下，获取满足所述测试事件的目标测试数据；
向所述测试访问端口控制器发送所述目标测试数据，以使所述目标测试数据选择相应的目标测试管脚，并将所述目标测试数据通过所述目标测试管脚输入至内建自测试模块，以使所述内建自测试模块对存储器进行自动测试。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取满足所述测试事件的目标测试数据，包括：
读取所述测试事件中携带的测试类型；
根据所述测试类型选择相应的目标测试数据。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
接收所述测试访问端口控制器发送的实际输出数据，其中，所述实际输出数据是所述测试访问端口控制器对所述内建自测试模块进行测试后得到的；
获取所述目标测试数据对应的目标输出数据，其中，所述目标输出数据为内建自测试模块在存储器处于正常情况下反馈的输出数据；
对比所述目标输出数据和所述实际输出数据，得到测试结果。
9.一种芯片，其特征在于，包括权利要求1-8任意一项所述的存储器的检测系统以及存储器，所述检测系统通过内建自测试模块与所述存储器连接。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行上述权利要求6至8中任一项所述的方法步骤。
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