CN102222526B - 用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置。该方法包括：获取与多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，该多个测试设备中的每一个测试设备对电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；以及根据与该多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。

Description

用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置

技术领域

本发明涉及产品质量管理领域，更具体地涉及一种用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置，所述处理过程包括但不局限于出厂前的产品测试过程。

背景技术

在电子产品加工制造业中，在基本装配完成的电子产品出厂之前，通常会通过一系列的测试设备对电子产品中的一系列部件或部件组合(这里统称为待测试单元)的性能进行测试，以保证最终提供给用户的电子装置的性能符合国家、行业或企业自身的产品质量标准。

一般而言，需要电子产品在所述一系列测试设备中每个测试设备处的测试中都达到相应测试的要求，或者说“通过”每个测试，才允许电子产品出厂。但是，存在未通过测试的产品出厂的可能性。因此为了确保出厂产品的质量，需要能够确保每个电子产品通过了每个测试的装置和方法。

而且，除了测试的通过和未通过以外，电子产品在测试过程中还会表现出一些其他特性，这些特性可能指示出产品的健康状况。例如，某一电子产品在某一测试设备处可能未能一次通过测试，而是经过了若干次重试才通过；此时，通过测试前重试的次数可能表示潜在的缺陷。又例如，某一电子产品可能在测试过程中陷入不希望的停滞或复位状态，这些停滞或复位状态的发生也可能表示潜在的缺陷。因此还可能希望对这些其他特性进行监控。

发明内容

本发明提供了一种用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置。

根据本发明实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，包括：获取与多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，该多个测试设备中的每一个测试设备对电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；以及根据与该多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。

根据本发明实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，包括：控制位获取单元，被配置为获取与多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，该多个测试设备中的每一个测试设备对电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；以及控制执行单元，被配置为根据与该多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。

本发明通过利用与多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止对电子装置进行进一步处理，从基本装配完成的众多电子装置中更加确定地将可能存在缺陷的电子装置过滤出去，从而更有效地确保了最终提供给用户的电子装置的质量。

附图说明

从下面结合附图对本发明的具体实施方式的描述中可以更好地理解本发明，其中：

图1是根据本发明一个实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置的框图；

图2是根据本发明一个实施例，图1所示的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置执行的处理过程的流程图；

图3是根据本发明另一实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法的流程图；

图4是根据本发明另一实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置的框图；以及

图5是根据本发明又一实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置的框图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明各个方面的特征和示例性实施例。下面的描述涵盖了许多具体细节，以便提供对本发明的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说显而易见的是，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更清楚的理解。本发明绝不限于下面所提出的任何具体配置和算法，而是在不脱离本发明的精神的前提下覆盖了相关元素、部件和算法的任何修改、替换和改进。

一般，电子装置中存在用于存储与一系列测试设备对该电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位的存储空间。

本发明提供了一种根据测试设备设置的控制位来确定是否对电子装置进行出厂前的进一步处理的装置和方法。图1示出了根据本发明一个实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置的框图。图2示出了图1所示装置执行的对电子装置的处理过程进行控制的方法的流程图。

如图1所示，用于对电子装置的处理过程进行控制的装置100包括控制位获取单元102和控制执行单元104。

其中，控制位获取单元102从电子装置获取与多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位(即，执行图2中方法200的步骤S202)，其中，多个测试设备中的每一个测试设备对电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置。控制执行单元104根据与多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止对电子装置进行下一步处理(即，执行图2中方法200的步骤S204)。

在一个示例中，与一个测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位包括指示电子装置是否通过了该测试设备处的测试的一个或多个指示位。所述指示位至少指示出电子装置“通过”或“未通过”该测试设备处的测试。在一个进一步的示例中，指示电子装置是否通过了该测试设备处的测试的指示位指示出如下内容：该测试设备未对电子装置进行任何测试、该测试设备未完成对电子装置的所有测试、该电子装置通过了该测试设备的测试、或者该电子装置没有通过该测试设备的测试。只有当用于对电子装置的处理过程进行控制的装置100中的控制执行单元104判断出用于任一测试设备的控制位都指示“通过”时，才可能允许电子装置进行下一步处理，例如允许电子装置出厂。

在一个进一步的示例中，与一个测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位除了包括指示电子装置是否通过了该测试设备处的测试的指示位以外，还包括指示在该一系列测试过程中电子装置经历的失败测试的数目的标志位。通常，在一个测试设备处对电子装置进行一系列测试，当其中出现测试失败的情况时，有可能由测试设备自动地或由测试人员手动地对该电子装置重新进行失败的测试，而当重新测试通过时仍记为“通过”。因此，即使是“通过”了测试的电子装置仍可能经历过一次或多次测试失败，而测试失败的次数可能指示了该产品的健康状况。在本示例中，在用于对电子装置的处理过程进行控制的装置100中的控制执行单元104判断出用于一测试设备的控制位指示电子装置“通过”了测试后，还检查用于该测试设备的控制位当中指示失败测试的数目的标志位。如果这些标志位指示在该一个测试设备对电子装置进行一系列测试的过程中电子装置经历的失败测试的数目超过了与该一个测试设备相关联的预定阈值，则禁止对电子装置进行下一步处理。换言之，只有当电子装置通过了所有测试且先前的测试失败次数不超过规定的值时，才允许对电子装置进行下一步处理，例如允许电子装置出厂。

以下参考表1和表2给出与测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位的一个具体示例。在该示例中，对每个测试设备分配了5个控制位，其中，控制位0和控制位1(如表1中所示)指示电子装置是否通过了该测试设备处的测试，而控制位2至控制位4(如表2中所示)表示电子装置经受的失败测试的次数。

表1

控制位0和控制位1的值	表示的含义
		11	未测试
01	测试未完成
		00	通过了测试
10	测试失败(即，未通过测试)

表2

控制位2、3、4的值	表示的含义
		111	缺省
110	失败1次
		100	失败2次
000	失败3次
		011	失败4次
001	失败5次
		101	失败6次
010	失败7次

在该具体示例中，当与一测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位0和控制位1为“11”或“01”时，说明该测试设备尚未对该电子装置进行测试，或者进行了测试但测试未完成，因此应将电子装置返回到测试流程中，以完成对电子装置的测试，即应禁止对电子装置进行下一步处理；当与该测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位0个和控制位1为“10”时，说明电子装置未通过该测试设备的测试，因此禁止对电子装置进行下一步处理。禁止对电子装置进行下一步处理可以包含禁止电子装置出厂。在一个实施例中，禁止对电子装置进行下一步处理包含禁止将产品的唯一识别码(例如国际移动设备身份码IMEI)发送到激光蚀刻(Laser Etching)设备，从而使得该电子装置无法出厂。当与该测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位0和控制位1为“00”时，说明电子装置通过了测试设备的测试，因此进一步检查与该测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位2至控制位4，以判断电子装置在通过该测试设备处的测试之前经受的失败测试的次数是否超过预定阈值。例如，如果与该测试设备对电子装置进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位2至控制位4指示电子装置在通过该测试设备的测试之前经受的失败测试的次数超过3次，则禁止对电子装置进行下一步处理。

虽然以上描述了本发明的一个具体示例，但本领域技术人员将会理解多种替代实现方式是可能的。例如，控制位的数量可以比上述的控制位的数量更多或更少。指示电子装置是否通过了该测试设备处的测试的指示位可以只有1个，其中例如“1”指示测试通过，而缺省的“0”指示测试失败、未进行测试或测试未完成。指示在该一系列测试过程中电子装置经历的失败测试的数目的标志位也不限于3个，而是根据实际需求可以为任意的数量。

在一个实施例中，电子装置还包含与多个测试设备中的某些测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的“中毒位”(poison bit)，中毒位用于指示出产品中存在不应允许重新测试的严重缺陷。如果任一中毒位被设置为预定值，则指示出被测的电子装置存在严重缺陷，在修复前不应出厂。即，如果发现任一中毒位被设置为预定值，则可禁止该电子装置出厂。

在一个具体示例中，中毒位可以与一特定的测试设备相关联，当在该测试设备处检测到电子装置的故障模式(failure mode)指示出电子装置存在严重缺陷，例如集成电路中的半导体缺陷(semiconductor error)时，该测试设备将相应的中毒位设置为特定值，从而指示出该电子装置是不允许出厂的。而如果电子装置通过了该测试设备处的测试，则该测试设备可将相应的中毒位设置为另外的值或让其保持缺省值。在一种具体实现方式中，与一个特定测试设备相关联的中毒位包含两位，当这两位被设置为特定值“11”时，表示检测到电子装置存在导致其不应出厂的严重缺陷；而当被设置为其他值例如“00”时，表示没有检测到相应的缺陷，或者电子装置通过了该特定测试设备处的测试，但本领域技术人员将会理解其他多种实现方式也是可能的。

在另一个具体示例中，对与一个或多个测试设备相关联的指示电子装置经历的失败测试的数目的标志位，先前失败次数的阈值被设置为0。换言之，只要电子装置在这一个或多个测试设备处有测试失败的情况，就禁止电子装置出厂，而不管电子装置是否最终被指示为“通过”了测试。在这种情况下，可以认为与这一个或多个测试设备相关联的指示电子装置是否通过了该测试设备处的测试的指示位实际上是“中毒位”。

在上述关于中毒位设定的具体示例中，根据具体的策略和/或实现方式，可以进行配置以规定中毒位与哪些测试设备相关联。

图3是示出根据本发明另一实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法的流程图。在该实施例中，电子装置具有多个中毒位。图3所示的方法300开始于步骤S302，其中除了获取与多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位以外，还获取与另外的多个测试设备对电子装置进行测试的测试结果相关联的中毒位。在步骤S304，判断所获取的中毒位中是否有任何中毒位被设置为指示检测到严重缺陷的预定值。如果有中毒位被设为预定值(步骤S304中的“是”)，则处理进行到步骤S312，禁止对电子装置进行下一步处理；而如果所有中毒位都指示通过(步骤S304中的“否”)，即没有检测到与中毒位相对应的严重缺陷，则处理进行到步骤S306，其中判断电子装置是否有测试未通过。在本实施例中，步骤S306的判断是通过检查所述控制位当中指示电子装置是否通过了具体测试设备处的测试的指示位来实现的。如果判断出电子装置有测试未通过(步骤S306中的“是”)，则处理进行到步骤S312，禁止对电子装置进行下一步处理；而如果判断出电子装置通过了所有测试(步骤S306中的“否”)，则处理进行到步骤S308，其中判断是否有先前测试失败次数超过了相应的预定阈值。在本实施例中，步骤S308的判断是通过检查所述控制位当中指示电子装置经历的失败测试的数目的标志位来实现的。如果检测到在任一测试设备处，电子装置在“通过”测试之前的失败次数超过了相应的阈值(步骤S308中的“是”)，则处理进行到步骤S312，禁止对电子装置进行下一步处理；而如果判断出所有测试的先前失败次数都在相应的阈值以下(步骤S308中的“否”)，则处理进行到步骤S310，允许对电子装置进行下一步处理。在上述实施例中，通过检查中毒位的值，确保能够找出存在严重缺陷的产品从而禁止其出厂，从而可以可靠地确保出厂产品的质量。通过检查控制位的值，不但考虑了电子装置是否通过测试，还考虑了电子装置通过测试之前经受的失败测试的次数，从而可以更可靠地确保出厂产品的质量。

在一个具体示例中，图3所示的步骤S302中的操作是由图1所示的控制位获取单元102来执行的，而图3所示的步骤S306、S308、S310和S312中的操作是由图1所示的控制执行单元104来执行的。但是，本领域技术人员将会理解，执行各步骤操作的装置的配置并不限于此。而且，虽然在图3中示出了一个具体实施例的方法的操作序列，但还可以采用其他替代方法，例如可以不是针对所有测试设备先判断是否有测试未通过再判断是否有失败次数超过阈值，而是可以对各个测试设备进行循环，即对于与每个测试设备相关联的控制位，先判断电子装置是否通过了该测试设备处的测试，如果通过了，则随后判断电子装置在该测试设备处的先前失败次数是否超过了预定阈值，如果不超过阈值再进行下一测试设备的判断。本领域技术人员将会理解，这些替代方法都在本发明的范围之内。

图4示出了根据本发明另一实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置的框图。在图4所示的装置400中，除了包括图1中所示的控制位获取单元102和控制执行单元104以外，还包括故障信息获取单元106和第一辅助执行单元108。

在本实施例中，当电子装置陷入停滞(hang)或重启(reset)状态时，电子装置中的处理器将与该停滞或重启相应的故障信息记录在电子装置内的存储器的预定存储位置中。所记录的故障信息例如包括用于唯一标识故障的故障ID(标识符)、具有相同ID的故障发生的次数、故障的发生时间，等等。在一个具体示例中，所述故障ID是故障位置信息，其指示出发生停滞或重启时处理器程序代码的执行位置，即在发生停滞或重启之前恰好执行到哪一条指令。在一个示例中，在记录故障信息时，对于故障ID先前已经被存储的情况，不再创建新记录，而是通过给相应故障信息的次数计数值加1，并将故障发生时间替换为这次发生停滞或重启的时间，从而更新所存储的故障信息。

具体地，故障信息获取单元106从电子装置获取电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数或次数总和，并且优选地同时获取与一个或多个故障相关联的故障信息以及电子装置由于一个或多个特定故障而上一次陷入停滞或重启状态的时间信息等。所述特定故障可以是具有特定的故障位置信息的故障。但本领域技术人员可以理解的是，故障ID也可以不包括故障位置信息而包括其他任何能够指明故障的类型或其他特征的信息，并且所述特定故障也可以通过这样的指明故障的类型或其他特征的信息识别出来。

在一个示例中，在控制位获取单元104无法获取与多个测试设备中的每个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位的情况下，故障信息获取单元106从电子装置获取该电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和。第一辅助执行单元108根据电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和，判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。

在另一个示例中，在控制执行单元104不禁止对电子装置进行进一步处理的情况下，第一辅助执行单元108根据在测试过程中电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或由于一个或多个故障陷入停止或重启状态的次数总和，判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。其中，如果电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数符合第二预定要求(例如，少于2次)且次数总和符合第三预定要求(例如，少于4次)，则允许对电子装置进行下一步处理，否则禁止对电子装置进行下一步处理。例如，这里所说的对电子装置的下一步处理可以是对电子装置进行出厂处理。以下给出了与电子装置相关联的故障信息的示例。

表3

故障ID	次数	上一次故障的时间
			BootLoader，NANDinit Code 45838	7	2009年2月3日11:45:26
DIAGS，Camera Test，Code 423	2	2008年12月25日10:45:26
			Suspend to RAMWake Wifi Code 3298	1	2009年3月25日11:27:34

在一个示例中，可以规定如果电子装置由于例如故障ID“BootLoader，NAND init Code 45838”所表示的故障而陷入停滞或重启状态的次数超过2次，则禁止对电子装置进行进一步处理(例如，禁止出厂)。作为附加或者作为替代，可以规定如果电子装置由于表3中示出的2个或3个故障陷入停止或重启状态的总次数超过5次，则禁止对电子装置进行进一步处理(例如，禁止出厂)。

在图4所示的实施例中，除了考虑电子装置中严重缺陷的存在与否、电子装置是否通过每个测试、以及电子装置通过测试之前经受的失败测试的次数之外，还考虑了在测试过程中电子装置陷入停滞或重启状态的次数以及导致这些状态的特定故障的发生次数等，从而可以对将要出厂的电子装置进行进一步排查，进一步确保了出厂产品的质量。

图5示出了根据本发明又一实施例的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置的框图。在图5所示的装置500中，除了包括图1中所示的控制位获取单元102和控制执行单元104以外，还包括调整信息获取单元110和第二辅助执行单元112。

在本实施例中，所述调整信息是在对电子装置进行测试的过程中对电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量。

具体地，调整信息获取单元110获取调整信息，即在对电子装置进行测试的过程中对电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量。在一个示例中，在控制位获取单元104无法获取多个测试设备中的每个测试设备的控制位的情况下，调整信息获取单元110获取调整信息。第二辅助执行单元112根据调整信息判断是否允许对电子装置进行下一步处理。在另一个实施例中，在控制执行单元104允许对电子装置进行进一步处理的情况下，第二辅助执行单元112根据在对电子装置进行测试的过程中对电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量，判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。其中，当一个或多个调整量中的至少一个超出预先规定的调整范围时，禁止对电子装置进行下一步处理。

以下给出了电子装置的与一个或多个待测试单元相关联的部件的调整信息的示例。

表4

名称	关键参数	调整值
			相机	旋转角度	1.5度-3.0度
加速计	X、Y、Z	0，0，64
			传感器校准	增益，偏置	25，124

在一个示例中，例如规定如果相机的旋转角度的调整值超过±1度，则禁止对电子装置进行出厂处理。仅当相机的旋转角度调整值介于±1度之间，加速计的调整值满足X在±2之间，Y在±1之间，Z在±3之间的条件，且传感器校准的调整值满足增益小于27且大于23，偏置大于121小于128的条件时，才可能允许电子装置出厂。

类似地，在图5所示的实施例中，除了考虑电子装置中严重缺陷的存在与否、电子装置是否通过每个测试、以及电子装置通过测试之前经受的失败测试的次数之外，还考虑了在测试过程中对电子装置的一个或多个部件进行调整的调整量，从而不但可以对将要出厂的电子装置进行进一步排查，进一步确保了出厂产品的质量，而且有助于发现电子装置的制造过程中可能存在的问题，从而提供对制造过程的有益的反馈信息。

在以上所述的实施例中，控制位获取单元、故障信息获取单元以及调整信息获取单元可以并行获取相关信息，也可以按照判断顺序先后获取相关信息。另外，控制位获取单元、故障信息获取单元以及调整信息获取单元可以并行获取与所有测试设备相关联的相关信息，也可以按照预先规定的顺序先后获取相关信息。而且，除了以上结合图4和图5描述的实施例以外，还可以想到合并了图4和图5所示的方案的实施例，其中用于对电子装置的处理过程进行控制的装置包括控制位获取单元102、控制执行单元104、故障信息获取单元106、第一辅助执行单元108、调整信息获取单元110和第二辅助执行单元112，并且可以根据以上所述判断方式的任意组合来判断是否禁止对电子装置进行下一步处理。

这里，电子装置例如具有相机功能、视频播放器功能以及音频记录和播放器功能，并且例如可以是移动电话。例如，该电子装置内的存储装置中可以分配有分别用于音频测试、视频测试和相机测试的控制位。用于对该电子装置进行音频测试的测试设备例如可以分别对该电子装置的耳机和扬声器进行测试，并根据测试结果对相应的控制位进行设置，例如只有在耳机和扬声器都通过测试，且在音频测试中未发现其他方面的问题(例如，在播放音频的同时发现显示具有噪声成分)的情况下，才将相应的控制位标记为“通过”。但本领域技术人员将会理解，本发明不应在具体的电子装置和具体的测试类别方面受到限制。

另外，在以上所述的实施例中，所规定的具体数值和名称只是用于说明，而不应该理解为本发明仅限于实施例中的具体示例。虽然主要针对电子装置的测试过程描述了上述实施例，但本发明并不限于应用于产品测试过程，而是可以应用于多种产品处理过程以利用例如设定在产品内的存储装置中的标志位来识别出具有特定特性的产品或其组件。

以上已经参考本发明的具体实施例来描述了本发明，但是本领域技术人员均了解，可以对这些具体实施例进行各种修改、组合和变更，而不会脱离由所附权利要求或其等同物限定的本发明的精神和范围。

根据需要可以用硬件或软件来执行步骤。注意，在不脱离本发明范围的前提下，可向本说明书中给出的流程图添加步骤、从中去除步骤或修改其中的步骤。一般来说，流程图只是用来指示用于实现功能的基本操作的一种可能的序列。

本发明的实施例可利用编程的通用数字计算机、利用专用集成电路、可编程逻辑器件、现场可编程门阵列、光的、化学的、生物的、量子的或纳米工程的系统、组件和机构来实现。一般来说，本发明的功能可由本领域已知的任何手段来实现。可以使用分布式或联网系统、组件和电路。数据的通信或传送可以是有线的、无线的或者通过任何其他手段。

还将意识到，根据特定应用的需要，附图中示出的要素中的一个或多个可以按更分离或更集成的方式来实现，或者甚至在某些情况下被去除或被停用。实现可存储在机器可读介质中的程序或代码以允许计算机执行上述任何方法，也在本发明的精神和范围之内。

此外，附图中的任何信号箭头应当被认为仅是示例性的，而不是限制性的，除非另有具体指示。当术语被预见为使分离或组合的能力不清楚时，组件或者步骤的组合也将被认为是已经记载了。

Claims (21)

1.一种用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，包括：

获取与多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，所述多个测试设备中的每一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；

根据与所述多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的所获取的控制位来判断是否禁止所述电子装置出厂；

在无法获取所述控制位的情况下，获取所述电子装置中存储的所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和；以及

根据所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和，判断是否禁止所述电子装置出厂。

2.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，如果与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位指示在所述一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试的过程中所述电子装置经历的失败测试的数目超过了与所述一个测试设备相关联的预定阈值，则禁止所述电子装置出厂。

3.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位包括指示以下内容的一个或多个指示位：所述一个测试设备未对所述电子装置进行任何测试、所述一个测试设备未完成对所述电子装置的所有测试、所述电子装置通过了所述一个测试设备的测试、或者所述电子装置没有通过所述一个测试设备的测试。

4.根据权利要求3所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，如果与所述一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位指示所述电子装置通过了所述一个测试设备的测试、且在所述一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试的过程中所述电子装置经历的失败测试的次数未超过与所述一个测试设备相关联的预定阈值，则允许所述电子装置出厂，否则禁止所述电子装置出厂。

5.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，所述获取控制位的步骤还包括获取与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的中毒位，其中所述中毒位指示所述电子装置中是否存在严重缺陷，并且所述判断步骤还包括如果所述中毒位被设置为预定值，则禁止所述电子装置出厂。

6.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，当所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数超过第一预定次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和超过第二预定次数时，禁止所述电子装置出厂。

7.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，在获取所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数的同时，获取与所述特定故障相关联的故障位置信息以及所述电子装置由于所述特定故障上一次陷入停滞或重启状态的时间信息。

8.一种用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，包括：

获取与多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，所述多个测试设备中的每一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；

根据与所述多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的所获取的控制位来判断是否禁止所述电子装置出厂；

在无法获取所述控制位的情况下，获取在处理过程中对所述电子装置的一个或多个部件进行校准并存储在所述电子装置中的一个或多个调整量；以及

根据在处理过程中对所述电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量，判断是否禁止所述电子装置出厂。

9.根据权利要求8所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，当所述一个或多个调整量中的至少一个超出预定的调整范围时，禁止所述电子装置出厂。

10.根据权利要求8所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，所述一个或多个调整量用于校准所述电子装置的一个或多个部件。

11.一种用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，包括：

控制位获取单元，被配置为从所述电子装置获取与多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，所述多个测试设备中的每一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；

控制执行单元，被配置为根据与所述多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止所述电子装置出厂；

调整信息获取单元，被配置为在所述控制执行单元不禁止所述电子装置出厂的情况下，获取在处理过程中对所述电子装置的一个或多个部件进行校准并存储在所述电子装置中的一个或多个调整量；以及

辅助执行单元，被配置为根据在处理过程中对所述电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量，判断是否禁止所述电子装置出厂。

12.根据权利要求11所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，如果与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位指示在所述一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试的过程中所述电子装置经历的失败测试的数目超过了与所述一个测试设备相关联的预定阈值，则所述控制执行单元禁止所述电子装置出厂。

13.根据权利要求11所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位包括指示以下内容的一个或多个指示位：所述一个测试设备未对所述电子装置进行任何测试、所述一个测试设备未完成对所述电子装置的所有测试、所述电子装置通过了所述一个测试设备的测试、或者所述电子装置没有通过所述一个测试设备的测试。

14.根据权利要求13所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，如果与所述一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位指示所述电子装置通过了所述一个测试设备的测试、且在所述一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试的过程中所述电子装置经历的失败测试的次数未超过与所述一个测试设备相关联的预定阈值，则所述控制执行单元允许所述电子装置出厂，否则所述控制执行单元禁止所述电子装置出厂。

15.根据权利要求11所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，所述控制位获取单元还被配置为获取与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的中毒位，其中所述中毒位指示所述电子装置中是否存在严重缺陷，并且所述控制执行单元还被配置为如果所述中毒位被设置为预定值，则禁止所述电子装置出厂。

16.根据权利要求11至15中任一项所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，与所述多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位被存储在所述电子装置内的存储装置中。

17.根据权利要求11所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，所述一个或多个调整量用于校准所述电子装置的一个或多个部件。

18.根据权利要求11所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，在所述一个或多个调整量中的至少一个超出预定的调整范围的情况下，则所述辅助执行单元禁止所述电子装置出厂。

19.一种用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，包括：

控制位获取单元，被配置为从所述电子装置获取与多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，所述多个测试设备中的每一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；

控制执行单元，被配置为根据与所述多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止所述电子装置出厂；

故障信息获取单元，被配置为在所述控制执行单元允许所述电子装置出厂的情况下，获取所述电子装置中存储的所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和；以及

辅助执行单元，被配置为根据所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和，判断是否禁止所述电子装置出厂。

20.根据权利要求19所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，在所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数超过第一预定次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和超过第二预定次数的情况下，所述辅助执行单元禁止所述电子装置出厂。

21.根据权利要求19所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的装置，其特征在于，所述故障信息获取单元在从所述电子装置获取所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数的同时，获取与所述特定故障相关联的故障位置信息以及所述电子装置由于所述特定故障上一次陷入停滞或重启状态的时间信息。