CN111538632B - 检验方法、检验系统和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检验方法、检验系统和存储介质，检验方法包括：根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置保存的全部标志位结果，并将电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，将外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中以复验电子装置。如此，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以在电子装置中写入新的标志位结果，可以使电子装置复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。

Description

检验方法、检验系统和存储介质

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别涉及一种检验方法、检验系统和存储介质。

背景技术

在手机等电子装置生产的过程中，通常需要对电子装置的功能或性能进行测试，以保证出厂后的电子装置的品质。在电子装置测试过程中，一般将测试结果保存在电子装置中，以使校验时确定电子装置全部的测试项目是否通过。

在一些相关技术中，校验电子装置的全部测试项目通过后，将电子装置中保存的测试结果清除。在复测电子装置中的某个测试项时，若该测试项不合格，在再次校验电子装置时，由于电子装置中的测试结果被清除，需要重新测试所有的测试项目，增加了测试时间和测试成本。

发明内容

本申请提供一种检验方法、检验系统和存储介质。

本申请实施方式的检验方法用于电子装置，所述检验方法包括：

根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；

在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

本申请实施方式的检验系统包括检验模块、处理模块和写入模块，检验模块用于根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过。处理模块用于在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；写入模块用于在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

本申请另一种实施方式的检验系统包括：

一个或多个处理器、存储器；和

一个或多个程序，其中所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行根据以上实施方式所述的检验方法的指令。

一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行以上实施方式所述的检验方法。

本申请实施方式的检验方法、检验系统和存储介质中，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以在电子装置中写入新的标志位结果，可以使电子装置复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。

本申请的附加方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施方式的电子装置的连接示意图；

图2是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；

图3是本申请实施方式的检验系统的模块示意图；

图4是本申请实施方式的检验方法的场景示意图；

图5是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；

图6是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；

图7是本申请实施方式的检验方法的流程示意图；

图8是本申请实施方式的检验方法的流程示意图。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请的实施方式，而不能理解为对本申请的实施方式的限制。

请参阅图1及图2，本申请实施方式的检验方法用于电子装置100，检验方法包括：

S10，根据电子装置100保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

S20，在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置100保存的全部标志位结果，并将电子装置100保存的全部标志位结果保存至外部设备300；

S30，在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，将外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中以复验电子装置100。

请结合图3，本申请实施方式的检验方法可以由检验系统200执行。具体地，本申请实施方式的检验系统200包括检验模块210、处理模块220和写入模块230。步骤S10可以由检验模块210执行，步骤S20可以由处理模块220执行，步骤S30可以由写入模块230执行。

或者说，检验模块210用于根据电子装置100保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过。处理模块220用于在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置100保存的全部标志位结果，并将电子装置100保存的全部标志位结果保存至外部设备300。写入模块230用于在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，将外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中以复验电子装置100。

本申请实施方式的检验方法和检验系统200中，在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中，无需复测功能测试项以在电子装置100中写入新的标志位结果，可以使电子装置100复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。

具体地，电子装置100例如为手机、平板电脑、智能穿戴设备等移动终端。一般地，在电子装置100出厂前，需要对电子装置100的各个部位进行测试，测试项可以分别功能测试项目和非功能测试项。

功能测试项一般指的是对电子装置100的某些功能进行的测试，以保证电子装置100可以执行预定的功能。例如，功能测试项包括显示屏测试，可以测试显示屏的亮度是否可以调节。又如功能测试项包括扬声器电测，在该测试中，可以测试扬声器是否可以发出声音，并且扬声器的声音是否可以调节。功能测试项对应有标志位，在功能测试项测试后，需要在对应的标志位标志测试结果。

非功能测试项一般指的是对电子装置100的某些品质进行的测试，以保证电子装置100的整体品质较佳。例如，非功能测试项包括电子装置100的外壳外观测试，在该测试中，可以检测电子装置100的外观是否有损坏等情况。又如，非功能测试项包括电子装置100的包装测试，在该测试中，可以测试电子装置100的包装是否完好。非功能测试项没有对应标志位，在非功能测试项测试后，不需要在标志位标志测试结果。

在电子装置100的测试中，对于一些或者全部的功能测试项，在功能测试项测试后，在电子装置100的标志位可以标志测试结果，例如，标志位可以标志“1”代表功能测试项通过，标志“0”代表功能测试项不通过。标志位为空的时候，代表对应的功能测试项没有测试。

一般地，在产线中，一个测试项对应一个工位，在电子装置100依次经过全部功能测试项的工位完成后，需要对电子装置100再次校验，以确认待校验的功能测试项是否通过，防止待校验的功能测试项出现漏测等情况。需要指出的是，待校验的功能测试项可以为全部的功能测试项，也可以为部分功能测试项。

在步骤S10中，如以上所讨论的，可以根据标志位结果检验功能测试项是否通过。

在步骤S20中，若待校验的功能测试项全部通过，可以把电子装置100中的标志位结果保存在服务器或者检验系统200等电子装置100之外的设备。可以理解，在清除电子装置100中的全部标志位结果后，标志位标志为空。

在步骤S30中，在复验电子装置100时，无论功能测试项是否再次测试，一般需要再次通过标志位结果检验电子装置100的功能测试项是否通过，在功能测试项没有再次测试时，则证明电子装置100的功能没有问题，此时，将保存在外部设备300中的全部位结果写入电子装置100中，以在对比标志位结果时使电子装置100可以快速地确认通过。

请参阅图4，在一个例子中，功能测试项总共有10项，分别为test1-test10，10项功能测试项均需要待检验。若标志位标志为“1”，代表功能测试项通过，因此，10项功能测试项通过时，全部的标志位都标志为1。

在10项功能测试项全部通过后，将全部的标志位结果“1111111111”写入保存至外部设备300中，此时，电子装置100的标志位为空。在复验电子装置100后，将外部设备300中的标志为结果写入电子装置100后，电子装置100中的标志位结果为“1111111111”，如此，可以在复验电子装置100时使得电子装置100可以快速地通过复验，节约了时间和成本。

需要指出的是，电子装置100可以通过数据线与检验系统200连接，以实现有线通信。电子装置100也可以通过无线的方式与检验系统200连接，以实现无线通信。

外部设备300例如为独立于检验系统100的服务器，也可以为设置在检验系统100中的存储装置。

请参阅图5，在某些实施方式中，检验方法包括：

S40，在待校验的功能测试项通过时，将识别码写入电子装置100中。识别码例如为国际移动设备识别码(International Mobile Equipment Identity，IMEI)，识别码为电子装置100身份信息。识别码可以为15-17位数，通过识别码可以识别手机的品牌和型号等信息。识别码可以存于电子装置100的存储器中。在待校验的功能测试项通过时，写入识别码，可以使得电子装置100满足出厂的要求。

请参阅图6，在某些实施方式中，检验方法包括：

S50，确认电子装置100的非功能测试项是否通过；

S60，在非功能测试项没有通过时，复验电子装置100。

由于电子装置100的功能占电子装置100的品质较大的比重，因此，在功能测试项通过后，只要电子装置100的其他测试项没有通过，在测试流程上需要复验电子装置100以确认电子装置100的功能是否通过。如此，这样可以确保电子装置100出厂的品质。在一个例子中，在复验电子装置100时，需要重新在电子装置100中写入新的识别码，以识别电子装置100的生产批次等信息。

在某些实施方式中，步骤S50包括：确认电子装置100储存的测试内容是否清除；步骤S60包括：在测试内容没有清除时，复验电子装置100。

在测试电子装置100时，可能会保留一些测试内容在电子装置100，若电子装置100出厂前没有清除这些测试内容，则会导致电子装置100的品质较差。例如，在测试电子装置100的摄像头时，需要利用电子装置100的摄像头拍摄，此时，电子装置100可能保存有拍摄的测试图片。又如，在测试电子装置100的扬声器时，可能在电子装置100中保存音频文件，通过扬声器播放改音频文件，以达到测试扬声器的效果。

因此，若测试内容没有被清除，则需要复验电子装置100，以保证电子装置100的品质。

在某些实施方式中，步骤S50包括：确认电子装置100是否关机；

步骤S60包括：在电子装置100没有关机时，复验电子装置100。

在电子装置100出厂后，电子装置100一般需要经过运输和仓储等过程，在此过程中，若电子装置100没有关机，电子装置100则会继续消耗电量，若电子装置100的电池长时间处于没电的状态，则可能导致电子装置100的电池损坏，使得电子装置100的品质不良。因此，在电子装置100没有关机的情况下，复验电子装置100，从而可以提高电子装置100出厂后的品质。

请参阅图7，在某些实施方式中，检验方法包括：

S70，在复验电子装置100且至少一个功能测试项需要复测时，将外部设备300中保存的全部标志位结果设置为失效。

一般地，在电子装置100的其中一个功能因损坏需要复测时，电子装置100的其他功能也可能会损坏，因此，在复测其中一个功能时，需要对所有的功能测试项复测，此时，首测保存的全部标志位结果则不需要写入电子装置100中，将保存在外部设备300中的全部标志位结果设置为失效，可以避免根据外部设备300的标志位结果而确认电子装置100的功能测试项是全部通过的。

在一个例子中，电子装置100的指纹识别功能损坏，需要拆卸电子装置100以检测指纹识别模块是否损坏，在拆卸电子装置100的过程中，可能导致电子装置100的扬声器损坏。因此，在电子装置100重新组装后，再次测试电子装置100的指纹识别功能时，也需要测试电子装置100的扬声器的功能，保证扬声器可以正常工作。

请参阅图8，在某些实施方式中，在将外部设备300中保存的全部标志位结果设置为失效后，检验方法包括：

S80，在电子装置100重新测试第一个功能测试项，清空标志位。

如此，清空标志位可以防止标志位标志有测试结果，排除之前的测试影响。

在一个例子中，电子装置100需要复测的功能测试项为10项，分别为test1-test10，假如标志位上还标志有“1111111111”，则表明上一次的测试全部通过，然而，如果再次测试时，test3测试没有通过，则可能会因此标志位标识有通过的结果而干扰本次测试，而导致电子装置100在测试后再次出现品质不良的情况。

请再次参阅图1，本申请还提供了一种检验系统200中，检验系统200包括一个或多个处理器240、存储器和一个或多个程序，其中一个或多个程序被存储在存储器中，并且被一个或多个处理器240执行，程序包括用于执行本申请实施方式的检验方法的指令。

例如，处理器240用于根据电子装置100保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；及用于在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置100保存的全部标志位结果，并将电子装置100保存的全部标志位结果保存至外部设备300；以及用于在复验电子装置100并且功能测试项不需要复测时，将外部设备300保存的全部标志位结果写入电子装置100中以复验电子装置100。

一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得处理器执行以上任一实施方式中的检验方法。

就本说明书而言，"可读存储介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施方式”、“某些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合所述实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种检验方法，用于电子装置，其特征在于，所述检验方法包括：

根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；

在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

2.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

在所述待校验的功能测试项通过时，将识别码写入所述电子装置中。

3.根据权利要求1或2所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

确认所述电子装置的非功能测试项是否通过；

在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置。

4.根据权利要求3所述的检验方法，其特征在于，确认所述电子装置的非功能测试项是否通过包括：

确认所述电子装置储存的测试内容是否清除；

在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置，包括：

在所述测试内容没有清除时，复验所述电子装置。

5.根据权利要求3所述的检验方法，其特征在于，确认所述电子装置的非功能测试项是否通过包括：

确认所述电子装置是否关机；

在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置，包括：

在电子装置没有关机时，复验所述电子装置。

6.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

在复验所述电子装置且至少一个所述功能测试项需要复测时，将所述外部设备中保存的所述全部标志位结果设置为失效。

7.根据权利要求6所述的检验方法，其特征在于，在将所述外部设备中保存的所述全部标志位结果设置为失效后，所述检验方法包括：

在所述电子装置重新测试第一个功能测试项，清空所述标志位。

8.一种检验系统，其特征在于，包括：

检验模块，用于根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

处理模块，用于在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；

写入模块，用于在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

9.一种检验系统，其特征在于，包括：

一个或多个处理器、存储器；和

一个或多个程序，其中所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行根据权利要求1-7任意一项所述的检验方法的指令。

10.一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1-7任一项所述的检验方法。