CN115314418A - 测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试方法，包括对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测，避免重复测试，提高了测试效率。本发明还公开了一种测试装置、设备及存储介质。
Description
技术领域
本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
电子产品都需要进行测试环节，例如移动通讯设备，当前移动通信设备一般支持2G、3G、4G和5G，且均支持很多频段，在测试环节需要对所有通信指示进行校准、综测，并且在测试时会根据制式进行分组，一组中包括若干制式，一个小组中包括若干功能，并放在一个测试工位进行测试。在测试过程中，因测试仪器、测试环境等影响，在测试时会存在一定比率不良或误判，在出现不良或误判时需要对产品进行复测，而在复测时必须从头开始测试，即已经测试通过的功能还需要重新测试，浪费时间，测试效率低。
因此，有必要提供一种新型的测试方法、装置、设备及存储介质以解决现有技术中存在的上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试方法、装置、设备及存储介质，避免重复测试，提高了测试效率。
为实现上述目的，本发明的所述测试方法，包括：
对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；
对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测。
所述测试方法的有益效果在于：对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据，对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测，避免重复测试，提高了测试效率。
可选地，所述对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据，包括：
对所述待测设备进行不同功能测试，在每个功能测试结束后，根据测试结果向所述待测设备写入当前功能测试所对应的标志位数据。
可选地，所述标志位数据包括测试通过标志位子数据和测试失败标志位子数据，所述根据测试结果向所述待测设备写入当前功能测试所对应的标志位数据，包括：
判断当前功能测试是否通过；
若判断当前功能测试通过，则向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试通过标志位子数据；
若判断当前功能测试未通过，则向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试失败标志位子数据。
可选地，所述对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测，包括：
对所述待测设备进行不同功能复测，在进行每个功能复测之前，从所述待测设备读取所述标志位数据，然后根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行当前功能复测。
可选地，所述从所述待测设备读取所述标志位数据，然后根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行当前功能复测，包括：
从所述待测设备的当前功能复测的标志位数据存储位置读取所述标志位数据；
若所述标志位数据为所述测试通过标志位子数据，则取消当前功能复测；
若所述标志位数据为所述测试失败标志位子数据，则进行当前功能复测。
可选地，所述测试方法还包括：对所述待测设备进行复测，根据复测结果向所述待测设备内写入标志位数据。
本发明还提供了一种测试装置，所述测试装置包括：
测试模块，用于对待测设备进行测试和复测；
标志位写入模块，用于根据所述测试模块的测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；
标志位读取模块，用于从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断所述测试模块是否对所述待测设备进行复测。
所述测试装置的有益效果在于：标志位写入模块根据所述测试模块的测试结果向所述待测设备内写入标志位数据，标志位读取模块从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断所述测试模块是否对所述待测设备进行复测，避免重复测试，提高了测试效率。
本发明还提供了一种测试设备，所述测试设备包括存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器内存储的计算机程序，以使所述测试设备实现所述测试方法。
本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述测试方法。
附图说明
图1为本发明测试方法的流程图；
图2为本发明一些实施例中测试装置的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。除非另外定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的“包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
针对现有技术存在的问题，本发明的实施例提供了一种测试方法。参照图1，所述测试方法包括以下步骤：
S1：对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；
S2：对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测。
一些实施例中，所述待测设备包括但不限于移动通讯设备。
一些实施例中，所述对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据，包括：对所述待测设备进行不同功能测试，在每个功能测试结束后，根据测试结果向所述待测设备写入当前功能测试所对应的标志位数据。
一些实施例中，所述标志位数据包括测试通过标志位子数据和测试失败标志位子数据，所述根据测试结果向所述待测设备写入当前功能测试所对应的标志位数据，包括：
判断当前功能测试是否通过；
若判断当前功能测试通过，则向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试通过标志位子数据；
若判断当前功能测试未通过，则向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试失败标志位子数据。
一些实施例中，预留所述待测设备的芯片寄存器或存储器中的部分存储空间作为标志位数据存储位置。一些可选实施例中，所述标志位数据存储位置为32位，所述测试通过标志位子数据为二进制数值“1”，所述测试失败标志位子数据为二进制数值“0”。
一些实施例中，所述功能测试包括但不限于全球移动通讯系统(Global Systemfor Mobile Communications，GSM)测试、宽带码分多址(WidebandCodeDivisionMultipleAccess，WCDMA)测试、长期演进技术(Long Term Evolution，LTE)测试、新空口(New Radio，NR)测试。
一些实施例中，对所述待测设备进行GSM测试，若判断所述待测设备通过GSM测试，则向GSM测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若判断所述待测设备未通过GSM测试，则向GSM测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在GSM测试结束后，对所述待测设备进行WCDMA测试，若判断所述待测设备通过WCDMA测试，则向WCDMA测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若判断所述待测设备未通过WCDMA测试，则向WCDMA测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在WCDMA测试结束后，对所述待测设备进LTE测试，若判断所述待测设备通过LTE测试，则向LTE测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若判断所述待测设备未通过LTE测试，则向LTE测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在LTE测试结束后，对所述待测设备进行NR测试，若判断所述待测设备通过NR测试，则向NR测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若判断所述待测设备未通过NR测试，则向NR测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在LTE测试结束后，依次进行其他测试，直至所有测试测试结束。
一些实施例中，GSM测试包括但不限于AFC测试、APC测试、AGC测试；WCDMA测试包括但不限于APC测试、AGC测试；LTE测试包括但不限于FDD测试、TDD测试、APC测试、AGC测试；NR测试包括但不限于APC测试、AGC测试。每一个功能测试中，任一测试未通过则代表功能测试未通过，例如，GSM测试中，AFC测试通过，APC测试通过，AGC测试未通过，则代表GSM测试未通过。
一些实施例中，所述对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测，包括：
对所述待测设备进行不同功能复测，在进行每个功能复测之前，从所述待测设备读取所述标志位数据，然后根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行当前功能复测。
一些实施例中，所述功能复测包括但不限于全球移动通讯系统(Global Systemfor Mobile Communications，GSM)复测、宽带码分多址(WidebandCodeDivisionMultipleAccess，WCDMA)复测、长期演进技术(Long Term Evolution，LTE)复测、新空口(New Radio，NR)复测。且所述功能复测与所述功能测试所进行的测试内容完全相同。
一些实施例中，所述从所述待测设备读取所述标志位数据，然后根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行当前功能复测，包括：
从所述待测设备的当前功能复测的标志位数据存储位置读取所述标志位数据；
若所述标志位数据为所述测试通过标志位子数据，则取消当前功能复测；
若所述标志位数据为所述测试失败标志位子数据，则进行当前功能复测。
一些实施例中，功能复测的标志位数据存储位置与功能测试的标志位数据存储位置相同。
一些实施例中，对所述待测设备进行GSM复测前，从所述待测设备的GSM复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从GSM测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则进行GSM复测，若所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则取消GSM复测；
在GMS复测后以及取消GSM复测后，从所述待测设备的WCDMA复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从所述待测设备的WCDMA测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则进行WCDMA复测，若所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则取消WCDMA复测；
在WCDMA复测后以及取消WCDMA复测后，从所述待测设备的LTE复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从所述待测设备的LTE测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则进行LTE复测，若所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则取消LTE复测；
在LTE复测后以及取消LTE复测后，从所述待测设备的NR复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从所述待测设备的NR测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则进行NR复测，若所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则取消NR复测；
在NR复测结束后以及取消NR复测后，复测结束，或再进行其他复测，直至所有复测结束。
一些实施例中，所述测试方法还包括：对所述待测设备进行复测，根据复测结果向所述待测设备内写入标志位数据。
图2为本发明一些实施例中测试装置的结构框图。参照图2，测试装置100包括测试模块101、标志位写入模块102和标志位读取模块103。所述测试模块101用于对待测设备进行测试和复测；所述标志位写入模块102用于根据所述测试模块101的测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；所述标志位读取模块103用于从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断所述测试模块101是否对所述待测设备进行复测。
一些实施例中，所述测试模块为测试仪。
一些实施例中，所述标志位数据包括测试通过标志位子数据和测试失败标志位子数据，所述标志位写入模块包括第一判断单元和标志位写入子单元，所述第一判断单元用于判断当前功能测试是否通过，所述标志位写入子单元用于向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试通过标志位子数据或所述测试失败标志位子数据。
一些实施例中，若所述第一判断单元判断当前功能测试通过，所述标志位写入子单元向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试通过标志位子数据；若所述第一判断单元判断当前功能测试未通过，所述标志位写入子单元向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试失败标志位子数据。
一些实施例中，所述测试模块对所述待测设备进行GSM测试，若所述第一判断单元判断所述待测设备通过GSM测试，则所述标志位写入子单元向GSM测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若所述第一判断单元判断所述待测设备未通过GSM测试，则所述标志位写入子单元向GSM测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在所述测试模块对所述待测设备进行GSM测试结束后，所述测试模块对所述待测设备进行WCDMA测试，若所述第一判断单元判断所述待测设备通过WCDMA测试，则所述标志位写入子单元向WCDMA测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若所述第一判断单元判断所述待测设备未通过WCDMA测试，则所述标志位写入子单元向WCDMA测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在所述测试模块对所述待测设备进行WCDMA测试结束后，所述测试模块对所述待测设备进LTE测试，若所述第一判断单元判断所述待测设备通过LTE测试，则所述标志位写入子单元向LTE测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若所述第一判断单元判断所述待测设备未通过LTE测试，则所述标志位写入子单元向LTE测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在所述测试模块对所述待测设备进行LTE测试结束后，所述测试模块对所述待测设备进行NR测试，若所述第一判断单元判断所述待测设备通过NR测试，则所述标志位写入子单元向NR测试的标志位数据存储位置写入测试通过标志位子数据“1”，若所述第一判断单元判断所述待测设备未通过NR测试，则所述标志位写入子单元向NR测试的标志位数据存储位置写入测试失败标志位子数据“0”；
在所述所述测试模块对所述待测设备进行LTE测试结束后，依次进行其他测试，直至所有测试测试结束。
一些实施例中，所述标志位读取模块包括标志位读取子单元和第二判断单元，所述标志位读取子单元用于从所述待测设备的当前功能复测的标志位数据存储位置读取所述标志位数据，所述第二判断单元用于判断所述标志位数据为所述测试通过标志位子数据还是所述测试失败标志位子数据。
一些实施例中，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试通过测试子数据，则所述测试模块取消对所述待测设备的当前功能复测；若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试失败测试子数据，则所述测试模块对所述待测设备进行当前功能复测。
一些实施例中，所述测试模块对所述待测设备进行GSM复测前，所述标志位读取子单元从所述待测设备的GSM复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从GSM测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则所述测试模块对所述待测设备进行GSM复测，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则所述测试模块取消对所述待测设备进行GSM复测；
在GMS复测后以及取消GSM复测后，所述标志位读取子单元从所述待测设备的WCDMA复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从所述待测设备的WCDMA测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则所述测试模块对所述待测设备进行WCDMA复测，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则所述测试模块取消对所述待测设备进行WCDMA复测；
在WCDMA复测后以及取消WCDMA复测后，所述标志位读取子单元从所述待测设备的LTE复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从所述待测设备的LTE测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则所述测试模块对所述待测设备进行LTE复测，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则所述测试模块取消对所述待测设备进行LTE复测；
在LTE复测后以及取消LTE复测后，所述标志位读取子单元从所述待测设备的NR复测的标志位数据存储位置读取标志位数据，即从所述待测设备的NR测试的标志位数据存储位置读取标志位数据，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试失败标志位子数据“0”，则所述测试模块对所述待测设备进行NR复测，若所述第二判断单元判断所述标志位数据为测试通过标志位子数据“1”，则所述测试模块取消对所述待测设备进行NR复测；
在所述测试模块对所述待测设备进行NR复测结束后以及取消NR复测后，复测结束，或再进行其他复测，直至所有复测结束。
需要说明书的是，应理解以上装置的各个模块的划分仅仅是一种逻辑功能的划分，实际实现时可以全部或部分集成到一个物理实体上，也可以物理上分开。且这些模块可以全部以软件通过处理元件调用的形式实现；也可以全部以硬件的形式实现；还可以部分模块通过处理元件调用软件的形式实现，部分模块通过硬件的形式实现。例如，选择模块可以为单独设立的处理元件，也可以集成在上述系统的某一个芯片中实现，此外，也可以以程序代码的形式存储于上述系统的存储器中，由上述系统的某一个处理元件调用并执行以上模块的功能。其它模块的实现与之类似。此外这些模块全部或部分可以集成在一起，也可以独立实现。这里该的处理元件可以是一种集成电路，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤或以上各个模块可以通过处理器元件中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。
例如，以上这些模块可以是被配置成实施以上方法的一个或多个集成电路，例如：一个或多个特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)，或，一个或多个数字信号处理器(Digital Signal Processor，简称DSP)，或，一个或者多个现场可编程门阵列(Field Programmable GateArray，简称FPGA)等。再如，当以上某个模块通过处理元件调度程序代码的形式实现时，该处理元件可以是通用处理器，例如中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)或其它可以调用程序代码的处理器。再如，这些模块可以集成在一起，以片上系统(System-On-a-Chip，简称SOC)的形式实现。
本发明还公开了一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器内存储的计算机程序，以使所述测试设备实现所述测试方法。
本发明还公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现所述测试方法。
本发明的存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的方法。该存储介质包括：只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机访问存储器(RandomAccess Memory，RAM)、磁碟、U盘、存储卡或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
在本发明公开的另一个实施例中，本发明还提供一种芯片系统，芯片系统与存储器耦合，用于读取并执行该存储器中存储的程序指令，以执行上述测试方法的步骤。
通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请实施例各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：快闪存储器、移动硬盘、只读存储器、随机存取存储器、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述，仅为本申请实施例的具体实施方式，但本申请实施例的保护范围并不局限于此，任何在本申请实施例揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本申请实施例的保护范围之内。因此，本申请实施例的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
虽然在上文中详细说明了本发明的实施方式，但是对于本领域的技术人员来说显而易见的是，能够对这些实施方式进行各种修改和变化。但是，应理解，这种修改和变化都属于权利要求书中所述的本发明的范围和精神之内。而且，在此说明的本发明可有其它的实施方式，并且可通过多种方式实施或实现。
Claims (9)
1.一种测试方法，其特征在于，包括：
对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；
对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述对待测设备进行测试，根据测试结果向所述待测设备内写入标志位数据，包括：
对所述待测设备进行不同功能测试，在每个功能测试结束后，根据测试结果向所述待测设备写入当前功能测试所对应的标志位数据。
3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述标志位数据包括测试通过标志位子数据和测试失败标志位子数据，所述根据测试结果向所述待测设备写入当前功能测试所对应的标志位数据，包括：
判断当前功能测试是否通过；
若判断当前功能测试通过，则向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试通过标志位子数据；
若判断当前功能测试未通过，则向所述待测设备的当前功能测试的标志位数据存储位置写入所述测试失败标志位子数据。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述对所述待测设备进行复测，从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行复测，包括：
对所述待测设备进行不同功能复测，在进行每个功能复测之前，从所述待测设备读取所述标志位数据，然后根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行当前功能复测。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述从所述待测设备读取所述标志位数据，然后根据所述标志位数据判断是否对所述待测设备进行当前功能复测，包括：
从所述待测设备的当前功能复测的标志位数据存储位置读取所述标志位数据；
若所述标志位数据为所述测试通过标志位子数据，则取消当前功能复测；
若所述标志位数据为所述测试失败标志位子数据，则进行当前功能复测。
6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：对所述待测设备进行复测，根据复测结果向所述待测设备内写入标志位数据。
7.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：
测试模块，用于对待测设备进行测试和复测；
标志位写入模块，用于根据所述测试模块的测试结果向所述待测设备内写入标志位数据；
标志位读取模块，用于从所述待测设备读取所述标志位数据，根据所述标志位数据判断所述测试模块是否对所述待测设备进行复测。
8.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器内存储的计算机程序，以使所述测试设备实现如权利要求1～6任意一项所述的测试方法。
9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～6任意一项所述的测试方法。
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|---|---|---|---|---|
| CN117907809A (zh) * | 2024-03-18 | 2024-04-19 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 批量芯片测试方法、装置及电子设备 |
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2022
- 2022-08-12 CN CN202210967928.1A patent/CN115314418A/zh active Pending
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