CN104991137B - 设备测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开是关于设备测试方法及装置，所述方法包括：获取设备中预设标志位的标志值；根据所述标志值确定所述设备的测试状态；若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。本公开由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。

Description

设备测试方法及装置

技术领域

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及设备测试方法及装置。

背景技术

为了保证设备的质量，往往会对设备进行各种测试。例如，设备在工厂生产完成后正式出厂前，为了保证设备的质量，需要进行一系列的出厂测试。设备中会内置出厂测试程序，在设备正常工作过程中，这些出厂测试程序不起作用，只有在设备的测试按键被触发时，设备会调用相应的出厂测试程序，进行测试。但是一些设备由于自身结构或外观原因无法设置测试按键，则加大了测试难度。

发明内容

本公开提供了设备测试方法及装置，以解决相关技术中测试困难的问题。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种设备测试方法，所述方法包括：

获取设备中预设标志位的标志值；

根据所述标志值确定所述设备的测试状态；

若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

可选的，所述获取设备中预设标志位的标志值，包括：

从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。

可选的，所述获取设备中预设标志位的标志值，包括：

检测所述设备是否从断电状态到通电状态；

当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。

可选的，所述根据所述标志值确定所述设备的测试状态，包括：

判断所述标志值与预设的指定值是否一致；

当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述测试状态为所述指定测试状态。

可选的，所述调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试之后，还包括：

判断所述测试是否完成；

当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

可选的，所述调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试之后，还包括：

判断所述测试是否通过；

当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

可选的，所述方法还包括：

当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过，和/或根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种设备测试装置，所述装置包括：

获取单元，用于获取设备中预设标志位的标志值；

确定单元，用于根据所述标志值确定所述设备的测试状态；

测试单元，用于若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

可选的，所述获取单元包括：

读取子单元，用于从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。

可选的，所述获取单元包括：

通电检测子单元，用于检测所述设备是否从断电状态到通电状态；

触发获取子单元，用于当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。

可选的，所述确定单元包括：

判断子单元，用于判断所述标志值与预设的指定值是否一致；当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述测试状态为所述指定测试状态。

可选的，所述装置还包括：

第一判断单元，用于判断所述测试是否完成；

第一修改单元，用于当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

可选的，所述装置还包括：

第二判断单元，用于判断所述测试是否通过；

第二修改单元，用于当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

可选的，所述装置还包括以下一种单元：

提示单元，用于当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过；

修复单元，用于当测试不通过时，根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种设备测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取设备中预设标志位的标志值；

根据所述标志值确定所述设备的测试状态；

若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据预设标志位的标志值判断设备的测试状态，在设备的测试状态为指定测试状态的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。

本公开将标志位限定为非易失性存储器的指定地址对应的存储空间，既可以保证预设标志位的值不会因为系统重启或关机而丢失，还可以提高获取标志值的效率。

本公开可以将获取设备中预设标志位的标志值的触发条件设置为设备刚上电状态，可以实现一上电即对指定测试状态的设备进行测试，并且避免了实时获取数据导致的资源浪费。

本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态，仅在设备未测试过的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试，并且在测试完成时对标志值进行修改，以使测试过的设备后续不再进行测试，提高了测试效率，同时避免了资源浪费。

本公开可以在设备中预先指定预设标志位，根据预设标志位的标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态或未测试通过状态，实现在设备未测试过和测试未通过的两种情况下，都可以调用预先设置的测试程序对设备进行测试，避免漏掉对测试不通过但后续修复好的这类设备的测试。并且可以在测试通过时对预设标志位的标志值进行修改，以使后续不再对测试通过的设备进行测试，自动实现测试的同时避免了资源浪费。

本公开还可以对测试不通过的设备进行自动修复，也可以对测试不通过的设备进行提示。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法流程图。

图2是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试方法流程图。

图3是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试方法流程图。

图4是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试装置框图。

图5是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。

图6是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。

图7是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。

图8是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。

图9是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。

图10是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。

图11是本公开根据一示例性实施例示出的另一种用于设备测试装置的一结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

如图1所示，图1是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的流程图，该方法可以用于设备中，包括以下步骤：

在步骤101中，获取设备中预设标志位的标志值；

本公开实施例中涉及的设备可以是各种集成了测试功能的终端，例如，智能手机、平板电脑、PDA(Personal Digital Assistant，个人数字助理)、智能灯具、智能空调、智能净化器等。

预设标志位是在设备中预先指定的一个标志位，该预设标志位的标志值可以用来表示该设备的测试状态。测试状态可以包括测试过状态和未测试过状态，其中，测试过状态表示该设备已经测试过了，未测试过状态表示该设备没有测试过。测试状态也可以包括测试通过状态、测试不通过状态、未测试过状态。测试通过状态表示该设备已经测试过、且测试通过，表明该设备测试正常，可以正常使用，即当测试正常时，进入正常代码模式。测试不通过表示该设备已经测试过、但没有测试通过，表明该设备有故障，需要进一步修复。

在一个可选的实现方式中，预设标志位可以设在非易失性存储器中。非易失性存储器是在系统重新启动或关机之后仍能保存数据的存储器，即掉电以后，存储在存储器中的数据不会丢失。例如，非易失性存储器可以是MRAM(magnetic random access memory，磁阻随机存取内存)、ReRAM(RRAM)(Resistive random-access memory可变电阻式存储器)、FLASH(Flash Memory，闪存)等。

在步骤102中，根据标志值确定设备的测试状态；

由于预设标志位的标志值可以用来表示该设备的测试状态，则可以根据预设标志位的标志值确定设备的测试状态。例如，可以根据预设标志位的标志值与指定值是否一致确定设备的测试状态；若标志值与指定值一致，则可以确定测试状态指定值对应的测试状态，例如，指定值对应的测试状态可以是未测试过状态，指定值对应的测试状态也可以是测试不通过状态。

在步骤103中，若测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对设备进行测试。

所述指定测试状态是预先指定的测试状态，例如，指定测试状态可以是未测试过状态、测试不通过状态中的至少一种状态。例如，指定测试状态可以是未测试过状态，即仅在设备未进行过测试时，调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。指定测试状态也可以是测试不通过状态，即仅在设备测试但不通过时，调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。指定测试状态可以是未测试过状态和测试不通过状态，即当设备未进行过测试或测试不通过时，均调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

本步骤中，可以在设备内预先设置若干测试程序，用于执行对设备的不同测试。这些测试程序可以是相关技术中已有的各种测试程序，包括出厂测试程序、安全测试程序等。其中，出厂测试并不限定于在厂房里的测试，也可以是实验室等地进行的测试。这些程序会存储在设备中，当需要测试时，设备会调用相应的测试程序进行测试。例如，无论在生产领域还是生活领域，电子设备运用越来越广泛，为了保证电子设备的质量和安全性，在任何一台电子设备出厂之前都会进行出厂测试。针对不同的设备，出厂测试流程不同。例如手机，出厂测试可以包括压力测试、抗摔性测试、高/低温测试、高湿度测试、百格测试、扭矩测试、静电测试、按键寿命测试、沙尘测试等。比如，针对压力测试，可以调用预设的压力测试程序连续对手机拨打1000个电话，检测手机是否发生故障。当出厂测试的所有测试都完成后，则表示该手机已经测试过了，处于测试过状态。需要说明的是，调用预先设置的测试程序对设备进行测试可以参见相关技术中的测试过程，对此本公开实施例不再进行赘述。

本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据预设标志位的标志值判断设备的测试状态，在设备的测试状态为指定测试状态的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。

如图2所示，图2是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的流程图，该方法可以用于设备中，包括以下步骤：

在步骤201中，获取设备中预设标志位的标志值。

本公开实施例中涉及的设备可以是各种集成了测试功能的终端，例如，智能手机、平板电脑、PDA、智能灯具等。

预设标志位可以为非易失性存储器的指定地址对应的存储空间，即可以从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。指定地址是事先指定的地址，例如，可以指定一个不常用的地址，在该地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值，所述标志值用来标志该设备的测试状态。

进一步的，还可以将存储器划分为数据存储区和特征数据存储区，预设标志位设在特征数据存储器的指定位置，从而可以提高获取预设标志位的标志值的效率。

在一个可选的实现方式中，还可以设置本实施例的触发条件，例如，可以先检测设备是否从断电状态到通电状态；当设备从断电状态到通电状态时，触发执行步骤201。从断电状态到通电状态可以是设备启动的一个过程。检测设备是否从断电状态到通电状态的方法有很多种，例如，可以检测设备的电路是否从无电流到有电流，若是，则表示该设备从断电状态到通电状态。

上述实施例将获取设备中预设标志位的标志值的触发条件设置为设备刚上电状态，可以实现一上电即对未测试过的设备进行测试，并且避免了实时获取数据导致的资源浪费。

在步骤202中，判断标志值与预设的指定值是否一致，当标志值与指定值一致时，判定设备的测试状态为未测试过状态，进入步骤203。

本实施例中，所述指定测试状态为未测试过状态。将标志值与指定值进行比较，当标志值与指定值一致时，则认为设备处于未测试过状态。本步骤中的指定值可以是预先设置的值，也可以是系统默认的值。本步骤中的指定值可以是二进制值、十六进制值，也可以是数据、信息等。判断设备是否测试过可以采用如下方式：

方式一：通过标志位是否存储内容判断设备的测试状态是否为未测试过状态。

该方式可以在非易失性存储器内指定一个存储空间，当该存储空间未写入数据时，则判定设备的测试状态为未测试过状态，若设备已写入数据，则判定设备的测试状态为测试过状态。例如，从flash的指定位置读取数据，当读取的数据为0xFF时，则表示该存储空间没有写入数据，判定设备的测试状态为未测试过状态，当读取的数据不是0xFF时，则表示该存储空间已写入数据，则判定设备的测试状态为测试过状态。

方式二：通过标志位的值与预设值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态。

该方式可以在非易失性存储器内指定一个存储空间，并在该存储空间事先存储一个预设值。其中，预设值可以是数值、数据等。获取设备中预设标志位的标志值，判断获取到的标志值与预设值是否一致，若一致，则判定设备的测试状态为未测试过状态，若不一致，则判定设备的测试状态为测试过状态。

在步骤203中，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。

本步骤中，当设备未进行过测试时，可以调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。可以在设备内预先设置若干测试程序，用于执行对设备的不同测试。这些测试程序可以是相关技术中已有的各种测试程序，包括出厂测试程序、安全测试程序等。这些程序存储在设备中，当需要测试时，设备可以调用相应的测试程序进行测试。

在步骤204中，判断测试是否完成，若测试完成时，则进入步骤205。

由于本实施例中指定测试状态可以为未测试过状态，因此可以在测试完成时对标志值进行修改，以便可以通过标志值来判断是否测试过。判断测试是否完成，即测试是否结束，测试程序的代码是否运行完成。测试完成后，包括两种测试状态，测试通过状态和测试不通过状态，本实施例不对这两种情况进行区分。

在步骤205中，对标志值进行修改，以使修改后的标志值与指定值不一致。

本步骤在测试结束后，会对标志值进行修改，以使修改后的标志值与指定值不一致，下次获取到预设标志位的标志值时，将新的标志值与指定值比较，发现不一致时，判定设备的测试状态为未测试过状态，不再调用预先设置的测试程序对设备进行测试。

本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态，仅在设备未测试过的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试，并且在测试完成时对标志值进行修改，以使测试过的设备后续不再进行测试，提高了测试效率，同时避免了资源浪费。

如图3所示，图3是根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法的流程图，该方法可以用于设备中，包括以下步骤：

在步骤301中，获取设备中预设标志位的标志值。

本公开实施例中涉及的设备可以是各种集成了测试功能的终端，例如，智能手机、平板电脑、PDA、智能灯具等。预设标志位可以为非易失性存储器的指定地址对应的存储空间，即可以从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。进一步的，还可以将存储器划分为数据存储区和特征数据存储区，预设标志位设在特征数据存储器的指定位置，从而可以提高获取预设标志位的标志值的效率。

在一个可选的实现方式中，还可以设置本实施例的触发条件，例如，可以在检测到设备从断电状态到通电状态的时候触发执行步骤302。

在步骤302中，判断标志值与预设的指定值是否一致，若标志值与指定值一致，则表示设备的测试状态为未测试过状态或测试不通过状态，进入步骤303。

本实施例将标志值与指定值进行比较，当标志值与指定值一致时，则认为设备处于未测试过状态或测试不通过状态；当标志值与指定值不一致时，则认为设备处于测试通过状态。本步骤中的指定值可以是预先设置的值，也可以是系统默认的值。本步骤中的指定值存在形式可以是二进制、十六进制，也可以是数据、信息。判断设备的测试状态方式有很多种，可以通过标志位是否存储内容判断设备的测试状态是否为未测试过状态或测试不通过状态，也可以通过标志值与预设值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态或测试不通过状态。具体实现方式与上述实施例相同，本实施例不再展开描述。

在步骤303中，若测试状态为未测试过状态或测试不通过状态时，则调用预先设置的测试程序对设备进行测试。

本步骤中，所述指定测试状态可以包括未测试过状态或测试不通过状态。当设备未进行过测试时，可以调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。当设备进行过测试但未测试通过时，可以调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试，即在未测试过状态和测试不通过状态下都可以调用预先设置的测试程序对设备进行测试，无需具体知道当前测试状态为未测试过状态，还是测试不通过状态，只要当前测试状态不是测试通过状态，即可调用预先设置的测试程序对设备进行测试。

本步骤中，可以在设备内预先设置若干测试程序，用于执行对设备的不同测试。这些测试程序可以是相关技术中已有的各种测试程序，包括出厂测试程序、安全测试程序等。这些程序存储在设备中，不管测试状态是未测试过状态还是测试不通过状态，设备都可以调用预先设置的测试程序进行测试。

在步骤304中，判断测试是否通过，若是，则进入步骤305，若否，则进入步骤306。

由于本实施例中指定测试状态可以包括未测试过状态或测试不通过状态，因此可以在测试完成时对标志值进行修改，以便可以通过标志值来判断是否为未测试过状态或测试不通过状态。在调用预先设置的测试程序对设备进行测试后，可以判断测试是否通过。测试通过表示设备正常；测试不通过表示设备存在故障。例如，对设备进行测试完成后，可以生成测试结果，根据测试结果即可知道该次测试是否通过。

在步骤305中，对标志值进行修改，以使修改后的标志值与指定值不一致。

本步骤在测试通过后，会对标志值进行修改，以使修改后的值与指定值不一致，修改的目的是为了标志该设备为测试通过的设备。例如，下次获取到新的标志值时，将新的标志值与指定值比较，发现不一致时，表示设备测试通过，则不再调用预先设置的测试程序对设备进行测试。

进一步的，在测试通过后，可以进行测试通过提醒。例如，可以在显示屏上显示“测试通过”，可以语音播报“测试通过”，还可以通过闪烁绿灯表示测试通过。

在步骤306中，暂停测试并提示测试不通过，和/或根据测试结果调用预先设置的修复程序对设备进行修复。

在其中一个实施例中，在测试不通过时，可以暂停测试，并向用户提示测试不通过，例如，可以在显示屏上显示“测试不通过”，可以语音播报“测试不通过”，还可以通过闪烁红灯表示测试不通过。用户可以根据提示，对设备进行修复，修复成功后，可以继续返回步骤301进行测试。

在其他实施方式中，也可以根据测试结果调用预先设置的修复程序对设备进行修复。例如，可以预先对历史测试事件进行统计分析，建立测试结果与修复程序的对应关系。在调用预先设置的测试程序对设备进行测试、且测试失败时，可以根据测试结果查找到对应的修复程序，实现对设备的修复。修复成功后，可以继续返回步骤301进行测试。

应当理解，对标志值进行修改后，也可以既提示测试通过，又对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致，对此不再赘述。

本公开可以在设备中预先指定预设标志位，根据预设标志位的标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态或未测试通过状态，实现在设备未测试过和测试未通过的两种情况下，都可以调用预先设置的测试程序对设备进行测试，避免漏掉对测试不通过但后续修复好的这类设备的测试。并且可以在测试通过时对预设标志位的标志值进行修改，以使后续不再对测试通过的设备进行测试，自动实现测试的同时避免了资源浪费。另外，还可以对测试不通过的设备进行自动修复，也可以对测试不通过的设备进行提示。

在一个可选的实现方式中，可以通过不同的指定值标志设备的不同测试状态。即根据所述值确定所述设备的测试状态可以包括：判断标志值是否与第一指定值或第二指定值相同，若标志值与第一指定值相同，则判定设备的测试状态为未测试过状态，若标志值与第二指定值相同，则判定设备的测试状态为测试不通过状态，若预设标志位的标志值与第一指定值和第二指定值均不相同，则判定设备的测试状态为测试通过状态。从而可以实现根据标志位的值确定设备的不同测试状态。

进一步的，设备的测试状态为未测试过状态时，可以调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试；设备的测试状态为测试不通过状态时，可以调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

进一步的，调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试后，还可以包括：判断测试是否通过，若测试不通过，则将标志值修改为第二指定值，若测试通过，则对标志值进行修改，以使修改后的标志值与第一指定值和第二指定值不一致。

进一步的，根据标志位的值确定设备的测试状态，当设备的测试状态为未测试过状态时，进行未测试过状态的提示；当设备的测试状态为测试通过状态时，进行测试通过的提示；当设备的测试状态为测试不通过状态时，进行测试不通过的提示。

上述实施例中的提示方式有很多种，包括语音提示、显示提示等。例如，针对有显示屏的电子设备而言，可以在显示屏幕上输出“测试通过”、“测试未通过”或“未测试过”等字样的提示。针对有语音播报功能的电子设备而言，可以语音提示测试通过、测试未通过或未测试过。针对有指示灯的设备或者本身以灯形式存在的设备而言，可以通过闪烁不同颜色的灯表示设备的测试状态。需要说明的是，提示方式可以参见相关技术中的提示方法，对此本公开实施例不再进行赘述。

本实施例对判断结果进行提示，可以提醒用户该电子设备的测试状态，从而区分出哪些电子设备已测试通过，哪些电子设备未测试过，哪些电子设备测试未通过，从而快速实现对电子设备测试状态的划分。

与前述设备测试方法的实施例相对应，本公开还提供了设备测试装置及其所应用的终端的实施例。

如图4所示，图4是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试装置框图，所述装置包括获取单元410、确定单元420和测试单元430。

其中，获取单元410，被配置为获取设备中预设标志位的标志值；

确定单元420，被配置为根据所述标志值确定所述设备的测试状态；

测试单元430，被配置为若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

由上述实施例可见，本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据预设标志位的标志值判断设备的测试状态，在设备的测试状态为指定测试状态的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。

如图5所示，图5是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图，该实施例在前述图4所示实施例的基础上，所述获取单元410包括读取子单元411。

其中，读取子单元411，被配置为从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。

由上述实施例可见，可以将标志位限定为非易失性存储器的指定地址对应的存储空间，既可以保证预设标志位的值不会因为系统重启或关机而丢失，还可以提高获取标志值的效率。

如图6所示，图6是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图，该实施例在前述图4所示实施例的基础上，所述获取单元410包括：通电检测子单元412和触发获取子单元413。

其中，通电检测子单元412，被配置为检测所述设备是否从断电状态到通电状态；

触发获取子单元413，被配置为当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。

由上述实施例可见，可以将获取设备中预设标志位的标志值的触发条件设置为设备刚上电状态，可以实现一上电即对指定测试状态的设备进行测试，并且避免了实时获取数据导致的资源浪费。

如图7所示，图7是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图，该实施例在前述图4所示实施例的基础上，所述确定单元420包括：判断子单元421。

其中，判断子单元421，被配置为判断所述标志值与预设的指定值是否一致；当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述测试状态为所述指定测试状态。

如图8所示，图8是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图，该实施例在前述图7所示实施例的基础上，所述装置还包括：第一判断单元440和第一修改单元450。

其中，第一判断单元440，被配置为判断所述测试是否完成；

第一修改单元450，被配置为当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

由上述实施例可见，在设备中预先指定了预设标志位，可以根据标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态，仅在设备未测试过的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试，并且在测试完成时对标志值进行修改，以使测试过的设备后续不再进行测试，提高了测试效率，同时避免了资源浪费。

如图9所示，图9是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图，该实施例在前述图7所示实施例的基础上，所述装置还包括：第二判断单元460和第二修改单元470。

其中，第二判断单元460，被配置为判断所述测试是否通过；

第二修改单元470，被配置为当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

由上述实施例可见，可以在设备中预先指定预设标志位，根据预设标志位的标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态或未测试通过状态，实现在设备未测试过和测试未通过的两种情况下，都可以调用预先设置的测试程序对设备进行测试，避免漏掉对测试不通过但后续修复好的这类设备的测试。并且可以在测试通过时对预设标志位的标志值进行修改，以使后续不再对测试通过的设备进行测试，自动实现测试的同时避免了资源浪费。

如图10所示，图10是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图，该实施例在前述图9所示实施例的基础上，所述装置还包括以下一种单元：提示单元480或修复单元490。为了示例清楚，图10将提示单元480或修复单元490都示例出来。

其中，提示单元480，被配置为当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过；

修复单元490，被配置为当测试不通过时，根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。

由上述实施例可见，还可以对测试不通过的设备进行自动修复，也可以对测试不通过的设备进行提示。

相应的，本公开还提供一种设备测试装置，所述装置包括有处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为：

获取设备中预设标志位的标志值；

根据所述标志值确定所述设备的测试状态；

若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

上述装置中各个单元的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程，在此不再赘述。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

如图11所示，图11是本公开根据一示例性实施例示出的一种用于设备测试装置1100的一结构示意图。例如，装置1100可以是具有路由功能的移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图11，装置1100可以包括以下一个或多个组件：处理组件1102，存储器1104，电源组件1106，多媒体组件1108，音频组件1110，输入/输出(I/O)的接口1112，传感器组件1114，以及通信组件1116。

处理组件1102通常控制装置1100的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件1102可以包括一个或多个处理器1120来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件1102可以包括一个或多个模块，便于处理组件1102和其他组件之间的交互。例如，处理组件1102可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件1108和处理组件1102之间的交互。

存储器1104被配置为存储各种类型的数据以支持在装置1100的操作。这些数据的示例包括用于在装置1100上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器1104可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件1106为装置1100的各种组件提供电力。电源组件1106可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置1100生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件1108包括在所述装置1100和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件1108包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置1100处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件1110被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件1110包括一个麦克风(MIC)，当装置1100处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器1104或经由通信组件1116发送。在一些实施例中，音频组件1110还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口1112为处理组件1102和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件1114包括一个或多个传感器，用于为装置1100提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件1114可以检测到装置1100的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置1100的显示器和小键盘，传感器组件1114还可以检测装置1100或装置1100一个组件的位置改变，用户与装置1100接触的存在或不存在，装置1100方位或加速/减速和装置1100的温度变化。传感器组件1114可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件1114还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件1114还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器，微波传感器或温度传感器。

通信组件1116被配置为便于装置1100和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置1100可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件1116经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件1116还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置1100可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器1104，上述指令可由装置1100的处理器1120执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行一种设备测试方法，所述方法包括：获取设备中预设标志位的标志值；根据所述标志值确定所述设备的测试状态；若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (9)

1.一种设备测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取设备中预设标志位的标志值；

判断所述标志值与预设的指定值是否一致，当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述设备的测试状态为所述指定测试状态；

若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试；

判断所述测试是否完成；当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致；其中，所述指定测试状态包括未测试过状态；或者，判断所述测试是否通过；当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致；其中，所述指定测试状态包括未测试过状态和测试不通过状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取设备中预设标志位的标志值，包括：

从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取设备中预设标志位的标志值，包括：

检测所述设备是否从断电状态到通电状态；

当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过，和/或根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。

5.一种设备测试装置，其特征在于，所述装置包括获取单元、确定单元、测试单元、第一判断单元和第一修改单元；或者所述装置包括获取单元、确定单元、测试单元、第二判断单元和第二修改单元；

获取单元，用于获取设备中预设标志位的标志值；

确定单元，用于根据所述标志值确定所述设备的测试状态；所述确定单元包括判断子单元，用于判断所述标志值与预设的指定值是否一致；当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述测试状态为所述指定测试状态；

测试单元，用于若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试；

第一判断单元，用于判断所述测试是否完成；其中，所述指定测试状态包括未测试过状态；

第一修改单元，用于当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致；

第二判断单元，用于判断所述测试是否通过；其中，所述指定测试状态包括未测试过状态和测试不通过状态；

第二修改单元，用于当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述获取单元包括：

读取子单元，用于从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述获取单元包括：

通电检测子单元，用于检测所述设备是否从断电状态到通电状态；

触发获取子单元，用于当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括以下一种单元：

提示单元，用于当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过；

修复单元，用于当测试不通过时，根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。

9.一种设备测试装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取设备中预设标志位的标志值；

判断所述标志值与预设的指定值是否一致，当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述设备的测试状态为所述指定测试状态；

若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试；

判断所述测试是否完成；当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致；其中，所述指定测试状态包括未测试过状态；或者，判断所述测试是否通过；当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致；其中，所述指定测试状态包括未测试过状态和测试不通过状态。