CN114019268B - 老化测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种老化测试方法、装置、设备及存储介质，属于老化测试技术领域。本发明通过在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号，将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号生成显示信号，将显示信号输出至显示面板，通过将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号进行老化测试，无需为了切换到老化测试模式而进行元器件重新焊接，且也无需外围电路配合完成老化实验，降低测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域，尤其涉及一种老化测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
显示设备老化测试在产品质量控制中是一个非常重要的环节。显示屏在老化测试后可以了解其效能，有助于后期运用时效能更稳定。目前，已有的显示设备老化测试方案是通过修改电路设定来实现。老化测试方案需要重新更改焊接元器件，且需要在电路中做外围电路预留接口，以配合时序控制器工作，操作起来较为复杂，测试成本较高。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种老化测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术显示设备老化测试方案需修改电路配置，测试成本较高的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供了一种老化测试方法，所述老化测试方法包括：
在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号；
将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号；
根据所述测试信号生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板，以使所述显示面板根据所述显示信号实现老化测试。
可选地，在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号，包括：
在显示屏进行老化测试时，获取老化测试触发信号及外部信号；
根据所述老化测试触发信号生成老化控制信号；
对所述外部信号进行信号分析，生成差分信号。
可选地，对所述外部信号进行信号分析，生成差分信号，包括：
对所述外部信号进行信号转换，生成输入信号；
对所述输入信号进行信号提取，得到差分信号。
可选地，所述将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号，包括：
对所述差分信号进行信号分析，得到比特数据；
将所述老化控制信号写入所述比特数据中，生成测试信号。
可选地，所述将所述老化控制信号写入所述比特数据中，生成测试信号，包括：
对所述比特数据进行数据分析，得到每个时钟周期内的第一比特数据的空数据位；
将所述老化控制信号写入所述空数据位中，生成测试信号。
可选地，所述根据所述测试信号生成显示信号，包括：
根据所述测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令；
根据所述测试指令生成显示信号。
可选地，所述根据所述测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令之后，包括：
将所述测试指令发送至电源集成电路，以使所述电源集成电路根据所述测试指令生成测试电压，将所述测试电压输出至所述显示面板。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种老化测试装置，所述老化测试装置包括：
获取模块，用于在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号；
信号处理模块，用于将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号；
信号处理模块，还用于根据所述测试信号生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板，以使所述显示面板根据所述显示信号实现老化测试。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种老化测试设备，所述老化测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的老化测试程序，所述老化测试程序配置为实现如上文所述的老化测试方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有老化测试程序，所述老化测试程序被处理器执行时实现如上文所述的老化测试方法的步骤。
本发明通过在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号，将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号生成显示信号，将显示信号输出至显示面板，通过将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号进行老化测试，无需为了切换到老化测试模式而进行元器件重新焊接，且也无需外围电路配合完成老化实验，降低测试成本。
附图说明
图1为本发明实施例一中涉及的硬件运行环境的老化测试设备的结构示意图；
图2为本发明实施例一中老化测试方法的流程示意图；
图3为本发明实施例二中老化测试方法的流程示意图；
图4为本发明实施例二中老化测试方法的差分信号写入老化控制信号前的数据传输形式示意图。
图5为本发明实施例二中老化测试方法的差分信号写入老化控制信号后的数据传输形式示意图。
图6为本发明实施例三中老化测试装置的结构框图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例一
参照图1，图1为本发明实施例一中涉及的硬件运行环境的老化测试设备的结构示意图。
如图1所示，该老化测试设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(Wireless-Fidelity，Wi-Fi)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)存储器，也可以是稳定的非易失性存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对老化测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及老化测试程序。
在图1所示的老化测试设备中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本发明老化测试设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在老化测试设备中，所述老化测试设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的老化测试程序，并执行本发明实施例提供的老化测试方法。
本发明实施例提供了一种老化测试方法，参照图2，图2为本发明实施例一中老化测试方法的流程示意图。
本实施例中，所述老化测试方法包括以下步骤：
步骤S10：在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号。
需要说明的是，在显示屏的质量检测中包括老化测试，当老化测试装置中系统控制芯片(SOC)根据老化测试需求生成老化控制信号时，可获取未输入至老化测试装置中时序控制器的差分信号。其中，老化测试需求可为老化测试类型(如白光老化或视频老化等)对应的测试指令的测试操作需求，根据测试指令生成老化控制信号。
应当理解的是，老化控制信号可为使显示屏进入老化测试模式的控制信号，差分信号可为一种利用差分技术传输数据的信号，差分信号可包括时钟信号即数据信号，通过采用差分线对中的两根信号线之间的电压差来表示数据，在电压差为正时代表数据“1”，在电压差为负时代表数据“0”。
步骤S20：将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号。
易于理解的是，差分信号的数据信号在输入至时序控制器(TCON)进行数据分析之前存在空数据位，将老化控制信号插入到差分信号中，即将老化控制信号补充到空数据位，以形成新的差分信号即测试信号。当时序控制器对测试信号进行信号分析时，则可在原空数据位提取出老化控制信号，并根据老化控制信号进入老化测试模式。将老化控制信号写入差分信号的测试方式避免需要重新焊接电路的技术问题，且也无需外围电路配合，可在系统控制芯片根据老化测试需求生成老化控制信号时，根据老化控制信号实现老化测试功能，完成老化实验。
步骤S30：根据所述测试信号生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板，以使所述显示面板根据所述显示信号实现老化测试。
可以理解的是，测试信号输入至老化测试模块中的时序控制器后，时序控制器可从测试信号中检测到老化测试信号，时序控制器可根据老化测试信号生成显示信号，显示面板可根据显示信号进行老化测试的显示驱动，通过侦测显示状态，将显示状态反馈给上位机等分析设备，从而实现老化测试。
本实施例通过在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号，将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号生成显示信号，将显示信号输出至显示面板，通过将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号进行老化测试，无需为了切换到老化测试模式而进行元器件重新焊接，且也无需外围电路配合完成老化实验，降低测试成本。
实施例二
参考图3，图3为本发明实施例二中老化测试方法的流程示意图。
基于上述实施例一，本实施例老化测试方法中，所述步骤S10，包括：
步骤S101：在显示屏进行老化测试时，获取老化测试触发信号及外部信号。
易于理解的是，在显示屏进行老化测试时，老化测试装置中系统控制芯片接收到测试人员输入的老化测试触发信号(如测试人员触发测试按钮等)。
可以理解的是，系统控制芯片接收到老化测试触发信号时，可同时获取外部信号，外部信号可包括从外部接收的数据信号、控制信号及时钟信号，由于信号格式不同，外部信号通常不能直接获取信息。
步骤S102：根据所述老化测试触发信号生成老化控制信号。
应当理解的是，系统控制芯片根据老化测试触发信号生成满足老化测试需求的老化控制信号，老化测试需求可为老化测试类型(如白光老化或视频老化等)对应的测试指令的测试操作需求，根据测试指令生成老化控制信号。
步骤S103：对所述外部信号进行信号转换，生成输入信号；对所述输入信号进行信号提取，得到差分信号。
应当理解的是，系统控制芯片可先将外部信号转化为适合于数据驱动电路和扫描驱动电路的输入信号(数据信号、控制信号及时钟信号)，即是根据每种信号对应的信号接口技术，将外部信号的信号格式转换成适合于后续设备进行数据处理的信号格式。对输入信号进行信号提取，从输入信号种分离出差分信号，在具体实现中，可设置单独的输入接口接收差分信号。
所述步骤S20，包括：
步骤S201：对所述差分信号进行信号分析，得到比特数据。
易于理解的是，对差分信号进行信号分析，分离出数据信号和时钟信号，数据信号可包括若干比特数据，信号线对不同，比特数也对应不同，且同一时钟周期内，传输的比特数据不同。通过对时钟信号进行分析，可以确定每一帧的起始位置，从而区分比特数据的时钟周期。
步骤S202：对所述比特数据进行数据分析，得到每个时钟周期内的第一比特数据的空数据位；将所述老化控制信号写入所述空数据位中，生成测试信号。
可以理解的是，如图4，图4为本发明实施例二中老化测试方法的差分信号写入老化控制信号前的数据传输形式示意图，RXCLKP与RXCLKN均表示时钟通道，其中，CLKP为低电平“0”，CLKN为高电平“1”，RX1、RX2、RX3及RX4分别为通道1、通道2、通道3及通道4，通道数为偶数。根据时钟信号对所述比特数据进行数据分析，可区分比特数据的时钟周期(图4中两根虚线之间可理解为当前周期)，每个时钟周期内起始位置的比特数据设为第一比特数据(如图4中当前周期的第一比特数据为G0、B1、DE及空数据，当前周期的第七比特数据为R0、G1、B2及R6，其中，R表示红色，G表示绿色，B表示蓝色)，第一比特数据通常包括若干有效数据和一个空数据。
应当理解的是，如图5，图5为本发明实施例二中老化测试方法的差分信号写入老化控制信号后的数据传输形式示意图，RXCLKP与RXCLKN均表示时钟通道，其中，CLKP为低电平“0”，CLKN为高电平“1”，RX1、RX2、RX3及RX4分别为通道1、通道2、通道3及通道4，通道数为偶数，Aging表示老化控制信号。根据空数据对应的位置将老化控制信号写入空数据位中，形成新的差分信号即测试信号(如图5中测试信号在当前周期的第一比特数据为G0、B1、DE及Aging)，从而避免需要重新焊接电路的技术问题，且也无需外围电路配合，可在系统控制芯片根据老化测试需求生成老化控制信号时，根据老化控制信号实现老化测试功能，完成老化实验。
所述步骤S30，包括：
步骤S301：根据所述测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令。
易于理解的是，时序控制器可根据测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令，老化测试指令可为老化测试类型(如白光老化或视频老化等)对应的测试指令，测试指令可为使不同设备执行相应老化测试工作的指令。如使显示面板根据对应的测试信号执行老化测试的驱动方案。
步骤S302：根据所述测试指令生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板。
可以理解的是，时序控制器可根据测试指令生成显示面板进行老化测试所需的显示信号，显示信号可使显示面板执行老化测试的驱动方案。通过侦测显示状态，将显示状态反馈给上位机等分析设备，从而可实现老化测试。
步骤S303：将所述测试指令发送至电源集成电路，以使所述电源集成电路根据所述测试指令生成测试电压，将所述测试电压输出至所述显示面板。
应当理解的是，时序控制器还可以将电源集成电路进行老化测试所需的测试指令发送至电源集成电路，电源集成电路通常可为显示面板提高工作电压，电源集成电路可根据测试指令对输出电压进行调控，生成老化测试所需的测试电压，将测试电压输出至显示面板，通过侦测显示状态，将显示状态反馈给上位机等分析设备，从而可实现老化测试。
本实施例通过在显示屏进行老化测试时，获取老化测试触发信号及外部信号，根据老化测试触发信号生成老化控制信号，对外部信号进行信号转换，生成输入信号，对输入信号进行信号提取，得到差分信号，对差分信号进行信号分析，得到比特数据，对比特数据进行数据分析，得到每个时钟周期内的第一比特数据的空数据位，将老化控制信号写入空数据位中，生成测试信号，根据测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令，根据测试指令生成显示信号，将显示信号输出至显示面板，还将测试指令发送至电源集成电路，以使电源集成电路根据测试指令生成测试电压，将测试电压输出至显示面板，通过写入信号的方式进行老化测试，避免人工焊接操作，提高测试效率。
此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有老化测试程序，所述老化测试程序被处理器执行时实现如上文所述的老化测试方法的步骤。
由于本存储介质采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
实施例三
参照图6，图6为本发明实施例三中老化测试装置的结构框图。
如图6所示，本发明实施例提出的老化测试装置包括：
获取模块10，用于在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号。
需要说明的是，在显示屏的质量检测中包括老化测试，获取模块10可包括系统控制芯片(SOC)，当系统控制芯片根据老化测试需求生成老化控制信号时，可获取未输入至老化测试装置中时序控制器的差分信号。其中，老化测试需求可为老化测试类型(如白光老化或视频老化等)对应的测试指令的测试操作需求，根据测试指令生成老化控制信号。
应当理解的是，老化控制信号可为使显示屏进入老化测试模式的控制信号，差分信号可为一种利用差分技术传输数据的信号，差分信号可包括时钟信号即数据信号，通过采用差分线对中的两根信号线之间的电压差来表示数据，在电压差为正时代表数据“1”，在电压差为负时代表数据“0”。
信号处理模块20，用于将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号。
易于理解的是，信号处理模块20可系统控制芯片和时序控制器(TCON)，包括差分信号的数据信号在输入至时序控制器进行数据分析之前存在空数据位，将老化控制信号插入到差分信号中，即将老化控制信号补充到空数据位，以形成新的差分信号即测试信号。当时序控制器对测试信号进行信号分析时，则可在原空数据位提取出老化控制信号，并根据老化控制信号进入老化测试模式。将老化控制信号写入差分信号的测试方式避免需要重新焊接电路的技术问题，且也无需外围电路配合，可在系统控制芯片根据老化测试需求生成老化控制信号时，根据老化控制信号实现老化测试功能，完成老化实验。
信号处理模块20，还用于根据所述测试信号生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板，以使所述显示面板根据所述显示信号实现老化测试。
可以理解的是，测试信号输入至老化测试模块中的时序控制器后，时序控制器可从测试信号中检测到老化测试信号，时序控制器可根据老化测试信号生成显示信号，显示面板可根据显示信号进行老化测试的显示驱动，通过侦测显示状态，将显示状态反馈给上位机等分析设备，从而实现老化测试。
本实施例通过在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号，将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号生成显示信号，将显示信号输出至显示面板，通过将老化控制信号写入差分信号，生成测试信号，根据测试信号进行老化测试，无需为了切换到老化测试模式而进行元器件重新焊接，且也无需外围电路配合完成老化实验，降低测试成本。
在一实施例中，所述获取模块10，还用于在显示屏进行老化测试时，获取老化测试触发信号及外部信号；根据所述老化测试触发信号生成老化控制信号；对所述外部信号进行信号转换，生成输入信号；对所述输入信号进行信号提取，得到差分信号。
在一实施例中，所述信号处理模块20，还用于对所述差分信号进行信号分析，得到比特数据；对所述比特数据进行数据分析，得到每个时钟周期内的第一比特数据的空数据位；将所述老化控制信号写入所述空数据位中，生成测试信号。
在一实施例中，所述信号处理模块20，还用于根据所述测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令；根据所述测试指令生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板，以使所述显示面板根据显示信号实现老化测试。
在一实施例中，所述信号处理模块20，还用于将所述测试指令发送至电源集成电路，以使所述电源集成电路根据所述测试指令生成测试电压，将所述测试电压输出至所述显示面板。
由于本老化测试装置采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
应当理解的是，以上仅为举例说明，对本发明的技术方案并不构成任何限定，在具体应用中，本领域的技术人员可以根据需要进行设置，本发明对此不做限制。
需要说明的是，以上所描述的工作流程仅仅是示意性的，并不对本发明的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。
另外，未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的老化测试方法，此处不再赘述。
此外，需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器(Read Only Memory，ROM)/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种老化测试方法，其特征在于，所述老化测试方法包括：
在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号；
将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号；
根据所述测试信号生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板。
2.如权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号，包括：
在显示屏进行老化测试时，获取老化测试触发信号及外部信号；
根据所述老化测试触发信号生成老化控制信号；
对所述外部信号进行信号分析，生成差分信号。
3.如权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，对所述外部信号进行信号分析，生成差分信号，包括：
对所述外部信号进行信号转换，生成输入信号；
对所述输入信号进行信号提取，得到差分信号。
4.如权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号，包括：
对所述差分信号进行信号分析，得到比特数据；
将所述老化控制信号写入所述比特数据中，生成测试信号。
5.如权利要求4所述的老化测试方法，其特征在于，所述将所述老化控制信号写入所述比特数据中，生成测试信号，包括：
对所述比特数据进行数据分析，得到每个时钟周期内的第一比特数据的空数据位；
将所述老化控制信号写入所述空数据位中，生成测试信号。
6.如权利要求1至5中任一项所述的老化测试方法，其特征在于，所述根据所述测试信号生成显示信号，包括：
根据所述测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令；
根据所述测试指令生成显示信号。
7.如权利要求6所述的老化测试方法，其特征在于，所述根据所述测试信号从已储存的老化测试指令中获取对应的测试指令之后，包括：
将所述测试指令发送至电源集成电路，以使所述电源集成电路根据所述测试指令生成测试电压，将所述测试电压输出至所述显示面板。
8.一种老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括：
获取模块，用于在显示屏进行老化测试时，获取老化控制信号及差分信号；
信号处理模块，用于将所述老化控制信号写入所述差分信号，生成测试信号；
信号处理模块，还用于根据所述测试信号生成显示信号，将所述显示信号输出至显示面板，以使所述显示面板根据所述显示信号实现老化测试。
9.一种老化测试设备，其特征在于，所述老化测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的老化测试程序，所述老化测试程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的老化测试方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有老化测试程序，所述老化测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的老化测试方法。
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