CN105676024A - 电子产品老化测试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子产品老化测试方法和装置，属于电子技术领域，所述方法包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。与现有技术相比，本发明中，在进行产品的功能测试时，充分利用了电子产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使电子产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。同时，本发明还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，提高了生产效率。

Description

电子产品老化测试方法和装置

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是指一种电子产品老化测试方法和装置。

背景技术

对于电子产品，其中最关键的部分就是控制电路或功能电路，而控制电路或功能电路又是由不同的电子元器件组成的。电子产品通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后发现会有这样或那样的毛病，又发现这些毛病绝大部分发生在开始的几小时至几十小时之内，通过老化测试后，把有问题的产品留在工厂，没问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题较少的，这就是产品老化测试的意义。老化测试使产品的缺陷在出厂前暴露，如焊接点的可靠性、所选电子元器件的可靠性；老化测试使产品性能进入稳定区间后出厂，减少返修率。

现有技术中的老化测试过程一般是将一段老化程序写入电子产品中，然后运行老化程序，老化测试完毕后擦除老化程序，最后写入电子产品的出厂程序。而现有技术中的老化程序只是对电子元器件和硬件功能部件进行测试，并没有对产品出厂程序的各个功能进行检测。对产品出厂程序功能检测将会在老化程序结束后进行。

现有技术存在的问题是：

1.最佳的产品老化测试要使电子产品的工作强度大于正常工作时候的强度，这样才能充分发挥老化的作用。而现有技术中的老化程序仅仅是对电子元器件和硬件功能部件的测试，并不能使电子产品处于一种高强度的运行状态。不仅如此，在对电子产品出厂程序的功能检测时，电子产品在没有输入时，大部分时间内电子产品一直处于等待或空运行的空闲状态中，没有达到所要求的强度。综合上述原因，现有技术中无法实现较为彻底的产品老化；

2.老化程序和出厂程序是两套程序，对产品出厂程序的功能检测在老化程序结束后进行，老化测试完成后，需要被删除，然后重新写入出厂程序。由于老化程序和出厂程序是分开进行的，处于生产过程中的不同环节，这样就加重了生产环节不必要的劳动；

3.老化程序仅仅是对电子元器件和硬件功能部件的测试，老化测试完成后，才对产品出厂程序的功能进行单独的测试。步骤繁琐，生产效率低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的电子产品老化测试方法和装置。

为解决上述技术问题，本发明提供技术方案如下：

一种电子产品老化测试方法，包括：

步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；

步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；

步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。

一种电子产品老化测试装置，包括：

判断模块：用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试模块；

硬件测试模块：用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断模块；

功能测试模块：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断模块。

本发明具有以下有益效果：

本发明的电子产品老化测试方法，当预设条件达到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当预设条件不满足时，进行产品的功能测试，无论执行完哪一种测试，均从判断预设条件开始重新执行，如此往复循环，直至老化结束。

本发明中，老化程序不仅包括对电子元器件和硬件功能部件的测试，还包括对产品的功能测试，其中，对电子元器件和硬件部件的测试是分别运行电子产品内部的电子元器件和硬件部件，以便及时发现电子产品的硬件是否存在的问题。本发明在进行产品的功能测试时，模拟真实的输入，作为产品的功能测试的输入量，充分利用了电子产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使电子产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。

本发明中，还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，同时，也简化了测试流程，缩减了生产步骤，提高了生产效率。

综上所述，与现有技术相比，本发明具有能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的特点。

附图说明

图1为本发明的电子产品老化测试方法的一种实施例的方法流程图；

图2为本发明的电子产品老化测试方法的一种改进实施例的方法流程图；

图3为本发明的电子产品老化测试方法的另一种改进实施例的方法流程图；

图4为本发明的电子产品老化测试方法的进一步改进实施例的方法流程图；

图5为本发明的电子产品老化测试方法的虹膜产品老化方法实施例的电路结构示意图；

图6为本发明的电子产品老化测试装置的一种实施例的结构示意图；

图7为本发明的电子产品老化测试装置的一种改进实施例的结构示意图；

图8为本发明的电子产品老化测试装置的进一步改进实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

一方面，本发明实施例提供一种电子产品老化测试方法，如图1所示，包括：

步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；

本步骤中，预设条件可以为预设的定时时间或预设的计数次数，还可以采用本领域技术人员容易想到的其它预设条件，均可以实现本步骤的技术效果。

步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；

本步骤中，电子元器件和硬件部件的测试就是对电子产品中所使用的电子元器件和其它硬件部件进行逐个测试，其中，电子元器件为电阻、电容、电感、二极管、三极管或LED等基础电子元件，硬件部件为模拟电路集成芯片、运算放大器电路等由基础电子元件构成的硬件模块，本步骤判断电子元器件和其它硬件部件本身功能是否正常，以及焊接是否良好等等。本步骤中，对电子产品的电子元器件和硬件部件完成一次测试后，即可转至步骤1。此外，根据测试的需要，还可以对电子元器件和硬件部件进行部分测试，例如，测试完一个或几个电子元器件和/或硬件部件后，对当前的测试进度进行标记，然后转至步骤1，当再一次转至本步骤时，从标记的位置开始测试。

步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。

本步骤中，模拟输入是模拟真实的输入量作为电子产品的输入，用于进行产品的功能测试，例如，当电子产品为虹膜识别设备时，则模拟一个虹膜作为功能测试的输入，使虹膜识别设备对模拟输入的虹膜进行识别、比对等操作，完成一次虹膜识别后，即可转至步骤1，重新执行，其中，模拟输入的虹膜可以为已有的虹膜图像等等；还例如，当电子产品为开关电源检测系统时，则可以模拟一个电压和电流作为开关电源检测系统的功能测试的输入，使开关电源检测系统对模拟的电压和电流进行采集、计算等操作，完成一次后，即可转至步骤1，重新执行。另外，本步骤的产品的功能测试，可以在测试完一个或几个功能后，对当前的测试进度进行标记，然后转至步骤1，当再一次转至本步骤时，从标记的位置开始测试。本步骤中，在进行产品的功能测试时，模拟真实的输入，作为产品的功能测试的输入量，充分利用了电子产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态。本步骤的产品的功能测试能够检验产品的性能和程序长期运行的稳定性，该测试过程可以包括对电子产品的各个功能单元或功能模块进行的单元功能测试，或模拟电子产品正常状态下工作流程的正常功能测试。

本实施例的电子产品老化测试方法，当预设条件达到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当预设条件不满足时，进行产品的功能测试，无论执行完哪一种测试，均从判断预设条件开始重新执行，如此往复循环，直至老化结束。

本实施例中，不仅包括对电子元器件和硬件功能部件的测试，还包括对产品的功能测试，其中，对电子元器件和硬件部件的测试是分别运行电子产品内部的电子元器件和硬件部件，以便及时发现电子产品的硬件是否存在的问题。本实施例在进行产品的功能测试时，模拟真实的输入，作为产品的功能测试的输入量，充分利用了电子产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使电子产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。

本实施例中，还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，同时，也简化了测试流程，缩减了生产步骤，提高了生产效率。

综上所述，与现有技术相比，本实施例具有能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的特点。

作为本实施例的一种改进，如图2所示，预设条件为预设标志位为约定值；

步骤1进一步为：判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3。

标志位是用作后续条件转移指令的转移控制条件。本实施例中，采用预设标志位为约定值作为预设条件，操作方便。

作为上述实施例的另一种改进，如图3所示，预设条件为预设标志位为第一约定值；

步骤1进一步为：判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至步骤2，如果是第二约定值，转至步骤31，如果是第三约定值，转至步骤32；

步骤3包括：

步骤31：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至步骤1；

步骤32：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至步骤1。

本实施例中，将产品的功能测试分为产品的单元功能测试和产品的正常功能测试。其中，产品的单元功能测试是对产品的各个功能单元或功能模块进行测试，产品的正常功能测试是对产品的功能进行模拟测试，该模拟测试是模拟产品正常工作状态下的工作流程。本实施例中，通过判断预设标志位的约定值，实现对电子元器件和硬件部件的测试、产品的单元功能测试或产品的正常功能测试的选择执行，提高了电子产品老化测试的全面性。

作为上述实施例的进一步改进，如图4所示，步骤1之前还包括：

步骤10：开始计时；

步骤11：判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤12，否则转至步骤1；

步骤12：更新预设标志位的数值，然后转至步骤10。

本实施例中，由于可编程电子产品中的CPU多以定时器和计数器作为选择判断条件，其中，定时器是以内部时钟作为基准来工作的，而计数器是以外部脉冲输入来计数的，为了开发的便利性，本实施例，优选的，采用定时器设置定时时间，将老化方法分为两个分支：预设标志位的初始值为约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为非约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的功能测试流程，同时开始计时，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。

又如，预设标志位的初始值为第一约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第二约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的单元功能测试流程，同时开始计时；当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第三约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的正常功能的测试，同时开始计时；当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第一约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。

本改进中，通过设置定时时间和判断定时时间，可以实现预设标志位的数值的变换，以便指示进行另一个测试流程。

上述实施例中，步骤2包括：在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；

步骤3包括：在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；

当前测试信息包括：测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。

测试项目名称包括：测试的元器件、硬件、或功能的名称；测试状态包括：正在测试、结束测试；测试结果包括：测试通过、测试失败。

本实施例中，为了方便测试人员查看当前电子产品正在进行哪个流程的测试，采用显示器给出提示。例如，如果硬件有LCD显示屏的，本实施例将根据当前测试是在电子元器件和硬件部件的测试阶段、产品的单元功能的测试阶段或产品的正常功能的测试阶段，在LCD显示屏上显示“正在进行电子元器件和硬件部件测试、正在进行产品的单元功能测试或正在进行产品的正常功能测试”的不同提示字样；

当进入某个测试阶段的时候，对其中的更小一级的测试也作出相应的有差别的提示，一旦出现问题，能方便测试人员通过测试表象就能快速准确定位问题所在。例如在进行电子元器件和硬件部件测试的时候，有NANDFLASH和DDR内存，那LCD显示屏将显示“正在进行NANDFLASH或DDR测试，测试通过或失败”等等；

当然这个LCD可以是产品本身就有的，也可以是专门为了老化测试而暂时外接的。起提示作用的不仅限于LCD，也可以是LED、蜂鸣器，或通过各种通信接口输出测试信息的各种方式。

上述实施例的电子产品老化测试方法是通过老化程序实现的，而老化程序并不单独存在，而是作为产品出厂程序中的一部分，或更具体的说为产品出厂程序中的一个功能单元而存在。老化程序的启动可以通过特定的通信指令，或是外部的某些特殊动作实现，如检测到开关按下等等；

由于老化程序作为产品出厂程序中的一个功能单元而存在，所以老化程序就能够正常调用产品出厂程序中各个功能的运行程序，使老化程序在进行的各个功能单元测试和产品正常功能测试，能够真正具有检测程序功能BUG和运行效率的作用。另外，产品出厂后老化程序一直存在于产品的出厂程序中。当产品出现问题的时候，其可以作为一个检错程序运行。

实施例：

下面，本发明以虹膜产品为例，提供一种电子产品老化测试方法的实施例，如图5所示，虹膜产品包括主板和镜头板，主板包括CPU、FLASH、DDR2和BEEP(蜂鸣器)，镜头板包括：CMOS图像传感器、LED(指示灯)、补光灯。该虹膜产品的主要功能就是，通过接收外部的指令，进行用户虹膜的注册、存储、识别、比对。

该虹膜产品老化方法，包括：

步骤201：开始计时；

步骤202：判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤203，否则转至步骤204；

步骤203：更新预设标志位的数值，转至步骤201。

步骤204：判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至步骤205，否则，转至步骤206。

步骤205：进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤202；

本步骤中，电子产品通常可以包括以下元器件：Flash、DDR2、生物特征采集传感器、蜂鸣器、LED指示灯、补光灯中的一种或多种。本步骤可以实现对这些元器件一一进行调用，对每一个元器件进行单独测试。

步骤206：模拟生物特征输入，对生物特征数据执行特征提取和比对识别测试，并给出提示，然后转至步骤202。

本步骤中，提示可以采用屏幕显示、声音提示、灯光提示中的一种或多种。

其中，步骤205可以包括：

步骤301：判断Flash的写入次数是否达到设定值，如果否，执行下一步骤，如果是，表示Flash通过测试，Flash测试结束；

步骤302：向Flash中写入一组数据，然后读出比较，判断比较结果；

步骤301和步骤302中，由于Flash有擦除次数的限制，频繁擦除会影响其寿命，所以先对Flash的写入次数是否达到设定值进行判断，如果是，则可以认为Flash已经通过了老化，否则，本实施例中，通过向Flash进行数据的写入和读出比较，来进行Flash测试。

和/或，

步骤401：判断DDR2的写入次数是否达到设定值，如果否，执行下一步骤，如果是，表示DDR2通过测试，DDR2测试结束；

步骤402：向DDR2中写入一组数据，然后读出比较，判断比较结果；

步骤401和步骤402中的DDR2测试过程与Flash相同。

和/或，

步骤501：采集生物特征，对生物特征进行检测，若检测未通过，表示生物特征采集传感器未通过可靠性检测，输出结果并结束；

和/或，

步骤601：向蜂鸣器发送控制信号使其发出提示音，若蜂鸣器未正确响应，表示蜂鸣器未通过可靠性检测，输出结果并结束；

和/或，

步骤701：向LED指示灯发送控制信号使其发出提示光，若LED指示灯未正确响应，表示LED指示灯未通过可靠性检测，输出结果并结束；

和/或，

步骤801：向补光灯发送控制信号使其发出补光，若补光灯未正确响应，表示补光灯未通过可靠性检测，输出结果并结束。

本实施例中，模拟生物特征输入作为功能测试的输入量，充分利用了生物识别设备的等待采集或空采集的时间，剔除了在进行功能测试时的空闲状态，使生物识别设备实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。同时，本实施例还具有减少生产劳动、提高生产效率的优点。

另一方面，与上述的电子产品老化方法相对应，本发明实施例还提供一种电子产品老化测试装置，如图6所示，包括：

判断模块11：用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块12，否则，转至功能测试模块13；

硬件测试模块12：用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断模块11；

功能测试模块13：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断模块11。

本实施例中，与上述的电子产品老化方法的实施例相同，也具有能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的特点。

作为上述实施例的一种改进，预设条件为预设标志位为约定值；

判断模块11进一步用于：判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至硬件测试模块12，否则，转至功能测试模块13。

标志位是用作后续条件转移指令的转移控制条件。本实施例中，采用预设标志位是否为约定值作为预设条件，操作方便。

作为上述实施例的另一种改进，如图7所示，预设条件为预设标志位为第一约定值；

判断模块11进一步用于：判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至硬件测试模块12，如果是第二约定值，转至单元功能测试模块131，如果是第三约定值，转至正常功能测试模块132；

功能测试模块13包括：

单元功能测试模块131：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至判断模块11；

正常功能测试模块132：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至判断模块11。

本实施例中，将产品的功能测试分为产品的单元功能测试和产品的正常功能测试。通过判断预设标志位的约定值，实现对电子元器件和硬件部件的测试、产品的单元功能测试或产品的正常功能测试的选择执行，提高了电子产品老化的全面性。

作为上述实施例的进一步改进，如图8所示，判断模块11还连接有时间判断模块14，时间判断模块14包括：

定时模块141：用于开始计时；

判定模块142：用于判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至标志位更改模块，否则转至判断模块11；

数值更新模块143：用于更新预设标志位的数值，然后转至定时模块141。

本实施例中，优选的，采用定时器设置定时时间，将老化测试方法分为两个分支：预设标志位的初始值为约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，则更新预设标志位的数值为非约定值，然后根据预设标志位的约定值执行相应的产品的功能测试流程，同时开始计时，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。

上述实施例中，硬件测试模块12还用于：在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；

功能测试模块13还用于：在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；

当前测试信息包括：测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。

本实施例中，老化程序对电子元器件和硬件部件进行测试时，可以采用LCD、蜂鸣器等设备对测试进行监控，当有电子元器件或硬件部件出现问题时，测试员能够及时得知是硬件的哪个部分出了问题。本改进进一步提高了生产效率。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种电子产品老化测试方法，其特征在于，包括：

步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；

步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；

步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。

2.根据权利要求1所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为约定值；

所述步骤1进一步为：判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3。

3.根据权利要求1所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为第一约定值；

所述步骤1进一步为：判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至步骤2，如果是第二约定值，转至步骤31，如果是第三约定值，转至步骤32；

所述步骤3包括：

步骤31：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至步骤1；

步骤32：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至步骤1。

4.根据权利要求2或3中任一所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所述步骤1之前还包括：

步骤10：开始计时；

步骤11：判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤12，否则转至步骤1；

步骤12：更新预设标志位的数值，然后转至步骤10。

5.根据权利要求4所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，

所述步骤2包括：在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；

所述步骤3包括：在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；

所述当前测试信息包括：测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。

6.一种电子产品老化测试装置，其特征在于，包括：

判断模块：用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试模块；

硬件测试模块：用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断模块；

功能测试模块：模拟输入，用于根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断模块。

7.根据权利要求6所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为约定值；

所述判断模块进一步用于：判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试模块。

8.根据权利要求6所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，所述预设条件为预设标志位为第一约定值；

所述判断模块进一步用于：判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至硬件测试模块，如果是第二约定值，转至单元功能测试模块，如果是第三约定值，转至正常功能测试模块；

所述功能测试模块包括：

单元功能测试模块：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至判断模块；

正常功能测试模块：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至判断模块。

9.根据权利要求7或8中任一所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，所述判断模块还连接有时间判断模块，所述时间判断模块包括：

定时模块：用于开始计时；

判定模块：用于判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至标志位更改模块，否则转至判断模块；

数值更新模块：用于更新预设标志位的数值，然后转至定时模块。

10.根据权利要求9所述的电子产品老化测试装置，其特征在于，

所述硬件测试模块还用于：在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；

所述功能测试模块还用于：在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；

所述当前测试信息包括：测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。