CN115114101B - 一种链路测试方法、装置、系统和存储介质 - Google Patents

一种链路测试方法、装置、系统和存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种链路测试方法、装置、系统和存储介质,涉及设备测试技术领域。方法包括:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态。通过实施本发明公开的实施例,能够实现需要对信号通道连接性进行物理干预的测试项目的测试自动化,提高测试结果的稳定性。

Description

一种链路测试方法、装置、系统和存储介质
技术领域
本发明涉及设备测试技术领域,特别涉及一种链路测试方法、装置、系统和存储介质。
背景技术
PCI-Express(Peripheral Component Interconnect Express)是一种高速串行计算机扩展总线标准,PCIe设备和PCIe总线直接相连,使缓存、数据更接近CPU,减少延迟。广泛应用于主板级互连、无源背板互连、附加板扩展卡接口以及闪存等设备的数据接口。
PCIe设备在投入使用前需要经过种类繁多的测试项目,以验证PCIe链路在使用过程中的性能。自动化测试,因其具有高效率和低错误率而在测试领域被快速推广,替代了很多以往手动进行的测试项目。但是,一些测试项目由于需要物理条件干预而难以向自动化方向转变。例如,故障隔离测试、总线容错-网卡测试等设备链路性能测试项目,需要模拟槽位或信号通道被破坏的情况,以验证链路部分遭到破坏时,设备链路的工作状态。通常采用不导电的胶带对要模拟被破坏的信号通道进行粘贴、覆盖,以阻隔相应链路的信号传输。
采用胶带覆盖,物理阻隔信号传输通道的方法,一方面,需要人工反复插拔PCIe接口、更换不导电胶带的覆盖位置,难以向自动化测试的方向转化;另一方面,由于胶带在插拔过程中受到摩擦、挤压容易脱落,极大影响了测试效率,并且导致测试结果不稳定。为了获取可靠的实验结果需要反复实验验证,耗费大量的资源和时间。因此,亟需一种链路测试方法、装置、系统和存储介质,实现诸如:故障设备自动隔离测试、总线容错-网卡测试等,需要对信号通道连接性进行物理干预的测试项目的测试自动化。
发明内容
为了解决现有技术中,在设备链路性能测试过程中,需要人工粘贴胶带覆盖信号通道,难以实现测试自动化以及测试结果稳定性差,测试过程耗费人工、资源、时间成本大的问题。本发明实施例提供一种链路测试方法、装置、系统和存储介质,以克服现有技术中反复采用人工调整不导电胶带粘贴位置,以及不导电胶带在接口插拔过程中因摩擦、挤压而脱落,导致测试结果稳定性差的问题。
为了解决上述的一个或多个技术问题,本发明采用的技术方案如下:
第一方面,提供一种链路测试方法,包括:
选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态;
轮询测试内容列表,执行配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容,直至完成当前待测设备的测试项目;
其中,在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容包括:
判断是否对信号通道执行下电操作;
若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,测试结果包括链路测试日志,和/或链路异常日志。
进一步地,根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作包括:
根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
进一步地,根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常包括:
获取当前待测设备的链路状态;
将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
进一步地,获取测试结果包括:
若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
进一步地,方法还包括:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
进一步地,方法之前还包括:将各个待测设备与测试系统进行连接。
第二方面,提供一种链路测试装置,包括:测试选择模块,配置执行模块,结果获取模块,轮询模块;
测试选择模块,用于选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
配置执行模块,用于在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
结果获取模块,用于获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态;
轮询模块,用于轮询测试内容列表,执行配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容,直至完成当前待测设备的测试项目;
其中,配置执行模块包括:判断子模块,供电子模块,信息获取子模块,日志输出子模块;
判断子模块,用于判断是否对信号通道执行下电操作;
供电子模块,用于则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
信息获取子模块,用于重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
日志输出子模块,用于根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,测试结果包括链路测试日志和/或链路异常日志。
第三方面,提供一种链路测试系统,系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时,实现上述第一方面记载方法的步骤。
第四方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,实现上述第一方面记载方法的步骤。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
1.通过实施本发明提供的一种链路测试方法,能够实现需要对信号通道连接性进行物理干预的测试项目的测试自动化;
2.通过准确控制下电的信号通道,提高测试结果的稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种链路测试方法示意图;
图2是本发明实施例提供的一种链路测试装置示意图;
图3是本发明实施例提供的配置执行模块示意图;
图4是本发明实施例提供的一种链路测试系统示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施方式中的附图,对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
除非另外定义,本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。说明书附图中的编号,仅表示对各个功能部件或模块的区分,不表示部件或模块之间的逻辑关系。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
下面,将参照附图详细描述根据本公开的各个实施例。需要注意的是,在附图中,将相同的附图标记赋予基本上具有相同或类似结构和功能的组成部分,并且将省略关于它们的重复描述。
针对现有技术中,在设备链路性能测试过程中,需要人工粘贴胶带覆盖信号通道,难以实现测试自动化以及测试结果稳定性差,测试过程耗费人工、资源、时间成本大等问题。本发明实施例公开一种链路测试方法、装置、系统和存储介质,实现需要对信号通道连接性进行物理干预的测试项目的测试自动化,以提高测试结果稳定性,同时大幅节省人工、资源和时间成本。
在一个实施例中,如图1所示,一种链路测试方法,用于测试PCIe设备的链路状态,方法包括:
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
上述测试项目包括:PCIe总线容错-网卡测试;故障PCIe设备自动隔离测试。
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态;
步骤S4:轮询测试内容列表,执行配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容,直至完成当前待测设备的测试项目。
具体地,步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容包括:
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
若否,则保持当前待测设备各信号通道的供电状态。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
测试系统重启后,基板管理控制器(BMC)将收集设备信息和带宽信息,并生成系统日志。
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,测试结果包括链路测试日志,和/或链路异常日志。
具体地,步骤S22:根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作包括:
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
控制指令通过IPMI tool发送,控制指令的具体形式如下:
0x010100,其中,左数第三、第四位表示PCIe的槽位编号;左数第五、第六位表示PCIe信号通道编号;左数第七、第八位表示上电或下电,其中“01”表示上电,“00”表示下电。如前例“0x010101”表示对第01槽位的01信号通道执行下电。
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
若各信号通道供电状态与控制指令不相符,则需要重复执行步骤S222,指导各信号通道供电状态与控制指令相符。若重复执行步骤S222的次数超过阈值,则需要输出错误日志。以便完成测试后对错误进行分析。
具体地,步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常包括:
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
在其中一个测试项目中,预存与测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应高的设备链路状态包括:
对于带宽为X16的PCIe设备:
第1~15信号通道下电,则识别成带宽为X1的PCIe设备;
第2~15信号通道下电,则识别成带宽为X2的PCIe设备;
同时下电第2和第13信号通道,识别成带宽为X2的PCIe设备;
第4~15信号通道下电,则识别成带宽为X4的PCIe设备;
同时下电第4和第11信号通道,识别成带宽为X4的PCIe设备;
第7或8信号通道下电,则识别成带宽为X8的PCIe设备;
第0信号通道下电,则识别成带宽为X8的PCIe设备。
对于带宽为X8的PCIe设备:
第1~7信号通道下电,则识别成带宽为X1的PCIe设备;
第3~7信号通道下电,则识别成带宽为X2的PCIe设备;
同时下电第3和第5信号通道,识别成带宽为X2的PCIe设备;
第4~7信号通道下电,则识别成带宽为X4的PCIe设备;
第0信号通道下电,则识别成带宽为X4的PCIe设备。
对于带宽为X4的PCIe设备:
第1~3信号通道下电,则识别成带宽为X1的PCIe设备;
第2~3信号通道下电,则识别成带宽为X2的PCIe设备;
第0信号通道下电,则识别成带宽为X2的PCIe设备。
具体地,获取测试结果包括:
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
优选地,方法还包括:
步骤S5:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
上述方法之前还包括:
步骤S0:将各个待测设备与测试系统进行连接。
在另一个实施例中,如图2所示,提供一种链路测试装置,包括:测试选择模块,配置执行模块,结果获取模块,轮询模块;
测试选择模块,用于选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
配置执行模块,用于在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
结果获取模块,用于获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态;
轮询模块,用于轮询测试内容列表,执行配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容,直至完成当前待测设备的测试项目。
如图3所示,配置执行模块包括:判断子模块,供电子模块,信息获取子模块,日志输出子模块;
判断子模块,用于判断是否对信号通道执行下电操作;
供电子模块,用于则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
信息获取子模块,用于重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
日志输出子模块,用于根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,测试结果包括链路测试日志,和/或链路异常日志。
在另一个实施例中,如图4所示,提供一种链路测试系统,系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,
在其中一种实施方式中,处理器执行计算机程序时执行:
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S224:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态。
步骤S4:轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目。
在另一种实施方式中,处理器执行计算机程序时,执行完上述步骤S4后还执行:
步骤S5:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
在另一个实施例中,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,实现:
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S224:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态。
步骤S4:轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目。
在另一种实施方式中,处理器执行计算机程序时,执行完上述步骤S4后还执行:
步骤S5:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
上述所有可选技术方案,可以采用任意结合形成本发明的可选实施例,在此不再一一赘述。
实施例一
如图1所示,一种链路测试方法,用于测试PCIe设备的链路状态,方法包括:
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S224:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,测试结果包括链路测试日志,和/或链路异常日志;
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态;
步骤S4:轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目。
实施例二
在一个较优的实施例中,一种链路测试方法包括:
步骤S0:将各个待测设备与测试系统进行连接;
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S224:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;
步骤S4:轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目;
步骤S5:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
实施例三
如图2所示,提供一种链路测试装置,包括:测试选择模块,配置执行模块,结果获取模块,轮询模块;
测试选择模块,用于选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;
配置执行模块,用于在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
结果获取模块,用于获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;
轮询模块,用于轮询测试内容列表,执行配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容,直至完成当前待测设备的测试项目。
在其中一个实施方式中,配置执行模块如图3所示,包括:判断子模块,供电子模块,信息获取子模块,日志输出子模块;
判断子模块,用于判断是否对信号通道执行下电操作;
供电子模块,用于则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
信息获取子模块,用于重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
日志输出子模块,用于根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;
实施例四
如图4所示,提供一种链路测试系统,系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,
在其中一种实施方式中,处理器执行计算机程序时执行:
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S224:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态。
步骤S4:轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目。
在另一种实施方式中,处理器执行计算机程序时,执行完上述步骤S4后还执行:
步骤S5:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
实施例五
提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,实现:
步骤S1:选择当前待测设备的测试项目,获取与测试项目相对应的测试内容列表;其中,测试内容列表包括至少一项测试内容;
步骤S2:在测试系统中配置与测试内容相对应的测试环境并执行测试内容;
步骤S21:判断是否对信号通道执行下电操作;
步骤S22:若是,则根据测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S221:根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
步骤S222:根据控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
步骤S223:根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作;
步骤S224:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S23:根据供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将校验码与控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合控制指令。
步骤S24:重启测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
步骤S25:根据系统日志判断当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;
步骤S251:获取当前待测设备的链路状态;
步骤S252:将当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
步骤S253:若判断为正常则将当前待测设备的链路状态记录于链路测试日志;
步骤S254:若判断为异常则将当前待测设备的链路状态记录于链路异常日志。
步骤S3:获取当前待测设备对应于测试内容的测试结果;其中,测试结果至少包括当前待测设备对应于测试项目的链路状态。
步骤S4:轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目。
在另一种实施方式中,处理器执行计算机程序时,执行完上述步骤S4后还执行:
步骤S5:依次对待测设备执行方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
特别地,根据本申请的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本申请的实施例包括一种计算机程序产品,其包括装载在计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信装置从网络上被下载和安装,或者从存储器被安装,或者从ROM被安装。在该计算机程序被外部处理器执行时,执行本申请的实施例的方法中限定的上述功能。
需要说明的是,本申请的实施例的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本申请的实施例中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请的实施例中,计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:电线、光缆、RF(Radio Frequency,射频)等等,或者上述的任意合适的组合。
上述计算机可读介质可以是上述服务器中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入该服务器中。上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被该服务器执行时,使得该服务器:响应于检测到终端的外设模式未激活时,获取终端上应用的帧率;在帧率满足息屏条件时,判断用户是否正在获取终端的屏幕信息;响应于判断结果为用户未获取终端的屏幕信息,控制屏幕进入立即暗淡模式。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请的实施例的操作的计算机程序代码,程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java,Smalltalk,C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统或系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的系统及系统实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
以上对本申请所提供的技术方案进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种链路测试方法,其特征在于,所述方法包括:
选择当前待测设备的测试项目,获取与所述测试项目相对应的测试内容列表;其中,所述测试内容列表包括至少一项测试内容;
在测试系统中配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容;
获取所述当前待测设备对应于所述测试内容的测试结果,其中,所述测试结果至少包括所述当前待测设备对应于所述测试项目的链路状态;
轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目;
其中,所述在测试系统中配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容包括:
判断是否对信号通道执行下电操作;
若是,则根据所述测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
重启所述测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
根据所述系统日志判断所述当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,所述测试结果包括链路测试日志和/或链路异常日志。
2.根据权利要求1所述的一种链路测试方法,其特征在于,所述根据所述测试内容,对相应的信号通道执行供电操作包括:
根据测试内容生成各信号通道的上电、下电控制指令;
根据所述控制指令,解析得到各信号通道的上电、下电状态;
根据各信号通道的上电、下电状态对相应的信号通道执行供电操作。
3.根据权利要求2所述的一种链路测试方法,其特征在于,所述重启所述测试系统之前包括:
根据所述供电操作执行后的各信号通道供电状态生成校验码,将所述校验码与所述控制指令进行比对,验证各信号通道供电状态是否符合所述控制指令。
4.根据权利要求1所述的一种链路测试方法,其特征在于,所述根据所述系统日志判断所述当前待测设备的链路状态是否正常包括:
获取所述当前待测设备的链路状态;
将所述当前待测设备的链路状态与预存于测试系统中的与所述当前待测设备的测试内容相对应的设备链路状态进行比对,判断所述设备链路状态是否一致;
若一致则判断为正常;
若不一致则判断为异常。
5.根据权利要求4所述的一种链路测试方法,其特征在于,所述获取测试结果包括:
若判断为正常则将所述当前待测设备的链路状态记录于所述链路测试日志;
若判断为异常则将所述当前待测设备的链路状态记录于所述链路异常日志。
6.根据权利要求5所述的一种链路测试方法,其特征在于,所述方法还包括:依次对待测设备执行所述方法,直至获取测试系统中全部待测设备的测试结果。
7.根据权利要求6所述的一种链路测试方法,其特征在于,所述方法之前还包括:将各个待测设备与所述测试系统进行连接。
8.一种链路测试装置,其特征在于,所述装置包括:测试选择模块,配置执行模块,结果获取模块,轮询模块;
所述测试选择模块,用于选择当前待测设备的测试项目,获取与所述测试项目相对应的测试内容列表;其中,所述测试内容列表包括至少一项测试内容;
所述配置执行模块,用于在测试系统中配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容;
所述结果获取模块,用于获取所述当前待测设备对应于所述测试内容的测试结果;其中,所述测试结果至少包括所述当前待测设备对应于所述测试项目的链路状态;
所述轮询模块,用于轮询所述测试内容列表,执行所述配置与所述测试内容相对应的测试环境并执行所述测试内容,直至完成所述当前待测设备的测试项目;
其中,所述配置执行模块包括:判断子模块,供电子模块,信息获取子模块,日志输出子模块;
所述判断子模块,用于判断是否对信号通道执行下电操作;
所述供电子模块,用于则根据所述测试内容,对相应的信号通道执行供电操作;
所述信息获取子模块,用于重启所述测试系统,获取当前待测设备信息和带宽信息,生成系统日志;
所述日志输出子模块,用于根据所述系统日志判断所述当前待测设备的链路状态是否正常,并获取测试结果;其中,所述测试结果包括链路测试日志,
和/或
链路异常日志。
9.一种链路测试系统,所述系统包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时,实现权利要求1至7任意一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,实现权利要求1至7任意一项所述方法的步骤。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113868041A (zh) * 2021-08-30 2021-12-31 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器稳定性测试数据处理方法、装置及存储介质
CN114157590A (zh) * 2021-11-26 2022-03-08 苏州浪潮智能科技有限公司 一种网卡测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112256505A (zh) * 2020-10-16 2021-01-22 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种服务器稳定性测试方法、装置及相关组件
CN113868041A (zh) * 2021-08-30 2021-12-31 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器稳定性测试数据处理方法、装置及存储介质
CN114157590A (zh) * 2021-11-26 2022-03-08 苏州浪潮智能科技有限公司 一种网卡测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质

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