CN106571881A - 一种射频发射通道故障管理方法及射频模块 - Google Patents

Abstract

一种射频发射通道故障管理方法及射频模块，该方法应用于射频模块，射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，方法包括：BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到BIST电路所在的射频芯片和/或发射通道故障时，BIST电路向主控单元通知射频芯片的故障信息，使得主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；当故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，主控单元将故障的射频芯片和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。通过采用本方案，能够精确的定位到故障的芯片，且对故障的芯片进行隔离操作，不在用户端体现。

Description

一种射频发射通道故障管理方法及射频模块

技术领域

本发明涉及射频技术领域，尤其涉及一种射频发射通道故障管理方法及射频模块。

背景技术

无线拉远单元(英文全称：Remote Radio Unit，英文简称：RRU)模块应用在多天线系统中，由于业务量的需求不断提升，RRU模块所包括的发射通道数目也较多，例如包括64T或128T的发射通道。当RRU模块中的某个发射通道故障后，单板便会上报单板硬件故障告警，如果故障发射通道的数目较多时，会造成故障告警的扎堆现象，这样也会导致用户频繁收到故障告警，用户满意度较差，并且有的发射通道故障并不一定影响当前用户进行的业务，可见故障告警的准确率也较低。

目前，为了减少频繁故障告警的现象，一般通过发射通道各节点功率检测的方式统计前向反馈功率和统计反向反馈功率，以确定发射通道是否故障。且对于部分故障(业务故障会覆盖此部分故障)，为防止用户面的误报告警，对这类故障仅做日志记录，不用上报客户。

但对于RRU模块的射频发射机模拟链路故障，只能通过系统的链路级检测来判断硬件链路是否存在硬件故障，故障定位只能定位到硬件链路，无法确定详细的芯片，可见，这种检测机制故障检测准确率低，也会存在不少的误报。

发明内容

本发明提供了一种发射通道故障管理方法及射频模块，能够解决现有技术中发射通道故障检测的准确率较低的问题。

第一方面提供一种射频发射通道故障管理方法，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述方法包括：

BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测；

当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息，使得所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离。

当故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

在一些可能的设计中，所述射频芯片对应至少一个发射通道，所述BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，包括：

所述BIST电路对所述BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障测试，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道；

在所述主控单元隔离故障的射频芯片和/或故障的发射通道之后，所述方法还包括：

当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。可选的，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。

在一些可能的设计中，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，所述方法还包括：

所述主控单元停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。

在一些可能的设计中，所述BIST电路对所在的射频芯片对应的多个发射通道进行故障测试，以确定故障的发射通道，包括：

所述BIST电路获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；

所述BIST电路将所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常，并根据异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。

第二方面提供一种射频模块，具有实现对应于上述第一方面提供的发射通道故障管理方法的功能。所述功能可以通过硬件实现，也可以通过硬件执行相应的软件实现。硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块，所述模块可以是软件和/或硬件。

一种可能的设计中，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，所述射频芯片内置内建自测试BIST电路；

所述BIST电路，用于所述对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息；

所述主控单元，用于在接收到所述BIST电路发送的所述故障信息后，根据所述故障信息对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离，并在故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

在一些可能的设计中，所述射频芯片对应多个发射通道，所述BIST电路具体用于对所在的射频芯片对应的多个发射通道进行故障测试，以确定故障的发射通道；

所述主控单元在隔离故障的射频芯片和/或故障的发射通道之后，还用于：

当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述预设算法包括多通道增益算法和天线阵列增益算法，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。可选的，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。

在一些可能的设计中，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；所述主控单元在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，还用于：

停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。

在一些可能的设计中，所述BIST电路包括采样量化模块、比较器和处理模块：

所述采样量化模块用于获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；

所述比较器用于将所述采样量化模块获取的所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常；

所述处理模块，用于根据所述比较器确定的异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。

相较于现有技术，本发明提供的方案中，通过在每个射频芯片内设置BIST电路，在射频芯片工作过程中，该BIST对自身所在的射频芯片进行故障检测，当检测到自身所在的射频芯片故障后，则将该故障的射频芯片的故障信息反馈给主控单元，使得主控单元能够精确的定位到具体故障的射频芯片，并隔离该故障的射频芯片，并且设定只有故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，才将故障的射频芯片的故障信息上报给用户，从而减少用户面频繁的接收不必要的故障告警。

附图说明

图1为本实施例中射频发射通道故障管理方法的一种流程示意图；

图2为本实施例中射频发射通道故障管理方法的另一种流程示意图；

图3为本实施例中射频发射通道故障管理方法的另一种流程示意图；

图4为本实施例中射频模块的一种结构示意图；

图5为本实施例中BIST电路的一种结构示意图；

图6为本实施例中BIST电路的另一种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块，本文中所出现的模块的划分，仅仅是一种逻辑上的划分，实际应用中实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块可以结合成或集成在另一个系统中，或一些特征可以忽略，或不执行，另外，所显示的或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，模块之间的间接耦合或通信连接可以是电性或其他类似的形式，本文中均不作限定。并且，作为分离部件说明的模块或子模块可以是也可以不是物理上的分离，可以是也可以不是物理模块，或者可以分布到多个电路模块中，可以根据实际的需要选择其中的部分或全部模块来实现本发明实施例方案的目的。

本发明实施例提供了一种发射通道故障管理方法及射频模块，能够准确的定位到故障的芯片或发射通道。本发明实施例主要提供以下技术方案：

为每个射频芯片配置BIST电路，在射频芯片工作时，BIST电路实时对该BIST电路所在的射频芯片以及该射频芯片所在的发射通道进行故障检测，在检测到该射频芯片故障，和/或，检测到该射频芯片所在的发射通道故障时，通知主控单元，由主控单元对故障的射频芯片，和/或，故障的发射通道进行故障隔离，在满足故障上报条件时，将故障的射频芯片，和/或，故障的发射通道上报给用户。

请参照图1，以下对本发明提供一种发射通道故障管理方法进行举例说明，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述射频芯片对应多个发射通道，本发明实施例包括：

101、BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测。

可以理解的是，由于每个射频芯片都内置BIST电路，并且内置的BIST电路的个数为至少一个，可以分别为射频芯片中的每个发射通道配置一个BIST电路，也可以为射频芯片中的多个发射通道配置一个BIST电路，还可以对射频芯片中的所有发射通道配置一个BIST电路，由该BIST电路集中检测一个射频芯片中的所有发射通道。

需要说明的是，本发明实施例中的BIST电路对射频芯片进行的故障检测均是在该射频芯片工作状态下的在线检测，由于分别为每个射频芯片配置专用的BIST电路，所以，每个BIST电路只会有针对性的去检测与其通信连接的发射通道，从而能够准确的定位到故障的发射通道，实现了发射通道级或芯片级的故障检测。

具体来说，BIST对射频芯片的故障检测主要包括：针对整个射频芯片的故障检测和针对其所在的射频芯片所在的各发射通道的故障检测，所述BIST电路对所在的射频芯片对应的至少一个发射通道进行故障测试，最终确定出其所在的射频芯片是否故障，或者确定出其所在的射频芯片中故障的发射通道。

在BIST对射频芯片的故障检测时，所述BIST电路先获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号，然后将所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常，并根据异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。

102、当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息。

103、主控单元接收BIST电路反馈的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息，并根据射频芯片的故障信息对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离。

104、当故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

在实际应用中，即使BIST电路检测出射频芯片故障或者发射通道故障，但如果故障的类型不是业务上的故障，而仅仅是硬件故障，例如输入信号或输出信号的电压达不到基准电压，那么这种故障是可以通过增强机制来进行修复的，例如，在所述主控单元隔离故障的射频芯片之后，所述主控单元可根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。当然，由于可能会出现较大数量故障的发射通道，实际上即使通过故障自愈操作也是无法保证对应的业务正常进行的，那么，可以设定一个故障的发射通道数目限制，限制只有在这个数目限制以内时，才有必要去进行故障自愈操作，例如设置当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，主控单元才需要去对各故障的发射通道进行故障自愈操作。

相应的，若故障的发射通道数目大于第一阈值时，就代表即使进行故障自愈操作也是无济于事，那么，主控单元可以停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。并且，当故障的发射通道数目大于第一阈值时，主控单元才需要去上报用户，从而减少不必要的故障上报，可以将故障的发射通道数目大于第一阈值作为预设故障上报条件，当然也还可以设定其他的故障上报条件，本发明不作限定。

其中，所述预设算法包括多通道天线增益算法，多通道天线增益算法包括多通道增益算法和天线阵列增益算法。其中，多通道增益算法是指：对正常进行业务的发射通道或射频芯片设置备份机制，例如，图2所示，在将数据流1编码调制好后，在BB阶段，将数据流1并行的在多个射频链路中发送，从而提高发射通道增益，即使在某个射频芯片故障到无法正常工作时，也能将数据流1送往射频链路。

天线阵列增益算法是指：通过增加天线阵列的数目来补偿由于单个天线功能受损导致的业务损耗，通常使用的天线阵列增益算法包括旁瓣重加权算法。如图2所示，在基带调制(英文全称：Baseband，英文简称：BB)阶段，数据流在经编码调制后，复制为多份数据流，分别输入一个基带芯片中的4和发射通道(h1、h2、h3和h4)，从而实现多通道增益。在射频(英文全称：Radio Frequency，英文简称：RF)阶段，经数模转后后的一份数据流输入一个射频芯片，然后在该射频芯片配置多个天线，最后从8个天线分别输出一份数据流，从实现天线阵列增益，能够提高发射功率。

举例来说，如图3所示，在射频模块和手机均采用了旁瓣重加权算法，射频模块与手机建立两个通道h1和h2，通道h1为主通信的通道，在通道h1正常状态下，手机可向射频模块发送w₁s信号和w₂s这两个信号，在h1受损故障后，手机仍然可以通过通道h1来与射频模块通讯。

以上对本发明中一种发射通道故障管理方法进行说明，以下对执行上述发射通道故障管理方法的射频模块进行描述。

参照图4，对射频模块40进行说明，射频模块40包括：主控单元401和至少一个射频芯片402，所述射频芯片402内置内建自测试BIST电路4021；

所述BIST电路4021，用于所述对BIST电路4021所在的射频芯片402和/或所述射频芯片402所在的发射通道进行故障检测，当检测到所述BIST电路4021所在的所述射频芯片402故障和/或所述射频芯片402所在的发射通道故障时，向所述主控单元401通知所述射频芯片402的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息；

所述主控单元4022，用于在接收到所述BIST电路4021发送的故障信息后，根据故障信息对故障的的发射通道进行隔离，并在故障的射频芯片402的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，将故障的射频芯片402的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

由于所述射频芯片402对应多个发射通道，那么BIST电路4021具体用于对所在的射频芯片对应的多个发射通道进行故障测试，以确定故障的发射通道；

所述主控单元401在隔离故障的射频芯片和/或故障的发射通道之后，还用于：

当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元401根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述预设算法包括多通道增益算法和天线阵列增益算法，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。其中，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。

其中，在所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；所述主控单元401在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，还用于：

停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。

如图5所示，所述BIST电路4021包括采样量化模块、比较器和处理模块：

所述采样量化模块用于获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；

所述比较器用于将所述采样量化模块获取的所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常；

所述处理模块，用于根据所述比较器确定的异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。图6为该BIST电路的一种具体的结构，在对射频芯片进行故障检测时，通过比较器将A输入端的输入端指示信号与B端的芯片基准信号进行比较，即可判断A输入端的输入端指示信号是否异常，具体判断的方式为本领域惯有手段，当然BIST电路还可以是其他的结构的变形，具体本发明不作限定。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(英文全称：Read-OnlyMemory，英文简称：ROM)、随机存取存储器(英文全称：Random Access Memory，英文简称：RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上对本发明所提供的技术方案进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种射频发射通道故障管理方法，其特征在于，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述方法包括：

BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测；

当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息，使得所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；

当故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述射频芯片对应至少一个发射通道，所述BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，包括：

所述BIST电路对所述BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障检测，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道；

在所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离之后，所述方法还包括：

当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，所述方法还包括：

所述主控单元停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述BIST电路对所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障测试，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道，包括：

所述BIST电路获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；

所述BIST电路将所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常，并根据异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。

6.一种射频模块，其特征在于，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，所述射频芯片内置内建自测试BIST电路；

所述BIST电路，用于所述对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测，当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息；

所述主控单元，用于在接收到所述BIST电路发送的所述故障信息后，根据所述故障信息对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离，并在故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述射频芯片对应至少一个发射通道，所述BIST电路具体用于对所在的射频芯片和/或射频芯片所在的至少一个发射通道进行故障检测，以确定故障的射频芯片和/或故障的发射通道；

所述主控单元在对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离之后，还用于：

当故障的发射通道数目小于或等于第一阈值时，所述主控单元根据预设算法对故障的发射通道进行故障自愈操作，所述预设算法包括多通道增益算法和天线阵列增益算法，所述故障自愈操作用于抑制故障的发射通道引起的业务损耗。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述预设算法包括多通道增益算法和/或天线阵列增益算法。

9.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述预设故障上报条件满足：故障的发射通道数目大于所述第一阈值；所述主控单元在故障的发射通道数目大于所述第一阈值时，还用于：

停止对故障的发射通道进行故障自愈操作和隔离操作。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述BIST电路包括采样量化模块、比较器和处理模块：

所述采样量化模块用于获取所述射频芯片的一个输入端的输入端指示信号；

所述比较器用于将所述采样量化模块获取的所述输入端指示信号与芯片基准信号进行比较，若经过比较确定所述输入端指示信号异常，则确定所述射频芯片中从所述输入端的输入信号和输出信号异常；

所述处理模块，用于根据所述比较器确定的异常的输入信号和/或输出信号确定对应异常信号的故障的发射通道。