CN1490797A - 校正照向光记录介质的光束的倾斜的方法和装置 - Google Patents

Abstract

不用专用的倾斜传感器来校正照射到信息记录盘上的光束的倾斜。根据在最大化RF信号幅度的倾斜量和最大化LPP信号幅度的另一个倾斜量之间的偏移量是恒定的和与同一盘上的位置无关的特点来执行校正。从光束的返回光来产生指示在盘上形成的预置凹坑的存在/不存在的预置凹坑信号，而根据返回的光从在盘上记录的信息比特产生RF信号。通过利用在预置凹坑信号和RF信号之间的关系来确定最佳倾斜校正量。利用最佳倾斜校正量来校正倾斜量。

Description

校正照向光记录介质的光束的倾斜的方法和装置

技术领域

本发明涉及一种用于校正照向诸如光盘的光记录介质的光束的倾斜的方法和装置。

背景技术

一般，在向光盘记录和从光盘再现信息比特中，已经采用了倾斜校正技术。倾斜校正是要校正到光盘的信息记录表面的光束倾斜(也称为“径向倾斜”)。因此当精确地校正了倾斜的时候，光束将以直角被照射到光盘的信息记录表面上。

已经利用专用的倾斜传感器执行了径向倾斜的传统检测。这样的专用倾斜传感器被配置成具有：光源，用于向光盘信息记录表面照射专用于径向倾斜检测的光束；检测器，用于从光盘接收反射光，以检测径向倾斜的量。

当使用这样的专用倾斜传感器时产生的问题是传感器本身的物理尺寸较大，因此使得配备了传感器的拾取器件的尺寸较大。因此，经常装在笔记本大小的个人计算机中的小的盘驱动器已经面临了这个问题。即，所述小的盘驱动器不可能在其中安装这样的一个倾斜传感器。

发明内容

考虑到上述的缺点而做出了本发明，本发明的目的是提供一种倾斜校正装置，它能够不使用专用的倾斜传感器而校正光记录介质的倾斜，其中避免了倾斜校正装置的物理尺寸的变大。

为了实现上述的目的，作为本发明的一个方面，提供了一种倾斜校正装置，用于校正要从拾取器件照射到盘的光束的倾斜量，所述装置包括：预置凹坑信号产生器，它被配置以根据照射到盘上的光束的返回光来产生指示在盘上形成的预置凹坑的存在/不存在的预置凹坑信号；RF信号产生器，它被配置以根据返回的光从记录在盘上的信息比特产生RF信号；校正量确定单元，它被配置来利用在预置凹坑信号和RF信号之间的关系确定最佳倾斜校正量；和倾斜校正器，它被配置以根据最佳倾斜校正量来校正倾斜量。

按照本发明的另一个方面，提供了一种倾斜校正方法，用于校正从拾取器件向光盘照射的光束的倾斜量，所述方法包括步骤：根据照射到盘上的光束的返回光，产生指示在盘上形成的预置凹坑的存在/不存在的预置凹坑信号；根据返回的光从记录在盘上的信息比特产生RF信号；利用在预置凹坑信号和RF信号之间的关系确定最佳倾斜校正量；根据最佳倾斜校正量来校正倾斜量。

附图说明

通过下面参照附图的说明和实施例，本发明的其他目的和方面将会变得清楚，其中：

图1图解了在盘上的平台预置凹坑的位置和如何产生LPP信号和RF信号；

图2A是说明在盘上不同径向位置的径向倾斜的视图；

图2B是示出了在盘上的径向倾斜量和在不同的径向位置检测的LPP信号的幅度之间的关系的图，该图是考虑到RF信号而说明的；

图3是概述按照本发明的当前实施例的倾斜校正装置的配置的方框图；

图4是示出了按照当前实施例的示例的信息记录/再现系统的概述的配置的方框图；

图5A-图5C是每个示出了在同一DVD-R盘上的不同径向位置的LPP信号幅度和径向倾斜量之间的关系的图；

图6A-6C是每个示出了在同一DVD-R盘上的不同径向位置的RF信号幅度和径向倾斜量之间的关系的图；

图7A-7C是每个示出了在同一DVD-R盘上的不同径向位置LPP信号幅度和径向倾斜量之间的关系的图，其中最大化RF信号幅度的径向倾斜量被设置为0；

图8A-8C是每个示出在同一DVD-RW盘上的不同径向位置的LPP信号幅度和径向倾斜量之间的关系的图；

图9A-9C是每个示出在同一DVD-RW盘上的不同径向位置的RF信号幅度和径向倾斜量之间的关系的图；

图10A-10C是每个示出了在同一DVD-RW盘上的不同径向位置LPP信号幅度和径向倾斜量之间的关系的图，其中最大化RF信号幅度的径向倾斜量被设置为0；

图11是示出了包括用于倾斜校正的处理的信息记录/再现处理的流程图；

图12是表示用于偏移测量的处理的流程图；

图13是表示用于产生校正简档的处理的流程图；

图14是举例说明用于校正径向倾斜的处理的流程图；

图15A举例说明了径向划分的区域，其中在每个中分配了一个校正参考位置；

图15B是解释信息未记录的盘的视图，在所述盘上形成了一个区域，从这个区域可以获得RF信号。

具体实施方式

参见附图，现在说明本发明的一个优选实施例。

在下面的实施例中，倾斜校正针对的是其上形成预置凹坑的光盘，诸如DVD-R(数字多用途可记录盘)和DVD-RW(可重写DVD)，并且根据预置凹坑信号和RF(射频)信号的幅度水平和径向倾斜量的关联的事实，预置凹坑信号和RF信号被利用来执行倾斜校正。

图1以图形示出了在其上形成了预置凹坑的盘和从预置凹坑产生的预置凹坑信号之间的关系。盘1是例如DVD-R或DVD-RW，并且具有信息记录表面。在记录表面上，交替形成凹槽Gr和平台Ld以便分别勾画出螺旋形式。凹槽Gr作为记录光道，沿着它记录信息比特。平台Ld形成在相邻的凹槽Gr之间。在平台Ld上，按照预定的规则形成平台预置凹坑(以下称为“LPP”)。平台预置凹坑LPP被形成以在盘1上具有地址信息的比特。更具体来说，任何凹槽Gr被提供各种类型的信息的比特，所述信息包括地址信息，这样的信息被以径向向外的方向记录在LPP上，所述LPP形成在邻近凹槽Gr的平台Ld上。

LPP可以被图1所示的象限光检测器(quadrant photo detector)PD检测。象限光检测器PD具有四个检测表面A-D，其中每个接收从盘1反射的光，并且对所接收的光进行光电转换以输出检测信号Sa(至Sd)。来自检测表面A-D的检测信号Sa-Sd被发送到三个加法器41-43以产生LPP信号，所述LPP信号通过下列的表达式而被给出：

LPP信号＝(Sa+Sd)-(Sb+Sc)    (1)

象限光检测器PD被安装到信息记录系统或信息再现系统的拾取器件上。在信息记录系统或信息再现系统的跟踪伺服机构控制象限光检测器PD以便在一对检测表面A和D和另一对检测表面B和C之间的边界沿着(trace)每个记录光道(即每个凹槽)Gr的中心的条件下，按照上述表达式(1)对检测信号Sa-Sd进行计算。于是获得了LPP信号，它提供示出了LPP的存在的预置凹坑信号。

当注意力放到任何一个记录光道Gr的时候，LPP驻留在均邻近记录光道Gr的径向内部和径向外部平台Ld上。在跟踪每个记录光道的情况下，通过表达式(1)将驻留在径向外部平台Ld上的LPP检测为负的检测信号，而通过表达式(1)将驻留在径向内部平台Ld上的LPP检测为正的检测信号。

同时，RF信号是根据记录在盘1上的信息来再现的信号。换句话说，响应于是否在盘1上形成记录凹坑(记录标志)来获得RF信号，并且如图1所示，通过下面的表达式(2)而获得RF信号：

RF信号＝(Sa+Sd)+(Sb+Sc)    (2)

从上述的表达式(1)可以明白，LPP信号被计算作为在象限光检测器PD的径向上的推挽信号(被称为径向推挽信号)。另一方面，可以从表达式(2)清楚地看出，RF信号被计算作为来自四个检测表面A-D的检测信号Sa-Sd的和。于是，已经公知在从拾取器件照射到盘的记录表面的光束的入射角和LPP信号和RF信号的幅度水平之间存在理论上的相关性。换句话说，径向倾斜的量(即从直角到盘的记录表面的入射光束的角度差)越大，则LPP和RF信号的幅度水平越小，同时，径向倾斜的量越小，则LPP和RF信号的幅度水平越大。

但是，也已经公知：在向LPP信号的幅度水平提供最大值的倾斜量和向RF信号的幅度水平提供最大值的另一倾斜量之间不总是存在一致性。一般，在两个最大值之间存在偏移(被称为“ΔTilt”)。另外，已经公知偏移ΔTilt几乎是常数而与在单个盘上的位置无关。

参见图2A和2B，现在更详细地说明几乎恒定的偏移ΔTilt的特性。图2A通过示例图解了其径向外端略微上弯的一个盘1的一个扇区的一部分。当自位于盘的平坦区域的径向位置“1”测量的时候，最大化RF信号的幅度的倾斜量是“Tilt A”，并且最大化LPP信号的幅度的另一倾斜量是“Tilt B”。但是，当测量点被移动到位于略微弯曲的径向外端的另一径向位置“2”的时候，最大化RF信号的幅度的倾斜量“Tilt A”与在径向位置“1”的倾斜量之间相差与所述端的弯曲量相对应的数量。类似地，最大化LPP信号的幅度的倾斜量“Tilt B”不同于在径向位置“1”的倾斜量。但是，即使在径向位置“2”，作为在最大化RF信号幅度的倾斜量“Tilt A”和最大化LPP信号幅度的倾斜量“Tilt B”之间的差的偏移ΔTilt仍然保持与在径向位置“1”的相同的数量。

这个固有的特点在图2B中被示出，其中绘出了两个特性曲线C1和C2。通过在径向位置“1”的测量所获得的特性曲线C1示出了在倾斜量和LPP信号幅度之间的关系，而通过在径向位置“2”的测量所获得的另一特性曲线C2示出了在倾斜量和LPP信号幅度之间的关系。顺便提及，在图2B中，基于产生在RF信号幅度中的最大值的倾斜量(即“Tilt A”)是“0”的条件而描绘了特性曲线C1和C2。可以从图2B明白，径向位置“1”和“2”在相同的倾斜量显示不同的LPP幅度。这是由于在凹槽形状中的差别、在衬底中的波动、记录薄膜的厚度的波动以及其他。但是，关于径向位置“1”和“2”的每个，最大化LPP信号幅度的倾斜量“Tilt B”从最大化RF信号幅度的倾斜量“Tilt A”偏移相同的数量ΔTilt。即，即使盘形成为部分凹陷或弯曲的，在最大化RF信号幅度的倾斜量”Tilt A”和最大化LPP信号幅度的倾斜量”TiltB”之间总是存在相同数量的偏移ΔTilt，这与盘1上的径向位置无关。

一般，在向盘记录和从盘再现信息比特中，可以校正倾斜以便最大化RF信号的幅度。但是，所述盘是其上还要记录信息比特的未记录盘，不可能获得一个RF信号，因为没有要再现的信息。在这样的未记录盘的情况下，利用LPP信号的幅度水平来执行倾斜校正。如上所述，因为在倾斜量“Tilt A”和另一倾斜量“Tilt B”之间存在恒定的偏移ΔTilt，因此可以根据LPP信号的幅度水平和偏移ΔTilt来校正未记录盘的倾斜。

在本实施例中，基于在最大化RF信号幅度的倾斜量“Tilt A”和最大化LPP信号幅度的另一个倾斜量“Tilt B”之间存在相同数量的偏移ΔTilt而与盘上的位置无关的关系来执行倾斜校正。图3概括地示出了一个系统，其中原理性地示出了倾斜校正装置的配置。

在图3所示的系统中，盘1通过主轴电动机6以给定的线速度旋转。倾斜校正单元与盘1相关地被布置。倾斜校正单元包括拾取器件2，用于不仅向盘1照射光束来用于记录和再现，而且接收照射光束的反射光。拾取器件2包括图1所示的象限光检测器，以便使得检测器PD可以在它的检测表面A-D对检测信号Sa-Sd进行检测，因此拾取器件2向LPP信号产生器3和RF信号产生器4提供检测信号Sa-Sd。

LPP信号产生器3从拾取器件2接收检测信号Sa-Sd。并且随后通过基于上述表达式(1)的计算来产生LPP信号，所述LPP信号被发送到倾斜校正量计算器5。另一方面，象上面一样，RF信号产生器4接收检测信号Sa-Sd，并且随后通过执行基于上述表达式(2)的计算来产生RF信号。所计算的RF信号被提供到倾斜校正量计算器5。

通过利用在最大化RF信号的幅度的倾斜量和最大化LPP信号的幅度的另一倾斜量之间的上述相关性，倾斜校正量计算器5确定最佳的倾斜校正量，需要这个最佳的倾斜校正量来使得径向倾斜量为“0”。倾斜校正量计算器5随后向安装在拾取器件上的倾斜校正器2a提供所确定的最佳倾斜校正量。

倾斜校正器2a根据所提供的最佳的倾斜校正量操作，以使得光束的照射方向被调整以完成倾斜校正。因此，可以使用RF信号和/或LPP信号来执行径向倾斜量的检测和径向倾斜的校正。

(示例)

现在说明上述实施例的优选示例。

(信息记录/再现系统)

图4是概括地示出了按照基于上述实施例所实现的示例的信息记录/再现系统的配置的方框图。

如图4所示，盘1受到由主轴电动机6执行的对CLV(恒定线速度)的控制，以便以恒定的速度旋转盘1。在图4的配置中，提供了信息记录/再现系统100，大致划分它包括：记录系统，它被配置以将记录数据记录到盘1；再现系统32，它被配置来再现在盘1上记录的数据；倾斜校正装置50，它被配置来校正对盘1的径向倾斜。在这些部件中，记录和再现系统30和32可以被用已知的组成部分来配置，因此将它们省略而不详细说明。

倾斜校正装置50配备有拾取器件2、LPP信号产生器3、RF信号产生器4、底电平保持电路(bottom hold circuit)11、微计算机12、倾斜校正驱动器13、包含于拾取器件2中的倾斜校正器2a。可以利用不同的倾斜校正机构来构造倾斜校正器2a，所述倾斜校正机构例如：用于机械地调整将要照射到盘1上的光束轴的机构；利用液晶元件构造以调整光束轴的器件；或调整光束轴的传动器。微计算机12包括校正简档存储器(correcting profile memory)12a。

(倾斜校正装置)

现在说明倾斜校正装置50的操作。拾取器件2向LPP信号产生器3和RF信号产生器4提供检测信号Sa-Sd，检测信号Sa-Sd在象限光检测器PD的检测表面A-D被检测，如图1所示。LPP信号产生器3接收检测信号Sa-Sd，以根据表达式(1)计算LPP信号，然后将所计算的LPP信号提供到底电平保持电路11。底电平保持电路11工作以保持LPP信号的底电平，然后向微计算机12提供被保持的底电平信号。

底电平保持电路11被设计使得电路11在可以稳定检测LPP信号的位置执行在LPP信号中的底电平保持。实际上，上述位置是(a)：盘1上的信息未记录区域，(b)：在盘1上的信息记录区域中的空间，(c)：存在在记录操作下记录到盘1上的数据的空间。

与由LPP信号产生器执行的上述操作同时地，RF信号产生器4也接收来自拾取器件2的检测信号Sa-Sd，然后根据上述的表达式(2)计算RF信号。结果产生的RF信号被提供到微计算机12。

接收来自底电平保持电路11的LPP信号和来自RF信号产生器4的RF信号的微计算机12将所接收的信号进行偏移测量处理，以测量上述的偏移ΔTilt，将所接收的信号进行校正简档产生处理，以基于所得偏移量ΔTilt产生指示每个盘的倾斜校正特性的校正简档，并将所接收的信号进行倾斜校正处理，以利用所得校正简档来校正径向倾斜。下面逐一说明上述的三种类型的处理。

被驱动来用于倾斜校正的倾斜校正驱动器13接收指示倾斜校正量的数据，以产生倾斜校正器2a的控制数据。所述控制数据被提供到倾斜校正器2a，以便倾斜校正器2a能够校正径向倾斜。倾斜校正器2a所需的控制数据类型依赖于安装到倾斜校正器2a的校正机构。例如，当校正机构使用液晶的时候，控制数据由控制电压数据组成。

(RF幅度和LPP幅度与倾斜量的关系)

现在例证两个上述的关系，即在RF信号的幅度(RF幅度)和倾斜量之间的关系和在LPP信号的幅度(LPP幅度)和倾斜量之间的另一个关系。

图5A-5C示出了曲线，其中每个(示出了四个曲线)表示通过测量三种DVD-R盘“A”-“C”而获得的在径向倾斜量和LPP幅度之间的关系。图6A-6C示出了曲线，其中每个(示出了四个曲线)表示通过测量三种DVD-R盘“A”-“C”而获得的在径向倾斜量和RF幅度之间的关系。利用倾斜校正装置从盘“A”-“C”、逐渐改变倾斜校正量地测量LPP和RF幅度中的任何一个，其中所述倾斜校正装置采用作为倾斜校正机构的液晶元件。顺便提及，LPP信号的幅度被表示为负极性信号，因此它们的绝对值示出了幅度量。而且，在图5A-5C和6A-6C中，利用向倾斜校正装置设置的倾斜量定标在每个横坐标轴上的径向倾斜量，因此由要提供给这个示例使用的液晶类型倾斜校正装置的电压数据构成所述径向倾斜量。而且，图5A-5C和6A-6C中的每个具有在每个盘上的四个径向点测量的四个曲线(具体上，每个点位于径向方向的内部、中间、外部和最外部圆周区域中的每个中)。

如图5A-5C所示，盘A-C中的任何一个提供了最大化LPP信号幅度的径向倾斜量，它不是0而是向正或负数量方向偏移。偏移的方向和偏移的数量逐个盘都不同。即使在同一盘的情况下，不同的径向位置分别提供不同的径向倾斜量，所述径向倾斜量最大化略微改变的LPP信号幅度。

与上面相同，如图6A-6C所示，盘A-C中的任何一个提供了最大化RF信号幅度的径向倾斜量，它不是0而是向正或负数量方向偏移。偏移的方向和偏移的数量逐个盘都不同。即使在同一盘的情况下，不同的径向位置分别提供不同的径向倾斜量，所述径向倾斜量最大化略微改变的RF信号幅度。

因此，从图6A-6C独立地获取每个最大化RF信号幅度的径向倾斜量，然后将其处理为0(即位于横坐标轴的中心)，以便将图5A-5C中所示的图重写到图7A-7C中。图7A-7C显示出，虽然逐个盘不同，每个最大化LPP信号幅度的径向倾斜量总是从最大化RF信号幅度的每个径向倾斜量(即在图7A-7C的每个中径向倾斜“0”的位置)被偏移恒定的数量，而与在同一盘上的径向位置无关。

对上述的类似的测量是利用三种DVD-RW盘进行的，这产生了图8A-8C和图9A-9C中所示的图形。从那些图形中可以明白，DVD-RW盘仍然保持与对前述DVD-R盘所解释的相同的关系。

具体而言，如图8A-8C所示，盘A-C中的任何一个提供了最大化LPP信号幅度的径向倾斜量，它不是0而是向正或负数量方向偏移。偏移的方向和偏移的数量逐个盘都不同。即使在同一盘的情况下，不同的径向位置提供不同的径向倾斜量，所述径向倾斜量每个最大化略微改变的LPP信号幅度。

与上面相同，如图9A-9C所示，盘A-C之中的任何一个提供了最大化RF信号幅度的径向倾斜量，它不是0而是向正或负数量方向偏移。偏移的方向和偏移的数量逐个盘都不同。即使在同一盘的情况下，不同的径向位置提供不同的径向倾斜量，所述径向倾斜量每个最大化略微改变的RF信号幅度。

因此，从图9A-9C独立地获取每个最大化RF信号幅度的径向倾斜量，然后将其处理为0以便示出图10A-10C，在图10A-10C中与图8A-8C所示的LPP信号幅度相关联地以图形表示了径向倾斜量。图10A-10C显示出，虽然逐个盘不同，每个最大化LPP信号幅度的径向倾斜量总是从最大化RF信号幅度的每个径向倾斜量(即在图10A-10C的每个中径向倾斜“0”的位置)被偏移恒定的数量，而与在同一盘上的径向位置无关。

因此，在因为盘还没有被记录信息比特而导致不能获得RF信号的情况下，可以使用最大化LPP信号幅度的径向倾斜量和已经预先被测量的偏移量来计算向RF信号幅度提供最大值的径向倾斜量。

(倾斜校正)

下面，将说明如何校正径向倾斜。原理上，通过确定最大化RF信号幅度的倾斜校正量和根据已经确定的倾斜校正量来控制倾斜校正驱动器13的微计算机12的执行来校正径向倾斜。这个控制使能在倾斜校正器2a下的校正。从实际的角度来说，当向信息记录/再现系统1 00装上记录或再现信息比特的盘的时候，微计算机12产生一个校正简档以定义盘的倾斜校正量，并且将所产生的校正简档保存到校正简档存储器12a中。在记录/再现信息比特时，微计算机12引用校正简档以执行径向倾斜校正。

校正简档由指示在盘1上的径向位置和每个径向位置的最佳倾斜校正量之间的关系的数据组成。通过示例，在每个盘上的这样的径向位置可以被定义为属于根据自盘中心的径向距离适当划分的径向内部、径向中间、径向外部和径向最外圆周区域的四个位置(参见图15A)，并且，向四个位置的每个分配最佳倾斜校正量。

基本上，如上所述，确定最佳倾斜校正量以便给出RF信号的幅度的最大值。但是，如果使用还没有记录信息比特的盘，则不能检测在盘上的每个位置的RF信号，导致不能获得最大化RF信号幅度的倾斜校正量。因此，在这种情况下，利用如下特性，即在同一盘上的最大化RF信号幅度的倾斜量和最大化LPP信号幅度的另一倾斜量之间存在恒定的偏移ΔTilt。即，对于信息未记录盘，首先获取最大化LPP信号幅度的倾斜量，然后根据所获取的倾斜量和偏移ΔTilt来计算最大化RF信号幅度的另一倾斜量，以便可以确定用于信息未记录盘的最佳倾斜校正量。这中设置最佳倾斜校正量的方式使得有可能即使使用还没有记录信息的盘，也可以容易地确定最佳倾斜量和可以产生校正简档。

参见图11，现在说明包括径向倾斜校正处理的信息记录/再现处理。另外说明，下面的各组处理的每个主要由在信息记录/再现系统100中的微计算机100来执行(参见图4)，微计算机12被设计来执行前面准备的用于不同组信息记录/再现处理的程序。另外，当盘被装到信息记录/再现系统100中的时候，这个处理开始启动。

首先，微计算机12确定是否信息记录/再现系统被装上了盘(步骤S1)。当微计算机12从盘的检测机构接收到信号的时候，完成对已经装上盘的确定。

在完成装上盘之后，微计算机12进行来执行用于偏移量的测量的处理(步骤S2)。

偏移量测量的处理针对前述的偏移ΔTilt的测量。具体上，在可以检测到RF信号的区域(信息记录区域)和在不能检测到RF信号的另一个区域(信息未记录区域)之间的边界位置(以下也被称为“RF信号存在/不存在边界”)，获取最大化RF信号幅度的第一倾斜量和最大化LPP信号幅度的第二倾斜量，并且随后计算在第一倾斜量和第二倾斜量之间的差，即偏移ΔTilt。

在已记录信息盘的情况下，RF信号存在和不存在的边界位于在盘上的数据区域上的信息记录区域和信息未记录区域之间的边界。相反，在信息未记录盘上，不存在数据区域中的记录区域。但是，如图15B所示，在盘上的读入区域包括其中预先记录数据的控制数据区。在DVD-R盘上的这样的区被称为“预先写入区”，而在DVD-RW盘上的这样的区被称为“压纹区(embossedzone)”。因此，即使装上了一个信息未记录盘，在测量偏移中也可以使用控制数据区的边界来作为“RF信号存在/不存在边界”。

现在详细说明偏移测量处理。图12示出了用于处理的流程图。微计算机12首先确定是否已经装上的盘是信息未记录盘(步骤S11)。在被装入的盘是已经记录了信息比特的盘的情况下，关于要记录的数据的管理信息被记录在紧邻在图15B所示的读入区域内的控制数据区之前的区域中。相反，如果被装入的盘还没有进行信息记录的时候，在那里未记录这样的管理信息。因此，微计算机12能够通过确认是否在紧邻在读入区域中的控制数据区之前的一个区域中记录了信息来确定是否所装入的盘是信息未记录盘。

当以上的确定表明已经装入了信息未记录盘时，微计算机12指定在图15A中所示的预先写入区(或压纹区)作为点A(步骤S12)。然后，微计算机12指定靠近预先写入区(或压纹区)的未记录部分作为点B(步骤S13)。微计算机12然后在数据记录点A将倾斜校正量改变为各种数量，以找出最大化RF信号幅度的倾斜校正量“Tilt A”(步骤S14)。此后，微计算机12在数据未记录点B将倾斜校正量改变为不同的数量，以找出最大化LPP信号幅度的倾斜校正量“Tilt B”(步骤S15)。利用倾斜校正量“Tilt A”和“Tilt B”，微计算机12在将所计算的偏移ΔTilt存储到它的内部存储器或其他存储器之前计算偏移ΔTilt(步骤S16)。

另一方面，当在步骤S11确定所装入的盘不是信息未记录盘的时候(即所装入的是已经记录了信息的盘)，微计算机12从盘上最内位置向外端搜索RF信号存在/不存在边界(步骤S17)。通过向盘上的外端移动拾取器件2上的滑动器和监视在拾取器件2的移动操作期间获得的RF信号幅度的改变并且打开跟踪伺服来执行搜索。当搜索示出RF信号存在/不存在边界的时候，至今已获得的RF信号的幅度突然消失。因此，有可能将这样的位置识别为RF信号存在/不存在边界。

响应于RF信号存在/不存在边界的检测(在步骤S18的“是”)，在靠近记录部分的未记录部分被指定为点“B”(步骤S20)之前，靠近边界的记录部分被指定为点“A”(步骤S19)。微计算机12然后在步骤S14-S16进行处理以计算偏移ΔTilt。

当在步骤S18确定还没有检测到RF信号存在/不存在边界的情况下，可以知道：整个数据记录区域被填充了数据并且可以根据RF信号幅度来产生校正简档。在这样的情况下，不必测量偏移ΔTilt。因此使得处理返回图11所示的主例程。

上述的偏移测量处理使得有可能获得偏移ΔTilt，而与盘是信息记录盘或信息未记录盘无关。虽然信息记录盘与信息未记录盘的RF信号存在/不存在边界的位置不同，这个差别将不产生问题，因为如上所述，在同一盘上偏移ΔTilt恒定而与其上的径向位置无关。

当已经获得了偏移ΔTilt时，处理被使得返回图11所示的主例程，其中微计算机开始产生校正文件(图11的步骤S3)。图13示出了用于产生校正文件的处理。

首先，微计算机12使得拾取器件2移动到在盘1上用于校正的预定参考位置(步骤S31)。作为执行径向倾斜校正的位置的用于校正的参考位置是属于例如根据自盘1上的中心的径向距离适当划分的径向内部、径向中间、径向外部和径向最外圆周区域之一(参见图15A)。因此，第一次，用于校正的参考位置被设置为驻留在内部圆周区域中的位置。

微计算机然后试图读取在用于校正的第一参考位置的RF信号，以确定是否获得RF信号(步骤S32)。如果不能获得RF信号，可以明白用于校正的参考位置存在于盘上的信息未记录区域中。因此，微计算机12使用LPP信号的幅度来确定最佳的倾斜校正量。具体上，随着在用于校正的参考位置逐渐变化径向倾斜量，以检测LPP信号幅度，确定示出了所检测的LPP信号幅度的最大值的倾斜校正量(步骤S33)。

微计算机12然后将在上述偏移测量处理中获得的ΔTilt加到在步骤S33获得的倾斜校正量(步骤S34)。这个相加产生与最大化RF信号的幅度的倾斜量相同的倾斜量，因此作为最佳的倾斜校正量。

另一方面，当在步骤S32发现可以获取RF信号的情况下，在用于校正的参考位置以每预定数量改变倾斜校正量，以便可以确定最大化RF信号幅度的特定倾斜校正量，所述特定倾斜校正量作为最佳的倾斜校正量(步骤S37)。

微计算机12将在步骤S34或步骤S37获得的最佳倾斜校正量存储到校正简档存储器中(步骤S35)。然后，微计算机12进行确定是否已经在所有的用于校正的参考位置完成了上述的处理(步骤S36)。如果这个确定示出未完成，则使得处理移动到步骤S31，用于下一个用于校正的参考位置。这个重复允许所有预定的参考位置进行最佳倾斜校正量的确定，因此完成校正简档并且结束它的产生处理。然后所述处理返回图11所示的主例程。

当完成校正简档时，微计算机12被允许进行在径向倾斜校正下执行的记录或再现操作(图11的步骤S4)。图14示出了与记录或再现操作并行执行的这个径向倾斜校正。微计算机12通过经由倾斜校正驱动器13控制倾斜校正器2a来获得径向倾斜校正。

当开始图14所示的处理的时候，微计算机12首先确定是否用户已经命令向盘1记录信息比特或从盘1再现信息比特(步骤S41)。当确定已经命令了记录或再现时，微计算机12利用LPP信号或其他来获取要进行记录或再现的地址(步骤S42)，然后从校正简档存储器12a获取与所获取的地址对应的最佳倾斜校正量(步骤S43)。而且，微计算机12根据所获得的最佳倾斜校正量来驱动倾斜驱动器13(步骤S44)。在记录或再现操作期间执行在步骤S42-S44的上述的处理。

而且，微计算机12确定是否已经命令结束记录或再现操作(S45)。通过重复步骤S42-S44来持续处理，直到发出这个结束命令。当接收到结束命令时，微计算机12将终止所述处理。

如上所述，在现有的示例中，在要记录或再现的盘上的信息记录区域和信息未记录区域之间的边界，获得最大化RF信号幅度的第一倾斜量和最大化LPP信号幅度的第二倾斜量。第一和第二倾斜量用于计算出偏移ΔTilt。然后，在盘上的每个校正参考位置，如果盘已经记录了信息比特则基于RF信号或者如果盘还没有记录信息比特则基于LPP信号和偏移ΔTilt来确定最佳倾斜量，所确定的最佳倾斜量被存储以形成校正简档。在这个盘的记录或再现操作期间，校正简档被查询以进行径向倾斜校正。

结果，因为利用逐个盘产生的校正简档来校正径向倾斜，因此径向倾斜校正变得更为准确而与盘的类型无关。另外，负责记录或再现信息比特的信息记录/再现系统本身能够确定最佳倾斜校正量以产生校正简档。因此，即使存在信息记录/再现系统中的拾取器件、光学系统和/或其他的特性的不规则性，也可以根据这样的特性来确定最佳倾斜校正量，因此提高了径向倾斜校正的精度。而且，每当盘进行实际的再现和信息比特再现时，校正简档总是在记录和再现之前被产生。即使由于光学系统的老化和/或由于在记录/再现操作期间温度的改变而在记录或再现特性中存在波动，这对径向倾斜校正具有较少的影响。

(如何缩短产生校正简档的时间)

如上所述，本实施例采用了在实际记录或再现信息之前产生校正简档的技术。因此，如果花费很长的时间来产生校正简档，则向信息记录/再现系统装入盘的用户应当等待很长时间直到记录或再现开始。因此，所期望的是在尽可能短的时间内完成校正简档的产生。在下面，提供了两种技术来缩短用于产生校正简档的时间。

第一种技术涉及在产生校正简档期间的盘的旋转控制。如图13所示，为了产生校正简档，光束移动到预定的用于校正的参考位置，其中随着倾斜校正量逐渐被改变而检测LPP信号，因此确定了最大化LPP信号幅度的倾斜校正量。即，光束依序移动到在盘上径向方向的排列的多个位置，以便在每个径向位置确定倾斜校正量。

但是，CLV控制要求盘的旋转速度依赖于在盘上的每个径向位置而不同。因此每次当改变校正参考位置时必须将主轴电机的旋转速度控制为不同的速度。另外，需要某段时间来使得主轴电机的旋转速度稳定，因此导致用于产生校正文件的时间过分延长。

考虑到这个缺陷，在产生校正简档期间，在CAV(恒定角速度)控制下旋转盘。这消除了改变主轴电机的旋转速度的必要，因此缩短了控制盘的旋转速度所需要的时间。顺便提及，虽然存在在CLV控制下数据本身被记录在盘上的事实，但可以在CAV控制下读出数据。即，只要RF信号产生器4和LPP信号产生器3的频率特征在一定程度上保持平坦，则虽然改变它们的时间跨度，要读出的RF和LPP信号的幅度将不波动。因此，在产生校正简档期间对RF和LPP信号进行CAV控制下的幅度读取的情况下，不发生任何问题。

另外，在CAV控制下产生校正简档的情况下，如果信息记录/再现系统仅具有在CAV控制下旋转盘的能力则足够；即，向信息记录/再现系统本身提供按照CAV控制获取地址信息和其他的能力不总是必要的。

第二种技术涉及要测量的点的数量的减少。在上述的校正简档的产生中，必须使倾斜校正量波动，以便测量LPP信号幅度以确定最佳的倾斜校正量(图13的步骤S33)。在这个处理中，可以如下来减少测量点的数量。

从图7A-7C和10A-10C可以明白，在倾斜校正量和LPP信号幅度之间的关系可以近似于一个二次函数(抛物线)。因此，最少测量三个点的LPP信号的幅度(即不同的倾斜校正量)使得有可能利用近似技术根据测量点来确定指示倾斜校正量和LPP信号幅度的函数，然后给最大化LPP信号幅度的倾斜校正量分配表示LPP信号幅度的峰值的倾斜校正量。这减少了用于测量LPP信号幅度的测量点的数量，其中可以加速校正简档的产生。

第一或第二技术的任何一个可以应用到前述的实施例，而第一和第二种技术也可以被一起用于前述的实施例中。

(改进)

前述的实施例已经提供了这样的配置，其中对在特定凹槽(另外，与其接近)的径向外侧上存在的平台上形成的LPP(参见图1)进行LPP信号幅度的检测。或者，对在特定凹槽的径向内侧上存在的平台上形成的LPP可以进行LPP信号的幅度的检测。在所检测的来自径向内侧平台的LPP信号和来自凹槽的RF信号之间的相关性可以以与上面相同的方式被使用。而且，也可以一起使用来自特定凹槽的径向内侧和外侧上存在的两个平台的LPP信号的幅度。

而且，在上述的实施例中，已经使用了底电平保持电路11来检测LPP信号的幅度电平。在这种情况下，图1所示的象限光检测器PD必须检测来自在记录光道Gr的径向外侧上存在的LPP的信号的幅度电平。这个底电平保持电路11可以被替换为一个峰值保持电路，以便可以检测来自在记录光道Gr的径向内侧上存在的LPP的信号的幅度电平，以便用于确定倾斜校正量。另一种选择是峰值保持电路和底电平保持电路都被布置来检测来自在记录光道Gr的径向内侧和外侧上存在的LPP的信号的幅度电平。

而且，可以提供关于何时应当执行上述处理的改进。在上述的实施例中，在盘被装入信息记录/再现系统中之后，偏移测量和校正简档产生被设计以立即执行。或者，可以使用诸如等待下一次记录操作的时段的、除了上述之外的各种其他定时来用于执行偏移测量和校正简档产生。

在不脱离本发明的精神和必要特征的情况下，本发明可以以其他的具体形式被实现。因此，在所有方面，现有的实施例被考虑为说明性的而不是限制性的，本发明的范围由所附的权利要求而不是由上述的说明来指示，因此包括在权利要求的等同物的含义和范围内的所有变化被包含于其中。

Claims (9)

1.一种倾斜校正装置，用于校正要从拾取器件照射到盘的光束的倾斜量，其特征在于，所述倾斜校正装置包括：

预置凹坑信号产生器(3)，它被配置以根据照射到盘上的光束的返回光，产生指示在盘上形成的预置凹坑的存在/不存在的预置凹坑信号；

RF信号产生器(4)，它被配置以根据返回的光从记录在盘上的信息比特产生RF信号；

校正量确定单元(12)，它被配置来利用在预置凹坑信号和RF信号之间的关系，确定最佳倾斜校正量；和

倾斜校正器(2a，12，13)，它被配置以根据最佳倾斜校正量来校正倾斜量。

2.如权利要求1所述的倾斜校正装置，其特征在于校正量确定单元包括：

第一检测器件(12)，它被配置来检测第一倾斜量，所述第一倾斜量提供最大化RF信号幅度的倾斜量；

第二检测器件(12)，它被配置来检测第二倾斜量，所述第二倾斜量提供最大化预置凹坑信号幅度的倾斜量；

计算器件(12)，它被配置来计算指示在第一和第二倾斜量之间的差的偏移倾斜量；和

确定器件(12)，它被配置来利用偏移倾斜量而确定最佳倾斜校正量。

3.如权利要求2所述的倾斜校正装置，其特征在于，所述校正量确定单元还包括：边界检测器件(12)，它被配置来检测在盘上的在信息记录区域和信息未记录区域之间存在的边界，

其中第一检测器件被配置来检测靠近所述边界的信息记录区域中的第一倾斜量，以及

第二检测器件被配置来检测靠近所述边界的信息未记录区域中的第二倾斜量。

4.如权利要求2所述的倾斜校正装置，其特征在于，所述校正量确定单元被配置成当校正在盘上的信息记录区域中的倾斜量时，基于RF信号确定最佳倾斜校正量，并且当校正在盘上的信息未记录区域中的倾斜量时，基于LPP信号和偏移倾斜量确定最佳倾斜校正量。

5.如权利要求2所述的倾斜校正装置，其特征在于，所述校正量确定单元被配置成当校正在盘上的信息记录区域中的倾斜量时将与第一倾斜量相对应的倾斜校正量确定为最佳倾斜校正量，并且将与第二倾斜量和偏移倾斜量之和相对应的倾斜校正量确定为最佳倾斜校正量。

6.如权利要求1所述的倾斜校正装置，其特征在于，所述校正量确定单元还包括：校正简档产生器件(12)，被配置成可以在盘上预先确定的每个校正参考位置获得最佳倾斜校正量，并且被配置成产生包括在每个校正参考位置的最佳倾斜校正量的校正简档。

7.如权利要求6所述的倾斜校正装置，其特征在于，倾斜校正装置还包括：盘旋转控制器(12)，它被配置成使得盘旋转，盘旋转控制器被配置成使得在所述校正量确定单元获得在每个校正参考位置的最佳倾斜校正量的情况下，以恒定的角速度旋转盘。

8.如权利要求1所述的倾斜校正装置，其特征在于，倾斜校正装置还包括：存储器(12a)。它被配置成存储在盘的多个径向位置的每个获得的最佳倾斜校正量。

9.一种倾斜校正方法，用于校正从拾取器件向光盘照射的光束的倾斜量，所述方法包括步骤：

根据照射到盘上的光束的返回光，产生指示在盘上形成的预置凹坑的存在/不存在的预置凹坑信号；

根据返回的光从记录在盘上的信息比特产生RF信号；

利用在预置凹坑信号和RF信号之间的关系，确定最佳倾斜校正量；

根据最佳倾斜校正量来校正倾斜量。

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