CN1404038A - 用于磁盘驱动器中的磁头加载控制的装置和方法 - Google Patents

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Abstract

磁头IC(17)放大包括MR元件的读磁头(121)的输出并且ADC(19)将该放大的输出转换为数字值。当CPU(21)执行磁头加载操作以从斜台(10)将包括读磁头(121)的组合磁头(12)加载到磁盘介质(11)的数据区(112)上时，CPU(21)接收由磁头IC(17)放大的读磁头(121)的输出作为施加到HDD的外部磁场的检测结果。CPU(21)根据接收到的读磁头(121)的放大输出，即施加到HDD的外部磁场的检测结果，确定是执行磁头加载操作还是禁止磁头加载操作。

Description

用于磁盘驱动器中的磁头加载控制的装置和方法
技术领域
本发明涉及带有磁头缩进机构的磁盘驱动器装置，更具体地说，涉及一种用于检测外部施加于该装置的磁场和根据检测结果控制磁头加载操作的执行的装置和方法。
背景技术
硬盘驱动器被认为是使用磁盘介质作为存储介质的磁盘驱动器。在硬盘驱动器中，头(磁头)用来从磁盘介质中读出数据或写入数据到磁盘介质。如果读取/写入数据的操作在磁场被外部施加到硬盘驱动器的环境中进行，则该磁盘介质上的数据有可能在外部施加磁场的影响下被毁坏。近来，诸如装有硬盘驱动器的个人计算机之类的电子设备变得薄而且小，因此硬盘驱动器易于受外部磁场的影响。
日本专利申请KOKAI第3-242866号文献公开了一种诸如计算机之类的带有硬盘驱动器的电子装置，该装置包括一个磁场检测器，该磁场检测器用于检测施加到硬盘驱动器的磁场。该文献涉及当数据被从施加磁场的硬盘驱动器读取时或当数据被读入到施加磁场的硬盘驱动器时数据被改变的可能性。如果该数据被改变，程序有可能出毛病。根据文献中所描述的该技术(下文称做现有技术)，当磁场被施加到硬盘驱动器时，数据读取/写入的操作仅在硬盘驱动器中被执行。当磁场未被施加到该硬盘驱动器时，数据读取/写入的操作由主机本身保持。因此在主机对硬盘驱动器执行数据读取/写入操作之前，该主机询问磁场检测器是否该磁场被施加到该硬盘驱动器。
然而，现有技术没有注意到当磁头位于固定在硬盘驱动器的磁盘介质上的数据区之上和当磁场被施加到硬盘驱动器时所引起的问题。换句话说，问题是当感应式磁头被使用时，由于外部磁场感应的噪声，电流流过磁场。当磁头位于磁盘介质的数据区(数据磁道)之上时，如果由外部磁场激励的电流通过磁头，则该数据区(数据磁道)的数据可能被毁坏，即使主机保持数据读取/写入操作。
总而言之，当磁盘介质在启动硬盘驱动器时达到恒定旋转速度时，磁头不考虑主机的运行从诸如斜台(ramp)的磁头缩进机构(headretracting mechanism)被自动加载到磁盘介质的数据区之上。在这种情况下，该主机可从磁盘介质读取数据或将数据写入到磁盘介质。然而，当该磁头被加载时，如果外部磁场被施加到磁头，由于在主机对磁盘介质执行数据读取/写入之前该电流在外部磁场的影响下通过该磁头，则恐怕记录在磁盘介质上的数据可能会遭到破坏。像在上述的现有技术中一样，就防止记录在磁盘介质上的数据的毁坏而言，需要在数据读取/写入操作之前检查外部磁场是否被施加到了硬盘驱动器上不一定有效。
发明内容
考虑到上述的情况本发明的目的是当磁头被加载到磁头缩进机构的磁盘介质的数据区之上时，检测外部施加的磁场，并且根据检测结果通过禁止磁头被加载来防止记录在磁盘介质上的数据遭到破坏，即使由于外部磁场电流流过该磁头。
根据本发明的一个方面，本发明提供了一种包括磁头缩进机构的磁盘驱动器，磁头从磁盘介质的数据区缩进到该磁头缩进机构。该磁盘驱动器包括致动器、磁场检测器、磁头加载装置和控制装置。该致动器支撑磁头并且沿磁盘介质的径向方向驱动磁头。磁场检测器检测被外部施加的磁场。磁头加载装置驱动致动器并且执行磁头加载操作以使磁头从磁头缩进机构移动到磁盘介质的数据区。控制装置检查当磁头被收缩进磁头缩进机构时从磁场检测器所获得的检测结果并且根据检测结果防止磁头加载装置执行磁头加载操作。
在下面的描述中将陈述本发明另外的目的和优点，部分目的和优点将变得显而易见或通过实现本发明可获知。通过在下文中特别指出的手段和组合，本发明的目的和优点可被实现和获得。
附图说明
所包含的和构成说明书一部分的附图说明了本发明的实施例，并且结合以上概括描述和下述的对实施例的详细描述，解释本发明的原则。
图1是说明根据本发明的第一实施例的硬盘驱动器配置的方框图。
图2是说明根据本发明的第一实施例(当磁头被加载时执行第一实施例)的硬盘驱动器的操作的流程图。
图3是说明根据本发明的第二实施例的硬盘驱动器配置的方框图。
图4是说明包括一个作为磁头缩进机构的接触起停(CSS)区的磁盘介质的示例图。
具体实施方式
现在参照附图将描述根据本发明的实施例的硬盘驱动器。
[第一实施例]
图1是说明根据本发明的第一实施例的硬盘驱动器的配置的方框图。在图1所示的硬盘驱动器(下文称做HDD)中，盘介质(磁盘介质)11具有上下两个磁盘面。磁盘介质11的一个或两个磁盘面用作数据被磁性记录在其上的记录面。环形数据区112被固定在磁盘介质11的每一记录面上。数据区112包括多个同心磁道(数据磁道)111。头(磁头)12为磁盘介质11的每一记录面而设置。磁头12用于将数据写入到磁盘介质11(数据记录)并且从磁盘介质11读取数据(数据再现)。磁头12为包括集成在单个滑块上的读磁头121和写磁头122的组合磁头。读磁头121为由MR(磁阻)元件组成的MR磁头。写磁头122为由感应型记录薄膜元件组成的感应磁头。在图1所示的HDD的配置中，假定HDD包括一单磁盘介质11；然而，HDD可具有多个彼此层叠的磁盘介质11。
多个伺服区(未示出)被径向地排列在磁盘介质11中并且沿磁盘介质11的圆周方向以规则间隔被分开排列。用于磁头定位控制等的伺服数据被记录在每一伺服区上。伺服数据包括一个磁道码(柱面编号)和一个突发信号(burst signal)。磁道码表示相应伺服区所位于的磁道(柱面)。突发信号表示一磁道中的磁头的相对位置(位置错误)信息，在该磁道中，相对应的伺服区由再现波的幅值来定位。磁道码和突发信号被用作定位信息以定位目标磁道的目标范围内的磁头12。
磁头12被固定到旋转致动器13的顶端并且由致动器13支撑。更具体地说，磁头12被固定到从致动器的臂13a延伸的悬臂13b的顶端。磁头12随着致动器13的旋转沿磁盘介质的径向方向移动。因此磁头12被定位在目标磁道上。斜台(斜台机构)10被设置在靠近磁盘介质11的外圆周。该斜台10为磁头缩进机构用于当磁盘介质11停止旋转等时，收缩磁头12。斜台10被设置为靠近磁盘介质11并且位于致动器13的顶端的运动路径上的给定位置。
磁盘介质11由主轴马达(下文称做SPM)14以高速旋转致动器13包括一个用作致动器13的驱动源的音圈马达(下文称做VCM)15并且由VCM15被驱动。
SPM14和VCM15由驱动器IC(集成电路)16提供的驱动电流驱动。驱动器IC16为包括一个SPM驱动器和一个VCM驱动器的单片马达驱动器。确定上述驱动电流的值(控制变化量)由中央处理单元(CPU)21来确定。
磁头12与安装在柔性印刷电路板(FPC)上的磁头IC17相连。磁头IC17为包括读取放大器171、偏置电路172和写入放大器173的单片磁头放大电路。读取放大器171放大由磁头12中的读磁头121读出的读取信号。偏置电路172向读磁头121提供偏置电流。写入放大器173将写入数据转换为被提供到磁头12中的写磁头122的写入电流。磁头IC17与读取通道(下文称做R/W通道)18和A/D(模拟/数字)转换器(下文称做ADC)19相连。
R/W通道18处理各种信号。该信号处理包括用于转换从磁头IC17输出的放大的读取信号的A/D转换处理，编码写入数据的编码处理和译码读出数据的译码处理。R/W通道18具有对读取信号取脉冲和将它作为脉冲读取数据输出的功能。R/W通道18还具有响应从门阵列20发出的定时信号(突发定时信号)从伺服数据提取突发信号的功能。该突发信号被传输到CPU21并且用于定位目标磁道中的磁头12的定位控制(即磁道跟踪控制)。ADC19将由磁头IC17放大和从磁头IC17输出的读取信号转换为数字值。ADC19的输出被传送到CPU21并且被用于检测外部施加到HDD的磁场。该ADC19可被嵌入到门阵列20内。
门阵列20为一个ASIC(专用集成电路)。门阵列20具有从R/W通道18的读取脉冲输出产生包含突发定时信号的各种定时信号的功能。门阵列20具有提取包含在伺服数据中的磁道码的另一功能。该磁道码被发送到CPU21并且被用于寻求控制以移动磁头12到一目标磁道。门阵列20还具有根据CPU21的指定设置磁头IC17中的偏置电流值的另一功能。该偏置电流值从磁头IC17(偏置电路172)被提供到读磁头121。
CPU21包含一个诸如FROM(快速只读存储器)22之类的存储由CPU21执行的控制程序的非易失性存储器。CPU21也包含一个提供CPU21工作区等的RAM(随机存取存储器)23。CPU21根据存储在FROM22中的控制程序控制整个HDD。换句话说，CPU21响应由门阵列20提取的磁道码和由R/W通道18发出的突发信号定位目标磁道中的磁头12。CPU21响应从主机发出的读取/写入命令，也控制由磁盘控制器24执行的读取/写入操作。此外，当收缩在斜台10中的磁头12被加载在磁盘介质11的数据区111上时，CPU21根据ADC19的输出值检测外部施加到HDD的磁场。ADC19的输出值对应于由磁头IC17放大的读取信号的数字转换值。CPU21根据磁场的检测结果控制磁头加载的执行。
磁盘控制器(下文被称做HDC)24与使用HDD的主机(主机系统)相连。该主机为诸如个人计算机之类的电子设备。HDC24响应门阵列20的控制信号处理由R/W通道18编码的读出数据以由此产生将由主机传送的数据。HDC24响应该控制信号也对从主机传送的写入数据编码并且将该编码数据传送到R/W通道18。
缓冲RAM25与HDC24相连。缓冲区被固定在缓冲RAM25中。缓冲区用于暂时存储从主机传送的数据和写入到磁盘介质11的数据(写入数据)，并且暂时存储从磁盘介质11读取和传送到主机上的数据(读取数据)。
现在将描述图1中示出的HDD的操作。假定HDD还没有启动。在这种状态下，磁头12位于斜台10的归位位置。当HDD启动时，驱动器IC16将驱动电流(SPM电流)提供到SPM14中，SPM14开始旋转。当SPM14旋转时，磁盘介质11也旋转。当SPM14达到恒定旋转速度时，驱动器IC16提供VCM15驱动电流(VCM电流)以使磁头在CPU21的控制下在磁盘介质11上移动。因此VCM15使致动器13从斜台10转到磁盘介质11。然后，固定在致动器13的顶端的磁头12从斜台10被移动(加载)到数据区112上。这是HDD中的磁头加载操作。如果该主机提供图1所示的HDD一个指令请求在磁头加载操作后从磁盘介质11读取数据或写入数据，则请求数据的读取或写入在CPU21的控制下通过磁头IC17被执行。
如果一磁场当磁头12被加载到磁盘介质11的数据区112时被外部施加到HDD，无论读取/写入数据，则有可能出现下列现象。外部施加到HDD的该磁场使电流流过磁头(组合磁头)12的写磁头(感应磁头)122。流过写磁头122的电流取决于外部施加磁场的强度。对于记录在磁盘介质11的数据区112的数据，恐怕位于写磁头122位置上的数据可能被毁坏，这取决于该电流量的大小。特别是近来，装有HDD的主机箱变得薄而且小，因此HDD对外部磁场变得更加敏感。
因此当它执行控制以将磁头12从斜台10加载到磁盘介质11的数据区112上时，CPU21检测外部施加到HDD的磁场。如果害怕所检测的外部磁场毁坏数据区112上的数据，则CPU21不加载该磁头12而对主机发出警报。
现在参照图2所示的流程图将描述描述图1所示的当磁头被加载时执行该操作的HDD的操作。适用于本发明的第一实施例的读磁头121为磁阻(MR)元件组成的MR(磁阻)磁头。众所周知，MR磁头的电阻值随着磁场而变化。MR磁头用于检测电阻值的变化作为电压变化量，和读取磁性地记录在磁盘介质上的数据。换句话说，MR磁头是一种具有磁场(磁性)检测功能的磁性传感器。根据第一实施例，在磁头被加载前使用读磁头121的磁场检测功能可检测外部施加到HDD的磁场。
当CPU21执行磁头加载操作时，通过门阵列20它设置一个参数以指定磁头IC17中的偏置电流寄存器(未示出)中的偏置电流Ik具有一个预置值(步骤S1)。因此，在磁头IC17中的偏置电路172提供读磁头121由设置在偏置电流寄存器的参数指定的偏置电流Ik，即预定的固定偏置电流Ik。因此，读磁头121产生电压V(R)＝Ik*R，该电压取决于提供到读磁头121的偏置电流和读磁头121的电阻值。假定没有磁场施加到读磁头121的电阻值为Rc。在这种情况下，读磁头121电阻值的变化量(ΔR＝R-Rc)取决于施加到读磁头121的磁场的强度。当没有磁场施加到读磁头121时，读磁头121产生的电压信号的电平Vc变为Ik*Rc。当没有磁场施加到读磁头121时，读磁头121产生的电压信号电平的变化量ΔV可以用V(R)-Vc表示。如上所述，由于V(R)＝Ik*R和Vc＝Ik*Rc。所以，ΔV可按下列公式表示：ΔV＝V(R)-Vc＝Ik*R-Ik*Rc＝Ik*(R-Rc)。因此，ΔV也取决于施加到读磁头121的磁场的强度。换句话说，读磁头121产生的电压信号可被看作是磁场检测信号。
读磁头121产生的电压信号V(R)由磁头IC17(中的读取放大器18)以恒定的放大系数α被放大。假定放大电压信号的电平为V′(R)，则V′(R)可由下列方程式表示：V′(R)＝α*V′(R)＝α*Ik*R。ADC19将放大电压信号的电平V′(R)(＝α*Ik*R)转换为数字值。CPU21从ADC19接收该数字值(步骤S2)。由于α和Ik彼此恒定，所以电压信号电平V′(R)(＝α*Ik*R)对应于读磁头121的电阻的相对值。
假定当没有磁场施加到读磁头121时，CPU21从ADC19接收的电压信号的电平为V′c。该电压信号电平V′c由下列方程式表示：V′c＝α*Vc＝α*Ik*Rc。V′(R)和V′c之间的差或电压信号电平的变化量ΔV′＝V′(R)-V′c可按下列方程式表示：α*(V(R)-Vc)＝α*ΔV＝α*Ik*(R-Rc)。请注意，读磁头121(包括磁头12)位于斜台10的上面。在这种状态下，读磁头121不受磁盘介质11的磁场的影响。因此，上述的变化量，ΔV′＝V′(R)-V′c＝α*Ik*(R-Rc)取决于从HDD外部施加到HDD的磁场的强度，即外部磁场强度。
假定读磁头121的电阻值中的最小变化量ΔRth为Rth-Rc，该最小变化量对应于有可能毁坏磁盘介质11的数据区112上的数据的外部磁场。也假定电压信号电平V′(R)为V′th，并且电压信号电平的变化量ΔV′为ΔV′th。在这种情况下，V′th和ΔV′th分别可用下列方程式表示：V′th＝α*Ik*Rth和ΔV′th＝V′th-V′c。使用ΔV′th作为阈值，CPU21检测变化量V′(R)-V′c是否超过ΔV′th。如果磁头12位于磁盘介质11的数据区112之上，则CPU21可确定对应于磁头12位置的数据是否有可能被毁坏。该确定被称做第一确定方法。V′th等于ΔV′th+V′c并且V′c为常数。甚至通过检查电压信号电平V′(R)＝α*Ik*R是否超过V′th＝α*Ik*Rth，当磁头位于磁盘介质11的数据区112之上时，CPU21可确定对应于磁头12的位置的数据是否有可能被毁坏。这被称做第二确定方法。
在本发明的第一实施例中，第二确定方法被用于简化处理。更具体地说，CPU21将从ADC19收到的电压信号电平V′(R)＝α*Ik*Rth与上述阈值V′th＝α*Ik*Rth进行比较(步骤S3)。如果V′(R)＞V′th或读磁头121的电阻值R＝V′(R)/(α*Ik)超过电阻值Rth＝V′th/(α*Ik)，则CPU21确定有可能毁坏数据区112上的数据的外部磁场被施加到HDD上。在这种情况下，CPU21向主机发出警报外部磁场被施加到HDD上，并且禁止该磁头被加载(步骤S4)。在第一实施例中，当CPU21在HDD启动时检测到有可能毁坏数据区112上的数据的外部磁场在磁头被加载前被施加到HDD上，它禁止磁头加载操作。因此，即使使电流在外部磁场的影响下流过磁头12，也可防止数据区112上的数据被毁坏。
另一方面，如果V′(R)≤V′th或读磁头121的电阻值R(＝V′(R)/(α*Ik))不超过电阻值Rth(＝V′th/(α*Ik))，则CPU 21确定有可能毁坏数据区112上的数据的外部磁场未被施加到HDD上。在这种情况下，CPU21控制驱动器IC16并且执行磁头加载操作以将磁头12从斜台10加载到磁盘介质11的数据区112(步骤S5)。
第一确定方法可被用于代替第二确定方法。为了这样做，电压信号电平V′c可提前存储于FROM22中，并且V′c和V′th(ΔV′th＝V′c-V′th)之间的差值ΔV′th可被用作阈值。从ADC19被发送到CPU121的电压信号电平V′(R)和电压信号电平V′c之间的差值V′(R)-V′c，或电压信号电平中的变化量ΔV′(＝V′(R)-V′c)可被获得。仅需检查变化量ΔV′是否超过差值ΔV′th。使用该方法，通过执行下列操作ΔV′＝V′(R)-V′c＝α*Ik*(R-Rc)或通过获得V′(R)和V′c之间的差值可检测外部磁场。所检测的外部磁场反映读磁头121的电阻变化量。因此，外部磁场的检测的准确性可被提高。
各个HDD的读磁头121的电阻值彼此不同因此读磁头121的电压信号电平V′c也不同。如果测量每一读磁头121所测的和生产每一HDD时存储在FROM 22中的电压信号电平V′c可被用于磁头加载的操作，则检测外部磁场的精确性可被进一步提高。
每一读磁头121的电阻值都具有温度依赖性。因此HDD一般具有一个温度传感器26以检测HDD的温度，如图1所示。在HDD中，对应于温度传感器26检测的HDD检测的偏置电流被提供到读磁头121以使读磁头121在不受HDD的温度环境影响下可读取最佳数据。因此，如果HDD的温度通过ADC27被写入到CPU21以纠正电压信号电平V′c，则外部磁场检测准确性可被进一步提高。如果选择磁头IC17其中一个输出的多路复用器和在CPU21控制下作为ADC27的输入的温度传感器26被设置，则不需要ADC19。
如果HDD具有如图1所示的斜台10，则当主机不发出固定时间周期的请求时，即使磁盘介质11旋转，磁头12通常也缩进斜台10。当磁盘介质11旋转时，磁头12被缩进斜台10的磁头归位位置的状态通常被称做HDD的空闲状态。如果主机发出请求以读取/写入空闲状态的数据，则CPU 21再次加载磁头12在数据区112上。因此，CPU21在如上所述启动HDD时可检测外部磁场并且在磁头12又被加载在数据区112上之前根据检测结果禁止磁头加载操作。当该磁头又被加载时，即使电流在外部磁场的影响下流过该磁头12，记录在数据区112的数据被毁坏的风险可被防止。
[第二实施例]
图3为根据本发明的第二实施例的硬盘驱动器(HDD)的配置的方框图。在图3中，与图1相同的部分由相同的标号表示。图3中所示的HDD的特征在于读磁头121不被用作检测施加到HDD的磁场的磁场传感器，而用作此用途的特殊用途的磁场传感器30被设置。该磁场传感器30检测施加到HDD的磁场并且将磁场转换为如电压。ADC19将磁场传感器30的检测输出转换为数字值。当其执行磁头加载时，CPU21从ADC19接收数字值。然后，像在第一实施例的步骤S3那样，CPU21将该数字值与预定阈值进行比较。如果CPU21加载磁头12在磁盘介质11的数据区112上，则它根据比较结果确定对应于磁头12的位置的数据区112上的数据在外部磁场的影响下是否有可能被毁坏。如果害怕该数据可能被毁坏，则CPU21如第一实施例的步骤S4一样禁止磁头加载的操作。
在上述的第一实施例和第二实施例中，本发明适用于使用斜台10作为磁头缩进机构的HDD。然而，如图4所示，本发明可适用于使用固定在磁盘介质11的最内半径上的环形非数据区作为CSS(接触起停区)113的HDD。CSS区113为对应于斜台10的磁头缩进机构。在上述的实施例中，本发明适用于HDD(硬盘驱动器)。然而，本发明也可适用于HDD以外的诸如磁光盘驱动器，如果它包含一个磁头缩进机构的话。
本领域的技术人员对本发明易于想到更多的优点和改进。因此，在其范围内的本发明不限于这里所显示和所描述的具体说明和典型实施例。因此，在不脱离由附属权利要求和它们的同等物所定义的精神和基本发明构思的范围的情况下，可对本发明进行各种修改。

Claims (16)

1、一种磁盘驱动装置，其特征在于包括：
磁盘介质(11)，其包括在其上记录数据的数据区；
致动器(13)，其支撑用于从磁盘介质(11)的数据区(112)读取数据或写入数据到磁盘介质(11)的数据区(112)的磁头，并且沿磁盘介质(11)的径向方向驱动该磁头(12)；
磁头缩进机构(10，113)，磁头(12)从磁盘介质(11)的数据区(112)缩进所述磁头缩进机构；
磁场检测器(121，30)，其检测外部施加的磁场；
磁头加载装置(21)，用于执行磁头加载操作以驱动致动器(13)并且将磁头(12)从磁头缩进机构移动到磁盘介质的数据区；以及
控制装置(21)，用于当磁头(12)被缩进磁头缩进机构(10)时检查从磁场检测器(121，30)所获得的检测结果并且根据检测结果禁止磁头加载装置(21)执行磁头加载操作。
2、根据权利要求1的磁盘驱动器装置，其特征在于磁头(12)为包括一个用作读磁头(121)的磁阻磁头(121)和一个用作写磁头(122)的感应磁头(122)的组合磁头，并且磁阻磁头(121)既用作读磁头(121)又用作磁场检测器(121)。
3、根据权利要求2的磁盘驱动装置，其特征在于进一步包括：
磁头放大电路(17)，其向磁阻磁头(121)提供偏置电流并且放大磁阻磁头(121)的输出，所述输出对应于磁阻磁头(121)的电阻值，该磁阻磁头(121)的电阻值随着施加到磁阻磁头(121)的磁场而变化；
A/D转换器(19)，其将由磁头放大电路(17)放大的磁阻磁头(121)的输出转换为数字值，并且
其中磁头加载装置(21)执行磁头加载操作，控制装置(21)将预置偏置电流从磁头放大电路(17)提供到磁阻磁头(121)，通过A/D转换器(19)接收由磁头放大电路(17)放大的磁阻磁头(121)的输出，并且处理该输出作为检测结果。
4、根据权利要求3的磁盘驱动装置，其特征在于控制装置(21)将A/D转换器(19)的输出电平V′(R)与预置阈值V′th进行比较并且当输出电平V′(R)超过预置阈值V′th时禁止磁头加载装置(21)执行磁头加载操作。
5、根据权利要求4的磁盘驱动装置，其特征在于A/D转换器的输出电平被用作阈值V′th，当有可能毁坏磁盘介质(11)的数据区(112)上的数据的最低磁场被外部施加到该磁盘驱动装置时所获得所述输出电平。
6、根据权利要求3的磁盘驱动装置，其特征在于控制装置(21)将A/D转换器(19)的输出电平V′(R)和当没有磁场外部施加到该磁盘驱动装置时所获得的A/D转换器(19)的输出电平V′c之间差值ΔV′(＝V′(R)-V′c)与由输出电平V′c和当有可能毁坏磁盘介质(11)的数据区上的数据的最低磁场被外部施加到该磁盘驱动装置时所获得的A/D转换器(19)的输出电平V′th之间的差值V′th-V′c表示的阈值ΔV′th进行比较，并且当ΔV′超过ΔV′th时禁止磁头加载装置(21)执行磁头加载操作。
7、根据权利要求6的磁盘驱动装置，其特征在于没有磁场外部施加到该磁盘驱动装置的A/D转换器(19)的输出电平V′c在生产磁盘驱动装置的过程中被测量并且用作只有磁阻磁头(121)独有的电压信号电平。
8、根据权利要求7的磁盘驱动装置，其特征进一步包括：
存储单元(22)，其预先存储输出电平V′c；和
温度传感器(26)其测量磁盘驱动装置的温度，并且
其中控制装置(21)根据温度传感器(26)所测量的磁盘驱动装置的温度校正存储在存储单元(22)中的输出电平V′c。
9、根据权利要求1的磁盘驱动装置，其特征在于缩进机构(10)为靠近磁盘介质(11)的外围设置的斜台机构(10)。
10、根据权利要求1的磁盘驱动装置，其特征在于缩进机构(113)为与磁盘介质(11)上的数据区(112)分别获得的非数据区(113)。
11、一种磁盘驱动装置，其特征在于包括：
磁盘介质(11)，其包括在其上记录数据的数据区；
致动器(13)，其支撑用于从磁盘介质(11)的数据区(112)读取数据或写入数据到磁盘介质(11)的数据区(112)的磁头，并且沿磁盘介质(11)的径向方向驱动该磁头(12)；
磁头缩进机构(10，113)，磁头(12)从磁盘介质(111)的数据区(112)缩进所述磁头缩进机构；
磁场检测器(121，30)，其检测外部施加的磁场；
CPU21，其执行磁头加载操作以驱动致动器，并且将磁头(12)从磁头缩进机构(10，113)移动到磁盘介质(11)的数据区(112)上，当磁头(12)被缩进磁头缩进机构(10，113)时，CPU(21)检查从磁场检测器(121，30)所获得的检测结果并且根据检测结果禁止执行磁头加载操作。
12、根据权利要求11的磁盘驱动器装置，其特征在于磁头(12)为包括一个用作读磁头(121)的磁阻磁头(121)和一个用作写磁头(122)的感应磁头(122)的组合磁头，并且磁阻磁头(121)既用作读磁头(121)又用作磁场检测器(121)。
13、根据权利要求12的磁盘驱动装置，其特征在于进一步包括：
磁头放大电路(17)，其向磁阻磁头(121)提供偏置电流并且放大磁阻磁头(121)的输出，所述输出对应于磁阻磁头(121)的电阻值，该磁阻磁头(121)的电阻值随着施加到磁阻磁头(121)的磁场而变化；
A/D转换器(19)，其将由磁头放大电路(17)放大的磁阻磁头(121)的输出转换为数字值，并且
其中当CPU(21)执行磁头加载操作时，CPU(21)将预置偏置电流从磁头放大电路(17)提供到磁阻磁头(121)，通过A/D转换器(19)接收由磁头放大电路(17)放大的磁阻磁头(121)的输出，并且处理该输出作为检测结果。
14、一种控制磁驱动器中的磁头加载操作将磁头(12)从磁头缩进机构(10，113)移动到磁盘介质(11)上的数据区的方法，该方法的特征在于包括：
当执行磁头加载操作时检测由磁场检测器(121，30)外部施加到该磁盘驱动器的磁场；
接收从磁场检测器(121，30)所获得的检测结果；
根据由磁场检测器(121，30)所获得的检测结果通过执行磁头加载操作确定记录在磁盘介质(11)的数据区上的数据是否有可能被毁坏；
根据检测结果确定是否执行磁头加载操作还是禁止磁头加载操作。
15、根据权利要求14的该方法，其特征在于磁头(12)为包括一个用作读磁头(121)的磁阻磁头(121)和一个用作写磁头(122)的感应磁头(122)的组合磁头，并且磁阻磁头(121)被用作磁场检测器(121)。
16、根据权利要求15的该方法，其特征在于还包括当执行磁头加载操作时，将预置偏置电流从放大磁阻磁头(121)的输出的磁头放大电路(117)提供到磁阻磁头(121)，并且
其中由磁头放大电路(17)放大的磁阻磁头的输出通过A/D转换器(19)被接收并且被处理作为检测结果。
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