CN1282966C - 光盘介质及光盘记录/再现装置 - Google Patents

Abstract

在一种光盘介质中，在一个特定的径向位置处通过第一和第二耦合部分(3和4)耦合脊记录轨道(1)以形成一个倾斜检测标记SM。

Description

光盘介质及光盘记录/再现装置

本发明请求先前日本专利申请JP2003-62803的优先权，该申请的内容被包含于此作为参考。

技术领域

本发明涉及一种利用较小的光点来记录和再现信息或数据的光盘介质，还涉及一种光盘记录/再现装置。

背景技术

为了保护具有微米量级厚度的记录层，通常使用光学系统来完成光盘的数据记录/再现(读/写)操作。具体地说，利用物镜通过一个透明的光盘基板来形成小光点，对于CD(高密度盘)，所述光盘基板具有1.2mm的厚度，对于DVD(数字化视频光盘)，所述光盘基板具有0.6mm的厚度。

已知在上面所提到的光学系统中，在光盘基板和物镜之间的相对倾斜可能会引起光学波前像差，其结果是导致光点的放大或不匀称性，而这将使记录/再现(读/写)性能恶化。

光盘介质一般为碟状或圆形。因此，当光盘介质的中间部分被置于光盘记录/再现装置的转轴上时，光盘介质经常在径向上发生与以螺旋方式形成的记录轨道相垂直的倾斜。

为了抑制由上述的倾斜所造成的记录/再现性能的恶化，光盘介质的标准限定了制作光盘介质的一个容许倾斜度。另一方面，所述光盘记录/再现装置采用倾斜控制，在该倾斜控制中检测光盘介质的倾斜度，并根据光盘介质的倾斜度来改变和调整物镜的倾斜度，从而确保稳定的记录/再现性能。

在所述倾斜控制中，如何检测光盘介质的倾斜度是个难题。

作为一种已知的技术，提出了一种利用DVD-RAM(随机存取存储器)中的预留凹坑来检测倾斜度的方法。参见图1，DVD-RAM的预留凹坑部分具有一种轨道结构，该结构将在下文中被描述。脊记录轨道1和槽记录轨道2被交替排列。在脊记录轨道1和槽记录轨道2之间的边界线上形成多个第一预留凹坑14和多个第二预留凹坑15。第一和第二预留凹坑14和15在从每个脊记录轨道1和槽记录轨道2的角度观察的左侧和右侧交替排列。

一旦光盘介质在径向上发生垂直于记录轨道的倾斜，在像差的影响下，光点的强度分布在相对于记录轨道中心的左侧和右侧变得不对称。例如，假设光点沿着如图中用虚线所画的槽记录轨道。在发生倾斜之前，经过每个第一预留凹坑14的第一推挽信号的幅度等于经过每个第二预留凹坑15的第二推挽信号，且符号相反。一旦发生倾斜，第一和第二推挽信号的幅度就会不同，这是因为光点是不对称的。因此，通过在光点经过第一和第二预留凹坑时检测推挽信号的信号电平，就能够检测到所述倾斜。

然而，不仅可以通过倾斜光盘介质来改变推挽信号的信号电平，而且当第一和第二预留凹坑没有在相对于记录轨道中心的左侧和右侧的对称位置处精确地形成、而是被移位或偏离该位置时，也能使推挽信号的电平发生改变。在具有亚微米量级记录轨道间隔的光盘介质中，很难在精确的凹坑位置处形成预留凹坑。因此，不可能判别出推挽信号的信号电平的改变实际是由光盘介质的倾斜所产生的，还是由预留凹坑的定位误差产生的。

在利用蓝光光源的下一代高密度光盘中，进一步降低了容许倾斜度。因此，需要一种可靠性较高的检测方法。

公开号为(JP-A)No.2001-118274的日本专利中披露了一种槽，其包括交替耦合的摆动槽部件和直槽部件，以用于检测光盘介质的倾斜。所述摆动槽部件有具有摆动结构的相对侧壁。所述直槽部件具有不需被摆动的、直形的相对侧壁。

公开号为(JP-A)No.H10-302319的日本专利中披露了一种光学记录介质，其脊部分或槽部分具有这样一种部件，其平行于轨道方向的中心线偏离所述记录轨道中心。

发明内容

本发明的目标是提供一种光盘介质和一种能眵获取倾斜检测信号的、适于实际使用并具有高度可靠性的光盘记录/再现装置。

根据本发明的一种光学记录介质和根据本发明的一种光盘记录/再现装置如下：

(1)一种光盘介质(6)，其具有一种螺旋形记录轨道(8)，其中：

所述光盘介质包括多个在介质上的多个径向位置处形成的倾斜检测区域(7)，每个倾斜检测区域具有多个特殊标记(SM)，用于在介质的单圈旋转中检测介质的多个倾斜度。

(2)一种根据(1)中的光盘介质，其中所述螺旋形记录轨道在介质的径向上被分成多个区域(9)，其中：

每个倾斜检测区域都位于一个区域(10)中，其中所述区域(10)是在区域之间的区域边界附近所形成的，并且在记录数据的过程中不使用该区域。

(3)一种根据(1)中的光盘介质，其中所述具有预定的线性记录密度的螺旋形记录轨道被分成具有预定段长的多个段(11)，并被添加了地址信息，其中：

每个检测区域都位于径向位置附近的记录轨道上，其中在该处介质的单圈的记录轨道长度对应于段长的整数倍。

(4)一种根据(1)中的光盘介质，其中：

在所述介质的径向上周期性地形成多个槽，所述光盘介质具有作为所述记录轨道的所述槽或所述槽之间的多个脊，或具有作为所述记录轨道的所述槽和所述脊这两者；

每个特殊标记由在记录轨道所延伸于的寻轨方向上彼此紧密相邻地排列的第一和第二耦合部分(3和4)形成，作为耦合槽而形成的第一耦合部分(3)的深度基本上等于槽深度且在寻轨方向上的长度大于槽的槽间距的两倍，所述第一耦合部分用于耦合特定的一个槽和在相对两侧上与该特定槽相邻的两个槽中的一个槽，作为耦合槽而形成的所述第二耦合部分(4)的深度基本上等于槽深度且在寻轨方向上的长度大于槽间距的两倍，所述第二耦合部分用于耦合特定的槽和两个槽中的另一个槽。

(5)一种根据(1)中的光盘介质，其中：

在介质的径向上周期性地形成多个槽，所述光盘介质具有作为记录轨道的槽和在槽之间的脊；

每个特殊标记由在记录轨道所延伸于的寻轨方向上彼此紧密相邻地排列的第一和第二耦合部分(3和4)形成，作为耦合脊而形成的第一耦合部分(3)的高度基本上等于脊的高度且在寻轨方向上的长度大于槽的槽间距的两倍，所述第一耦合部分用于耦合特定的一个脊和在相对两侧上与该特定脊相邻的两个脊中的一个脊，作为耦合脊而形成的所述第二耦合部分(4)的高度基本上等于脊的高度且在寻轨方向上的长度大于槽间距的两倍，所述第二耦合部分用于耦合特定的脊和两个脊中的另一个脊。

(6)一种光盘记录/再现装置，用于在光盘介质上记录或再现数据，所述光盘介质包括：

多个槽，作为记录轨道；和

多个特殊标记(SM)，每个特殊标记由在记录轨道所延伸于的寻轨方向上彼此紧密相邻地排列的第一和第二耦合部分(3和4)形成，所述第一耦合部分(3)用于耦合特定的一个槽和在相对两侧上与该特定槽相邻的两个槽中的一个槽，所述第二耦合部分(4)用于耦合特定的槽和两个槽中的另一个槽，其中：

当光点沿着记录轨道移动时，所述装置根据每个第一和第二耦合部分处的反射光线的变化量来检测介质的介质倾斜度。

(7)一种根据(6)中的光盘记录/再现装置，其中：

利用介质倾斜度的平均值来执行倾斜控制，其中所述倾斜度是在介质单圈旋转中在特殊标记处检测到的。

(8)一种根据(6)中的光盘记录/再现装置，其中：

当对记录轨道执行记录操作或再现操作时，利用在记录轨道的内侧上最近倾斜检测区域中所检测到的介质倾斜度的值来执行倾斜控制。

(9)一种光盘记录/再现装置，用于在光盘介质上记录或再现数据，所述光盘介质包括：

多个脊，作为记录轨道；和

多个特殊标记(SM)，每个特殊标记由在记录轨道所延伸于的寻轨方向上彼此紧密相邻地排列的第一和第二耦合部分(3和4)形成，所述第一耦合部分(3)用于耦合特定的一个脊和在相对两侧上与该特定脊相邻的两个脊中的一个脊，所述第二耦合部分(4)用于耦合特定的脊和两个脊中的另一个脊，其中：

当光点沿着记录轨道移动时，所述装置根据每个第一和第二耦合部分处的反射光线的变化量来检测介质的介质倾斜度。

(10)一种根据(9)中的光盘记录/再现装置，其中：

利用介质倾斜度的平均值来执行倾斜控制，其中所述倾斜度是在介质的单圈旋转中在特殊标记处所检测到的。

(11)一种根据(9)中的光盘记录/再现装置，其中：

当对记录轨道执行记录操作或再现操作时，利用在记录轨道的内侧上最近的倾斜检测区域中所检测到的介质倾斜度的值来执行倾斜控制。

根据本发明，有可能实现一种磁盘介质或一种能够获得稳定且可靠的倾斜检测信号的光盘记录/再现装置。

附图说明

图1示出了一种现有的带有预留凹坑的记录轨道；

图2示出了一种光盘介质的倾斜特性；

图3示出了根据本发明实施例的一种光盘介质；

图4示出了本发明实施例的一种特殊标记；

图5A到5C是用于描述本发明的检测特性的视图；

图6是用于描述本发明的检测特性的视图；

图7是用于描述本发明的检测特性的视图；

图8示出了根据本发明其他实施例的一种特殊标记；

图9A和9B是用于描述一种具有区域结构的介质的视图；

图10A和10B是用于描述一种根据本发明其他实施例的特殊标记的视图；

图11示出了一种具有CLV结构的光学记录介质；

图12示出了一种根据本发明其他实施例的特殊标记的视图；

图13示出了一种根据本发明其他实施例的特殊标记的视图；

图14示出了一种根据本发明其他实施例的特殊标记的视图；以及

图15示出了一种根据本发明的一个实施例的光盘记录/再现转置。

具体实施方式

现在，将参照附图来描述本发明的几个优选实施例。

在本发明中，为了获取一稳定且可靠的倾斜检测信号，在一光盘介质上预先形成一种检测特性极好的特殊标记，而不需利用用于倾斜检测的预定格式标题。然而，形成特殊标记的标记区域在用作记录和再现数据的记录轨道的记录/再现特性方面是较差的。

在光盘表面内的不同位置形成更多的特殊标记，一方面增加了用于检测的时机次数以便获取一个稳定且可靠的倾斜检测信号，但在另一方面却降低了数据存储容量。在本发明中，测定并检查光盘介质的倾斜特性以便确定特殊标记的最有效的排列。

图2示出了检查光盘介质6在径向上发生的介质倾斜在平面内的分布结果。分别画出了由两个箭头所画出的径向位置和圆周位置所决定的倾斜变化。相对于径向位置，倾斜度朝着外周逐渐改变并增加。在圆周方向上的倾斜变化。不大并且通常显示出基本上类似于正弦波的波形。360°的单圈等于一正弦波的单循环。

考虑到上述内容，本发明提出了如图3所示的排列。

在光盘介质6的整个表面上形成螺旋形记录轨道8。在光盘介质6的多个径向位置上离散地形成多个倾斜检测区域7。如图2中所示出的倾斜变化特性与径向位置的关系曲线，在大多数磁性介质中，所述倾斜通常从内周朝着外周单调地改变。盘介质很少显示出复杂的变化。然而，这种盘介质在其他特性(诸如再现特性)方面通常较差，因此就必加以考虑。因此，仅通过在内周、中间及外周大约三个位置处形成倾斜检测区域7，就有可能从总体上准确地估计出所述光盘介质的倾斜分布。因此，甚至在除了倾斜检测区域7之外的其余区域都能进行所述倾斜控制。虽然在图3中只示出了一部分螺旋形记录轨道8，但是如上所述的，螺旋形记录轨道8几乎是在光盘介质的整个表面上形成的。倘若所述倾斜检测区域7不能在数据记录区域内形成，则倾斜检测区域7可能仅仅在不被用作数据记录区域的内周和外周形成。

在圆周方向上，如上所述，以正弦波的形式显示出了倾斜变化。因此，在每个倾斜检测区域7中，至少在圆周方向上的基本等间隔的四个位置处形成多个特殊标记(将在稍后描述)。通过在这些位置处检测所述倾斜并计算倾斜度的平均值，有可能以实际上可以获得的准确度来获取单圈360°的平均倾斜度。

在一个区域内有更多数目的倾斜检测区域或更多数目的特殊标记，能使得检测更加稳定和可靠。无论如何，依照每一个单独的光盘介质的特性，选择一个最佳数目。

在前面的描述中，假定仅仅使用在圆周方向上的单个平均值。可选地，为了在倾斜控制中的使用，可以增加特殊标记的数目以便检测在圆周方向上的变化的模式。

接着，将描述既具有脊记录轨道又具有槽记录轨道的脊/槽结构的光盘介质。

如图4中所示的那些槽脊可以有效地用作特殊标记SM。在光盘基板5上形成所述脊和槽记录轨道1和2。在该图中，第一耦合部分3被构成为脊结构，用于耦合中间的脊记录轨道1和左侧的记录轨道1。另一方面，第二耦合部分4被构成为脊结构，用于耦合中间的脊记录轨道1和右侧的记录轨道1。

通过以下方式可以容易地形成每个耦合部分3和4：在为了形成光盘基板5的材料盘中的槽结构而执行的暴露步骤期间，保持脊结构并且不暴露形成槽的部分。除了如结合现有技术所描述的槽之外，上述结构不需形成额外的凹坑。因此，上述结构的优越性在于：检测特性不受凹坑位置准确性的影响。

每个耦合部分3和4的长度都必须大于某个测量值，以便避免槽记录轨道2的中断部分的变形影响。要注意，在记录/再现操作中所用的光点的直径通常等于记录轨道间隔。考虑到上述因素，每个耦合部分3和4的长度都不小于槽记录轨道2中邻近的轨道间的间隔的两倍。通过这种结构可以获取稳定的信号。因此，如果所述长度不小于间隔的两倍，就有可能保证其长度明显大于光点直径的耦合部分3和4的存在。然而，如果每个耦合部分3和4的长度过长，则随后的记录轨道的操作会受到影响。因此，必须把所述长度抑制在一范围内，以使伺服性能不受影响。

参照图5A到5C，将描述在具有上述的耦合部分3和4的记录轨道上信号的再现性能。如图5A中所示出的，光点12沿着带有第一和第二耦合部分3和4的记录轨道移动。

当光盘介质没有被倾斜时，随着来自光点的反射光线的变化量获得了图5B中的波形。在第一和第二耦合部分3和4的位置处，槽的宽度看起来好像被加宽，从而增加了所反射光线的量。由于光点的形状在左侧和右侧是对称的，所以在耦合部分3和4处所增加的量彼此相等。另一方面，如果在垂直于记录轨道的径向上发生了所述倾斜，则光点的形状在左侧和右侧变得不对称。在这种情况下，反射光线量具有图5C中所示的波形。具体地说，在耦合部分3和4中的一处增加反射光线量而在另一个处降低反射光线量。根据第一和第二耦合部分3和4的反射光线量的不同，可以检测到所述倾斜。根据哪一部分的反射光线量增加，就可以检测到所述倾斜的方向。

参照图6，示出了在每个第一耦合部分3和第二耦合部分4处倾斜和反射光线数目之间的关系。在下列条件下进行测量：

光源波长：405nm

物镜的NA(数值孔径)：0.65

光盘基板的厚度：0.6mm

记录轨道的宽度：0.34μm

槽的深度：λ/5

在没有槽的情况下，坐标上的反射光线量被反射面上的反射光线量标准化。从图中看到，在第一和第二耦合部分3和4处反射光线的变化量相对于倾斜度的变化显示出不同的变化模式。

参照图7，其中绘制出在第一和第二耦合部分3和4处的反射光线量间的差异与正负倾斜度的关系曲线图。如从图中所看到的，有可能灵敏地检测到倾斜方向以及如0.1度那么小的倾斜量，并且即使在使用蓝光光源的下一代高密度光盘中也有可能确保足够的性能。

在图7中，画出了在第一和第二耦合部分(3和4)处的推挽信号幅度之差与负、正倾斜度的关系曲线图。如从图中看到的，很显然，信号幅度之差随着倾斜度没有太大改变。假设信号幅度的变化在很大程度上依赖于轨道偏移或透镜的移位。考虑到上述情况，根据反射光线数目的检测，通过推挽信号来补偿由轨道偏移或透镜移位所引起的光点位置的偏差。在这种情况下，有可能无误差地检测所述倾斜度。

参照图4和5A，第一和第二耦合部分3和4不必彼此相邻，而是可以在寻轨方向上彼此分离。然而，为了使第一和第二耦合部分3和4具有同样的倾斜度，最好把第一和第二耦合部分3和4安排成彼此紧密相邻。考虑到可靠性，人们希望从彼此紧密相邻的第一和第二耦合部分3和4处的反射光线量之间的差值中获得倾斜度。

第一和第二耦合部分3和4可以在不同的记录轨道上形成，而不是在同一记录轨道的左侧和右侧上形成。可选地，单个耦合部分可以从左和右记录轨道被单独地观察到，以便获得反射光线量，其代替在第一和第二耦合部分所获得的那些反射光线量。在这种情况下，由于在测量中所涉及的记录轨道是不同的，所以测量结果易于受两个不同轨道之间的槽的宽度的差异的影响。因此，有必要谨慎地设定测量条件。在按照磁盘规格定义耦合部分的情况下，当光点沿着带有耦合部分的所述槽记录轨道移动时，利用了在耦合部分的第一反射光线量R1和在除了所述耦合部分之外的某一普通轨道位置的第二反射光线量R2之间的比率R1/R2。

例如，在结合图6所描述的条件下，比率R1/R2可能被规定成不小于1.10(R1/R2≥1.10)。

作为特殊标记SM，不仅可以利用如图4中所示出的相邻脊记录轨道1之间的上述脊耦合结构，还可以利用图8中所画出的槽耦合结构。参照图8，相邻槽记录轨道2是通过在光盘基板5上所形成的，作为第一和第二耦合部分3和4的耦合槽耦合的。在这种情况下，在为光盘基板5准备材料盘期间，将不同于用来形成槽记录轨道的暴露光点的其他光点照射在一部分脊形成部分上，以便形成用于耦合两个相邻槽的所述耦合槽。

在上述特殊标记具有上述槽结构的情况下，则所述光点沿着槽记录轨道2移动以检测所述倾斜。而且，如果图8中的特殊标记SM和图4中的特殊标记SM都在倾斜检测区域7(图3)中形成，就有可能根据脊和槽记录轨道1和2检测所述倾斜。

参照图3，将描述倾斜检测区域7的位置。

在可读类型的光盘介质6中，记录轨道8被分成多个具有预定长度的段(将在稍后举例说明)。诸如地址这样的格式信息被事先记录在每个段中。在具有脊/槽结构的光盘介质6中，通过预留凹坑或摆动准备出的预定格式信息可以经常被彼此相邻的脊记录轨道和槽记录轨道共享。在这种情况中，很难采用CLV(恒定线速度)结构，其中在该结构中，线性记录密度在整个盘介质表面上都是恒定的。因此，使用了区域CAV(恒定角速度)结构或区域CLV结构。在区域CAV或CLV结构中，所述光盘介质6被分成在径向上的多个区域和在每个区域内相邻轨道间的径向上对齐的段。

参照图9A，将描述一种区域结构的光盘介质6。螺旋形记录轨道8在径向上被分成多个区域9。在具有区域结构的光盘介质6中，需要沿着区域边界转换旋转速度以致不能稳定地检测所述格式信息。因此，保留了一般不用于原始数据记录区域的几个轨道(图9B中的未记录轨道10)。

在本发明中，在区域边界的未记录轨道10被用作图3中的倾斜检测区域7。参见图9B，示出了排列在区域边界附近的特殊标记的一个例子(包括第一和第二耦合部分3和4)。在区域边界的内侧，所述未记录轨道10在其相对的两侧含有脊记录轨道1和槽记录轨道2的组合。在组合中的脊记录轨道1的相对两侧上，形成了第一和第二耦合部分3和4。在所述组合的相对两侧，未记录轨道10含有四对彼此相邻的脊记录轨道1和槽记录轨道2。

如果在段内的预定位置形成特殊标记，则可以通过检测格式信息来得知特殊标记的位置。因而，能够获得稳定的检测特性。

具有作为特殊标记的耦合部分的记录轨道能够形成于区域边界的外侧。这里要注意，如果特殊标记是横跨边界形成的，则很难检测段的地址信息。在这种情况下，需要搜索特殊标记的位置。

因此，在具有脊/槽结构的所述光盘介质中，在区域边界附近的倾斜检测区域(未记录轨道10)如图8B所示。通过这种结构，保留了所述检测区域而不需形成一个新的未记录区域。

接着，将描述具有一预定线性记录密度的CLV结构的光盘介质的一个例子。

在所述CLV结构的光盘介质中，所述槽通常被用作记录轨道。这是因为，通过摆动所述槽，很容易把格式信息放在记录轨道上，形成为记录轨道的导轨。

如图10A中所示出的，在上述记录轨道中，在倾斜检测区域7中形成特殊标记是比较有效的。在这种情况下，以类似于图8B中的方式，在相邻的槽记录轨道2之间的倾斜检测区域7中形成了槽结构的第一和第二耦合部分3和4。倾斜检测的原理和特性类似于那些在脊/槽结构的情况下的倾斜检测的原理和特性。在沿着记录轨道上，根据在两个耦合部分处的反射光线量的差值来检测所述倾斜。

即使把数据记录在具有耦合部分3和4的记录轨道上，也不能正常读取所述数据，这是由于反射光线量是变化的。因此，具有耦合部分3和4的记录轨道不能被用作原始数据记录区。因此，必须保留至少3个记录轨道作为倾斜检测区域7。然而，如果留着这些记录轨道不被记录，在记录后通过记录凹坑来执行寻轨伺服的可记录光盘中就会出现问题。在这种情况下，当数据被记录在倾斜检测区域7之前和之后的记录轨道上时，希望在倾斜检测区域7中记录空数据。在这种情况下，如图10B所示，除了特殊标记和它的邻近标记之外，还有一部分特殊标记周围的记录轨道被填充了记录凹坑20用以存储空数据。于是就有可能检测所述倾斜。

接着，将描述倾斜检测区的半径。

参见图11，其示出了CLV结构的光盘介质6。所述螺旋型记录轨道8被分成多个预定长度的段。在CLV结构的情况下，在邻近记录轨道中的段之间的所述位置关系是不固定的，而在径向位置上是变化的。因此，360°的单圈长度等于段长度的整数倍的径向位置被选作倾斜检测区域7的位置。在该部分，如图11的右侧所示的，段11基本上在径向上对准。因此，在360°的单圈上有可能在段的特殊位置处形成特殊标记，就像在具有脊/槽结构的光盘介质中一样。

例如，假设在24mm的径向位置上，在360°的单圈上只形成10个段。这就是说每个段具有2.4mm的长度。于是，在每个径向位置处半径增加了2.4mm，在360°的单圈上精确地形成了整数个地址段。尤其是，得到26.4mm，28.8mm，和31.2mm的径向位置来作为可以形成倾斜检测区域7的径向位置。如果记录轨道延伸到58mm的半径处，就可以形成14个倾斜检测区域7。

在前述实施例中，通过脊和槽结构的组合来实现了特殊标记。但并不局限于此，可以使用各种其它类型的特殊标记。例如，就确保产品的位置准确性而言，可以利用在脊和槽之间的边界处所形成的预留凹坑，就像上述的现有技术那样。然而，需要在寻轨方向上确保一确定的凹坑长度，而不需利用为格式信息所共有的预留凹坑，以便完成稳定的信号检测。

在前面叙述中，假定检测到在垂直于记录轨道的径向上的倾斜来描述特殊标记。可替换地，如图12所示，有可能通过提供另外一种图案来检测在寻轨方向上的倾斜。

参见图12，在第一和第二耦合部分3和4附近的脊记录轨道1和槽记录轨道2上还形成了微小的图案13。在所示的实施例中，利用脊结构形成第一和第二耦合部分3和4，并且还利用脊结构形成微小图案13。在所示的例子中，通过槽的周期性间断或中断来实现微小图案13(通过插入脊来实现槽的周期性间断或中断)。每个中断都不大于光点的直径。当在寻轨方向上发生倾斜时，从微小图案13处所获得的反射光线的变化幅度被降低了，并且光点直径由于像差的影响被加长。因此，能眵通过变化幅度的改变来检测在寻轨方向上的倾斜。

例如，在利用NRZI(反转不归零)记录1-7个代码的光盘介质的情况下，建议使用具有大约8T周期的信号。可以容易理解，图案的重复数量并不限于如图12中所示的那样少，而是可以是10个或更多个以便从包络上检测到幅度变化。在后面的例子中，将改善所述准确度。

如图13中所示，在槽记录轨道的情况下，利用槽记录轨道自身的槽的间断或中断来形成微小图案13。

此外，本发明还被用于原本不具有槽结构的ROM介质。参见图14，给利用凹坑序列所形成的记录轨道8配置倾斜检测区域7。在该倾斜检测区域7内，形成了具有第一和第二耦合部分4的特殊标记。所述特殊标记包括在记录轨道本身中的长凹坑，以及用于在所述长凹坑和每个相邻记录轨道的脊之间形成一个耦合部分的耦合凹坑。

参见图15，将描述根据一个实施例的一个光盘记录/再现装置。光盘介质6被安装在转轴16上并由光头17在其上记录/再现信息。根据从特殊标记处所检测到的反射光线量，一个倾斜检测电路检测在光盘介质和光头之间的倾斜度。一个倾斜控制电路在没有倾斜检测区域的情况下计算每个360°单圈中的平均值并估算数据区域的倾斜度，并发送一个控制信号给倾斜驱动电路。所述倾斜驱动电路响应于所述控制信号并驱动一个在光头17处所形成的倾斜装置等等。

例如，所述倾斜装置改变具有导轴的整个支架结构的倾斜度，其中所述导轴用于在径向上移动所述光头。在最近的可读DVD中，经常使用透镜传动机构，用于在聚焦方向和寻轨方向上细微地并准确地移动透镜。倾斜机构可使用在倾斜方向上也能移动透镜的传动机构。

在靠近倾斜检测区域的半径内，利用检测到的数值来执行倾斜控制。另一方面，可以用几种方式来执行在两个相邻倾斜检测区域之间的一个区域中的倾斜控制。

一种最简单的方法如下。在光盘介质中，从内周朝着外周，在螺旋形记录轨道上连续地进行记录/再现操作。因此，在经过一个倾斜检测区域之后，并且在记录/再现操作到达下一个倾斜检测区域之前，使用在刚刚经过的所述检测区域得到的最后检测值。当径向方向上的变化没有这么大并且倾斜检测区域可被设于某一特定频率时，这种方法是简单而有效的。

然而，如果在径向上只形成了几个倾斜检测区域，则在倾斜检测区域之间的区域中的倾斜必须通过内插等方法等进行估算。在这种情况下，所述倾斜在多个检测区域中被初步测量，并且在记录/再现操作之前存储检测值。

Claims (6)

1.一种具有螺旋形记录轨道(8)的光盘介质(6)，其中：

所述光盘介质包括在所述介质的多个径向位置上形成的多个倾斜检测区域(7)，每个所述的倾斜检测区域具有多个特殊标记(SM)，用来在所述介质的单圈旋转中检测所述介质的多个倾斜度；

在所述介质的径向上周期性地形成的多个槽，所述光盘介质具有作为所述记录轨道的所述槽或所述槽之间的多个脊，或具有作为所述记录轨道的所述槽和所述脊这两者；

每个所述的特殊标记由在所述记录轨道所延伸于的寻轨方向上彼此紧密相邻地排列的第一耦合部分(3)和第二耦合部分(4)形成，作为耦合槽而形成的第一耦合部分(3)的深度等于所述槽的深度且在所述寻轨方向上的长度大于所述槽的槽间距的两倍，所述第一耦合部分用于耦合所述多个槽的特定的一个槽和在相对两侧上与所述特定槽相邻的两个槽中的一个槽，作为耦合槽而形成的所述第二耦合部分(4)的深度等于所述槽的深度且在所述寻轨方向上的长度大于所述槽间距的两倍，所述第二耦合部分用于耦合所述特定的槽和所述两个槽中的另一个槽。

2.一种根据权利要求1的光盘介质，其中所述螺旋形记录轨道在所述介质的径向上被分成多个区(9)，其中：

每个所述倾斜检测区域都位于一个区域(10)内，所述区域(10)是在所述区之间的区域边界附近形成的且不被用来记录数据。

3.一种根据权利要求1的光盘介质，其中所述螺旋形记录轨道具有预定的线性记录密度，并被分成具有预定段长并带有地址信息的多个段(11)，其中：

每个所述检测区域都位于一个径向位置的记录轨道上，在所述径向位置处，所述介质的单圈记录轨道长度对应于所述段长的整数倍。

4.一种具有螺旋形记录轨道(8)的光盘介质(6)，其中：

所述光盘介质包括在所述介质的多个径向位置上形成的多个倾斜检测区域(7)，每个所述的倾斜检测区域具有多个特殊标记(SM)，用来在所述介质的单圈旋转中检测所述介质的多个倾斜度；

在所述介质的径向上周期性地形成的多个槽，所述光盘介质具有作为所述记录轨道的所述槽和所述槽之间的脊这两者；

每个特殊标记由在记录轨道所延伸于的寻轨方向上彼此紧密相邻地排列的第一耦合部分(3)和第二耦合部分(4)形成，作为耦合脊而形成的所述第一耦合部分(3)的高度等于所述脊的高度且在所述寻轨方向上的长度大于所述槽的槽间距的两倍，所述第一耦合部分用于耦合所述多个脊的特定的一个脊和在相对两侧上与所述特定脊相邻的两个脊中的一个脊，作为耦合脊而形成的所述第二耦合部分(4)的高度等于所述脊的高度且在寻轨方向上的长度大于所述槽间距的两倍，所述第二耦合部分用于耦合所述特定脊和所述两个脊中的另一个脊。

5.一种根据权利要求4的光盘介质，其中所述螺旋形记录轨道在所述介质的径向上被分成多个区(9)，其中：

每个所述倾斜检测区域都位于一个区域(10)内，所述区域(10)是在所述区之间的区域边界附近形成的且不被用来记录数据。

6.一种根据权利要求4的光盘介质，其中所述螺旋形记录轨道具有预定的线性记录密度，并被分成具有预定段长并带有地址信息的多个段(11)，其中：

每个所述检测区域都位于一个径向位置的记录轨道上，在所述径向位置处，所述介质的单圈记录轨道长度对应于所述段长的整数倍。

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