CN118067047A - 一种工件表面光滑度评估系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及工件精加工领域，具体涉及一种工件表面光滑度评估系统，包括转动平台、光束发射机构、光束接收机构和处理器。光束发射机构包括转动组件和多个光束发射器。光束发射器均安装于转动组件并沿转动组件的转动方向均匀间隔设置，光束发射器的朝向均相同并均朝向转动平台设置，驱动组件用于驱动光束发射器沿其转动方向进行运动。转动组件靠近转动平台一侧的转动切线方向与转动平台靠近转动组件一侧的转动切线方向相反。光束接收机构用于接收由光束发射器发射并经待检测工件表面反射的的光束信号，并检测其光强度。其能够实现对工件表面光滑度、表面镜面效果的自动检测，同时能对工件在非静止状态下的表面光滑度、表面镜面效果进行评价。

Description

一种工件表面光滑度评估系统

技术领域

本发明涉及工件精加工领域，具体而言，涉及一种工件表面光滑度评估系统。

背景技术

对于表面光滑度、表面镜面效果要求较高的工件，现有的检测方式仍然主要依赖于人工，其检测精度低，而且检测波动大。此外，现有的检测方法主要是对工件在静态下进行检测，无法反映工件在使用、运动过程中的表面光滑度、表面镜面效果的情况，检测结果的参考价值受到了局限。

有鉴于此，特提出本申请。

发明内容

本发明的目的在于提供一种工件表面光滑度评估系统，其能够实现对工件表面光滑度、表面镜面效果的自动检测，检测精度更高且更加稳定可靠，同时能够对工件在非静止状态下的表面光滑度、表面镜面效果进行评价，检测结果具有更高的参考价值。

本发明的实施例是这样实现的：

一种工件表面光滑度评估系统，其包括：转动平台、光束发射机构、光束接收机构和处理器。

转动平台用于安装待检测工件。

光束发射机构包括转动组件和多个光束发射器。光束发射器均安装于转动组件并沿转动组件的转动方向均匀间隔设置，光束发射器的朝向均相同并均朝向转动平台设置，转动组件用于驱动光束发射器沿其转动方向进行运动。

转动组件的转动轴心线与转动平台的转动轴心线垂直并相交，光束发射器的光路垂直于转动组件的转动轴心线。转动组件靠近转动平台一侧的转动切线方向与转动平台靠近转动组件一侧的转动切线方向相反。

光束接收机构用于接收由光束发射器发射并经待检测工件表面反射的的光束信号，并检测其光强度。

处理器用于根据光束发射器的发射强度、光束发射器的转动情况和光束接收机构接收到的光束信号及其光强度来判断待检测工件的表面光滑度。

进一步的，转动组件包括：驱动轴、配合臂、圆形轨道、滑块、配合杆、定位块和连接臂。

驱动轴垂直于圆形轨道并相对圆形轨道偏心设置，配合臂沿驱动轴的径向设置，多根配合臂沿驱动轴的周向均匀间隔设置。

滑块滑动配合于圆形轨道。配合杆垂直于驱动轴，配合杆的一端铰接于滑块，另一端固定连接有固定柱，固定柱平行于驱动轴，固定柱贯穿配合臂远离驱动轴的一端并转动配合于配合臂。定位块固定连接于固定柱远离配合杆的一端。每个固定块均安装有光束发射器。

沿圆形轨道的周向，相邻两定位块构成一组，连接臂配合于同一组的两定位块之间，配合臂的两端分别铰接于同一组的两定位块，配合臂相对定位块的转动轴心线平行于驱动轴，且配合臂铰接于定位块靠近滑块的一侧。

进一步的，定位块靠近固定柱的一侧开设有配合槽，固定柱延伸至配合槽并与配合槽的槽壁固定连接，固定柱与配合槽的侧壁之间留有间隙。

配合臂靠近定位块的一侧固定连接有套筒，套筒套设于固定柱，固定柱与套筒转动配合，套筒延伸至配合槽。

定位块具有内腔，内腔靠近配合臂的一侧开设有与配合槽连通的第一开口，内腔远离配合臂的一侧开设有与外部连通的第二开口。套筒具有外齿圈，内腔中设置有直线往复运动结构，直线往复运动结构的运动方向垂直于驱动轴，直线往复运动结构与套筒之间由设于第一开口的传动齿轮传动配合。

光束发射器嵌设于定位块，光束发射器的发射口与定位块的表面齐平。定位块安装了光束发射器的表面设有条形清洁刷，条形清洁刷平行于驱动轴设置，条形清洁刷通过穿过第二开口的固定杆与直线往复运动结构的运动部连接。

进一步的，在条形清洁刷的运动方向上，定位块的两端均设置有挡板，挡板与定位块的表面平行间隔设置，挡板与定位块之间由连接块固定连接，连接块位于挡板远离光束发射器的一端。

挡板靠近定位块的一侧设置有钩部，钩部朝向定位块延伸的同时还朝远离光束发射器的一侧弯曲，钩部由弹性材料制成。

挡板与定位块之间的间距大于条形清洁刷的厚度，钩部靠近定位块的一端端部与定位块之间的间距小于条形清洁刷的厚度。

进一步的，圆形轨道的轨道壁设置有第一导电层和第二导电层，第一导电层和第二导电层均沿圆形轨道的周向延伸成弧形，第一导电层和第二导电层在驱动轴的轴向上间隔设置。第一导电层与供电电路的一极电性连接，第二导电层与供电电路的另一极电性连接。

滑块具有用于与第一导电层电性导通的第一触点和用于与第二导电层电性导通的第二触点，第一触点由第一导通线路与光束发射器的一极电性连接，第二触点由第二导通线路与光束发射器的另一极电性连接。

进一步的，滑块开设有圆形槽，配合杆通过一配合柱与滑块铰接，配合柱转动配合于圆形槽。

圆形槽的槽底设置有第一导电环和第一导电柱，第一导电环和第一导电柱均与圆形槽同轴设置，第一导电环环设于第一导电柱。第一触点和第一导电柱电性连接，第二触点和第一导电环电性连接。

配合柱的端部设置有第二导电环和第二导电柱，第二导电环和第二导电柱均与配合柱同轴设置，第二导电环环设于第二导电柱。第一导电环和第二导电环贴合，第一导电柱和第二导电柱贴合。

第二导电柱由第一导线与光束发射器的一极电性连接，第二导电环由第二导线与光束发射器的另一极电性连接，第一导线和第二导线经配合柱、配合杆和固定柱延伸至定位块并与光束发射器电性连接。

本发明实施例的技术方案的有益效果包括：

本发明实施例提供的工件表面光滑度评估系统在检测时，光束发射器的光束照射到待检测工件上，光束由待检测工件的表面反射后照射至光束接收机构。最后处理器根据光束接收机构接收到的光信号的具体情况对待检测工件的表面光滑度/表面镜面效果进行评估。

若待检测工件是合格品，其表面平整度、光滑度和镜面效果都是合格的，那么光束接收机构不仅能够顺利接收到光信号，而且接收到的光强度达到相应强度的。若待检测工件表面不平整，及待检测工件的表面不是标准平面，那么不平整处会导致光束的传播方向发生改变，就会导致光束接收机构接收不到光信号或者使接收到的光信号强度降低。若待检测工件表面镜面效果不合格，就会导致对光束的反射效果降低，也会导致光束接收机构接收到的光信号强度降低。因此，根据光束接收机构接收到的光信号的具体情况，可以判断待检测工件的表面情况是否合格。

总体而言，本发明实施例提供的工件表面光滑度评估系统能够实现对工件表面光滑度、表面镜面效果的自动检测，检测精度更高且更加稳定可靠，同时能够对工件在非静止状态下的表面光滑度、表面镜面效果进行评价，检测结果具有更高的参考价值。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的工件表面光滑度评估系统的整体构成示意图；

图2为工件表面光滑度评估系统的光束发射机构的光路示意图；

图3为光束发射机构的传动配合示意图；

图4为定位块的配合示意图；

图5为定位块表面的结构示意图；

图6为定位块侧方的结构示意图；

图7为第二导电层在圆形轨道上的配合示意图；

图8为第一导电层和第二导电层的电性连接关系示意图。

附图标记说明：

工件表面光滑度评估系统1000；转动平台100；光束发射机构200；驱动轴210；配合臂220；套筒221；圆形轨道230；第一导电层231；第二导电层232；滑块240；第一触点241；第二触点242；圆形槽243；第一导电环244；第一导电柱245；配合杆250；固定柱251；配合柱252；第二导电环253；第二导电柱254；第一导线255；第二导线256；定位块260；内腔261；第一开口262；第二开口263；直线往复运动结构264；条形清洁刷265；挡板266；连接块267；钩部268；连接臂270；光束发射器280；光束接收机构300；待检测工件2000。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“平行”、“垂直”等并不表示要求部件绝对平行或垂直，而是可以稍微倾斜。如“平行”仅仅是指其方向相对“垂直”而言更加平行，并不是表示该结构一定要完全平行，而是可以稍微倾斜。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参照图1~图8，本实施例提供一种工件表面光滑度评估系统1000，工件表面光滑度评估系统1000包括：转动平台100、光束发射机构200、光束接收机构300和处理器（图中未示出）。

转动平台100用于安装待检测工件2000。

光束发射机构200包括转动组件和多个光束发射器280。光束发射器280均安装于转动组件并沿转动组件的转动方向均匀间隔设置，光束发射器280的朝向均相同并均朝向转动平台100设置，转动组件用于驱动光束发射器280沿其转动方向进行运动。

转动组件的转动轴心线与转动平台100的转动轴心线垂直并相交，光束发射器280的光路垂直于转动组件的转动轴心线。转动组件靠近转动平台100一侧的转动切线方向与转动平台100靠近转动组件一侧的转动切线方向相反。

光束接收机构300用于接收由光束发射器280发射并经待检测工件2000表面反射的的光束信号，并检测其光强度。

处理器用于根据光束发射器280的发射强度、光束发射器280的转动情况和光束接收机构300接收到的光束信号及其光强度来判断待检测工件2000的表面光滑度。

具体的，转动组件包括：驱动轴210、配合臂220、圆形轨道230、滑块240、配合杆250、定位块260和连接臂270。

驱动轴210垂直于转动平台100的转动轴心线设置，驱动轴210设于转动平台100的上方并与转动平台100间隔设置。

驱动轴210垂直于圆形轨道230并相对圆形轨道230偏心设置，驱动轴210由驱动器（图中未示出）驱动，配合臂220沿驱动轴210的径向设置并与驱动轴210固定连接，多根配合臂220沿驱动轴210的周向均匀间隔设置。在本实施例中，配合臂220的数量为6根。

滑块240滑动配合于圆形轨道230，滑块240的数量也为6个。配合杆250垂直于驱动轴210，配合杆250位于配合臂220靠近圆形轨道230的一侧，配合杆250位于配合臂220和圆形轨道230之间。

配合杆250垂直于驱动轴210设置，配合杆250的一端铰接于滑块240，配合杆250相对滑块240的转动轴心线平行于驱动轴210。

配合杆250的另一端固定连接有固定柱251，固定柱251平行于驱动轴210，固定柱251贯穿配合臂220远离驱动轴210的一端并可转动地配合于配合臂220，定位柱贯穿至配合臂220远离配合杆250的一侧。定位块260固定连接于固定柱251远离配合杆250的一端，定位块260位于配合臂220远离配合杆250的一侧。每个固定块均安装有一光束发射器280。

沿圆形轨道230的周向，相邻两定位块260构成一组，每一组中的两个定位块260之间设置有一连接臂270，连接臂270配合于同一组的两定位块260之间，配合臂220的两端分别铰接于同一组的两定位块260之上，配合臂220相对定位块260的转动轴心线平行于驱动轴210，且配合臂220铰接于定位块260靠近滑块240的一侧。

基于以上设计，驱动轴210在转动过程中，带动6个光束发射器280同步沿圆形轨道230运动，且6个光束发射器280在转动过程中朝向始终是保持不变的。

工件表面光滑度评估系统1000特别适合对圆形工件进行检测。检测时，将圆形工件安装于转动平台100，并使转动平台100的转动轴心线与圆形工件的中心轴线重合，此时，驱动轴210的转动轴心线也就沿圆形工件的径向设置了。

检测时，光束发射器280的光束照射到待检测工件2000（圆形工件）上，光束由待检测工件2000的表面反射后照射至光束接收机构300。最后处理器根据光束接收机构300接收到的光信号的具体情况对待检测工件2000的表面光滑度/表面镜面效果进行评估。

其中，由于检测过程中光束发射器280是运动的，可以设置一个较大的光束接收机构300来同时接收所有的光束发射器280的光信号，也可以分别为每个光束发射器280配置一个对应的光束接收机构300，并根据光束发射器280的运动情况利用位移装置来相应调控光束接收机构300的位置。在设置光束接收机构300的位置时，满足：若待检测工件2000是合格品，光束接收机构300能够顺利接收到光束发射器280发出的光信号即可。

若待检测工件2000是合格品，其表面平整度、光滑度和镜面效果都是合格的，那么光束接收机构300不仅能够顺利接收到光信号，而且接收到的光强度达到相应强度的。

若待检测工件2000表面不平整，及待检测工件2000的表面不是标准平面，那么不平整处会导致光束的传播方向发生改变，就会导致光束接收机构300接收不到光信号或者使接收到的光信号强度降低。

若待检测工件2000表面镜面效果不合格，就会导致对光束的反射效果降低，也会导致光束接收机构300接收到的光信号强度降低。

因此，根据光束接收机构300接收到的光信号的具体情况，可以判断待检测工件2000的表面情况是否合格。

进一步的，定位块260靠近固定柱251的一侧开设有配合槽，固定柱251延伸至配合槽并与配合槽的槽壁固定连接，固定柱251与配合槽的侧壁之间留有间隙。

配合臂220靠近定位块260的一侧固定连接有套筒221，套筒221套设于固定柱251，固定柱251与套筒221转动配合，套筒221延伸至配合槽。

定位块260具有内腔261，内腔261靠近配合臂220的一侧开设有与配合槽连通的第一开口262，内腔261远离配合臂220的一侧开设有与外部连通的第二开口263。套筒221具有外齿圈（图中未示出），内腔261中设置有直线往复运动结构264，直线往复运动结构264的运动方向垂直于驱动轴210，直线往复运动结构264与套筒221之间由设于第一开口262的传动齿轮传动配合。

光束发射器280嵌设于定位块260，光束发射器280的发射口与定位块260的表面齐平。定位块260安装了光束发射器280的表面设有条形清洁刷265，条形清洁刷265平行于驱动轴210设置，条形清洁刷265通过穿过第二开口263的固定杆与直线往复运动结构264的运动部连接。

在条形清洁刷265的运动方向上，定位块260的两端均设置有挡板266，挡板266与定位块260的表面平行间隔设置，挡板266与定位块260之间由连接块267固定连接，连接块267位于挡板266远离光束发射器280的一端。

挡板266靠近定位块260的一侧设置有钩部268，钩部268朝向定位块260延伸的同时还朝远离光束发射器280的一侧弯曲，钩部268由弹性材料制成。

挡板266与定位块260之间的间距大于条形清洁刷265的厚度，钩部268靠近定位块260的一端端部与定位块260之间的间距小于条形清洁刷265的厚度。

在检测过程中，光束发射器280沿圆形轨道230运动时，固定柱251与配合臂220之间是存在相对转动的，通过该设计，借助固定柱251与配合臂220之间的相对运动来驱动条形清洁刷265，可以实现对光束发射器280的清洁，避免因为光束发射器280粘附灰尘而导致误检。

同时，挡板266和钩部268的设计能够将条形清洁刷265上的灰尘或絮状物清理下来，便于使条形清洁刷265长期保持较好的清洁效果。在本发明其他的实施例中，挡板266可以设置为与定位块260可拆卸式配合，从而便于对收集的灰尘进行清理。

进一步的，圆形轨道230的轨道壁设置有第一导电层231和第二导电层232，第一导电层231和第二导电层232均沿圆形轨道230的周向延伸成弧形，第一导电层231和第二导电层232在驱动轴210的轴向上间隔设置。第一导电层231与供电电路（图中未示出）的一极电性连接，第二导电层232与供电电路的另一极电性连接。

滑块240具有用于与第一导电层231电性导通的第一触点241和用于与第二导电层232电性导通的第二触点242，第一触点241由第一导通线路与光束发射器280的一极电性连接，第二触点242由第二导通线路与光束发射器280的另一极电性连接。

具体的，滑块240开设有圆形槽243，配合杆250通过一配合柱252与滑块240铰接，配合柱252转动配合于圆形槽243。

圆形槽243的槽底设置有第一导电环244和第一导电柱245，第一导电环244和第一导电柱245均与圆形槽243同轴设置，第一导电环244环设于第一导电柱245。第一触点241和第一导电柱245电性连接，第二触点242和第一导电环244电性连接。

配合柱252的端部设置有第二导电环253和第二导电柱254，第二导电环253和第二导电柱254均与配合柱252同轴设置，第二导电环253环设于第二导电柱254。第一导电环244和第二导电环253贴合并电性导通，第一导电柱245和第二导电柱254贴合并电性导通。

第二导电柱254由第一导线255与光束发射器280的一极电性连接，第二导电环253由第二导线256与光束发射器280的另一极电性连接，第一导线255和第二导线256经配合柱252、配合杆250和固定柱251延伸至定位块260并与光束发射器280电性连接。

也就是说，第一导电柱245、第二导电柱254和第一导线255构成了第一导通线路，第一导电环244、第二导电环253和第二导线256构成了第二导通线路。

其中，第一导电层231和第二导电层232设置于圆形轨道230靠近转动平台100的一侧，第一导电层231和第二导电层232的长度被设置为：同一时间最多有两个相邻的光束发射器280处于开启状态，如图7所示。

通过该设计，同一时间只有最多两个相邻的光束发射器280处于开启状态，随着转动的继续，还会出现只有一个光束发射器280开启的状态，有效地降低能耗。

另一方面，这样可以有效地降低对光束发射机构200的要求，同一时间只需设置最多可以接受两个光束发射器280的光信号的光束发射机构200即可。

在检测过程中，由于转动组件靠近转动平台100一侧的转动切线方向与转动平台100靠近转动组件一侧的转动切线方向相反，如图2所示，后开启的光束发射器280的光线在待检测工件2000上的投射位置会与前一个处于开启状态的光束发射器280的光线投射位置存在部分重叠，这样不仅可以有效地避免误检，而且还可以保证检测的连续性。

需要注意的是，可以通过调节光束发射机构200在待检测工件2000径向上的位置，来完成对整个待检测工件2000侧面的检测。

综上所述，本发明实施例提供的工件表面光滑度评估系统1000能够实现对工件表面光滑度、表面镜面效果的自动检测，检测精度更高且更加稳定可靠，同时能够对工件在非静止状态下的表面光滑度、表面镜面效果进行评价，检测结果具有更高的参考价值。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种工件表面光滑度评估系统，其特征在于，包括：转动平台、光束发射机构、光束接收机构和处理器；

所述转动平台用于安装待检测工件；

所述光束发射机构包括转动组件和多个光束发射器；所述光束发射器均安装于所述转动组件并沿所述转动组件的转动方向均匀间隔设置，所述光束发射器的朝向均相同并均朝向所述转动平台设置，所述转动组件用于驱动所述光束发射器沿其转动方向进行运动；

所述转动组件的转动轴心线与所述转动平台的转动轴心线垂直并相交，所述光束发射器的光路垂直于所述转动组件的转动轴心线；所述转动组件靠近所述转动平台一侧的转动切线方向与所述转动平台靠近所述转动组件一侧的转动切线方向相反；

所述光束接收机构用于接收由所述光束发射器发射并经所述待检测工件表面反射的的光束信号，并检测其光强度；

所述处理器用于根据所述光束发射器的发射强度、所述光束发射器的转动情况和所述光束接收机构接收到的光束信号及其光强度来判断所述待检测工件的表面光滑度。

2.根据权利要求1所述的工件表面光滑度评估系统，其特征在于，所述转动组件包括：驱动轴、配合臂、圆形轨道、滑块、配合杆、定位块和连接臂；

所述驱动轴垂直于所述圆形轨道并相对所述圆形轨道偏心设置，所述配合臂沿所述驱动轴的径向设置，多根所述配合臂沿所述驱动轴的周向均匀间隔设置；

所述滑块滑动配合于所述圆形轨道；所述配合杆垂直于所述驱动轴，所述配合杆的一端铰接于所述滑块，另一端固定连接有固定柱，所述固定柱平行于所述驱动轴，所述固定柱贯穿所述配合臂远离所述驱动轴的一端并转动配合于所述配合臂；所述定位块固定连接于所述固定柱远离所述配合杆的一端；每个所述固定块均安装有所述光束发射器；

沿所述圆形轨道的周向，相邻两所述定位块构成一组，所述连接臂配合于同一组的两所述定位块之间，所述配合臂的两端分别铰接于同一组的两所述定位块，所述配合臂相对所述定位块的转动轴心线平行于所述驱动轴，且所述配合臂铰接于所述定位块靠近滑块的一侧。

3.根据权利要求2所述的工件表面光滑度评估系统，其特征在于，所述定位块靠近所述固定柱的一侧开设有配合槽，所述固定柱延伸至所述配合槽并与所述配合槽的槽壁固定连接，所述固定柱与所述配合槽的侧壁之间留有间隙；

所述配合臂靠近所述定位块的一侧固定连接有套筒，所述套筒套设于所述固定柱，所述固定柱与所述套筒转动配合，所述套筒延伸至所述配合槽；

所述定位块具有内腔，所述内腔靠近所述配合臂的一侧开设有与所述配合槽连通的第一开口，所述内腔远离所述配合臂的一侧开设有与外部连通的第二开口；所述套筒具有外齿圈，所述内腔中设置有直线往复运动结构，所述直线往复运动结构的运动方向垂直于所述驱动轴，所述直线往复运动结构与所述套筒之间由设于所述第一开口的传动齿轮传动配合；

所述光束发射器嵌设于所述定位块，所述光束发射器的发射口与所述定位块的表面齐平；所述定位块安装了所述光束发射器的表面设有条形清洁刷，所述条形清洁刷平行于所述驱动轴设置，所述条形清洁刷通过穿过所述第二开口的固定杆与所述直线往复运动结构的运动部连接。

4.根据权利要求3所述的工件表面光滑度评估系统，其特征在于，在所述条形清洁刷的运动方向上，所述定位块的两端均设置有挡板，所述挡板与所述定位块的表面平行间隔设置，所述挡板与所述定位块之间由连接块固定连接，所述连接块位于所述挡板远离所述光束发射器的一端；

所述挡板靠近所述定位块的一侧设置有钩部，所述钩部朝向所述定位块延伸的同时还朝远离所述光束发射器的一侧弯曲，所述钩部由弹性材料制成；

所述挡板与所述定位块之间的间距大于所述条形清洁刷的厚度，所述钩部靠近所述定位块的一端端部与所述定位块之间的间距小于所述条形清洁刷的厚度。

5.根据权利要求2所述的工件表面光滑度评估系统，其特征在于，所述圆形轨道的轨道壁设置有第一导电层和第二导电层，所述第一导电层和所述第二导电层均沿所述圆形轨道的周向延伸成弧形，所述第一导电层和所述第二导电层在所述驱动轴的轴向上间隔设置；所述第一导电层与供电电路的一极电性连接，所述第二导电层与供电电路的另一极电性连接；

所述滑块具有用于与所述第一导电层电性导通的第一触点和用于与所述第二导电层电性导通的第二触点，所述第一触点由第一导通线路与所述光束发射器的一极电性连接，所述第二触点由第二导通线路与所述光束发射器的另一极电性连接。

6.根据权利要求5所述的工件表面光滑度评估系统，其特征在于，所述滑块开设有圆形槽，所述配合杆通过一配合柱与所述滑块铰接，所述配合柱转动配合于所述圆形槽；

所述圆形槽的槽底设置有第一导电环和第一导电柱，所述第一导电环和所述第一导电柱均与所述圆形槽同轴设置，所述第一导电环环设于所述第一导电柱；所述第一触点和所述第一导电柱电性连接，所述第二触点和所述第一导电环电性连接；

所述配合柱的端部设置有第二导电环和第二导电柱，所述第二导电环和所述第二导电柱均与所述配合柱同轴设置，所述第二导电环环设于所述第二导电柱；所述第一导电环和所述第二导电环贴合，所述第一导电柱和所述第二导电柱贴合；

所述第二导电柱由第一导线与所述光束发射器的一极电性连接，所述第二导电环由第二导线与所述光束发射器的另一极电性连接，所述第一导线和所述第二导线经所述配合柱、所述配合杆和所述固定柱延伸至所述定位块并与所述光束发射器电性连接。