CN117253900A - 一种亮度自适应发光二极管及其制备方法 - Google Patents

一种亮度自适应发光二极管及其制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN117253900A
CN117253900A CN202311267535.0A CN202311267535A CN117253900A CN 117253900 A CN117253900 A CN 117253900A CN 202311267535 A CN202311267535 A CN 202311267535A CN 117253900 A CN117253900 A CN 117253900A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ohmic contact
layer
type ohmic
photodiode
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311267535.0A
Other languages
English (en)
Inventor
吴向龙
闫宝华
王成新
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shandong Inspur Huaguang Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
Shandong Inspur Huaguang Optoelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shandong Inspur Huaguang Optoelectronics Co Ltd filed Critical Shandong Inspur Huaguang Optoelectronics Co Ltd
Priority to CN202311267535.0A priority Critical patent/CN117253900A/zh
Publication of CN117253900A publication Critical patent/CN117253900A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0093Wafer bonding; Removal of the growth substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • H01L33/46Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0025Processes relating to coatings

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种亮度自适应发光二极管及其制备方法,二极管包括衬底,衬底下侧设置有背金电极,衬底上一侧设置有绝缘层、键合层,键合层一侧设置有电流扩展层、P型欧姆接触层、多量子阱层、N型欧姆接触层和N型欧姆接触金属,键合层另一侧设置有P型欧姆接触金属;衬底另一侧内置有P+区,P+区两侧分别设置有N+区,衬底上对应设置有光敏二极管正极和光敏二极管负极,器件上侧设置有DBR层,光敏二极管正极、N型欧姆接触金属和P型欧姆接触金属上侧的DBR层开设有电极窗口,光敏二极管正极和N型欧姆接触金属通过焊线电极连接,P型欧姆接触金属通过电极窗口连接有焊线电极。本发明能够根据周围的环境亮度变化,自动调节发光二极管的亮度。

Description

一种亮度自适应发光二极管及其制备方法
技术领域
本发明涉及一种亮度自适应发光二极管及其制备方法,属于光电子技术领域。
背景技术
LED作为最受重视的光源技术之一,其一方面具有体积小的特征;另一方面具备低电流、低电压驱动的省电特性;同时它还具有结构牢固、抗冲击和抗震能力强,超长寿命等众多优点,因此在数码显示、瞄准等领域有着广泛的应用。在实际使用中,这些光源有的亮度不能调节,有的需要设计复杂的电路进行手动调节,对使用者带来不便。
光敏二极管是将光信号变成电信号的半导体器件。当光线照射PN结时,可以使PN结中产生电子-空穴对,使少数载流子的密度增加,这些载流子在反向电压下漂移,使反向电流增加,因此可以利用光照强弱来改变电路中的电流。为此,提出本发明,集成LED和光敏二极管,实现二极管亮度的自动调节。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供一种亮度自适应发光二极管,将LED芯片和光敏二极管在制备过程中集成到一起,能够根据周围的环境亮度变化,自动调节发光二极管的亮度。
本发明还提供上述亮度自适应发光二极管的制备方法。
本发明的技术方案如下:
一种亮度自适应发光二极管,包括衬底,衬底下侧设置有背金电极,衬底上一侧依次设置有绝缘层、键合层,键合层一侧依次设置有电流扩展层、P型欧姆接触层、多量子阱层和N型欧姆接触层,N型欧姆接触层上设置有N型欧姆接触金属,键合层另一侧设置有P型欧姆接触金属,绝缘层、键合层、电流扩展层、P型欧姆接触层、多量子阱层、N型欧姆接触层、N型欧姆接触金属和P型欧姆接触金属组成LDE芯片;
衬底另一侧内置有P+区,P+区两侧分别设置有N+区,衬底上对应设置有光敏二极管正极和光敏二极管负极,P+区、N+区、光敏二极管正极和光敏二极管负极组成光敏二极管,光敏二极管和LDE芯片上均设置有DBR层,光敏二极管正极、N型欧姆接触金属和P型欧姆接触金属上侧的DBR层开设有电极窗口,光敏二极管正极和N型欧姆接触金属通过焊线电极连接,P型欧姆接触金属通过电极窗口连接有焊线电极。
根据本发明优选的,衬底为N型单晶硅衬底,厚度为7000埃,电阻率为150-450Ω·cm;
N+区注入深度为3000-5000埃,电阻为10-20Ω,P+区注入深度为3500-5500埃,电阻为40-60Ω;
光敏二极管正极和光敏二极管正极负极的电极材料为Al,焊线电极的电极材料为Al,背金电极材料为TiAu。
根据本发明优选的,绝缘层材质为SiO2,厚度为1um,电流扩展层为ITO、ZnO或GZO等,键合层采用SiO2或高分子聚合物等绝缘材料。
上述亮度自适应发光二极管的制备方法,步骤如下:
(1)在衬底表面热生长氧化层,然后通过光刻、刻蚀形成N+隔离窗口;
(2)通过扩散注入P源形成N+区,然后去除氧化层;
(3)在衬底表面继续热生长5000埃的氧化层,然后通过光刻、刻蚀形成P+隔离窗口;
(4)通过扩散注入B源形成P+区,然后去除氧化层;
(5)通过PECVD在衬底表面蒸镀绝缘层;
(6)在LED外延片上蒸镀电流扩展层,然后通过键合工艺,将LED外延片与绝缘层进行键合,然后去除LED外延片自带的n-GaAs衬底;
(7)通过光刻、ICP工艺,将LED芯片以外的区域刻蚀至绝缘层表面;
(8)再次通过光刻、ICP工艺,将LED芯片刻蚀至P型欧姆接触层;
(9)通过光刻、蒸镀、剥离,分别形成LED芯片的P型欧姆接触金属和N型欧姆接触金属。
(10)通过光刻、蒸镀、剥离工艺,去除光敏二极管区域的绝缘层,制作光敏二极管正极和光敏二极管正极负极,光敏二极管正极和光敏二极管正极负极共同构成光敏二极管电极;
(11)在步骤(10)所得晶圆表面通过光学镀膜设备生长一层DBR层,该DBR层在580-680nm波段具有高反射率,防止芯片自身发光对光敏二极管造成影响;
(12)通过光刻、刻蚀工艺形成电极窗口;
(13)再次通过光刻、蒸镀、剥离,形成光敏二极管芯片和LED芯片的焊线电极,LED芯片的N极欧姆接触金属和光敏二极管正极连接;
(14)对步骤(13)所得晶圆进行研磨,然后采用电子束蒸镀背金电极,之后利用激光划片、金刚刀切割,得到发光二极管。
根据本发明优选的,步骤(6)中,LED外延片包括n-GaAs衬底和n-GaAs衬底上依次设置的N型欧姆接触层、多量子阱层和P型欧姆接触层,LED外延片为现有器件,可直接使用,无需再单独制备N型欧姆接触层、多量子阱层和P型欧姆接触层等结构,加快制备流程。
根据本发明优选的,步骤(6)中,键合条件为温度380℃,时间50分钟,压力900kg,n-GaAs衬底通过氨水、双氧水、水的混合溶液去除,混合溶液中氨水、双氧水、水的体积比为1:6:8。
根据本发明优选的,步骤(9)中,P型欧姆接触金属为Au/AuZn/Au叠层金属,合金温度500℃,时间10min;N型欧姆接触为Au/AuGeNi/Au叠层金属,合金温度为350℃,时间10min。
根据本发明优选的,步骤(14)中,将晶圆研磨至150um。
本发明的有益效果在于:
1、本发明提供一种亮度自适应发光二极管,将LED芯片和光敏二极管在制备过程中集成到一起,能够根据周围的环境亮度变化,自动调节发光二极管的亮度。
2、本发明的DBR层在580-680nm波段具有高反射率,防止芯片自身发光对光敏二极管造成影响。
3、本发明制备过程中直接使用现有的LED外延片,无需再单独制备N型欧姆接触层、多量子阱层和P型欧姆接触层等结构,加快了制备流程。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图2是本发明完成P+区与N+区后的结构示意图。
图3是本发明完成键合工艺后的结构示意图。
图4是本发明完成P型欧姆接触金属和N型欧姆接触金属制作后的结构示意图。
图5是本发明完成光敏二极管电极制作后的结构示意图。
图6是本发明完成焊线电极电极制作后的结构示意图。
其中,1、衬底,2、N+区,3、P+区,4、绝缘层,5、键合层,6、电流扩展层,7、P型欧姆接触层,8、多量子阱层,9、N型欧姆接触层,10、N型欧姆接触金属,11、光敏二极管电极,12、DBR层、13、焊线电极,14、背金电极,15、P型欧姆接触金属。
具体实施方式
下面通过实施例并结合附图对本发明做进一步说明,但不限于此。
实施例1:
如图1-6所示,本实施例提供一种亮度自适应发光二极管,包括衬底1,衬底1下侧设置有背金电极14,衬底1上一侧依次设置有绝缘层4、键合层5,键合层5一侧依次设置有电流扩展层6、P型欧姆接触层7、多量子阱层8和N型欧姆接触层9,N型欧姆接触层9上设置有N型欧姆接触金属10,键合层5另一侧设置有P型欧姆接触金属15,绝缘层4、键合层5、电流扩展层6、P型欧姆接触层7、多量子阱层8、N型欧姆接触层9、N型欧姆接触金属10和P型欧姆接触金属15组成LDE芯片;
衬底1另一侧内置有P+区3,P+区3两侧分别设置有N+区2,衬底1上对应设置有光敏二极管正极和光敏二极管负极,P+区3、N+区2、光敏二极管正极和光敏二极管负极组成光敏二极管,光敏二极管和LDE芯片上均设置有DBR层12,光敏二极管正极、N型欧姆接触金属10和P型欧姆接触金属15上侧的DBR层12开设有电极窗口,光敏二极管正极和N型欧姆接触金属10通过焊线电极13连接,P型欧姆接触金属15通过电极窗口连接有焊线电极13。
衬底1为N型单晶硅衬底,厚度为7000埃,电阻率为150-450Ω·cm;
N+区2注入深度为3000-5000埃,电阻为10-20Ω,P+区3注入深度为3500-5500埃,电阻为40-60Ω;
光敏二极管正极和光敏二极管正极负极的电极材料为Al,焊线电极13的电极材料为Al,背金电极14材料为TiAu。
绝缘层4材质为SiO2,厚度为1um,电流扩展层6为ITO,键合层采用SiO2
上述亮度自适应发光二极管的制备方法,步骤如下:
(1)在衬底1表面热生长氧化层,然后通过光刻、刻蚀形成N+隔离窗口;
(2)通过扩散注入P源形成N+区2,然后去除氧化层;
(3)在衬底表面继续热生长5000埃的氧化层,然后通过光刻、刻蚀形成P+隔离窗口;
(4)通过扩散注入B源形成P+区3,然后去除氧化层;
(5)通过PECVD在衬底表面蒸镀绝缘层4;
(6)在LED外延片上蒸镀电流扩展层6,然后通过键合工艺,键合条件为温度380℃,时间50分钟,压力900kg,将LED外延片与绝缘层进行键合,然后通过氨水、双氧水、水的混合溶液去除LED外延片自带的n-GaAs衬底,混合溶液中氨水、双氧水、水的体积比为1:6:8;
(7)通过光刻、ICP工艺,将LED芯片以外的区域刻蚀至绝缘层4表面;
(8)再次通过光刻、ICP工艺,将LED芯片刻蚀至P型GaP欧姆接触层;
(9)通过光刻、蒸镀、剥离,分别形成LED芯片的P型欧姆接触金属15和N型欧姆接触金属10,P型欧姆接触金属为Au/AuZn/Au叠层金属,合金温度500℃,时间10min;N型欧姆接触为Au/AuGeNi/Au叠层金属,合金温度为350℃,时间10min;
(10)通过光刻、蒸镀、剥离工艺,去除光敏二极管区域的绝缘层,制作光敏二极管正极和光敏二极管正极负极,光敏二极管正极和光敏二极管正极负极共同构成光敏二极管电极11;
(11)在步骤(10)所得晶圆表面通过光学镀膜设备生长一层DBR层12,该DBR层在580-680nm波段具有高反射率,防止芯片自身发光对光敏二极管造成影响;
(12)通过光刻、刻蚀工艺形成电极窗口;
(13)再次通过光刻、蒸镀、剥离,形成光敏二极管芯片和LED芯片的焊线电极13,LED芯片的N极欧姆接触金属10和光敏二极管正极连接;
(14)对步骤(13)所得晶圆进行研磨,研磨至150um,然后采用电子束蒸镀背金电极,之后利用激光划片、金刚刀切割,得到发光二极管。
实施例2:
一种亮度自适应发光二极管的制备方法,步骤如实施例1所述,不同之处为,步骤(6)中,LED外延片包括n-GaAs衬底和n-GaAs衬底上依次设置的N型欧姆接触层9、多量子阱层8和P型欧姆接触层7,LED外延片为现有器件,可直接使用,无需再单独制备N型欧姆接触层、多量子阱层和P型欧姆接触层等结构,加快制备流程。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种亮度自适应发光二极管,其特征在于,包括衬底,衬底下侧设置有背金电极,衬底上一侧依次设置有绝缘层、键合层,键合层一侧依次设置有电流扩展层、P型欧姆接触层、多量子阱层和N型欧姆接触层,N型欧姆接触层上设置有N型欧姆接触金属,键合层另一侧设置有P型欧姆接触金属,绝缘层、键合层、电流扩展层、P型欧姆接触层、多量子阱层、N型欧姆接触层、N型欧姆接触金属和P型欧姆接触金属组成LDE芯片;
衬底另一侧内置有P+区,P+区两侧分别设置有N+区,衬底上对应设置有光敏二极管正极和光敏二极管负极,P+区、N+区、光敏二极管正极和光敏二极管负极组成光敏二极管,光敏二极管和LDE芯片上均设置有DBR层,光敏二极管正极、N型欧姆接触金属和P型欧姆接触金属上侧的DBR层开设有电极窗口,光敏二极管正极和N型欧姆接触金属通过焊线电极连接,P型欧姆接触金属通过电极窗口连接有焊线电极。
2.如权利要求1所述的亮度自适应发光二极管,其特征在于,衬底为N型单晶硅衬底,厚度为7000埃,电阻率为150-450Ω·cm;
N+区注入深度为3000-5000埃,电阻为10-20Ω,P+区注入深度为3500-5500埃,电阻为40-60Ω;
光敏二极管正极和光敏二极管正极负极的电极材料为Al,焊线电极的电极材料为Al,背金电极材料为TiAu。
3.如权利要求2所述的亮度自适应发光二极管,其特征在于,绝缘层材质为SiO2,厚度为1um,电流扩展层为ITO、ZnO或GZO,键合层采用SiO2或高分子聚合物。
4.如权利要求1-3任一项所述的亮度自适应发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤如下:
(1)在衬底表面热生长氧化层,然后通过光刻、刻蚀形成N+隔离窗口;
(2)通过扩散注入P源形成N+区,然后去除氧化层;
(3)在衬底表面继续热生长5000埃的氧化层,然后通过光刻、刻蚀形成P+隔离窗口;
(4)通过扩散注入B源形成P+区,然后去除氧化层;
(5)通过PECVD在衬底表面蒸镀绝缘层;
(6)在LED外延片上蒸镀电流扩展层,然后通过键合工艺,将LED外延片与绝缘层进行键合,然后去除LED外延片自带的n-GaAs衬底;
(7)通过光刻、ICP工艺,将LED芯片以外的区域刻蚀至绝缘层表面;
(8)再次通过光刻、ICP工艺,将LED芯片刻蚀至P型欧姆接触层;
(9)通过光刻、蒸镀、剥离,分别形成LED芯片的P型欧姆接触金属和N型欧姆接触金属;
(10)通过光刻、蒸镀、剥离工艺,去除光敏二极管区域的绝缘层,制作光敏二极管正极和光敏二极管正极负极;
(11)在步骤(10)所得晶圆表面通过光学镀膜设备生长一层DBR层;
(12)通过光刻、刻蚀工艺形成电极窗口;
(13)再次通过光刻、蒸镀、剥离,形成光敏二极管芯片和LED芯片的焊线电极,LED芯片的N极欧姆接触金属和光敏二极管正极连接;
(14)对步骤(13)所得晶圆进行研磨,然后采用电子束蒸镀背金电极,之后利用激光划片、金刚刀切割,得到发光二极管。
5.如权利要求4所述的亮度自适应发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(6)中,LED外延片包括n-GaAs衬底和n-GaAs衬底上依次设置的N型欧姆接触层、多量子阱层和P型欧姆接触层。
6.如权利要求4所述的亮度自适应发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(6)中,键合条件为温度380℃,时间50分钟,压力900kg,n-GaAs衬底通过氨水、双氧水、水的混合溶液去除,混合溶液中氨水、双氧水、水的体积比为1:6:8。
7.如权利要求4所述的亮度自适应发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(9)中,P型欧姆接触金属为Au/AuZn/Au叠层金属,合金温度500℃,时间10min;N型欧姆接触为Au/AuGeNi/Au叠层金属,合金温度为350℃,时间10min。
8.如权利要求4所述的亮度自适应发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤(14)中,将晶圆研磨至150um。
CN202311267535.0A 2023-09-28 2023-09-28 一种亮度自适应发光二极管及其制备方法 Pending CN117253900A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311267535.0A CN117253900A (zh) 2023-09-28 2023-09-28 一种亮度自适应发光二极管及其制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311267535.0A CN117253900A (zh) 2023-09-28 2023-09-28 一种亮度自适应发光二极管及其制备方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117253900A true CN117253900A (zh) 2023-12-19

Family

ID=89126140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311267535.0A Pending CN117253900A (zh) 2023-09-28 2023-09-28 一种亮度自适应发光二极管及其制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117253900A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2666237B2 (ja) 3族窒化物半導体発光素子
KR100295165B1 (ko) 질화물계iii-v족화합물반도체소자및그의제조방법
EP1848026B1 (en) LED having vertical structure
CN102067346B (zh) 具有钝化层的半导体发光器件及其制造方法
JP3654738B2 (ja) 3族窒化物半導体発光素子
KR101469979B1 (ko) 그룹 3족 질화물계 반도체 발광다이오드 소자 및 이의 제조방법
EP0618624B1 (en) Light emitting device and method of manufacturing the same
JP2012500479A (ja) 両面不動態化を伴う半導体発光デバイスを製造するための方法
JPH06151965A (ja) 窒素−3属元素化合物半導体発光素子
JP2004047760A (ja) 発光ダイオード用エピタキシャルウェハ及び発光ダイオード
KR20090076163A (ko) 질화물 반도체 발광소자 제조방법 및 이에 의해 제조된질화물 반도체 발광소자
JP2007329466A (ja) 半導体発光トランジスタ
CN117253900A (zh) 一种亮度自适应发光二极管及其制备方法
JPH10308533A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子およびその製造方法ならびに発光装置
KR100289595B1 (ko) 3족질화물반도체발광소자
JP3016241B2 (ja) 3族窒化物半導体発光素子
CN108899405B (zh) 一种led芯片及其制作方法
JPH07254731A (ja) 発光素子
JP3693436B2 (ja) ZnSe基板上に成長した発光素子
KR20090119749A (ko) 반도체 발광소자
KR100395660B1 (ko) 터널접합층을 갖는 질화물반도체 발광소자 제조방법
JP3341484B2 (ja) 3族窒化物半導体発光素子
JPH06151964A (ja) 窒素−3属元素化合物半導体発光素子
KR20030066957A (ko) Ⅲ-ⅴ족 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법
JP2002289916A (ja) 3族窒化物半導体発光素子

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination