JPH07254731A - 発光素子 - Google Patents

発光素子

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JPH07254731A
JPH07254731A JP4298594A JP4298594A JPH07254731A JP H07254731 A JPH07254731 A JP H07254731A JP 4298594 A JP4298594 A JP 4298594A JP 4298594 A JP4298594 A JP 4298594A JP H07254731 A JPH07254731 A JP H07254731A
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JP
Japan
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electrode
light emitting
back surface
ohmic contact
junction
Prior art date
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Pending
Application number
JP4298594A
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English (en)
Inventor
Yoshihiro Horie
慶宏 堀江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
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Publication of JPH07254731A publication Critical patent/JPH07254731A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】側面電極を設けて電流の流れを変えることによ
って、発光効率を増加させて輝度を向上する。 【構成】pn接合を有するチップ素子の発光側の表面の
中央に、オーミック接触の中央電極6を設る。チップ素
子の反対側には、側面電極7と裏面電極8を一体に設け
る。側面電極7は、裏面のコーナ部12をメサエッチン
グで除去して形成する。側面電極7と素子側面5との間
はオーミック接触となっている。裏面電極8と素子裏面
との間は、PSG膜を設けて非オーミック接触としてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、輝度を向上させること
が出来る発光素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の発光ダイオードチップの構造を図
4に示す。pn接合を有する素子の発光側の表面に中央
電極6が設けられ、素子の裏面には全面電極8が設けら
れている。素子表面の中央電極6と裏面の全面電極8の
と間に順方向電圧をかけると、pn接合部10で発光が
起こり、表面の発光面11から光が出射する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の発光素子の構造
では、電極が裏面の全面に設けられて全面電極となって
いるので、全面電極から中央電極へ向う電流9は矢印で
示すように抵抗の少ない最短距離を進むことになる。こ
のため、中央電極の真下での電流密度が高くなり、電流
密度の高いpn接合部で主に発光することになる。しか
し、発光した光は真上の中央電極に邪魔されて外へ出射
できず、発光効率を低下させていた。
【0004】本発明の目的は、電流の流れを変えること
によって、前記した従来技術の欠点を解消し、発光効率
を増加させて輝度を向上することが可能な発光素子を提
供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の発光素子は、p
n接合を有する発光素子において、pn接合に電圧を印
加する一方の電極を、発光面側となる素子の表面の中央
に設け、他方の電極を素子の側面に設けたものである。
これによりpn接合に電圧を印加すると、電流の流れが
側面から中央または中央から側面に向うことになる。
【0006】なお、プリント基板などに対する素子接続
を容易にするためには、他方の電極を素子の裏面にも設
けることが好ましく、その場合には側面電極と一体に設
けるとともに、裏面から電流が流れないようにするため
に、表面に設けた電極と素子の裏面との間は非オーミッ
ク接触とする。
【0007】裏面に設けた電極と素子の裏面との間を非
オーミック接触とするには、それらの間を逆方向のショ
ットキ接合としてもよいが、絶縁を確実にするために絶
縁膜を間に設けることが好ましい。絶縁膜は、裏面に一
様に設けられていれば自然酸化膜を代用してもよいが、
特に密着性の点からリン珪酸ガラス(PSG)膜とする
ことが好ましい。
【0008】電極を設ける素子の側面は、素子のへき開
面としてもよいが、裏面のコーナ部をエッチングして設
けることが電極の剥がれをなくす点から好ましい。エッ
チングはメサエッチングが好ましい。
【0009】
【作用】一方の電極に対する他方の電極を素子側面に設
け、この側面に設けた他方の電極と、表面中央に設けた
一方の電極と間に電圧を印加すると、電流は最も抵抗の
小さいルートを取って中央電極と側面電極とを結ぶ最短
距離を流れるから、pn接合部での高密度電流領域は、
一方の電極部位の真下よりもずれて発光面の下側に来
る。したがって、発光面の下側のpn接合部で主に発光
し、その多くが発光面から取り出され、発光効率が増加
する。
【0010】
【実施例】以下、本発明の発光素子の実施例を説明す
る。図1に示すように、pn接合を有するチップ素子の
発光側の表面の中央に、オーミック接触の中央電極6が
設けられている。中央電極6の形状は任意であるが、例
えば円形又は十字形等である。中央電極6で覆われてい
ない表面は、光を取りだす発光面11となっている。
【0011】チップ素子の表面と反対側には、側面電極
7と裏面電極8とが一体に設けられている。側面電極7
は、裏面のコーナ部(点線で示す部分)12をメサエッ
チングで除去して形成された側面5に設けられている。
裏面電極8は、エッチングで除去されないで残された素
子の裏面に設けられた電極ある。側面電極7とこれを設
けた素子側面との間はオーミック接触となっているが、
裏面電極8とこれを設けた素子裏面との間は非オーミッ
ク接触となっている。非オーミック接触とするために、
裏面電極8と素子裏面Kとの間に絶縁膜4を設けてあ
る。
【0012】このようにしてメサエッチングで形成した
側面にオーミック接触する側面電極を設けることによっ
て、裏面の中央電極との間に電流流路が形成される発光
ダイオードチップが構成されている。
【0013】具体的には、チップ素子は、両性ドーピン
グ材であるSiがドープされたSiドープAlGaAs
エピタキシャルウェハで構成される。裏面側は基板を兼
ねる厚さをもつp型AlGaAsエピタキシャル層2、
表面側はn型AlGaAsエピタキシャル層3である。
メサエッチングの深さはp型AlGaAs層2内に止
め、n型AlGaAs層3に達しないようにする。絶縁
膜4は、例えばPSG膜で構成し、厚さは3000オン
グストローム程度である。中央電極6は、Au/Ni/
AuGe、側面電極7および裏面電極8はAu/Ni/
AuZuであり、表面と側面5とでのみオーミックコン
タクトが形成される。なお、裏面に一様に自然酸化膜が
形成されていれば、特に絶縁膜を設けなくてもこれを代
用出来る。
【0014】上記構成によるチップの中央電極6と裏面
電極8とに順方向電圧をを加えると、それによる電流
は、絶縁膜4の存在により裏面電極8からは素子内へは
流れない。しかし、裏面電極8と側面電極7とは一体で
構成されているので、電流は裏面電極8→側面電極7→
pn接合部10→中央電極6の流路を通って流れること
になる。
【0015】すなわち、素子に注入された電流は、矢印
で示すように、最も抵抗の小さいルートを取って最短距
離を流れるから、pn接合部10での高密度電流領域
は、中央電極6の真下ではなく、発光面11の真下に来
る。したがって、発光面11の真下のpn接合部10で
発生した光9の多くが発光面10から取り出すことがで
き、発光効率が増加する。
【0016】次に上記したチップ素子の製造方法を図2
を用いて説明する。まず、ドーパントとしてSiを用
い、p型GaAs基板1上に低温でp型AlGaAsエ
ピタキシャル層2を成長させた後、高温でもう一度成長
さてn型AlGaAsエピタキシャル層3を成長させ
て、SiドープAlGaAsエピタキシャルウェハを製
造する(図2(a))。次に、基板1を除去して、この
基板除去のウェハの裏面全面にPSGの絶縁膜4を形成
した後、裏面のチップの境界部をメサエッチングして側
面5を形成する(図2(b)、(c))。側面を構成す
るエッチング溝はVエッチとなるように順メサ方向[0
1’1](’は上線を意味し、1’は1のバーを表す)
にエッチングする。
【0017】そして、表面に中央電極6を、反対側に一
体の側面電極7と裏面電極8とを蒸着によりそれぞれ取
り付ける(図2(d))。メサエッチングで形成された
側面5に側面電極を取り付けるので、電極の取り付けが
容易で、密着性もよく確実に取り付けることが出来る。
最後にへき開してチップ単体に分離して上記構成のチッ
プ素子を得る(図2(e))。これらの各工程は公知の
汎用手段を用いることができる。
【0018】なお、上記実施例では発光素子チップ構造
としてSiドープAlGaAsエピウェハを用いた場合
について説明したが、シングルヘテロAlGaAsエピ
タキシャルウェハ、ダブルヘテロAlGaAsエピタキ
シャルウェハ等、他のエピタキシャルウェハにも適用出
来る。また、より高輝度を得るために基板を除去したが
基板は残しても良い。
【0019】また、P型AlGaAs層2と裏面電極8
との間にPSG膜を設けたが、オーミックコンタクトが
とれなければ、特にそのような絶縁膜は必要としない。
【0020】さらに、図3に示すように簡略化して、他
方の電極は側面電極7のみとすれば、裏面にPSG膜等
の絶縁膜を形成する必要がない。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、発光面側となる素子表
面の中央に設けた一方の電極に対して、他方の電極を素
子の側面に設けたので、発光効率が上がり輝度が向上す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の発光素子の第1の実施例を説明するた
めの発光ダイオードチップの断面図である。
【図2】第1の実施例の発光ダイオードチップの製造方
法を説明する工程図である。
【図3】第2の実施例を説明するための発光ダイオード
チップの断面図である。
【図4】従来の発光ダイオードチップの断面図である。
【符号の説明】
2 p型AlGaAsエピタキシャル層 3 n型AlGaAsエピタキシャル層 4 絶縁膜 5 側面 6 中央電極 7 側面電極 8 裏面電極電極 9 光 10 pn接合部 11 発光面 12 コーナ部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】pn接合を有する発光素子において、上記
    pn接合に電圧を印加する一方の電極を、発光面側とな
    る素子の表面の中央に設け、他方の電極を素子の側面に
    設けたことを特長とする発光素子。
  2. 【請求項2】上記他方の電極を素子の裏面にも、上記側
    面の電極と一体になるように設け、裏面に設けた電極と
    素子の裏面との間を非オーミック接触としたことを特徴
    とする請求項1に記載の発光素子。
  3. 【請求項3】上記裏面に設けた電極と素子の裏面との間
    に絶縁膜を設けて両者間を非オーミック接触としたこと
    を特徴とする請求項2に記載の発光素子。
  4. 【請求項4】上記素子の側面は素子の裏面のコーナ部が
    エッチングされて形成された面であることを特徴とする
    請求項3に記載の発光素子。
JP4298594A 1994-03-15 1994-03-15 発光素子 Pending JPH07254731A (ja)

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JP4298594A JPH07254731A (ja) 1994-03-15 1994-03-15 発光素子

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JPH07254731A true JPH07254731A (ja) 1995-10-03

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ID=12651335

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JP4298594A Pending JPH07254731A (ja) 1994-03-15 1994-03-15 発光素子

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005159035A (ja) * 2003-11-26 2005-06-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 発光ダイオード及び発光装置
JP2009510730A (ja) * 2005-09-30 2009-03-12 ラティス パワー (チアンシ) コーポレイション 半導体発光デバイスおよびその製造方法
CN102214761A (zh) * 2010-04-01 2011-10-12 华上光电股份有限公司 发光二极管晶粒结构及其底部电极制造方法
JP2012231000A (ja) * 2011-04-26 2012-11-22 Toshiba Corp 半導体発光装置
US9257608B2 (en) 2013-09-13 2016-02-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Nitride semiconductor light emitting device

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