CN102214761A - 发光二极管晶粒结构及其底部电极制造方法 - Google Patents
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Abstract
一种发光二极管晶粒结构及其底部电极制造方法,其发光二极管晶粒结构,包括:基材;发光层,形成于该基材顶面;至少一底面电极,形成于基材底面;至少一顶面电极,形成于发光层顶面;至少一侧面电极,形成于基材底部侧面;其底部电极制造方法,发光二极管晶粒结构包括:基材;发光层,形成于基材顶面;至少一底面电极,形成于基材底面;至少一顶面电极,形成于发光层顶面;及至少一侧面电极,形成于基材底部侧面;其中,先在发光二极管晶圆的基材底面开出一定深度的沟槽,再使用金属镀膜技术将金属膜镀至底面及沟槽内部,而后沿着沟槽将晶圆切成晶粒。本发明具有提升固晶胶与发光二极管晶粒电性连接品质的功效。
Description
技术领域
本发明涉及一种发光二极管晶粒结构及其底部电极制造方法,尤其涉及一种底部电极包含底面与侧面电极,当应用于垂直导通型态的封装结构,仍能维持电性连接品质稳定的设计。
背景技术
发光二极管(LED)为一体积小、发光效能高且横跨全色彩的光源元件,而因为这些特征,使得发光二极管的应用方式千变万化,故衍生出许多形式的封装(Assembly)外型;封装后的产品普遍称之为灯(Lamp)或表面黏着元件(SMD),而除了外型为封装的主要考量点以外,品质信赖度也是重要考量点。于是,无论是Lamp形式或是SMD形式,封装制程前段包含一个重要的步骤-固晶(Die bonding),固晶指的是将LED晶粒(Die)吸起、黏起或夹起后,再置放到沾有黏性、流动性胶材的固体导线架(Lead frame)上,同时施加压力使得LED晶粒底部与流动性胶材密合,而后再加热使得胶材固化而完成固晶。
另,导线架通常为金属材质或镀上金属膜的固体材料,选择金属材质的目的除了取其容易加工及散热特性外,对某些LED晶粒而言,导电性也是必要的要求;例如垂直式(Vertical)LED晶粒,其电流由上方电极灌入,垂直通过晶粒后由底部流出,其封装则必须使用具导电性的导线架;再者,银胶为一普遍被使用的固晶胶,除了黏性、流动性外,因掺入银粉,故同时也具备了导电性;因此,结合垂直式晶粒、固晶胶以及导电导线架,则可形成由上至下电流贯穿的路径,此种结构设计常见于四元材料的LED元件,并已大量商品化。
于是,如图1所示,一种典型的垂直导通式LED Assembly元件,是将垂直式LED晶粒10底部借由导电固晶胶20黏接于第一导线架30a,构成底面电极11与第一导线架30a的电性连接关系,而顶面电极12则借由导线31电性连接至第二导线架30b,电流即可由第一导线架30a导入,而在垂直通过LED晶粒10后由第二导线架30b导出。因此,垂直式LED晶粒10的固晶制程有其严格要求以确保导电性稳定,若有以下情况则会对固晶品质造成影响:晶粒背面不平整、导线架表面不平整,银胶的粘度不良和使用期限超过、储存条件和解冻条件不符标准、银胶槽是否定时清洗以及环境灰尘、温度、湿度异常……等。
然而,如图2所示的固晶结构剖面相片,可以明显看到在LED晶粒10底部与固晶胶20的接合面,出现许多接合不良(有缝隙)的现象,但LED晶粒10侧面则与固晶胶20保持良好的接合状态。以上情形会造成LED Assembly元件的电性不稳,特别是施加以冷热循环时,因缝隙内的空气膨胀收缩,使得固晶胶20与LED晶粒10的电性连接品质更加恶化。
发明内容
本发明所要解决的主要技术问题在于,克服现有技术存在的上述缺陷,而提供一种发光二极管晶粒结构及其底部电极制造方法,而具有提升固晶胶与发光二极管晶粒电性连接品质的功效。
本发明发光二极管晶粒结构是:
一种发光二极管晶粒结构,其特征在于,包括有:一基材;一发光层,形成于该基材顶面;至少一底面电极,形成于该基材底面;至少一顶面电极,形成于该发光层顶面;至少一侧面电极,形成于该基材底部侧面。
前述的发光二极管晶粒结构,其中侧面电极的高度配合封装制程的固晶胶高度。
前述的发光二极管晶粒结构,其中固晶胶为银胶。
前述的发光二极管晶粒结构,其中基材为硅、锗、砷化镓或磷化镓。
本发明发光二极管晶粒的底部电极制造方法是:
一种发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,所述发光二极管晶粒结构包括有:一基材;一发光层,形成于该基材顶面;至少一底面电极,形成于该基材底面;至少一顶面电极,形成于该发光层顶面;以及至少一侧面电极,形成于该基材底部侧面;其中,先在发光二极管晶圆的基材底面开出一定深度的沟槽,再使用金属镀膜技术将金属膜镀至底面及沟槽内部,而后沿着沟槽将晶圆切成晶粒,借以形成底面电极与侧面电极于晶粒的基材底部。
前述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其中金属镀膜技术具有包覆特性。
前述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其中以切割或崩裂技术将晶圆切成晶粒。
本发明发光二极管晶粒的底部电极制造方法是:
一种发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,所述发光二极管晶粒结构包括有:一基材;一发光层,形成于该基材顶面;至少一底面电极,形成于该基材底面;至少一顶面电极,形成于该发光层顶面;以及至少一侧面电极,形成于该基材底部侧面;其中,先将发光二极管晶圆切成晶粒后,再使用金属镀膜技术将金属膜镀至晶粒的基材底面及侧面,借以形成底面电极与侧面电极于晶粒的基材底部。
前述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其中金属镀膜技术具有包覆特性。
前述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其中以切割或崩裂技术将晶圆切成晶粒。
本发明的有益效果是,具有提升固晶胶与发光二极管晶粒电性连接品质的功效。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是典型垂直导通式发光二极管封装结构示意图。
图2是发光二极管的固晶结构纵向剖而摄像图。
图3是本发明的晶粒结构示意图。
图4是应用本发明晶粒结构的封装结构示意图。
图5是本发明的底部电极制造方法示意图(一)。
图6是本发明的底部电极制造方法示意图(二)。
具体实施方式
首先,请参阅图3、图4所示,本发明的发光二极管晶粒结构,包括有:
一基材41;
一发光层42,形成于该基材41顶面;
至少一底面电极43,形成于该基材41底面;
至少一顶面电极44,形成于该发光层42顶面;
至少一侧面电极45,形成于该基材41底部侧面。
基于上述构成,本发明的发光二极管晶粒结构,改进了电极的设计方式,除了底面电极43与顶面电极44之外,另于基材41底部提供一定高度的侧面电极45;而当封装完后,导线31电性连接顶面电极44与第二导线架30b,固晶胶20电性连接底面电极43、侧面电极45与第二导线架30b,故纵使晶粒的底面电极43与固晶胶20发生接触不良时,仍能借由侧面电极45与固晶胶20侧壁良好的接合,进而避免了发生电性连接品质不稳的现象。
此外,适合应用于此设计的基材41,如硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)或磷化镓(GaP),因为底面电极43与侧面电极45可经由金属镀膜技术予以形成;而该侧面电极45的高度配合封装制程的固晶胶20高度;又,该固晶胶20为银胶。
再者,本发明的发光二极管晶粒底部电极制造方法,如图5所示的第一实施例,是于发光二极管呈现晶圆(Wafer)型态时,在晶圆底面开出一定深度的沟槽,再使用具有包覆(Coverage)特性的金属镀膜技术,将金属膜镀至底面及沟槽侧面,而后沿着沟槽以切割或崩裂技术将晶圆切成晶粒,借以形成底面电极与侧面电极于晶粒的基材底部。
另者,本发明的发光二极管晶粒底部电极制造方法,如图6所示的第二实施例,是于发光二极管由晶圆型态以切割或崩裂技术切成晶粒后,再使用具有包覆特性的金属镀膜技术,将金属膜镀至晶粒底面及侧面,借以形成底面电极与侧面电极于晶粒的基材底部。
Claims (10)
1.一种发光二极管晶粒结构,其特征在于,包括有:
一基材;
一发光层,形成于该基材顶面;
至少一底面电极,形成于该基材底面;
至少一顶面电极,形成于该发光层顶面;
至少一侧面电极,形成于该基材底部侧面。
2.根据权利要求1所述的发光二极管晶粒结构,其特征在于,所述侧面电极的高度配合封装制程的固晶胶高度。
3.根据权利要求2所述的发光二极管晶粒结构,其特征在于,所述固晶胶为银胶。
4.根据权利要3所述的发光二极管晶粒结构,其特征在于,所述基材为硅、锗、砷化镓或磷化镓。
5.一种发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,所述发光二极管晶粒结构包括有:一基材;一发光层,形成于该基材顶面;至少一底面电极,形成于该基材底面;至少一顶面电极,形成于该发光层顶面;以及至少一侧面电极,形成于该基材底部侧面;其中,先在发光二极管晶圆的基材底面开出一定深度的沟槽,再使用金属镀膜技术将金属膜镀至底面及沟槽内部,而后沿着沟槽将晶圆切成晶粒,借以形成底面电极与侧面电极于晶粒的基材底部。
6.根据权利要求5所述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,所述金属镀膜技术具有包覆特性。
7.根据权利要求6所述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,以切割或崩裂技术将晶圆切成晶粒。
8.一种发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,所述发光二极管晶粒结构包括有:一基材;一发光层,形成于该基材顶面;至少一底面电极,形成于该基材底面;至少一顶面电极,形成于该发光层顶面;以及至少一侧面电极,形成于该基材底部侧面;其中,先将发光二极管晶圆切成晶粒后,再使用金属镀膜技术将金属膜镀至晶粒的基材底面及侧面,借以形成底面电极与侧面电极于晶粒的基材底部。
9.根据权利要求8所述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,所述金属镀膜技术具有包覆特性。
10.根据权利要求9所述的发光二极管晶粒的底部电极制造方法,其特征在于,以切割或崩裂技术将晶圆切成晶粒。
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CN109037081A (zh) * | 2018-07-17 | 2018-12-18 | 深圳市福来过科技有限公司 | 一种芯片及其封装方法 |
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PB01 | Publication | ||
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
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