CN116446042A - 一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法 - Google Patents
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- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 33
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 33
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 44
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 13
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims abstract description 10
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 7
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims abstract description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 claims description 8
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 claims description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- ZVYYAYJIGYODSD-LNTINUHCSA-K (z)-4-bis[[(z)-4-oxopent-2-en-2-yl]oxy]gallanyloxypent-3-en-2-one Chemical group [Ga+3].C\C([O-])=C\C(C)=O.C\C([O-])=C\C(C)=O.C\C([O-])=C\C(C)=O ZVYYAYJIGYODSD-LNTINUHCSA-K 0.000 claims description 7
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000003595 mist Substances 0.000 claims description 3
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010431 corundum Substances 0.000 claims description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims 5
- 238000007865 diluting Methods 0.000 claims 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 25
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 20
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 12
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 7
- CUJRVFIICFDLGR-UHFFFAOYSA-N acetylacetonate Chemical compound CC(=O)[CH-]C(C)=O CUJRVFIICFDLGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 4
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000001534 heteroepitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 1
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
- C30B25/18—Epitaxial-layer growth characterised by the substrate
- C30B25/186—Epitaxial-layer growth characterised by the substrate being specially pre-treated by, e.g. chemical or physical means
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/16—Oxides
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Metallurgy (AREA)
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- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
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Abstract
本发明公开一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤,S1:取有机镓源分散于酸稀释溶液中充分溶解,获得反应前驱体溶液,将前驱体溶液置于雾化辅助化学气相沉积设备的雾化罐中待用;S2:将衬底基板清洗干净,彻底干燥后置于雾化辅助化学气相沉积设备反应腔体内的衬底模板中;S3:将反应腔室温度上升至420‑550℃,同时调整尾气抽速速率保持系统压差在10pa‑40pa;S4:通入N2与O2的混合气体作为载气,设定载气速率,待腔体内气氛稳定后,通入雾化后的反应前驱体溶液,在衬底上进行α相氧化镓单晶薄膜的沉积生长。本工艺方法不需要结合真空技术,可在常压环境进行,也就不要抽真空等设备,可降低约50%的能耗成本,而且制备方法得到大幅简化。
Description
技术领域
本发明属于金属氧化物半导体薄膜材料制备领域,特别涉及一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法。
背景技术
以氧化镓为代表的超宽禁带半导体作为第四代半导体材料,有α、β、γ、ε和δ共5种同分异构体,具有超宽禁带宽度(4.4-5.3eV)、超高临界击穿场强(约8MV/cm)和高介电常数(ε相达到32)等优点,可应用于日盲紫外光探测器、场效应晶体管、气体传感器和发光器件等领域。目前已报道基于β相氧化镓制备的功率器件,巴利加品质因数是氮化镓器件的4倍,是碳化硅器件的10倍,是硅器件的3444倍。α相氧化镓是5种同分异构体种禁带宽度最大的材料,对于特定波段光探测、击穿电压要求高的功率器件开发等方面,α相氧化镓单晶薄膜的制备具有很高应用价值。
目前多采用有机金属化学气相沉积及卤化物气相外延等真空技术来进行薄膜制备,由于需要真空环境及相关的设备而导致α相氧化镓单晶薄膜制备成本较高。此外,由于亚稳α相氧化镓无法通过熔体法生长,导致同质衬底比较缺乏,因此在异质衬底上的α相氧化镓单晶薄膜生长技术具有更广泛可行性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤,
S1:取有机镓源分散于酸稀释溶液中充分溶解,获得反应前驱体溶液,将前驱体溶液置于雾化辅助化学气相沉积设备的雾化罐中待用;
S2:将衬底基板清洗干净,彻底干燥后置于雾化辅助化学气相沉积设备反应腔体内的衬底模板中;
S3:将反应腔室温度上升至420-550℃,同时调整尾气抽速速率保持系统压差在10pa-40pa;
S4:通入N2与O2的混合气体作为载气,设定载气速率,待腔体内气氛稳定后,通入雾化后的反应前驱体溶液,在衬底上进行α相氧化镓单晶薄膜的沉积生长,沉积完成后,在N2与O2的混合气体环境进行退火处理,冷却至室温后从衬底上取出薄膜样品。
所述酸稀释溶液为盐酸以一定比例与去离子水、醇类溶液混合的稀释溶液。
在本案中,所述衬底的材质为三氧化二铝单晶。
在本案中,所述衬底清洗可采用在超声清洗仪中分别使用丙酮、乙醇、去离子水轮流清洗衬底10-30min。
在本案中,所述前驱体浓度为0.03mol/L-0.07mol/L。
在本案中,所述有机镓源为乙酰丙酮镓(Ga(acac)3)。
在本案中,所述混合气体载气为N2与O2的混合,比例可调。
在本案中,所述盐酸稀释溶液中盐酸和超纯水比例体积比(0.5%-3%)。
在本案中,所述通入前驱液雾气在衬底区域液滴大小控制在2-3μm。
在本案中,所用三氧化二铝衬底与α相氧化镓晶体结构均为刚玉结构,且晶格常数失配较低,为异质外延提供基础;所述方法较精确地为衬底区域α相氧化镓的生长提供了稳定的温度、反应前驱体雾气流量控制,为晶体稳定生长提供条件。
有益效果是:1、本工艺方法不需要结合真空技术,可在常压环境进行,也就不要抽真空等设备,可降低约50%的能耗成本,而且制备方法得到大幅简化;
2、本工艺可以实现450℃-550℃温度范围内α相氧化镓单晶薄膜在三氧化二铝衬底上的可靠生长,XRD衍射(0006)晶面的半峰宽达0.144°,结晶质量高,薄膜对低于229nm的可见光实现接近100%吸收,且薄膜表面平整,形貌较好,为后续器件制作开发奠定基础,具有广泛应用前景。
附图说明
图1为本工艺方法在蓝宝石衬底上450℃-550℃生长α相氧化镓单晶薄膜的X射线衍射图谱。
图2为本工艺方法在蓝宝石衬底上生长α相氧化镓单晶薄膜的紫外可见吸收光谱。
图3为本工艺方法在蓝宝石衬底上生长α相氧化镓单晶薄膜的扫描电子显微镜照片。
图4为为本工艺方法在蓝宝石衬底上生长α相氧化镓单晶薄膜的高分辨电子衍射条纹照片。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
下面结合图1-4对本发明的较优的实施例作进一步的详细说明。
实施例1
一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤,
S1:取有机镓源分散于酸稀释溶液中充分溶解,获得反应前驱体溶液,将前驱体溶液置于雾化辅助化学气相沉积设备的雾化罐中待用,所采用雾化辅助化学气相沉积设备的专利公开号为CN114774883A。
S2:将衬底基板清洗干净,彻底干燥后置于雾化辅助化学气相沉积设备反应腔体内的衬底模板中;
S3:将反应腔室温度上升至420-550℃,同时调整尾气抽速速率保持系统压差在10pa-40pa;
S4:通入N2与O2的混合气体作为载气,设定载气速率,待腔体内气氛稳定后,通入雾化后的反应前驱体溶液,在衬底上进行α相氧化镓单晶薄膜的沉积生长,沉积完成后,在N2与O2的混合气体环境进行退火处理,冷却至室温后从衬底上取出薄膜样品。
对蓝宝石衬底依次使用丙酮、乙醇、去离子水超声清洗10-30min,并用氮气烘干。然后以0.05mol/L的乙酰丙酮镓(Ga(acac)3)水溶液作为镓源,添加体积比为1%的盐酸来增加溶解度,设置磁力搅拌器温度50℃与转速500r/min,对配置溶液进行搅拌溶解。搅拌溶解后静置12h,取上清液作为反应前驱体溶液。在室温下,由2.4MHz的超声雾化换能器将前驱体溶液转化为微米级气溶胶颗粒,进行超声雾化。并通过设定载气速率(N2为2.7L/min、O2为0.3L/min),同时调节后流控制装置使反应腔室入口端与出口端压力差为15pa,将气溶胶颗粒输运至反应腔室,于450℃下进行30分钟的异质外延生长。生长结束,关闭雾化源,保温退火10分钟,自然冷却至室温,关闭载气,取出薄膜样品。
实施例2
对蓝宝石衬底依次使用丙酮、乙醇、去离子水超声清洗10-30min,并用氮气烘干。然后以0.05mol/L的乙酰丙酮镓(Ga(acac)3)水溶液作为镓源,添加体积比为1%的盐酸来增加溶解度,设置磁力搅拌器温度50℃与转速500r/min,对配置溶液进行搅拌溶解。搅拌溶解后静置12h,取上清液作为反应前驱体溶液。在室温下,由2.4MHz的超声雾化换能器将前驱体溶液转化为微米级气溶胶颗粒,进行超声雾化。通过设定载气速率(N2为2.7L/min、O2为0.3L/min),同时调节后流控制装置使反应腔室入口端与出口端压力差为15pa,将气溶胶颗粒输运至反应腔室,于500℃下进行30分钟的异质外延生长。生长结束,关闭雾化源,保温退火10分钟,自然冷却至室温,关闭载气,取出薄膜样品。
实施例3
对蓝宝石衬底依次使用丙酮、乙醇、去离子水超声清洗10-30min,并用氮气烘干。然后以0.05mol/L的乙酰丙酮镓(Ga(acac)3)水溶液作为镓源,添加体积比为1%的盐酸来增加溶解度,设置磁力搅拌器温度50℃与转速500r/min,对配置溶液进行搅拌溶解。搅拌溶解后静置12h,取上清液作为反应前驱体溶液。在室温下,由2.4MHz的超声雾化换能器将前驱体溶液转化为微米级气溶胶颗粒,进行超声雾化。并通过设定载气速率(N2为2.7L/min、O2为0.3L/min),同时调节后流控制装置使反应腔室入口端与出口端压力差为15pa,将气溶胶颗粒输运至反应腔室,于525℃下进行30分钟的异质外延生长。生长结束,关闭雾化源,保温退火10分钟,自然冷却至室温,关闭载气,取出薄膜样品。
实施例4
对蓝宝石衬底依次使用丙酮、乙醇、去离子水超声清洗10-30min,并用氮气烘干。然后以0.05mol/L的乙酰丙酮镓(Ga(acac)3)水溶液作为镓源,添加体积比为1%的盐酸来增加溶解度,设置磁力搅拌器温度50℃与转速500r/min,对配置溶液进行搅拌溶解。搅拌溶解后静置12h,取上清液作为反应前驱体溶液。在室温下,由2.4MHz的超声雾化换能器将前驱体溶液转化为微米级气溶胶颗粒,进行超声雾化。并通过设定载气速率(N2为2.7L/min、O2为0.3L/min),同时调节后流控制装置使反应腔室入口端与出口端压力差为15pa,将气溶胶颗粒输运至反应腔室,于550℃下进行30分钟的异质外延生长。生长结束,关闭雾化源,保温退火10分钟,自然冷却至室温,关闭载气,取出薄膜样品。
Claims (8)
1.一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤,
S1:取有机镓源分散于酸稀释溶液中充分溶解,获得反应前驱体溶液,将前驱体溶液置于雾化辅助化学气相沉积设备的雾化罐中待用;
S2:将衬底基板清洗干净,彻底干燥后置于雾化辅助化学气相沉积设备反应腔体内的衬底模板中;
S3:将反应腔室温度上升至420-550℃,同时调整尾气抽速速率保持系统压差在10pa-40pa;
S4:通入N2与O2的混合气体作为载气,设定载气速率,待腔体内气氛稳定后,通入雾化后的反应前驱体溶液,在衬底上进行α相氧化镓单晶薄膜的沉积生长,沉积完成后,在N2与O2的混合气体环境进行退火处理,冷却至室温后从衬底上取出薄膜样品。
2.根据权利要求1所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所述酸稀释溶液是盐酸以与去离子水、醇类溶液混合的稀释溶液。
3.根据权利要求2所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所述衬底的材质为三氧化二铝单晶。
4.根据权利要求3所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所述清洗衬底在超声清洗仪中分别使用丙酮、乙醇、去离子水轮流清洗衬底10-30min。
5.根据权利要求4所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所述前驱体浓度为0.03mol/L-0.07mol/L。
6.根据权利要求5所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所述有机镓源为乙酰丙酮镓。
7.根据权利要求6所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所述通入前驱液雾气在衬底区域液滴大小控制在2-3μm。
8.根据权利要求3所述的一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法,其特征在于,所用三氧化二铝衬底与α相氧化镓晶体结构均为刚玉结构。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310428219.0A CN116446042A (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310428219.0A CN116446042A (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116446042A true CN116446042A (zh) | 2023-07-18 |
Family
ID=87123445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310428219.0A Pending CN116446042A (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 一种α相氧化镓单晶薄膜的制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116446042A (zh) |
-
2023
- 2023-04-20 CN CN202310428219.0A patent/CN116446042A/zh active Pending
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