CN116343671A - 显示装置和驱动电路 - Google Patents

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CN116343671A
CN116343671A CN202211607382.5A CN202211607382A CN116343671A CN 116343671 A CN116343671 A CN 116343671A CN 202211607382 A CN202211607382 A CN 202211607382A CN 116343671 A CN116343671 A CN 116343671A
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CN
China
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voltage
node
gate
circuit
feedback
Prior art date
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Pending
Application number
CN202211607382.5A
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English (en)
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洪茂庆
郑义泽
李炫雨
粱东奎
朴信均
李昇远
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LG Display Co Ltd
Original Assignee
LG Display Co Ltd
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Abstract

一种显示装置可以包括：显示面板，所述显示面板包括多个子像素；选通驱动电路，所述选通驱动电路被配置为通过多条选通线向所述显示面板供应多个扫描信号，并输出反馈电压；数据驱动电路，所述数据驱动电路被配置为通过多条数据线向所述显示面板供应多个数据电压；电力管理电路，所述电力管理电路被配置为向所述选通驱动电路和所述数据驱动电路供应多个驱动电压，并且基于从所述选通驱动电路传送的反馈电压，向所述选通驱动电路供应补偿高电位选通电压。所述显示装置还可以包括定时控制器，所述定时控制器被配置为控制所述选通驱动电路、所述数据驱动电路和所述电力管理电路。

Description

显示装置和驱动电路
技术领域
本公开的实施方式涉及显示装置和驱动电路。
背景技术
用于基于数字数据来显示图像的代表性显示装置包括使用液晶的液晶显示(LCD)装置和使用有机发光二极管的有机发光显示装置。
在这些显示装置当中，有机发光显示器采用发光二极管，因此具有快速的响应性和对比度、发光效率、亮度和视角方面的各种优点。在该情形下，发光二极管可以用无机材料或有机材料来实现。
有机发光二极管显示器包括布置在显示面板上的子像素中的发光二极管，并通过控制流向发光二极管的电流来使得发光二极管能够发光，由此在显示图像的同时控制由每个子像素表示的亮度。
在这种显示装置中，显示面板可以具有多个子像素，每个子像素包括发光元件和用于驱动发光元件的子像素电路。例如，子像素电路包括用于控制流过发光元件的驱动电流的驱动晶体管以及用于根据扫描信号来控制驱动晶体管的栅极-源极电压的至少一个扫描晶体管。可以通过从设置在显示面板的基板上的选通驱动电路输出的扫描信号来控制子像素电路的扫描晶体管。
由于显示装置包括作为显示图像的区域的显示区域以及作为不显示图像的区域的非显示区域，因此随着非显示区域的大小减小，显示装置的边界或边框的大小可以减小并且显示区域的大小可以增大。
相应地，正在研究用于减小设置在非显示区域中的选通驱动电路的大小的各种方法。
然而，在简化选通驱动电路的过程中，在选通驱动电路中出现错误的可能性增加。另外，选通驱动电路包括多个晶体管(例如，每个晶体管具有它们本身不同的特征值)，并且选通驱动集成电路GDIC的劣化和寿命可以由选通驱动电路内最有可能变得劣化的晶体管来确定或限制。
发明内容
相应地，本公开的发明人提供了能够有效地检测选通驱动电路中的错误并补偿选通驱动电路中随时间推移出现的变化的显示装置和驱动电路。
本公开的实施方式可以提供能够通过检测供应到选通驱动电路的高电位选通电压的电平变化来检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
本公开的实施方式可以提供能够通过利用数据驱动电路检测高电位选通电压的电平变化来有效检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
本公开的实施方式可以提供通过检测高电位选通电压的电平变化同时控制反映设置在选通驱动电路的输出端子处的反馈晶体管的电流的高电位选通电压的电平来有效检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
本公开的实施方式可以提供能够通过利用虚设通道检测高电位选通电压的电平变化来检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
本公开的实施方式可以提供一种显示装置，该显示装置包括：显示面板，所述显示面板包括多个子像素；选通驱动电路，所述选通驱动电路被配置为通过多条选通线向所述显示面板供应多个扫描信号；数据驱动电路，所述数据驱动电路被配置为通过多条数据线向所述显示面板供应多个数据电压；电力管理电路，所述电力管理电路被配置为向所述选通驱动电路和所述数据驱动电路供应多个驱动电压，并且基于从所述选通驱动电路传送的反馈电压，向所述选通驱动电路供应补偿高电位选通电压；以及定时控制器，所述定时控制器被配置为控制所述选通驱动电路、所述数据驱动电路和所述电力管理电路。
本公开的实施方式可以提供一种选通驱动电路，所述选通驱动电路被配置为通过多条选通线向具有多个子像素的显示面板供应多个扫描信号，所述选通驱动电路包括多个选通驱动集成电路，其中，所述多个选通驱动集成电路中的至少一个被配置为包括反馈电路的反馈选通驱动集成电路并且被配置为接收由电力管理电路使用由反馈电路产生的反馈电压而生成的补偿高电位选通电压。
本公开的实施方式提供了向通过多条选通线向显示面板供应多个扫描信号的选通驱动电路供应驱动电压的的电力管理电路，所述电力管理电路包括被配置为基于从选通驱动电路传送的反馈电压来向选通驱动电路供应补偿高电位选通电压的高电位选通电压补偿电路。
本公开的实施方式提供了一种通过多条数据线向显示面板供应多个数据电压的数据驱动电路，所述数据驱动电路包括：模数转换器，所述模数转换器感测感测线的电压并将所述电压转换为数字数据；特征值感测开关，所述特征值感测开关控制所述感测线与被供应感测参考电压的节点之间的连接；选通感测开关，所述选通感测开关控制所述感测线与被供应从电力管理电路传送的补偿高电位选通电压的节点之间的连接；以及采样开关，所述采样开关控制所述感测线与所述模数转换器之间的连接。
根据本公开的实施方式，可以提供能够有效地检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
根据本公开的实施方式，可以提供能够通过检测供应到选通驱动电路的高电位选通电压的电平变化来检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
本公开的实施方式，可以提供通过利用数据驱动电路检测高电位选通电压的电平变化来有效检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
根据本公开的实施方式，可以提供能够通过检测高电位选通电压的电平变化同时控制反映设置在选通驱动电路的输出端子处的反馈晶体管的电流的高电位选通电压的电平来有效检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
根据本公开的实施方式，可以提供能够通过利用虚设通道检测高电位选通电压的电平变化来检测选通驱动电路中的错误的显示装置和驱动电路。
附图说明
根据以下结合附图进行的详细描述，将更清楚地理解本公开的以上和其它目的、特征和优点，在附图中：
图1是示意性例示了根据本公开的各种实施方式的显示装置的配置的视图；
图2是例示了根据本公开的实施方式的显示装置的系统的示例的视图；
图3是例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的构成子像素的电路的示例的视图；
图4是例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的选通驱动电路以GIP类型实现的显示面板的示例的视图；
图5是示意性例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的GIP电路的配置的框图；
图6是例示了根据本公开的实施方式的构成选通驱动电路的多个级电路的配置的视图；
图7是例示了根据本公开的实施方式的显示驱动电路中的构成选通驱动电路的选通驱动集成电路的视图；
图8是例示了根据本公开的实施方式的用于补偿显示装置中的选通驱动电路的劣化的结构的示例的视图；
图9和图10是概念性例示了根据本公开的实施方式的通过用于补偿施加到显示装置中的选通驱动电路的高电位选通电压的工艺来减少选通驱动电路的劣化的效果的视图；
图11是例示了根据本公开的实施方式的在显示装置中设置包括反馈电路的选通驱动集成电路的示例的视图；
图12是例示了根据本公开的实施方式的内置在显示装置中的选通驱动集成电路中的反馈电路的缺陷状态的示例的示图；
图13是例示了根据本公开的实施方式的感测显示装置中的驱动晶体管的特征值的示例电路结构的视图；
图14是例示了根据本公开的实施方式的检测内置在显示装置中的反馈选通驱动集成电路中的反馈电路中的错误的配置的示例的视图；
图15是例示了根据本公开的实施方式的用于在显示装置中选择性供应补偿高电位选通电压和显示驱动参考电压的电力管理电路的示例的视图；并且
包括部分(a)和(b)的图16是例示了根据本公开的实施方式的感测通道和虚设通道布置在显示装置中的结构的示例的视图。
具体实施方式
下文中，将参考示例性附图来详细描述本公开的一些实施方式。在以下对本发明的示例或实施方式的描述中，将参考附图，在附图中，通过例示方式示出可以实现的特定示例或实施方式，并且在附图中，可以使用相同的参考标号和符号来指定相同或相似的部件，即使它们是在互不相同的附图中示出的。另外，在以下对本发明的示例或实施方式的描述中，当确定对并入本文中的公知功能和部件的详细描述会使本发明的一些实施方式中的主题相当不清楚时，将省略这些描述。本文中使用的诸如“包括”、“具有”、“包含”、“构成”、“由...组成”和“由...形成”这样的术语通常旨在允许添加其它部件，除非这些术语与术语“仅”一起使用。如本文中使用的，单数形式旨在包括复数形式，除非上下文另外清楚指示。
可以在本文中使用诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(A)”或“(B)”这样的术语来描述本发明的元件。这些术语中的每一个都不用于限定元件的本质、次序、顺序或数目等，而是仅仅用于将对应元件与其它元件区分开。
当提到第一元件与第二元件“连接或联接”、“接触或交叠”等时，应该解释为，不仅第一元件可以与第二元件“直接连接或联接”或“直接接触或交叠”，而且第三元件也可以被“插置”在第一元件和第二元件之间，或者第一元件和第二元件可以经由第四元件彼此“连接或联接”、“接触或交叠”等。这里，第二元件可以被包括在彼此“连接或联接”、“接触或交叠”等的两个或更多个元件中的至少一个中。
当使用诸如“之后”、“随后”、“接着”、“之前”等这样的时间相关术语来描述元件或配置的处理或操作或操作、处理、制造方法中的流程或步骤时，可以使用这些术语来描述非连续或非顺序的处理或操作，除非一起使用了术语“立即”或“正好”。
另外，当提到任何尺寸、相对大小等时，应该认为元件或特征的数值或对应的信息(例如，级别、范围等)包括可能因各种因素(例如，处理因素、内部或外部影响、噪声等)引起的容差或误差范围，即使当没有指明相关描述时也是如此。另外，术语“可以”完全涵盖了术语“能够”的所有含义。
下文中，将参考附图来详细描述本公开的各种实施方式。
图1是示意性例示了根据本公开的各种实施方式的显示装置的配置的视图。
参照图1，根据本公开的实施方式的显示装置100可以包括其中多条选通线GL与数据线DL连接并且多个子像素SP以矩阵形式布置的显示面板110、驱动多条选通线GL的选通驱动电路120、通过多条数据线DL供应数据电压的数据驱动电路130、控制选通驱动电路120和数据驱动电路130的定时控制器140以及电力管理电路(电力管理集成电路(IC))150。
显示面板110基于通过多条选通线GL从选通驱动电路120传送的扫描信号和通过多条数据线DL从数据驱动电路130传送的数据电压来显示图像。
在液晶显示器的情形下，显示面板110可以包括形成在两个基板之间的液晶层，并且可以以诸如扭曲向列(TN)模式、垂直对齐(VA)模式、面板内切换(IPS)模式或边缘场切换(FFS)模式这样的任何已知模式来操作。在有机发光显示器的情形下，显示面板110可以以顶部发光方案、底部发光方案或双重发光方案来实现。
在显示面板110中，多个像素可以排列成矩阵形式，并且每个像素可以包括具有不同颜色的子像素SP，例如，白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，并且每个子像素SP可以由多条数据线DL和多条选通线GL限定。
一个子像素SP可以包括例如在一条数据线DL与一条选通线GL之间的相交处形成的薄膜晶体管(TFT)、充入数据电压的诸如有机发光二极管这样的发光元件以及电连接到发光元件以保持电压的存储电容器。
例如，当具有2,160×3,840的分辨率的显示装置100包括白色(W)、红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)这四个子像素SP时，3,840条数据线DL可以连接到2,160条选通线GL和四个子像素WRGB，并且因此，可以设置3,840×4＝15,360条数据线DL。每个子像素SP设置在选通线GL与数据线DL之间的相交处。
选通驱动电路120可以由控制器140控制，以依次向设置在显示面板110中的多条选通线GL输出扫描信号，从而控制多个子像素SP的驱动定时。
在具有2,160×3,840的分辨率的显示装置100中，依次向从第一选通线至第2,160条选通线的2,160条选通线GL输出扫描信号可以被称为2,160相驱动。向四条选通线GL的每个单元依次输出扫描信号(例如，在向第一选通线至第四选通线依次输出扫描信号之后向第五选通线至第八选通线依次输出扫描信号)被称为4相驱动。换句话说，向每N条选通线GL依次输出扫描信号可以被称为N相驱动。
选通驱动电路120可以包括一个或更多个选通驱动集成电路(GDIC)。根据驱动方案，选通驱动电路120可以设置在显示面板110的两个相对侧中的仅一侧或每一侧。选通驱动电路120可以以内置在显示面板110的边框区域中的面板内栅极(GIP)形式来实现。
数据驱动电路130从定时控制器140接收图像数据DATA，并将接收到的图像数据DATA转换为模拟数据电压。然后，在根据通过选通线GL施加扫描信号的定时将数据电压输出到每条数据线DL时，连接到数据线DL的每个子像素SP显示具有与数据电压对应的亮度的发光信号。
同样，数据驱动电路130可以包括一个或更多个源驱动集成电路SDIC，并且源驱动集成电路SDIC可以以载带自动键合(TAB)类型或玻上芯片(COG)类型连接到显示面板110的键合焊盘，或者可以直接设置在显示面板110上。
在某些情形下，每个源驱动集成电路SDIC可以集成并设置在显示面板110上。另外，每个源驱动集成电路SDIC可以以膜上芯片(COF)类型实现，并且在该情形下，每个源驱动集成电路SDIC可以安装在电路膜上，并可以通过电路膜电连接到显示面板110的数据线DL。
定时控制器140向选通驱动电路120和数据驱动电路130供应各种控制信号，并控制选通驱动电路120和数据驱动电路130的操作。换句话说，定时控制器140可以控制选通驱动电路120以根据在每个帧中实现的定时来输出扫描信号，并且另一方面，将从外部接收的图像数据DATA传送到数据驱动电路130。
在该情形下，与图像数据DATA一起，定时控制器140还从外部主机系统200接收若干定时信号，包括例如垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE和主时钟MCLK。
主机系统200可以是电视(TV)系统、机顶盒、导航系统、个人计算机(PC)、家庭影院系统、移动装置和可穿戴装置中的任一种。
相应地，定时控制器140可以根据从主机系统200接收的各种定时信号来生成控制信号，并将控制信号传送到选通驱动电路120和数据驱动电路130。
例如，定时控制器140输出包括例如选通起始脉冲GSP、选通时钟GCLK和选通输出使能信号GOE的若干选通控制信号以控制选通驱动电路120。选通起始脉冲GSP控制构成选通驱动电路120的一个或更多个选通驱动集成电路GDIC开始操作的定时。选通时钟GCLK是共同输入到一个或更多个选通驱动集成电路GDIC的时钟信号并控制扫描信号的移位定时。选通输出使能信号GOE指定关于一个或更多个选通驱动集成电路GDIC的定时信息。
定时控制器140输出包括例如源起始脉冲SSP、源采样时钟SCLK和源输出使能信号SOE的各种数据控制信号，以控制数据驱动电路130。源起始脉冲SSP控制构成数据驱动电路130的一个或更多个源驱动集成电路SDIC开始数据采样的定时。源采样时钟SCLK是控制源驱动集成电路SDIC中的采样数据的定时的时钟信号。源输出使能信号SOE控制数据驱动电路130的输出定时。
显示装置100还可以包括向例如显示面板110、选通驱动电路120和数据驱动电路130供应各种电压或电流或控制要供应的各种电压或电流的电力管理电路150。
电力管理电路150调节从主机系统200供应的直流(DC)输入电压Vin，从而产生驱动显示面板110、选通驱动电路120和数据驱动电路130所必需的电力。
子像素SP设置在选通线GL与数据线DL之间的相交处，并且发光元件可以设置在每个子像素SP中。例如，有机发光二极管显示器可以在每个子像素SP中包括诸如有机发光二极管这样的发光元件，并可以通过根据数据电压控制流向发光元件的电流来显示图像。
显示装置100可以是诸如液晶显示器、有机发光二极管显示器或等离子体显示面板这样的各种类型的装置中的一种。
图2是例示了根据本公开的实施方式的显示装置的系统的示例的视图。
参照图2，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，数据驱动电路130中所包括的源驱动集成电路SDIC以各种类型(例如，TAB、COG或COF)当中的膜上芯片(COF)类型来实现，并且选通驱动电路120以各种类型(例如，TAB、COG、COF或GIP)当中的面板内栅极(GIP)类型来实现。
当选通驱动电路120以GIP类型实现时，选通驱动电路120中所包括的多个选通驱动集成电路GDIC可以直接形成在显示面板110的边框区域中。在该情形下，选通驱动集成电路GDIC可以通过设置在边框区域中的选通驱动相关信号线接收生成扫描信号所必需的各种信号(例如，时钟信号、选通高电平电压、选通低电平电压等)。
同样，数据驱动电路130中所包括的一个或更多个源驱动集成电路SDIC各自可以安装在源膜SF上，并且源膜SF的一侧可以与显示面板110电连接。用于将源驱动集成电路SDIC和显示面板110的电连接的线可以设置在源膜SF上。
显示装置100可以包括用于多个源驱动集成电路SDIC与其它装置之间的电路连接的至少一个源印刷电路板SPCB以及用于安装控制部件和各种电子装置的控制印刷电路板CPCB。
源膜SF的安装有源驱动集成电路SDIC的另一侧可以连接到至少一个源印刷电路板SPCB。换句话说，源膜SF的安装有源驱动集成电路SDIC的一侧可以与显示面板110电连接，并且其另一侧可以与源印刷电路板SPCB电连接。
定时控制器140和电力管理电路(电力管理IC)150可以被安装在控制印刷电路板CPCB上。定时控制器140可以控制数据驱动电路130和选通驱动电路120的操作。电力管理电路150可以向显示面板110、数据驱动电路130和选通驱动电路120供应驱动电压或电流，并控制所供应的电压或电流。
至少一个源印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以通过至少一个连接构件而电路连接。连接构件可以包括例如柔性印刷电路FPC或柔性扁平电缆FFC。至少一个源印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以被集成到单个印刷电路板中。
显示装置100还可以包括电连接到控制印刷电路板CPCB的设置板170。在该情形下，设置板170也可以被称为电力板。用于管理显示装置100的总电力的主电力管理电路(M-PMC)160可以设置在设置板170上。主电力管理电路160可以与电力管理电路150互相配合。
在如此配置的显示装置100中，驱动电压在设置板170中产生并被传送到控制印刷电路板CPCB中的电力管理电路150。电力管理电路150通过柔性印刷电路FPC或柔性扁平电缆FFC将显示驱动或特征值感测所必需的驱动电压传送到源印刷电路板SPCB。通过源驱动集成电路SDIC供应传送到源印刷电路板SPCB的驱动电压，以在显示面板110中发射光或者感测特定子像素SP。
布置在显示装置100中的显示面板110中的子像素SP中的每一个可以包括发光元件和用于驱动有机发光二极管的电路元件(例如，驱动晶体管)。
构成每个子像素SP的电路元件的类型和数目可以根据要提供的功能和设计方案而变化。
图3是例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的构成子像素的电路的示例的视图。
参照图3，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，子像素SP可以包括一个或更多个晶体管和电容器，并且可以具有设置在其中的发光元件。
例如，子像素SP可以包括驱动晶体管DRT、开关晶体管SWT、感测晶体管SENT、存储电容器Cst和发光二极管ED。
驱动晶体管DRT包括第一节点N1、第二节点N2和第三节点N3。驱动晶体管DRT的第一节点N1可以是当开关晶体管SWT导通时被通过数据线DL从数据驱动电路130施加数据电压Vdata的栅节点。
驱动晶体管DRT的第二节点N2可以与发光二极管ED的阳极电极连接，并可以是源节点或漏节点。
驱动晶体管DRT的第三节点N3可以与被施加子像素驱动电压EVDD的驱动电压线DVL电连接，并可以是漏节点或源节点。
在该情形下，在显示驱动时段期间，可以向驱动电压线DVL供应显示图像所必需的子像素驱动电压EVDD。例如，显示图像所必需的子像素驱动电压EVDD可以为27V。
开关晶体管SWT电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1和数据线DL之间，并且选通线GL连接到栅节点。因此，开关晶体管SWT根据通过选通线GL供应的第一扫描信号SCAN1来操作。当导通时，开关晶体管SWT将通过数据线DL供应的数据电压Vdata传送到驱动晶体管DRT的栅节点，由此控制驱动晶体管DRT的操作。
感测晶体管SENT电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2和参考电压线RVL之间，并且选通线GL连接到栅节点。感测晶体管SENT根据通过选通线GL供应的第二扫描信号SCAN2来操作。当感测晶体管SENT导通时，通过参考电压线RVL供应的参考电压Vref被传送到驱动晶体管DRT的第二节点N2。
换句话说，在开关晶体管SWT和感测晶体管SENT被控制时，驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压和第二节点N2的电压被控制，使得可以供应用于驱动发光二极管ED的电流。
开关晶体管SWT和感测晶体管SENT的栅节点可以共同连接到一条选通线GL，或者可以连接到不同的选通线GL。示出了以下的示例：开关晶体管SWT和感测晶体管SENT连接到不同的选通线，其中，可以通过经由不同的选通线GL传送的第一扫描信号SCAN1和第二扫描信号SCAN2独立地控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT。
相比之下，如果开关晶体管SWT和感测晶体管SENT连接到一条选通线GL，则可以通过经由一条选通线GL传送的第一扫描信号SCAN1或第二扫描信号SCAN2来同时控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT，并且子像素SP的开口率可以增加。
设置在子像素SP中的晶体管可以是n型晶体管或p型晶体管，并且在所示出的示例中，晶体管是n型晶体管。
存储电容器Cst电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1和第二节点N2之间，并且在一帧期间保持数据电压Vdata。
存储电容器Cst也可以根据驱动晶体管DRT的类型而连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1和第三节点N3之间。发光二极管ED的阳极电极可以与驱动晶体管DRT的第二节点N2电连接，并且基电压EVSS可以被施加到有机发光二极管ED的阴极电极。
基电压EVSS可以是地电压或高于或低于地电压的电压。基电压EVSS可以根据驱动状态而变化。例如，显示驱动时的基电压EVSS和感测驱动时的基电压EVSS可以被设置为彼此不同。
开关晶体管SWT和感测晶体管SENT可以被称为通过扫描信号SCAN1和SCAN2控制的扫描晶体管。
子像素SP的结构还可以包括一个或更多个晶体管，或者在某些情形下，还包括一个或更多个电容器。
为了有效地感测驱动晶体管DRT的特征值，例如，阈值电压或迁移率，本公开的显示装置100可以使用用于在驱动晶体管DRT的特征值感测时段期间测量因充入存储电容器Cst的电压而流动的电流的方法(这被称为电流感测)。
换句话说，可以通过在子像素SP中的驱动晶体管DRT的特征值感测时段期间测量因充入存储电容器Cst的电压而流动的电流来弄清驱动晶体管DRT的特征值或特征值的变化。
在该情形下，参考电压线RVL不仅用于传送参考电压Vref，而且用作用于感测子像素中的驱动晶体管DRT的特征值的感测线。因此，参考电压线RVL也可以被称为感测线或感测通道。
更具体地，驱动晶体管DRT的特征值或特征值的变化可以对应于驱动晶体管DRT的栅节点电压与源节点电压之间的差值。
对驱动晶体管DRT的特征值的补偿可以通过使用外部补偿电路来感测和补偿驱动晶体管DRT的特征值的外部补偿或者感测和补偿子像素SP内部的驱动晶体管DRT的特征值而非使用附加外部配置的内部补偿来执行。
在该情形下，可以在显示装置100出厂之前执行外部补偿，并且可以在显示装置100出厂之后执行内部补偿。然而，即使在显示装置100出厂之后，也可以将内部补偿和外部补偿一起执行。
图4是例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的选通驱动电路以GIP类型实现的显示面板的示例的视图。
参照图4，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，2n条选通线GL(1)至GL(2n)(其中，n为自然数)可以设置在用于在显示面板110中显示图像的显示区域A/A中。
在该情形下，选通驱动电路120可以包括对应于2n条选通线GL(1)至GL(2n)并且(例如，沿着边缘)内置并设置在与显示面板110的显示区域A/A的外部部分对应的非显示区域中的2n个GIP电路GIPC。
相应地，2n个GIP电路GIPC可以将扫描信号SCAN输出到2n条选通线GL(1)至GL(2n)。
如此，当选通驱动电路120以GIP类型实现时，不必形成具有选通驱动功能的单独集成电路并将其结合到显示面板110。因此，可以减少集成电路的数目并省略将集成电路连接到显示面板110的过程。还可以减小显示面板110中用于结合集成电路的边框区域的大小。
2n个GIP电路GIPC可以被表示为GIPC(1)、GIPC(2)、…GIPC(2n)以便彼此区分开并识别2n条选通线GL(1)至GL(2n)之间的对应关系。
这里示出了2n个GIP电路GIPC(1)至GIPC(2n)设置在显示区域A/A的划分的两侧的示例。例如，在2n个GIP电路GIPC(1)至GIPC(2n)当中，奇数编号的GIP电路GIPC(1)、GIPC(3)、…、GIPC(2n-1)可以驱动奇数编号的选通线GL(1)、GL(3)、…、GL(2n-1)。在2n个GIP电路GIPC(1)至GIPC(2n)当中，偶数编号的GIP电路GIPC(2)、GIPC(4)、…、GIPC(2n)可以驱动偶数编号的选通线GL(2)、GL(4)、…、GL(2n)。
另选地，2n个GIP电路GIPC(1)至GIPC(2n)可以设置在显示区域A/A的仅一侧。
用于传送生成扫描信号SCAN并将其输出到选通驱动电路120所必需的选通时钟的多条时钟信号线CL可以设置在与显示面板110的显示区域A/A的外部部分对应的非显示区域中。
图5是示意性例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的GIP电路的配置的框图。
参照图5，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，一个GIP电路GIPC可以包括移位寄存器122和缓冲电路124。
GIP电路GIPC可以根据选通起始脉冲GSP开始操作，并根据选通时钟GCLK输出扫描信号SCAN。从GIP电路GIPC输出的扫描信号SCAN依次移位，并通过选通线GL依次供应。
缓冲电路124具有对于选通驱动状态而言重要的两个节点Q和QB，并且可以包括上拉晶体管TU和下拉晶体管TD。上拉晶体管TU的栅节点可以对应于Q节点，并且下拉晶体管TD的栅节点可以对应于QB节点。
移位寄存器122也可以被称为移位逻辑电路，并且可以用于与选通时钟GCLK同步地生成扫描信号SCAN。
移位寄存器122可以控制连接到缓冲电路124的Q节点和QB节点，使得缓冲电路124可以输出扫描信号SCAN，并且为此目的，可以包括多个晶体管。
移位寄存器122开始生成扫描信号SCAN，并根据选通时钟GCLK依次启用移位寄存器122的输出。换句话说，可以通过使用选通时钟GCLK控制移位寄存器122的输出时间来传送用于依次确定选通线GL的开/关的逻辑状态。
根据移位寄存器122，缓冲电路124的Q节点和QB节点的相应电压状态可以不同。相应地，缓冲电路124可以向对应的选通线G输出用于启用相应选通线GL的电压(例如，对应于高电平电压或低电平电压并且可以是例如具有选通高电平电压VGH的时钟信号)，或者向对应的选通线G输出用于启用相应选通线GL的电压(例如，对应于低电平电压或高电平电压并且可以是例如具有选通低电平电压VGL的基电压VSS)。
此外，除了移位寄存器122和缓冲电路124之外，一个GIP电路GIPC还可以包括电平移位器。
在该情形下，可以以各种结构连接构成GIP电路GIPC的移位寄存器122和缓冲电路124。
图6是例示了根据本公开的实施方式的构成选通驱动电路的多个级电路的配置的视图。
参照图6，根据本公开的另一实施方式的选通驱动电路120可以包括第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)(其中，k是大于零的正整数)、选通驱动电压线131、时钟信号线132、线感测准备信号线133和复位信号线134。
选通驱动电路120还可以包括设置在第一级电路ST(1)之前的先前虚设级电路DST1和设置在第k级电路ST(k)之后的后续虚设级电路DST2。
选通驱动电压线131将从电力管理电路150供应的高电位选通电压GVDD和低电位选通电压GVSS施加到第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)、先前虚设级电路DST1和后续虚设级电路DST2中的每一个。
选通驱动电压线131可以包括供应具有不同电压电平的多个高电位选通电压的多条高电位选通电压线以及供应具有不同电压电平的多个低电位选通电压的多条低电位选通电压线。
例如，选通驱动电压线131可以包括分别供应具有不同电压电平的第一高电位选通电压GVDD1、第二高电位选通电压GVDD2和第三高电位选通电压GVDD3的三条高电位选通电压线以及分别供应具有不同电压电平的第一低电位选通电压GVSS1、第二低电位选通电压GVSS2和第三低电位选通电压GVSS3的三条低电位选通电压线。然而，这仅仅是示例，选通驱动电压线131中所包括的线的数目可以根据实施方式而变化。
时钟信号线132向第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)、先前虚设级电路DST1和后续虚设级电路DST2中的每一个供应从定时控制器140供应的多个时钟信号CLK，例如，进位时钟信号或扫描时钟信号。
线感测准备信号线133将从定时控制器140供应的线感测准备信号LSP供应到第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)。可选地，线感测准备信号线133可以另外连接到先前虚设级电路DST1。
复位信号线134向第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)、先前虚设级电路DST1和后续虚设级电路DST2中的每一个发送从定时控制器140供应的复位信号RESET。
面板上信号线135向第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)、先前虚设级电路DST1和后续虚设级电路DST2中的每一个发送从定时控制器140供应的面板上信号POS。
除了所示出的线131、132、133和134之外的用于供应其它信号的线可以另外与第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)、先前虚设级电路DST1和后续虚设级电路DST2连接。例如，用于向先前虚设级电路DST1供应选通起始脉冲GSP的线可以另外连接到先前虚设级电路DST1。
先前虚设级电路DST1响应于从定时控制器140供应的选通起始脉冲GSP的输入而输出先前进位信号C。
先前进位信号C可以被供应到第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)中的任一个。
后续虚设级电路DST2输出后续进位信号C。后续进位信号C可以被供应到第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)中的任一个。
第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)可以逐步地或以级联方式彼此连接。
第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)各自输出j个(其中，j是大于零的正整数)扫描信号SCAN和一个进位信号C。换句话说，任一级电路输出第一扫描信号至第j扫描信号和一个进位信号C。
例如，每一级电路输出四个扫描信号SCAN和一个进位信号C。例如，第一级电路ST(1)输出第一扫描信号SCAN(1)、第二扫描信号SCAN(2)、第三扫描信号SCAN(3)和第四扫描信号SCAN(4)以及第一进位信号C(1)，并且第二级电路ST(2)输出第五扫描信号SCAN(5)、第六扫描信号SCAN(6)、第七扫描信号SCAN(7)、第八扫描信号SCAN(8)和第二进位信号C(2)。因此，在本实施方式中，j为4。
从第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)输出的扫描信号的数目与设置在显示面板10上的选通线15的数目n匹配。如上所述，每一级电路输出j个扫描信号。因此，等式j×k＝n成立。
例如，当j＝4时，级电路的数目k是选通线GL的数目n的1/4。然而，每一级电路输出的扫描信号的数目不限于此。换句话说，在本公开的实施方式中，每一级电路可以输出一个、两个或三个扫描信号，或者可以输出五个或更多个扫描信号。级电路的数目可以根据每一级电路输出的扫描信号的数目而变化。
从第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)输出的扫描信号SCAN可以是用于感测驱动晶体管DRT的阈值电压的扫描信号，并且可以是用于显示图像的选通信号。从第一级电路ST(1)至第k级电路ST(k)输出的进位信号C可以被分别供应到不同的级电路。从先前级电路供应到任何级电路的进位信号被称为先前级进位信号，并且从后续级电路供应的进位信号被称为后续进位信号。
图7是例示了根据本公开的实施方式的显示驱动电路中的构成选通驱动电路的选通驱动集成电路的视图。
参照图7，根据本公开的实施方式的选通驱动集成电路GDIC可以包括M节点、Q节点和QB节点，并且可以包括线选择单元502、Q节点控制单元504、Q节点稳定单元506、反相器单元508、QB节点稳定单元510、进位信号输出单元512和扫描信号输出单元514。
线选择单元502响应于线感测准备信号LSP的输入而基于先前级的进位信号C(k-2)对M节点进行充电。响应于复位信号RESET的输入，线选择单元502基于M节点的充电电压将Q节点充电至第一高电位选通电压GVDD1的电平。线选择单元502响应于面板上信号POS的输入将Q节点放电或复位至第三低电位选通电压GVSS3的电平。
线选择单元502包括第一晶体管T11至第七晶体管T17和预充电电容器CA。
第一晶体管T11和第二晶体管T12连接在传送第一高电位选通电压GVDD1的第一高电位选通电压线和M节点之间。第一晶体管T11与第二晶体管T12彼此串联连接。
第一晶体管T11响应于线感测准备信号LSP的输入，将先前进位信号C(k-2)输出到第一连接节点NC1。
第二晶体管T12响应于线感测准备信号LSP的输入，将第一连接节点NC1电连接到M节点。例如，在高电压的线感测准备信号LSP被输入到第一晶体管T11和第二晶体管T12时，第一晶体管T11和第二晶体管T12同时导通，使得M节点被充电至第一高电位选通电压GVDD1的电平。
当M节点的电压电平为高电平时，第三晶体管T13导通，从而将第一高电位选通电压GVDD1供应到第一连接节点NC1。当第一高电位选通电压GVDD1被供应到第一连接节点NC1时，第一晶体管T11的选通电压与第一连接节点NC1之间的电压差增大。
相应地，当低电平线感测准备信号LSP被输入到第一晶体管T11的栅节点使得第一晶体管T11截止时，由于第一晶体管T11的栅电压与第一连接节点NC1之间的电压差，导致第一晶体管T11可以保持在完全截止状态。相应地，可以防止第一晶体管T11的电流泄漏和M节点的电压降，使得M节点的电压可以保持稳定。
预充电电容器CA连接在传送第一高电位选通电压GVDD1的第一高电位选通电压线和M节点之间，从而存储第一高电位选通电压GVDD1与充入M节点中的电压之间的差值。
如果第一晶体管T11、第二晶体管T12和第三晶体管T13导通，则预充电电容器CA存储先前进位信号C(k-2)的高电压。如果第一晶体管T11、第二晶体管T12和第三晶体管T13截止，则预充电电容器CA在预定时间内将M节点的电压保持为所存储的电压。
第四晶体管T14和第五晶体管T15连接在传送第一高电位选通电压GVDD1的第一高电位选通电压线和Q节点之间。第四晶体管T14与第五晶体管T15彼此串联连接。
第四晶体管T14和第五晶体管T15响应于M节点电压和复位信号RESET的输入，利用第一高电位选通电压GVDD1对Q节点进行充电。
当M节点的电压处于高电平时，第四晶体管T14导通，以将第一高电位选通电压GVDD1传送到第四晶体管T14和第五晶体管T15的共享节点。
第五晶体管T15因高电平复位信号RESET而导通，以将共享节点的电压供应到Q节点。相应地，如果第四晶体管T14和第五晶体管T15同时导通，则利用第一高电位选通电压GVDD1对Q节点进行充电。
第六晶体管T16和第七晶体管T17连接在Q节点和传送第三低电位选通电压GVSS3的第三低电位选通电压线之间。第六晶体管T16与第七晶体管T17彼此串联连接。
第六晶体管T16和第七晶体管T17响应于面板上信号POS的输入，将Q节点放电至第三低电位选通电压GVSS3。将Q节点放电至第三低电位选通电压GVSS3可以被表示为复位Q节点。
第七晶体管T17因高电平面板上信号POS的输入而导通，以将第三低电位选通电压GVSS3供应到QH节点。
第六晶体管T16因高电平面板上信号POS的输入而导通，以电连接Q节点和QH节点。相应地，如果第六晶体管T16和第七晶体管T17同时导通，则Q节点被放电或复位至第三低电位选通电压GVSS3。
Q节点控制单元504响应于先前进位信号C(k-2)的输入将Q节点充电至第一高电位选通电压GVDD1的电平，并响应于后续进位信号C(k+2)的输入将Q节点放电至第三低电位选通电压GVSS3的电平。
Q节点控制单元504包括第一晶体管T21至第八晶体管T28。
第一晶体管T21和第二晶体管T22连接在传送第一高电位选通电压GVDD1的第一高电位选通电压线和Q节点之间。第一晶体管T21与第二晶体管T22彼此串联连接。
第一晶体管T21和第二晶体管T22响应于先前进位信号C(k-2)的输入将Q节点充电至第一高电位选通电压GVDD1。
第一晶体管T21因先前进位信号C(k-2)的输入而导通，以将第一高电位选通电压GVDD1供应到第二连接节点NC2。
第二晶体管T22因先前进位信号C(k-2)的输入而导通，以将第二连接节点NC2与Q节点电连接。相应地，如果第一晶体管T21和第二晶体管T22同时导通，则第一高电位选通电压GVDDl被供应到Q节点。
第五晶体管T25和第六晶体管T26连接到传送第三高电位选通电压GVDD3的第三高电位选通电压线。第五晶体管T25和第六晶体管T26响应于第三高电位选通电压GVDD3将第三高电位选通电压GVDD3供应到第二连接节点NC2。
第五晶体管T25和第六晶体管T26因第三高电位选通电压GVDD3而同时导通，以始终向第二连接节点NC2供应第三高电位选通电压GVDD3，由此增大了第一晶体管T21的栅电压和第二连接节点NC2之间的电压差。相应地，当低电平的先前进位信号C(k-1)被输入到第一晶体管T21的栅节点使得第一晶体管T21截止时，由于第一晶体管T21的栅电压与第二连接节点NC2之间的电压差，导致第一晶体管T21可以保持在完全截止状态。
相应地，可以防止第一晶体管T21的电流泄漏和所造成的Q节点的电压降，使得Q节点的电压可以保持稳定。
例如，当第一晶体管T21的阈值电压为负(-)时，由于供应到漏电极的第三高电位选通电压GVDD3，导致第一晶体管T21的栅-源电压Vgs保持负(-)。
相应地，当低电平的先前进位信号C(k-2)被输入到第一晶体管T21的栅节点使得第一晶体管T21截止时，第一晶体管T21保持完全截止状态，从而防止漏电流。
第三高电位选通电压GVDD3被设置为比第一高电位选通电压GVDD1低的电压电平。
第三晶体管T23和第四晶体管T24连接在Q节点和传送第三低电位选通电压GVSS3的第三低电位选通电压线之间。第三晶体管T23与第四晶体管T24彼此串联连接。
第三晶体管T23和第四晶体管T24响应于后续进位信号C(k+2)的输入将Q节点和QH节点放电至第三低电位选通电压GVSS3电平。
第四晶体管T24根据后续进位信号C(k+2)的输入而导通，以将QH节点放电至第三低电位选通电压GVSS3电平。第三晶体管T23根据后续进位信号C(k+2)的输入而导通，以将Q节点与QH节点电连接。相应地，如果第三晶体管T23和第四晶体管T24同时导通，则Q节点和QH节点各自被放电或复位至第三低电位选通电压GVSS3的电平。
第七晶体管T27和第八晶体管T28连接在传送第一高电位选通电压GVDD1的第一高电位选通电压线和Q节点之间以及传送第一高电位选通电压GVDD1的第一高电位选通电压线和QH节点之间。第七晶体管T27与第八晶体管T28彼此串联连接。
第七晶体管T27和第八晶体管T28响应于Q节点的电压将第一高电位选通电压GVDD1供应到QH节点。当Q节点的电压处于高电平时，第七晶体管T27导通，以将第一高电位选通电压GVDD1供应到第七晶体管T27和第八晶体管T28的共享节点。
当Q节点的电压处于高电平时，第八晶体管T28导通，以将共享节点与QH节点电连接。相应地，当Q节点的电压处于高电平时，第七晶体管T27和第八晶体管T28同时导通，以将第一高电位选通电压GVDD1供应到QH节点。
如果第一高电位选通电压GVDD1被供应到QH节点，则第三晶体管T23的栅节点与QH节点之间的电压差增大。相应地，当低电平的后续进位信号C(k+2)被输入到第三晶体管T23的栅节点使得第三晶体管T23截止时，由于第三晶体管T23的栅电压与QH节点之间的电压差，导致第三晶体管T23可以保持在完全截止状态。相应地，可以防止第三晶体管T23的电流泄漏和所造成的Q节点的电压降，使得Q节点的电压可以保持稳定。
Q节点稳定单元506响应于QB节点的电压将Q节点和QH节点放电至第三低电位选通电压GVSS3的电平。Q节点稳定单元506可以包括第一晶体管T31和第二晶体管T32。第一晶体管T31和第二晶体管T32连接在Q节点和传送第三低电位选通电压GVSS3的第三低电位选通电压线之间。第一晶体管T31与第二晶体管T32彼此串联连接。
第一晶体管T31和第二晶体管T32响应于QB节点的电压将Q节点和QH节点放电至第三低电位选通电压GVSS3的电平。当QB节点的电压处于高电平时，第二晶体管T32导通，以将第三低电位选通电压GVSS3供应到第一晶体管T31和第二晶体管T32的共享节点。
当QB节点的电压处于高电平时，第一晶体管T31导通，以将Q节点与QH节点电连接。相应地，如果第一晶体管T31和第二晶体管T32响应于QB节点的电压而同时导通，则Q节点和QH节点各自被放电或复位至第三低电位选通电压GVSS3的电平。
反相器单元508根据Q节点的电压电平来改变QB节点的电压电平。反相器单元508包括第一晶体管T41至第五晶体管T45。
第二晶体管T42和第三晶体管T43连接在传送第二高电位选通电压GVDD2的第二高电位选通电压线和第三连接节点NC3之间。第二晶体管T42与第三晶体管T43彼此串联连接。
第二晶体管T42和第三晶体管T43响应于第二高电位选通电压GVDD2将第二高电位选通电压GVDD2供应到第三连接节点NC3。第二晶体管T42因第二高电位选通电压GVDD2而导通，以将第二高电位选通电压GVDD2供应到第二晶体管T42和第三晶体管T43的共享节点。
第三晶体管T43因第二高电位选通电压GVDD2而导通，以将第二晶体管T42和第三晶体管T43的共享节点与第三连接节点NC3电连接。相应地，如果第二晶体管T42和第三晶体管T43因第二高电位选通电压GVDD2而同时导通，则第三连接节点NC3被充电至第二高电位选通电压GVDD2的电平。
第四晶体管T44连接在第三连接节点NC3和传送第二低电位选通电压GVSS2的第二低电位选通电压线之间。
第四晶体管T44响应于Q节点的电压将第二低电位选通电压GVSS2供应到第三连接节点NC3。当Q节点的电压处于高电平时，第四晶体管T44导通，以将第三连接节点NC3放电或复位至第二低电位选通电压GVSS2。
第一晶体管T41连接在传送第二高电位选通电压GVDD2的第二高电位选通电压线和QB节点之间。
第一晶体管T41响应于第三连接节点NC3的电压将第二高电位选通电压GVDD2供应到QB节点。当第三连接节点NC3的电压处于高电平时，第一晶体管T41导通，以将QB节点充电至第二高电位选通电压GVDD2的电平。
第五晶体管T45连接在QB节点和传送第三低电位选通电压GVSS3的第三低电位选通电压线之间。
第五晶体管T45响应于Q节点的电压将第三低电位选通电压GVSS3供应到QB节点。当Q节点的电压处于高电平时，第五晶体管T45导通，以将QB节点放电或复位至第三低电位选通电压GVSS3电平。
QB节点稳定单元510响应于后续进位信号C(k-2)的输入、复位信号RESET的输入以及M节点的充电电压，将QB节点放电至第三低电位选通电压GVSS3。QB节点稳定单元510可以包括第一晶体管T51至第三晶体管T53。
第一晶体管T51连接在QB节点和传送第三低电位选通电压GVSS3的第二低电位选通电压线之间。
第一晶体管T51响应于后续进位信号C(k-2)的输入将第三低电位选通电压GVSS3供应到QB节点。
第二晶体管T52和第三晶体管T53连接在QB节点和传送第三低电位选通电压GVSS3的第三低电位选通电压线之间。第二晶体管T52与第三晶体管T53彼此串联连接。
第二晶体管T52和第三晶体管T53响应于复位信号RESET的输入和M节点的充电电压而将QB节点放电至第三低电位选通电压GVSS3电平。
当M节点的电压处于高电平时，第三晶体管T53导通，以将第三低电位选通电压GVSS3供应到第二晶体管T52和第三晶体管T53的共享节点。
第二晶体管T52因复位信号RESET的输入而导通，以将第二晶体管T52和第三晶体管T53的共享节点与QB节点电连接。相应地，如果在M节点的电压处于高电平的同时输入复位信号RESET，则第二晶体管T52和第三晶体管T53同时导通，以将QB节点放电或复位至第三低电位选通电压GVSS3电平。
进位信号输出单元512根据Q节点的电压电平或QB节点的电压电平，基于进位时钟信号CRCLK(k)的电压电平或第三低电位选通电压GVSS3电平来输出进位信号C(k)。
进位信号输出单元512包括第一晶体管T61、第二晶体管T62和升压电容器CC。
第一晶体管T61连接在传送进位时钟信号CRCLK(k)的时钟信号线与第一输出节点NO1之间。升压电容器CC连接在第一晶体管T61的栅节点和源节点之间。
第一晶体管T61响应于Q节点的电压基于进位时钟信号CRCLK(k)通过第一输出节点NO1输出高电平进位信号C(k)。当Q节点的电压处于高电平时，第一晶体管T61导通，以将高电平的进位时钟信号CRCLK(k)供应到第一输出节点NO1。相应地，输出高电平进位信号C(k)。
当输出进位信号C(k)时，升压电容器CC与高电平进位时钟信号CRCLK(k)同步地将Q节点的电压自举到比第一高电位选通电压GVDD1高的升压电压电平。如果Q节点的电压被自举，则可以快速且无失真地输出高电平进位时钟信号CRCLK(k)作为进位信号C(k)。
第二晶体管T62连接在第一输出节点NO1和传送第三低电位选通电压GVSS3的第三低电位选通电压线之间。
第二晶体管T62响应于QB节点的电压基于第三低电位选通电压GVSS3通过第一输出节点NO1输出低电平进位信号C(k)。当QB节点的电压处于高电平时，第二晶体管T62导通，以将第三低电位选通电压GVSS3供应到第一输出节点NO1。相应地，输出低电平进位信号C(k)。
扫描信号输出单元514根据Q节点的电压电平或QB节点的电压电平基于第一低电位选通电压GVSS1电平或多个扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)的电压电平来输出多个扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)(其中，i是大于零的正整数)。
扫描信号输出单元514包括第一晶体管T71至第八晶体管T78以及升压电容器CS1、CS2、CS3和CS4。
第一晶体管T71、第三晶体管T73、第五晶体管T75和第七晶体管T77连接在传送扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)的时钟信号线与第二输出节点NO2至第五输出节点NO5之间。
升压电容器CS1、CS2、CS3和CS4连接在第一晶体管T71、第三晶体管T73、第五晶体管T75和第七晶体管T77的栅节点和源节点之间。
第一晶体管T71、第三晶体管T73、第五晶体管T75和第七晶体管T77响应于Q节点的电压基于扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)通过第二输出节点NO2、第三输出节点NO3、第四输出节点NO4和第五输出节点NO5分别输出高电平的扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)。
当Q节点的电压为高电平时，第一晶体管T71、第三晶体管T73、第五晶体管T75和第七晶体管T77导通，从而分别向第二输出节点NO2、第三输出节点NO3、第四输出节点NO4和第五输出节点NO5供应高电平的扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)。相应地，分别输出高电平的扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)。
第一晶体管T71、第三晶体管T73、第五晶体管T75和第七晶体管T77各自对应于上拉晶体管。
当输出扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)时，自举电容器CS1、CS2、CS3和CS4与高电平的扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)同步地将Q节点的电压自举或增大至比第一高电位选通电压GVDD1电平高的自举电压电平。如果Q节点的电压被自举，则高电平的扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)可以被快速且无失真地输出为扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)。
第二晶体管T72、第四晶体管T74、第六晶体管T76和第八晶体管T78响应于QB节点的电压基于第一低电位选通电压GVSS1通过第二输出节点NO2、第三输出节点NO3、第四输出节点NO4和第五输出节点NO5分别输出低电平的扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)。
当QB节点的电压处于高电平时，第二晶体管T72、第四晶体管T74、第六晶体管T76和第八晶体管T78导通，从而分别向第二输出节点NO2、第三输出节点NO3、第四输出节点NO4和第五输出节点NO5供应第一低电位选通电压GVSS1。相应地，输出低电平的扫描信号SCAN(i)、SCAN(i+1)、SCAN(i+2)和SCAN(i+3)。
第二晶体管T72、第四晶体管T74、第六晶体管T76和第八晶体管T78各自对应于下拉晶体管。
这里描述的是以下的示例：被设置为不同电平的三个高电位选通电压GVDD1、GVDD2和GVDD3以及被设置为不同电平的三个低电位选通电压GVSS1、GVSS2和GVSS3被供应到每个级电路。例如，第一高电位选通电压GVDD1、第二高电位选通电压GVDD2和第三高电位选通电压GVDD3可以分别被设置为20V、16V和14V，并且第一低电位选通电压GVSS1、第二低电位选通电压GVSS2和第三低电位选通电压GVSS3可以分别被设置为-6V、-10V和-12V。这些值仅仅是示例，并且高电位选通电压和低电位选通电压的电平可以根据实施方式被设置为不同。
由于选通驱动集成电路GDIC包括多个晶体管(例如，每个都有可能具有它们自己的略有不同的特征值)，因此选通驱动集成电路GDIC的劣化和寿命可以由它们当中的劣化最多的晶体管来确定。
通常，在选通驱动集成电路GDIC中，Q节点的稳定起着重要作用，因此，可以说施加到构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的应力相对大。
相应地，为了延长选通驱动集成电路GDIC的寿命，用于根据显示装置100的驱动时间感测和补偿构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的劣化的结构是优选的。
图8是例示了根据本公开的实施方式的用于补偿显示装置中的选通驱动电路的劣化的结构的示例的视图。
参照图8，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，反馈电路516可以被包括在构成选通驱动电路120的多个选通驱动集成电路GDIC当中的至少一个或更多个选通驱动集成电路GDIC中。
相应地，设置有反馈电路516的选通驱动集成电路可以被表示为反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)，并且没有设置反馈电路516的选通驱动集成电路可以被表示为典型的选通驱动集成电路。
反馈电路516可以包括其栅节点连接到QB节点的至少一个或更多个反馈晶体管FT1、FT2和FT3。这里示出了以下示例：反馈电路516包括三个反馈晶体管FT1、FT2和FT3，并连接到进位信号输出单元512的后端(扫描信号输出单元514被省略)。
反馈晶体管FT1、FT2和FT3的栅节点与反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)的QB节点连接，并且反馈晶体管FT1、FT2、FT3的漏节点连接到第一低电位选通电压GVSS1。反馈晶体管FT1、FT2和FT3的源节点联合地连接并连接到反馈线。
相应地，高电位选通电压补偿电路152通过在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中配置的反馈电路516接收反馈电压GVDD_FB，并生成要施加到多个选通驱动集成电路GDIC的补偿高电位选通电压PGVDD。补偿高电位选通电压PGVDD可以被施加到具有反馈电路516的反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)和没有反馈电路516的选通驱动集成电路GDIC二者。
反馈电压GVDD_FB可以是反馈晶体管FT1、FT2和FT3的源节点电压。
在该情形下，为了减小晶体管T31和T32上的应力，供应由高电位选通电压补偿电路152生成的补偿高电位选通电压PGVDD作为与构成反相器单元508的晶体管T41、T42、T43和T44的驱动电压对应的第二高电位选通电压GVDD2以减小构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的栅-源电压是有效的。
高电位选通电压补偿电路152可以设置在电力管理电路150中。
高电位选通电压补偿电路152可以包括具有接收反馈电压GVDD_FB的非反相输入端子(+)的放大器AMP、连接到放大器AMP的反相输入端子(-)以传送参考电压Vref的参考电阻器Rref、连接到放大器AMP的非反相输入端子(+)以传送至少一个设置电压V1和V2的至少一个设置电阻器R1和R2以及连接在放大器AMP的反相输入端子(-)和输出端子之间的反馈电阻器Rfb。
相应地，高电位选通电压补偿电路152可以与从反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)的反馈电路516传送的反馈电压GVDD_FB互相配合，从而控制施加到多个选通驱动集成电路GDIC的补偿高电位选通电压PGVDD的电平。
在该情形下，可以考虑根据施加到非反相输入端子(+)的反馈电压GVDD_FB控制的补偿高电位选通电压PGVDD的电平来确定参考电阻器Rref、设置电阻器R1和R2以及反馈电阻器Rfb的值。
图9和图10是概念性例示了根据本公开的实施方式的通过用于补偿施加到显示装置中的选通驱动电路的高电位选通电压的工艺来减少选通驱动电路的劣化的效果的视图。
参照图9，随着根据本公开的实施方式的显示装置100的驱动时间增加，构成选通驱动电路120的Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的阈值电压Vth增大。
在该情形下，与高电位选通电压GVDD2和阈值电压Vth之间的差值对应的电压变大，并在构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32中充当应力。
如果施加到选通驱动电路120的高电位选通电压GVDD2保持在恒定电平，则施加到构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的应力由于在显示装置100的初始驱动时段中的高电位选通电压GVDD2与阈值电压Vth之间的大差值而增加(应力1)。
可以通过供应反映了通过选通驱动电路120中配置的反馈电路516供应的反馈电压GVDD_FB的比施加到选通驱动电路120的高电位选通电压GVDD2低的电平的补偿高电位选通电压PGVDD来减轻构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的应力(应力2)。
结果，可以降低构成Q节点稳定单元506的晶体管T31和T32的劣化率，并增加选通驱动电路120的寿命。
图10是通过实验例示了通过供应反映了通过选通驱动电路120中配置的反馈电路516供应的反馈电压GVDD_FB的比施加到选通驱动电路120的高电位选通电压GVDD2低的电平的补偿高电位选通电压PGVDD来延长选通驱动电路120的寿命的结果的曲线图。
尽管高电位选通电压补偿电路152可以生成补偿高电位选通电压PGVDD以线性地对应于通过选通驱动电路120中配置的反馈电路516供应的反馈电压GVDD_FB，还可以使用缩放器逐步改变补偿高电位选通电压PGVDD的电平。
图11是例示了根据本公开的实施方式的在显示装置中设置包括反馈电路的选通驱动集成电路的示例的视图。
参照图11，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，其中内置有反馈电路516的反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)可以设置在显示面板110的部分区域中。
例如，反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)可以设置在显示面板110的上/下/左/右角部中，以补偿显示面板110的劣化分布。
在该情形下，可以通过从设置在显示面板110的上/下/左/右角部中的反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)接收反馈电压GVDD_FB，根据显示面板110的位置来确定选通驱动集成电路GDIC的劣化状态。
结果，可以根据显示面板110内的各个位置来检测选通驱动集成电路GDIC的劣化状态，并根据显示面板110中的对应位置来生成反映劣化状态的补偿高电位选通电压PGVDD。
本公开的显示装置100还可以使用补偿高电位选通电压PGVDD来识别内置在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中的反馈电路516是否有缺陷。
图12是例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的选通驱动集成电路中内置的反馈电路和缺陷状态的示例的示图。
参照图12，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，构建在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中的反馈电路516可能引起连接线中的各种缺陷。
例如，可能出现构成反馈电路516的反馈晶体管FT1、FT2和FT3当中的最后级中的第三反馈晶体管FT3的栅节点和源节点短路的情形(情况1)、第三反馈晶体管FT3的栅节点和漏节点短路的情形(情况2)、第三反馈晶体管FT3的漏节点和源节点短路的情形、或反馈线开路的情形(情况4)。
当第三反馈晶体管FT3的栅节点和源节点短路时(情况1)，第三反馈晶体管FT3截止。在该情形下，反馈电压GVDD_FB出现错误，并且没有正常地生成补偿高电位选通电压PGVDD，从而造成显示面板110中的水平行缺陷的缺陷。
当第三反馈晶体管FT3的栅节点和漏节点短路时(情况2)，第三反馈晶体管FT3也截止。结果，反馈电压GVDD_FB出现错误，并且没有正常地产生补偿高电位选通电压PGVDD，从而造成显示面板110中的水平行缺陷的缺陷。
当第三反馈晶体管FT3的漏节点和源节点短路时(情况3)，第三反馈晶体管FT3停留在导通状态。相应地，正常地生成反馈电压GVDD_FB，但由于反馈电路516而导致的劣化迅速地进展，从而加速了反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中的缺陷。在该情形下，选通驱动电路120中的这种类型的错误造成显示面板110中的缺陷。
当从第三反馈晶体管FT3的源节点延伸的反馈线开路时(情况4)，第三反馈晶体管FT3停留在截止状态。相应地，反馈电压GVDD_FB没有被传送到高电位选通电压补偿电路152，使得补偿高电位选通电压PGVDD保持相同的电平(例如，不能适当地执行补偿)。结果，可能不可能实现由高电位选通电压GVDD引起的选通驱动电路120的劣化的降低。
相应地，期望检测内置在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中的反馈电路516中的错误，并且当出现错误时，通过显示或反映错误来控制补偿高电位选通电压PGVDD。
用于感测构成子像素SP的驱动晶体管DRT的特征值的电路可以用于检测内置在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中的反馈电路516中的错误。例如，用于感测构成子像素SP的驱动晶体管DRT的特征值的电路可以被重新用于执行检测反馈电路516中的错误的附加功能。
图13是例示了根据本公开的实施方式的感测显示装置中的驱动晶体管的特征值的示例电路结构的视图。
参照图13，根据本公开的实施方式的显示装置100可以包括用于补偿驱动晶体管DRT的特征值的偏差的部件。
例如，在显示装置100的感测时段中，驱动晶体管DRT的特征值或特征值的变化可以被应用为驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压(例如，Vdata-Vth)。
当感测晶体管SENT处于导通状态时，驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压可以对应于参考电压线RVL的电压。可以通过驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压来对参考电压线RVL上的线电容器Cline进行充电。由于被充入线电容器Cline的感测电压Vsen，导致参考电压线RVL可以具有与驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压对应的电压。
显示装置100可以包括感测与驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压对应的参考电压线RVL的电压并将该电压转换为数字数据的模数转换器ADC以及用于感测驱动晶体管DRT的特征值的开关电路SAM和SPRE。
用于控制感测驱动的开关电路SAM和SPRE可以包括用于控制每条参考电压线RVL与被供应参考电压的感测节点Npres之间的连接的特征值感测开关SPRE以及用于控制每条参考电压线RVL与模数转换器ADC之间的连接的采样开关SAM。
特征值感测开关SPRE是用于控制感测驱动操作的开关，并且由特征值感测开关SPRE供应到参考电压线RVL的参考电压成为感测参考电压VpreS。
用于感测驱动晶体管DRT的特征值的开关电路可以包括用于控制显示驱动操作的显示驱动开关RPRE。显示驱动开关RPRE可以控制每条参考电压线RVL与被供应参考电压的显示驱动参考电压节点Nprer之间的连接。
显示驱动开关RPRE是用于显示驱动操作的开关，并且由显示驱动开关RPRE供应到参考电压线RVL的参考电压对应于显示驱动参考电压VpreR。
在该情形下，特征值感测开关SPRE和显示驱动开关RPRE可以被分别设置，或者可以集成到单个开关中。感测参考电压VpreS和显示驱动参考电压VpreR可以具有相同的电压值或不同的电压值。
显示装置100的定时控制器140可以包括用于存储从模数转换器ADC传送的数据或先前存储参考值的存储器MEM以及将存储在存储器MEM中的参考值与接收到的数据进行比较并补偿特征值的偏差的补偿电路COMP。在该情形下，由补偿电路COMP计算出的补偿值可以被存储在存储器MEM中。
相应地，定时控制器140可以通过使用由补偿电路COMP计算出的补偿值来补偿将供应到数据驱动电路130的数字图像数据DATA，并可以将补偿后的数字图像数据DATA_comp输出到数据驱动电路130。
相应地，数据驱动电路130可以通过数模转换器DAC将补偿后的数字图像数据DATA_comp转换为模拟信号类型的数据电压Vdata，并通过输出缓冲器BUF将转换后的数据电压Vdata输出到数据线DL。结果，可以补偿相应子像素SP中的驱动晶体管DRT的特征值的偏差(例如，阈值电压的偏差或迁移率的偏差)。
数据驱动电路130可以包括包含锁存电路、数模转换器DAC和输出缓冲器BUF的数据电压输出电路136，并且在某些情形下，数据驱动电路130还可以包括模数转换器ADC和各种开关SAM、SPRE和RPRE。另选地，模数转换器ADC和各种开关SAM、SPRE和RPRE可以设置在数据驱动电路130的外部。
补偿电路COMP可以存在于定时控制器140的内部或外部。存储器MEM可以设置在定时控制器140的外部，或者可以以寄存器的形式在定时控制器140的内部实现。
本公开的显示装置100可以使用感测驱动晶体管DRT的特征值的电路来检测内置在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中的反馈电路516中的错误。
图14是例示了根据本公开的实施方式的检测内置在显示装置中的反馈选通驱动集成电路中的反馈电路中的错误的配置的示例的视图。
参照图14，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，数据驱动电路130可以包括包含锁存电路、数模转换器DAC和输出缓冲器BUF的数据电压输出电路136，并且在某些情形下，数据驱动电路130还可以包括模数转换器ADC和各种开关SAM、SPRE、RPRE和SGVDD。模数转换器ADC和各种开关SAM、SPRE、RPRE和SGVDD可以设置在数据驱动电路130的外部。
用于控制感测驱动的开关电路SAM、SPRE和SGVDD可以包括：特征值感测开关SPRE，其用于控制与用于检测驱动晶体管DRT的特征值的感测线对应的参考电压线RVL和被供应感测参考电压VpreS的感测参考电压节点Npres之间的连接；选通感测开关SGVDD，其用于控制从高电位选通电压补偿电路152供应的补偿高电位选通电压PGVDD的传送路径；以及采样开关SAM，其用于控制模数转换器ADC之间的连接。
特征值感测开关SPRE是用于控制驱动晶体管DRT的特征值感测的开关，并且由特征值感测开关SPRE供应到参考电压线RVL的参考电压成为感测参考电压VpreS。
选通感测开关SGVDD是用于控制从高电位选通电压补偿电路152传送的补偿高电位选通电压PGVDD的感测的开关，并且通过选通感测开关SGVDD的操作将补偿高电位选通电压PGVDD施加到参考电压线RVL。
如果在选通感测开关SGVDD导通的同时采样开关SAM导通，则定时控制器140可以检测供应到参考电压线RVL的补偿高电位选通电压PGVDD。以这种方式，感测电路可以在感测驱动晶体管DRT的特征值与感测补偿高电位选通电压PGVDD之间切换。
用于感测驱动晶体管DRT的特征值的开关电路可以包括用于控制显示驱动操作的显示驱动开关RPRE。显示驱动开关RPRE可以控制每条参考电压线RVL与被供应参考电压的显示驱动参考电压节点Nprer之间的连接。
显示驱动开关RPRE是用于显示驱动操作的开关，并且由显示驱动开关RPRE供应到参考电压线RVL的参考电压对应于显示驱动参考电压VpreR。
定时控制器140可以根据补偿高电位选通电压PGVDD的电平或电平的变化来确定反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)是否有错误，并且在确定在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)中出现错误时，输出选通错误信号GBD或者控制高电位选通电压补偿电路152以改变补偿高电位选通电压PGVDD的电平。
因此，本公开的显示装置100通过在经由数据驱动电路130的参考电压线RVL上形成的选通感测开关SGVDD检测补偿高电位选通电压PGVDD的电平变化的同时控制反映了设置在反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)的输出端处的反馈电路516的反馈电压GVDD_FB的补偿高电位选通电压PGVDD的电平来有效地确定选通驱动电路120中的错误。
另外，在本公开的显示装置100中，电力管理电路150可以根据定时来选择性供应补偿高电位选通电压PGVDD和显示驱动参考电压VpreR。
图15是例示了根据本公开的实施方式的用于在显示装置中选择性供应补偿高电位选通电压和显示驱动参考电压的电力管理电路的示例的视图。
参照图15，在根据本公开的实施方式的显示装置100中，电力管理电路150可以包括根据定时来选择性供应补偿高电位选通电压PGVDD和显示驱动参考电压VpreR的开关SPRER和SGVDD以及放大器Amp。
在该情形下，由于显示驱动参考电压VpreR可以不同于由高电位选通电压补偿电路152生成的补偿高电位选通电压PGVDD，因此可以包括缩放器154以将补偿高电位选通电压PGVDD调整至与显示驱动参考电压VpreR相近的电平。
显示感测开关SPRER是用于控制向放大器Amp供应显示驱动参考电压VpreR的时间的开关，并且选通感测开关SGVDD是用于控制向放大器Amp供应从高电位选通电压补偿电路152传送的补偿高电位选通电压PGVDD的时间的开关。
因此，可以通过显示感测开关SPRER和选通感测开关SGVDD的操作利用放大器Amp将显示驱动参考电压VpreR或补偿高电位选通电压PGVDD施加到参考电压线RVL。以这种方式，用于子像素的感测电路可以在感测驱动晶体管DRT的特征值与感测补偿高电位选通电压PGVDD之间切换。
放大器Amp的开/关操作可以由放大器控制信号OPC控制。
如此，当电力管理电路150根据定时选择性供应补偿高电位选通电压PGVDD和显示驱动参考电压VpreR时，可以不需要在数据驱动电路130中设置用于控制补偿高电位选通电压PGVDD的选通感测开关SGVDD。
为了使模数转换器ADC的偏差最小化，本公开的显示装置100可以通过虚设通道来感测补偿高电位选通电压PGVDD和特征值，由此降低模数转换器ADC的偏移噪声。
图16是例示了根据本公开的实施方式的感测通道和虚设通道布置在显示装置中的结构的示例的视图。
参照图16，根据本公开的实施方式的显示装置100可以在选通感测开关SGVDD和虚设感测开关SRTA的控制下通过虚设通道CHd1至CHdn供应补偿高电位选通电压PGVDD或虚设参考电压VRTA。
被供应补偿高电位选通电压PGVDD或虚设参考电压VRTA的一个或更多个虚设通道CHd1至CHdn可以设置在与构成显示面板110的子像素连接的感测通道CH1至CHn之间(图16的(a))，或者可以在感测通道CH1至CHn的左侧或右侧设置成一行(图16的(b))。
感测通道CH1至CHn分别通过采样开关SAM1至SAMn连接到对应于子像素的感测线，以便能够检测补偿高电位选通电压PGVDD或反映子像素SP的特征值(阈值电压或迁移率)的感测电压。
相应地，虚设通道CHd1至CHdn可以通过虚设采样开关SAMd1至SAMdn接收虚设参考电压VRTA或补偿高电位选通电压PGVDD，以补偿模数转换器ADC的增益或偏移。
下面，简要描述了以上实施方式。
本公开的显示装置100可以包括：显示面板110，其具有多个子像素SP；选通驱动电路120，其被配置为通过多条选通线GL向显示面板110供应多个扫描信号SCAN；数据驱动电路130，其被配置为通过多条数据线DL向显示面板110供应多个数据电压Vdata；电力管理电路150，其被配置为基于从选通驱动电路120传送的反馈电压GVDD_FB向选通驱动电路120和数据驱动电路130供应多个驱动电压并向选通驱动电路120供应补偿高电位选通电压PGVDD；以及定时控制器140，其被配置为控制选通驱动电路120、数据驱动电路130和电力管理电路150。
选通驱动电路120可以包括多个选通驱动集成电路GDIC。多个选通驱动集成电路GDIC中的至少一个可以被配置为包括反馈电路516的反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)。
反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)可以设置在显示面板110的一个或更多个角部中。
选通驱动集成电路GDIC可以包括：线选择单元502，其被配置为响应于线感测准备信号LSP的输入基于先前进位信号C(k-2)对M节点进行充电；Q节点控制单元504，其被配置为响应于先前进位信号C(k-2)将Q节点充电至第一高电位选通电压GVDD1的电平，并响应于后续进位信号C(k+2)的输入将Q节点放电至第三低电位选通电压GVSS3的电平；Q节点稳定单元506，其被配置为响应于QB节点的电压将Q节点和QH节点放电至第三低电位选通电压GVSS3的电平；反相器单元508，其被配置为根据Q节点的电压电平来改变QB节点的电压电平；QB节点稳定单元510，其被配置为响应于后续进位信号C(k+2)、复位信号RESET和M节点的充电电压，将QB节点放电至第三低电位选通电压GVSS3的电平；进位信号输出单元512，其被配置为根据Q节点的电压电平或QB节点的电压电平，基于进位时钟信号CRCLK(k)的电压电平或第三低电位选通电压GVSS3的电平来输出进位信号C(k)；以及扫描信号输出单元514，其被配置为根据Q节点的电压电平或QB节点的电压电平，基于多个扫描时钟信号SCCLK(i)、SCCLK(i+1)、SCCLK(i+2)和SCCLK(i+3)的电压电平或第一低电位选通电压GVSS1的电平来输出多个扫描信号SCAN。
补偿高电位选通电压PGVDD可以对应于驱动反相器单元508的第二高电位选通电压GVDD2。
反馈电路516可以包括具有连接到QB节点的栅节点、连接到第一低电位选通电压GVSS1的漏节点和连接到反馈电压GVDD_FB被传送到的反馈线的源节点的至少一个反馈晶体管FT1、FT2和FT3。
电力管理电路150可以包括被配置为使用通过反馈电路516传送的反馈电压GVDD_FB来向多个选通驱动集成电路GDIC供应补偿高电位选通电压PGVDD的高电位选通电压补偿电路152。
高电位选通电压补偿电路152可以包括具有被施加反馈电压GVDD_FB的非反相输入端子(+)的放大器AMP、连接到放大器的反相输入端子(-)以传送参考电压的参考电阻器Rref、连接到放大器AMP的非反相输入端子(+)以传送至少一个设置电压的至少一个设置电阻器R1和R2以及连接在放大器AMP的输出端子和反相输入端子(-)之间的反馈电阻器Rfb。
高电位选通电压补偿电路152还可以包括改变补偿高电位选通电压PGVDD的电平的缩放器。
数据驱动电路130可以包括感测感测线的电压并将电压转换为数字数据的模数转换器ADC、控制感测线和被供应感测参考电压VpreS的节点之间的连接的特征值感测开关SPRE、控制感测线与被供应补偿高电位选通电压PGVDD的节点之间的连接的选通感测开关SGVDD以及控制感测线与模数转换器ADC之间的连接的采样开关SAM。
感测线可以连接到被施加虚设参考电压VRTA的虚设通道CHd。特征值感测开关SPRE可以控制虚设通道CHd与被供应虚设参考电压VRTA的节点之间的连接。选通感测开关SGVDD可以控制虚设通道CHd与被供应补偿高电位选通电压PGVDD的节点之间的连接。
被配置为将多个扫描信号SCAN通过多条选通线GL供应到具有多个子像素SP的显示面板110的根据本公开的实施方式的选通驱动电路120可以包括多个选通驱动集成电路GDIC。多个选通驱动集成电路GDIC中的至少一个可以被配置为包括反馈电路516的反馈选通驱动集成电路GDIC(FB)，并且被配置为接收由电力管理电路150使用由反馈电路516产生的反馈电压GVDD_FB而生成的补偿高电位选通电压PGVDD。
向通过多条选通线GL向显示面板110供应多个扫描信号SCAN的选通驱动电路120供应驱动电压的根据本公开的实施方式的电力管理电路150可以包括被配置为基于从选通驱动电路120传送的反馈电压GVDD_FB来向选通驱动电路120供应补偿高电位选通电压PGVDD的高电位选通电压补偿电路152。
通过多条数据线DL向显示面板110供应多个数据电压Vdata的根据本公开的实施方式的数据驱动电路130可以包括感测感测线的电压并将电压转换为数字数据的模数转换器ADC、控制感测线和被供应感测参考电压的节点之间的连接的特征值感测开关SPRE、控制感测线与被供应从电力管理电路150传送的补偿高电位选通电压PGVDD的节点之间的连接的选通感测开关SGVDD以及控制感测线与模数转换器ADC之间的连接的采样开关SAM。
已经提出以上描述，以使得本领域的技术人员能够形成和使用本发明的技术构思，并且已经在特定应用及其要求的背景下提供以上描述。对于本领域的技术人员来说，对所描述的实施方式的各种修改、添加和替换将容易显而易见的，并且在不脱离本发明的精神和范围的情况下，本文中定义的一般原理可以应用于其它实施方式和应用。仅仅出于例示目的，以上描述和附图提供了本发明的技术构思的示例。也就是说，所公开的实施方式旨在例示本发明的技术构思的范围。因此，本发明的范围不限于所示出的实施方式，而是被赋予与权利要求一致的最宽范围。本发明的保护范围应该基于所附权利要求来理解，并且其等同范围内的所有技术构思应该被解释为被包括在本发明的范围内。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2021年12月22日在韩国提交的韩国专利申请No.10-2021-0185146的优先权，该韩国专利申请的全部内容特此出于所有目的以引用方式并入，如同在本文中完全阐明。

Claims (20)

1.一种显示装置，该显示装置包括：
显示面板，所述显示面板包括多个子像素；
选通驱动电路，所述选通驱动电路被配置为通过多条选通线向所述显示面板供应多个扫描信号，并输出反馈电压；
数据驱动电路，所述数据驱动电路被配置为通过多条数据线向所述显示面板供应多个数据电压；
电力管理电路，所述电力管理电路被配置为：
向所述选通驱动电路和所述数据驱动电路供应多个驱动电压，并且
基于从所述选通驱动电路传送的所述反馈电压，向所述选通驱动电路供应补偿高电位选通电压；以及
定时控制器，所述定时控制器被配置为控制所述选通驱动电路、所述数据驱动电路和所述电力管理电路。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述选通驱动电路包括多个选通驱动集成电路，并且
其中，所述多个选通驱动集成电路中的至少一个被配置为包括用于输出所述反馈电压的反馈电路的反馈选通驱动集成电路。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述反馈选通驱动集成电路设置在所述显示面板的角部中。
4.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述多个选通驱动集成电路中的所述至少一个包括：
线选择单元，所述线选择单元被配置为响应于线感测准备信号的输入，基于先前进位信号来对M节点进行充电；
Q节点控制单元，所述Q节点控制单元被配置为响应于所述先前进位信号将Q节点充电至第一高电位选通电压的电平，并响应于后续进位信号的输入而将所述Q节点放电至第三低电位选通电压的电平；
Q节点稳定单元，所述Q节点稳定单元被配置为响应于QB节点的电压将所述Q节点和QH节点放电至所述第三低电位选通电压的所述电平；
反相器单元，所述反相器单元被配置为根据所述Q节点的电压电平来改变所述QB节点的电压电平；
QB节点稳定单元，所述QB节点稳定单元被配置为响应于所述后续进位信号、复位信号以及所述M节点的充电电压，将所述QB节点放电至所述第三低电位选通电压的所述电平；
进位信号输出单元，所述进位信号输出单元被配置为根据所述Q节点的电压电平或所述QB节点的电压电平，基于进位时钟信号的电压电平或所述第三低电位选通电压的电平来输出当前进位信号；以及
扫描信号输出单元，所述扫描信号输出单元被配置为根据所述Q节点的电压电平或所述QB节点的电压电平，基于多个扫描时钟信号的电压电平或第一低电位选通电压的电平来输出多个扫描信号。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其中，所述补偿高电位选通电压对应于驱动所述反相器单元的第二高电位选通电压。
6.根据权利要求4所述的显示装置，其中，所述反馈电路包括具有连接到所述QB节点的栅节点、连接到用于供应所述第一低电位选通电压的节点的漏节点以及连接到用于传送所述反馈电压的反馈线的源节点的至少一个反馈晶体管。
7.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述电力管理电路包括被配置为基于由所述反馈电路输出的所述反馈电压来向所述多个选通驱动集成电路供应所述补偿高电位选通电压的高电位选通电压补偿电路。
8.根据权利要求7所述的显示装置，其中，所述高电位选通电压补偿电路包括：
放大器，所述放大器具有被施加所述反馈电压的非反相输入端子；
参考电阻器，所述参考电阻器连接到所述放大器的反相输入端子，以传送参考电压；
至少一个设置电阻器，所述至少一个设置电阻器连接到所述放大器的所述非反相输入端子，以传送至少一个设置电压；以及
反馈电阻器，所述反馈电阻器连接在所述放大器的所述反相输入端子和输出端子之间。
9.根据权利要求7所述的显示装置，其中，所述高电位选通电压补偿电路还包括被配置为改变所述补偿高电位选通电压的电平的缩放器。
10.根据权利要求7所述的显示装置，其中，所述电力管理电路包括：
选通感测开关，所述选通感测开关被配置为控制被供应所述补偿高电位选通电压的节点之间的连接；
显示感测开关，所述显示感测开关被配置为控制被供应显示驱动参考电压的节点之间的连接；以及
放大器，所述放大器被配置为根据所述选通感测开关和所述显示感测开关的控制，将所述补偿高电位选通电压或所述显示驱动参考电压供应到所述数据驱动电路。
11.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述数据驱动电路包括：
模数转换器，所述模数转换器被配置为感测感测线的电压并将所述电压转换为数字数据；
特征值感测开关，所述特征值感测开关被配置为控制所述感测线与被供应感测参考电压的节点之间的连接；
选通感测开关，所述选通感测开关被配置为控制所述感测线与被供应所述补偿高电位选通电压的节点之间的连接；以及
采样开关，所述采样开关被配置为控制所述感测线与所述模数转换器之间的连接。
12.根据权利要求11所述的显示装置，其中，所述感测线连接到被供应虚设参考电压的虚设通道，
其中，所述特征值感测开关被配置为控制所述虚设通道与被供应所述虚设参考电压的节点之间的连接，并且
其中，所述选通感测开关被配置为控制所述虚设通道与被供应所述补偿高电位选通电压的所述节点之间的连接。
13.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述定时控制器被配置为基于所述补偿高电位选通电压来确定所述选通驱动电路中的错误，并输出选通错误信号或者控制高电位选通电压。
14.一种被配置为将多个扫描信号通过多条选通线供应到具有多个子像素的显示面板的选通驱动电路，所述选通驱动电路包括：
多个选通驱动集成电路，
其中，所述多个选通驱动集成电路中的至少一个被配置为包括反馈电路的反馈选通驱动集成电路，并被配置为接收由电力管理电路基于由所述反馈电路产生的反馈电压而生成的补偿高电位选通电压。
15.根据权利要求14所述的选通驱动电路，其中，所述多个选通驱动集成电路中的所述至少一个包括：
线选择单元，所述线选择单元被配置为响应于线感测准备信号的输入，基于先前进位信号来对M节点进行充电；
Q节点控制单元，所述Q节点控制单元被配置为响应于所述先前进位信号将Q节点充电至第一高电位选通电压的电平，并响应于后续进位信号的输入而将所述Q节点放电至第三低电位选通电压的电平；
Q节点稳定单元，所述Q节点稳定单元被配置为响应于QB节点的电压而将所述Q节点和QH节点放电至所述第三低电位选通电压的电平；
反相器单元，所述反相器单元被配置为根据所述Q节点的电压电平来改变所述QB节点的电压电平；
QB节点稳定单元，所述QB节点稳定单元被配置为响应于所述后续进位信号、复位信号以及所述M节点的充电电压，将所述QB节点放电至所述第三低电位选通电压的所述电平；
进位信号输出单元，所述进位信号输出单元被配置为根据所述Q节点的电压电平或所述QB节点的电压电平，基于进位时钟信号的电压电平或所述第三低电位选通电压的电平来输出当前进位信号；以及
扫描信号输出单元，所述扫描信号输出单元被配置为根据所述Q节点的电压电平或所述QB节点的电压电平，基于多个扫描时钟信号的电压电平或第一低电位选通电压的电平来输出多个扫描信号。
16.根据权利要求15所述的选通驱动电路，其中，所述补偿高电位选通电压对应于驱动所述Q节点稳定单元的第二高电位选通电压。
17.根据权利要求15所述的选通驱动电路，其中，所述反馈电路包括具有连接到所述QB节点的栅节点、连接到用于供应所述第一低电位选通电压的节点的漏节点以及连接到用于传送所述反馈电压的反馈线的源节点的至少一个反馈晶体管。
18.一种被配置为向用于通过多条选通线向显示面板供应多个扫描信号的选通驱动电路供应驱动电压的电力管理电路，所述电力管理电路包括：
高电位选通电压补偿电路，所述高电位选通电压补偿电路被配置为：
从所述选通驱动电路接收反馈电压，并且
基于从所述选通驱动电路传送的所述反馈电压，向所述选通驱动电路供应补偿高电位选通电压。
19.根据权利要求18所述的电力管理电路，其中，所述高电位选通电压补偿电路包括：
放大器，所述放大器具有被施加所述反馈电压的非反相输入端子；
参考电阻器，所述参考电阻器连接到所述放大器的反相输入端子，以传送参考电压；
至少一个设置电阻器，所述至少一个设置电阻器连接到所述放大器的所述非反相输入端子，以传送至少一个设置电压；以及
反馈电阻器，所述反馈电阻器连接在所述放大器的所述反相输入端子和输出端子之间。
20.一种通过多条数据线向显示面板供应多个数据电压的数据驱动电路，所述数据驱动电路包括：
模数转换器，所述模数转换器被配置为感测连接到子像素的感测线的电压并将所述电压转换为数字数据；
特征值感测开关，所述特征值感测开关被配置为控制所述感测线与被供应感测参考电压的节点之间的连接；
选通感测开关，所述选通感测开关被配置为控制所述感测线与被供应从电力管理电路传送的补偿高电位选通电压的节点之间的连接；以及
采样开关，所述采样开关被配置为控制所述感测线与所述模数转换器之间的连接。
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