CN116165404A - 接合机构及其应用的测试装置、测试作业机 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种接合机构,包含复数个夹持具及驱动结构,复数个夹持具沿夹持轴线作相对配置,夹持具于一侧设有夹持部供夹持电子元件,于另一侧设有第一导移部件;驱动结构包含作动具、固定具及控制具,作动具可沿压接轴线位移,并连接复数个夹持具,固定具设有第二导移部件,控制具可沿控制轴线位移,并设有第一控制部件及第二控制部件,其第一控制部件与夹持具的第一导移部件相配合,使控制具控制复数个夹持具沿夹持轴线位移夹持电子元件,第二控制部件与固定具的第二导移部件相配合,令控制具下压作动具,以控制作动具带动复数个夹持具及电子元件沿压接轴线位移,使电子元件确实压接电性测试器执行电性测试作业。
Description
技术领域
本发明涉及一种提高压接使用效能的接合机构。
背景技术
在现今,一内建有天线的射频电子元件广泛应用于行动通讯区域无线网路系统及无线通讯区域网路系统等领域;射频电子元件于本体的底面设置复数个接点,并在本体的顶面设置天线,射频电子元件于出厂前,除了执行电性测试作业,也需执行无线信号测试作业,以确保品质。
测试装置于机台配置一具探针及电路板的电性测试器,并在电性测试器的上方配置天线测试器;当射频电子元件置入电性测试器时,射频电子元件以接点接触电性测试器的探针而执行电性测试作业,并以天线朝向天线测试器发出无线信号,天线测试器接收无线信号而进行无线信号测试作业。
然而,由于电性测试器的探针内具有弹簧,射频电子元件的自重不足以使接点与探针作有效性地电性接触,以致影响射频电子元件的电性测试准确性。但若以一压接器由上向下压接电子元件的顶面,虽可使射频电子元件的接点确实接触电性测试器的探针,却会导致压接器屏蔽电子元件的天线,以致影响射频电子元件的无线信号测试准确性;因此,如何在不影响天线测试器与射频电子元件的无线信号测试作业的要件下,使射频电子元件确实压接电性测试器执行电性测试作业,着实相当重要。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种接合机构及其应用的测试装置、测试作业机,解决现有技术中存在的上述技术问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种接合机构,其特征在于,包含:
复数个夹持具:沿夹持轴线作相对配置,该夹持具的一侧设有夹持部,供夹持电子元件,并在至少一该夹持具的另一侧设有第一导移部件;
驱动结构:包含作动具、至少一固定具及控制具,该作动具能够沿压接轴线位移,并连接复数个该夹持具,至少一该固定具设有第二导移部件,该控制具能够沿控制轴线位移,并设有第一控制部件及第二控制部件,该第一控制部件与该夹持具的该第一导移部件相配合,以供该控制具控制复数个该夹持具沿该夹持轴线位移夹持电子元件,该第二控制部件与该固定具的该第二导移部件相配合,以供该控制具下压该作动具,而控制该作动具带动复数个该夹持具及电子元件沿该压接轴线位移。
所述的接合机构,其中:该夹持具的该第一导移部件与该控制具的该第一控制部件为相互配合的杆件与导槽,该导槽具有复数个控制段。
所述的接合机构,其中:该夹持具的该第一导移部件为该杆件,该控制具的该第一控制部件为具有该复数个控制段的该导槽,以供穿置该第一导移部件,该复数个控制段包含相通的第一控制段及第二控制段,该第一控制段为曲弧段,该第二控制段为直线段。
所述的接合机构,其中:该夹持具设有承装部,以供装配一为偏心杆的该第一导移部件。
所述的接合机构,其中:该作动具设有复数个沿该夹持轴线作相对配置的第一滑槽,以供滑置复数个该夹持具。
所述的接合机构,其中:该作动具的侧方设有至少一沿该控制轴线配置的第二滑槽,以供该控制具的侧部滑置。
所述的接合机构,其中:该作动具的底面或周侧设有至少一弹性件,以供该作动具沿该压接轴线作弹性位移。
所述的接合机构,其中:该固定具的该第二导移部件与该固定具的该第二控制部件为相互配合的杆件与复数个导引段,该复数个导引段沿该控制轴线配置,并具有不同高度。
所述的接合机构,其中:该固定具的侧面设有横板,该横板的底面设有该第二导移部件,该第二导移部件具有该复数个导引段,该复数个导引段包含第一导引段及第二导引段,该第二导引段的高度低于该第一导引段的高度,该控制具的该第二控制部件为杆件,以供沿该第一导引段及该第二导引段位移。
所述的接合机构,其中:该控制具还包含至少一驱动器,以供驱动该控制具沿该控制轴线位移。
所述的接合机构,其中,还包含基座,该基座配置于复数个该夹持具及该驱动结构的下方。
所述的接合机构,其中:该基座设有至少一承置部,以供承置电子元件,复数个该夹持具位于该承置部的两侧。
所述的接合机构,其中:该固定具以至少一支架装配于该基座的顶部,并位于该作动具的上方。
一种测试装置,其特征在于,包含:
测试室:设有至少一测试空间;
至少一电性测试器:配置于该测试室的该测试空间,并设有电性连接的探针及电路板,以供测试电子元件;
至少一所述的接合机构,该接合机构供夹持且驱动电子元件压接该电性测试器的该探针而执行电性测试作业。
所述的测试装置,其中:该接合机构还包含基座,该基座装配于复数个该夹持具及该驱动结构的下方,并供装配该电性测试器的该探针。
所述的测试装置,其中:该作动具与该基座间设有至少一弹性件,以供该作动具与该基座之间具有让位空间,而供该作动具沿该压接轴线作弹性位移。
所述的测试装置,其中,还包含至少一天线测试器,该天线测试器配置于该测试室,以供对电子元件执行无线信号测试作业。
所述的测试装置,其中:该测试室设有至少一输送管,以供输送干燥空气。
一种测试作业机,其特征在于,包含:
机台;
供料装置:配置于该机台上,并设有至少一容纳待测电子元件的供料承置器;
收料装置:配置于该机台上,并设有至少一容纳已测电子元件的收料承置器;
至少一所述的测试装置,配置于该机台上,以供对该电子元件执行测试作业;
输送装置:配置于该机台上,并设有至少一输送器,用以输送电子元件;
中央控制装置:以控制及整合各装置作动。
本发明的优点一,提供一种接合机构,包含复数个夹持具及驱动结构,复数个夹持具沿夹持轴线作相对配置,夹持具于一侧设有夹持部供夹持电子元件,于另一侧设有第一导移部件;驱动结构包含作动具、固定具及控制具,作动具可沿压接轴线位移,并连接复数个夹持具,固定具设有第二导移部件,控制具可沿控制轴线位移,并设有第一控制部件及第二控制部件,其第一控制部件与夹持具的第一导移部件相配合,使控制具控制复数个夹持具沿夹持轴线位移夹持电子元件,第二控制部件与固定具的第二导移部件相配合,令控制具下压作动具,以控制作动具带动复数个夹持具及电子元件沿压接轴线位移,使电子元件确实压接电性测试器执行电性测试作业。
本发明的优点二,提供一种接合机构,其复数个夹持具作侧向夹持一为射频电子元件的电子元件,可防止屏蔽射频电子元件顶面的天线,以利天线与天线测试器进行无线信号测试作业,进而提升测试品质。
本发明的优点三,提供一种接合机构,其驱动结构以单一控制具控制且驱动二夹持具及作动具依作动时序分别沿夹持轴线及压接轴线位移,而执行夹持电子元件及带动电子元件压接探针,不仅节省驱动用元件成本,更利于机构的空间配置。
本发明的优点四,提供一种接合机构,更包含基座,基座与作动具间沿压接轴线设有让位空间,基座设有承置部供承置电子元件,并供装配固定具及电性测试器的探针,作动具沿压接轴线向下位移贴合基座,使二夹持具夹持射频电子元件确实压接电性测试器的探针执行电性测试作业,进而提升测试作业便利性。
本发明的优点五,提供一种测试装置,包含测试室、至少一电性测试器及本发明接合机构,测试室设有至少一测试空间,电性测试器配置于测试空间,并设有电性连接的探针及电路板,本发明接合机构配置于电性测试器上,以供夹持且驱动电子元件压接探针,进而提高测试品质。
本发明的优点六,提供一种测试作业机,包含机台、供料装置、收料装置、具本发明接合机构的测试装置、输送装置及中央控制装置;供料装置配置于机台上,并设有至少一容纳待测电子元件的供料承置器;收料装置配置于机台上,并设有至少一容纳已测电子元件的收料承置器;测试装置配置于机台上,包含测试室、至少一电性测试器及本发明接合机构,以供测试电子元件;输送装置配置于机台上,并设有至少一输送器,以输送电子元件;中央控制装置以供控制及整合各装置作动,而执行自动化作业。
附图说明
图1是本发明接合机构的俯视图。
图2是本发明接合机构的前视剖面图。
图3是本发明接合机构的侧视剖面图。
图4是本发明接合机构应用于测试装置的示意图。
图5是本发明接合机构的使用示意图(一)。
图6是图5的前视剖面图。
图7是图5的侧视剖面图。
图8是本发明接合机构的使用示意图(二)。
图9是图8的前视剖面图。
图10是图8的侧视剖面图。
图11是本发明接合机构应用于测试作业机的示意图。
附图标记说明:基座10;承置部11;夹持具20;夹持部21;第一导移部件22;承装部23;作动具30;第一滑槽31;通孔32;第二滑槽33;弹性件34;固定具40;支架41;横板42;第一导引段431;第二导引段432;控制具50;侧部51;第一控制段521;第二控制段522;第二控制部件53;压缸54;夹持轴线A;压接轴线B;控制轴线C;射频电子元件60;电路板711;探针712;天线测试器72;机台80;供料装置90;供料承置器91;收料装置100;收料承置器1001;测试装置110;测试室1101;输送装置120;第一输送器1201;第二输送器1202;第三输送器1203。
具体实施方式
为使对本发明作更进一步的了解,兹举一较佳实施例并配合图式,详述如后:
请参阅图1~图3,本发明接合机构包含复数个夹持具及驱动结构;依作业需求,本发明接合机构可直接装配于具测试座的测试器,或者本发明接合机构更包含基座,该基座配置于复数个夹持具及驱动结构的下方,更佳者,基座可供装配测试器的复数支探针;于本实施例,接合机构包含基座10、复数个夹持具20及驱动结构。
基座10可为独立座体、机台板或测试座,并配置于复数个夹持具20及驱动结构的下方,举例基座10为机台板,机台板可开设容置孔供装配具探针的测试座,复数个夹持具20及驱动结构装配于机台板,并位于测试座的上方;举例基座10为具探针的测试座,测试座供装配复数个夹持具20及驱动结构,均无不可,不受限于本实施例;于本实施例,基座10为独立座体,并设有至少一承置部11,以供承置电子元件,基座10可供装配电性测试器的复数支探针。
复数个夹持具20沿夹持轴线A作相对配置,复数个夹持具20于一侧设有夹持部21供夹持电子元件,并在至少一夹持具20的另一侧设有第一导移部件;更进一步,一夹持具20可作为固定基准,另一夹持具20为可移动设计,或者二夹持具20均为可移动设计作彼此靠近或远离。依作业需求,夹持部21可为平面、弧面、叉杆或气囊等,夹持部21可夹持于电子元件的本体侧面,或者夹持于电子元件的本体与接点之间,或者夹持于电子元件的接点,不受限于本实施例;于本实施例,复数个夹持具20沿夹持轴线A(如X轴向)呈水平配置于基座10的上方,并相对配置位于承置部11的两侧,复数个夹持具20于一侧设有为平面的夹持部21,以供夹持电子元件。
夹持具20的第一导移部件可为杆件或具复数个控制段的导槽,若第一导移部件为杆件,杆件可为独立杆装配于夹持具20,或者杆件与夹持具20一体成型;第一导移部件可为直杆或偏心杆,举例第一导移部件为偏心杆装设于夹持具20,可旋转第一导移部件,以微调夹持具20的初始位置,使夹持具20精确位移夹持电子元件。
于本实施例,夹持具20于另一侧设有承装部23,以供螺接组装一为偏心杆且呈Z轴向配置的第一导移部件22,于测试作业前,可旋转第一导移部件22,以微调夹持具20的初始位置,使夹持具20精确位移夹持电子元件;然第一导移部件22与承装部23的组装方式可为嵌接组装或螺接组装等,不受限于本实施例。
驱动结构包含作动具30、至少一固定具40及控制具50。
作动具30可沿压接轴线B位移,并连接复数个夹持具20;于本实施例,作动具30设有相通基座10的承置部11的第一空间,以供移入/移出电子元件,作动具30设有二沿夹持轴线A(如X轴向)作相对配置的第一滑槽31,第一滑槽31相通第一空间,并供滑置二夹持具20,作动具30可带动二夹持具20同步沿压接轴线B(如Z轴向)位移,压接轴线B的轴向(如Z轴向)异于夹持轴线A的轴向(如X轴向);作动具30于相对应第一导移部件22的位置开设通孔32,以供穿置第一导移部件22及承装部23,另于作动具30的侧方设有至少一沿控制轴线C(如Y轴向)配置的第二滑槽33,控制轴线C的轴向(如Y轴向)异于夹持轴线A的轴向(如X轴向)。
另于该作动具30的底面或周侧设有至少一弹性件34,以供作动具30可沿压接轴线B作弹性位移;更进一步,作动具30与基座10间设有至少一弹性件34,至少一弹性件34可使作动具30与基座10间具有适当高度的让位空间,让位空间以供作动具30沿压接轴线B作弹性位移,弹性件34可使作动具30弹性复位。
至少一固定具40设有第二导移部件,更进一步,固定具40可位于作动具30的上方或侧方;第二导移部件可为杆件,或具有不同高度且沿控制轴线C配置的复数个导引段;于本实施例,二固定具40的底部以支架41固定装配于基座10的顶部,并位于作动具30的上方,各固定具40的侧面凸设有横板42,横板42的底面设有第二导移部件,第二导移部件包含沿控制轴线C配置且具有不同高度的复数个导引段,复数个导引段包含第一导引段431及第二导引段432,第二导引段432的高度低于第一导引段431的高度。
控制具50配置于作动具30上,而可沿控制轴线C位移,并设有第一控制部件及第二控制部件,第一控制部件与夹持具20的第一导移部件相配合,使控制具50控制夹持具20沿夹持轴线A位移夹持电子元件,第二控制部件与固定具40的第二导移部件相配合,令控制具50压接该作动具30沿压接轴线B位移,以控制作动具30带动复数个夹持具20及电子元件同步沿压接轴线B位移,使电子元件确实压接电性测试器的探针执行电性测试作业。
于本实施例,控制具50配置于作动具30的顶面,并开设有相通基座10的承置部11的第二空间,以供移入/移出电子元件,控制具50的两侧部51滑置于作动具30的第二滑槽33,第二滑槽33限位控制具50沿控制轴线C位移。
第一控制部件可为杆件或具复数个控制段的导槽,举例当夹持具20的第一导移部件为杆件,控制具50的第一控制部件则为具复数个控制段的导槽,以供夹持具20的第一导移部件沿复数个控制段位移;于本实施例,控制具50的第一控制部件为导槽,导槽包含相通的第一控制段521及第二控制段522,第一控制段521为一曲弧段,并相通第二控制段522,第二控制段522为直线段,于控制具50沿控制轴线C位移时,利用第一控制段521控制二夹持具20的第一导移部件22沿夹持轴线A位移,使二夹持具20沿夹持轴线A位移,并以夹持部21夹持电子元件;控制具50依作动时序利用第二控制段522控制夹持具20的第一导移部件22不作动,使夹持具20保持夹持电子元件。
控制具50的第二控制部件可为杆件或具有不同高度的复数个导引段,举例固定具40具有不同高度的复数个导引段,控制具50的第二控制部件则为杆件,第二控制部件可沿不同高度的复数个导引段位移;于本实施例,控制具50的第二控制部件53为杆件,控制具50沿控制轴线C位移,当第二控制部件53沿高度较高的第一导引段431位移时,可使控制具50、作动具30及二夹持具20不作动,当第二控制部件53沿高度较低的第二导引段432位移时,可使控制具50带动该作动具30及二夹持具20同步沿压接轴线B位移。
请参阅图4,本发明接合机构应用于电子元件的电性测试作业或应用于电性测试作业及无线信号测试作业;于本实施例,接合机构应用于射频电子元件60的电性测试作业,并利于射频电子元件60执行无线信号测试作业,一输送器(图未示出)将待测的射频电子元件60放置于接合机构的基座10的承置部11上,射频电子元件60并位于二夹持具20之间;一执行电性测试作业的电性测试器包含电性连接的电路板711及复数支探针712,电路板711装配于基座10的底部,复数支探针712穿伸出基座10的承置部11,以供承置及电性连接一射频电子元件60的复数个接点;一执行无线信号测试作业的天线测试器72位于接合机构的承置部11上方,以供测试射频电子元件60的天线。
请参阅图5~图7,驱动结构可采手动方式或自动化方式驱动该控制具50,因此,依作业需求,驱动结构的控制具50更包含一驱动器,以供驱动该控制具50沿控制轴线C位移,该驱动器可为压缸、线性马达或包含马达及传动组,举例驱动器为压缸,压缸的活塞杆可连接控制具50,举例驱动器包含马达及传动组,并以传动组连接控制具50。
于本实施例,控制具50的驱动器为压缸54,压缸54顶推驱动该控制具50位移,控制具50的两侧部51于作动具30的第二滑槽33沿控制轴线C位移,控制具50以两侧的第一控制段521沿二夹持具20的第一导移部件22位移,由于第一控制段521呈曲弧设计,控制具50以二第一控制段521同步推移二夹持具20的第一导移部件22沿夹持轴线A位移,令二夹持具20于作动具30的第一滑槽31沿夹持轴线A作彼此靠近位移,二夹持具20以夹持部21夹持于基座10内的射频电子元件60的两侧面,由于二夹持部21夹持射频电子元件60的两侧面,而可防止屏蔽射频电子元件60的天线的无线信号传输,以利执行无线信号测试作业;又二夹持具20同步沿夹持轴线A作彼此靠近位移时,可推移校正射频电子元件60的摆放位置,使射频电子元件60的接点精准对位测试器的探针712。
然而,控制具50沿控制轴线C位移时,其第二控制部件53同步沿固定具40的第一导引段431位移,由于第一导引段431的行程具有预设长度,而可使第二控制部件53保持于第一导引段431位移,即控制具50尚未带动该作动具30沿压接轴线B位移,作动具30不作动。
请参阅图8~图10,当压缸54持续顶推驱动该控制具50位移,控制具50的两侧部51继续于作动具30的第二滑槽33沿控制轴线C位移,控制具50变换以第二控制段522沿二夹持具20的第一导移部件22位移,由于第二控制段522呈直线设计,控制具50的第二控制段522并不会顶推二夹持具20的第一导移部件22沿夹持轴线A持续位移,即二夹持具20不作动,使二夹持具20的夹持部21保持夹持射频电子元件60的夹持状态。
然,控制具50持续沿控制轴线C位移时,其第二控制部件53同步由固定具40的第一导引段431位移至第二导引段432,由于第二导引段432的高度低于第一导引段431,第二控制部件53受第二导引段432的导引而向下位移,第二控制部件53即带动控制具50沿压接轴线B作Z轴向向下位移,控制具50下压作动具30同步沿压接轴线B作Z轴向向下位移,作动具30带动二夹持具20及其夹持的射频电子元件60同步沿压接轴线B作Z轴向向下位移,使射频电子元件60的接点以预设下压力确实压接测试器的探针712而执行电性测试作业,不仅有效提升电性测试品质,更利用二夹持具20夹持射频电子元件60的二侧面,以有效防止屏蔽射频电子元件60的天线,使射频电子元件60的天线与天线测试器72执行无线信号测试作业,进而提升无线信号测试品质。
请参阅图1~图11,本发明接合机构应用于测试作业机的示意图,于本实施例,测试作业机应用测试射频电子元件60。测试作业机包含机台80、供料装置90、收料装置100、具本发明接合机构的测试装置110、输送装置120及中央控制装置(图未示出)。供料装置90配置于机台80上,并设有至少一容纳待测电子元件(如射频电子元件60)的供料承置器91;收料装置100配置于机台80上,并设有至少一容纳已测电子元件的收料承置器1001;测试装置110配置于机台80上,包含测试室1101、至少一电性测试器及本发明接合机构,以供夹持及测试电子元件;于本实施例,机台80的第一侧及第二侧分别配置测试装置110,测试装置110更包含天线测试器72,以供对射频电子元件60执行无线信号测试作业;输送装置120配置于机台80上,并设有至少一输送器,以供输送电子元件,于本实施例,输送装置120设有作X-Y-Z轴向位移的第一输送器1201,第一输送器1201于供料装置90取出待测的射频电子元件60,并移入二为载台的第二输送器1202,一第三输送器1203于第二输送器1202取出待测射频电子元件60,并移入测试装置110的接合机构的基座10,接合机构以控制具50控制二夹持具20夹持基座10上的待测射频电子元件60,并控制作动具30带动二夹持具20及待测射频电子元件60确实压接测试器的探针712而执行电性测试作业,以及使待测射频电子元件60与天线测试器72执行无线信号测试作业,第三输送器1203再将已测的射频电子元件移出测试装置110,并移入第二输送器1202,第一输送器1201再于第二输送器1202取出已测的射频电子元件,并依测试结果,将已测的射频电子元件移载至收料装置100分类收置;中央控制装置(图未示出)用以控制及整合各装置作动,以执行自动化作业,达到提升作业效能的实用效益。
依作业需求,测试装置110的测试室1101设有至少一输送管(图未示出),输送管以供输送干燥空气至测试室1101。
依作业需求,于热测作业时,测试室1101可配置鼓风机(图未示出),以供吹送热风,使测试室1101的内部升温,也无不可。
Claims (19)
1.一种接合机构,其特征在于,包含:
复数个夹持具:沿夹持轴线作相对配置,该夹持具的一侧设有夹持部,供夹持电子元件,并在至少一该夹持具的另一侧设有第一导移部件;
驱动结构:包含作动具、至少一固定具及控制具,该作动具能够沿压接轴线位移,并连接复数个该夹持具,至少一该固定具设有第二导移部件,该控制具能够沿控制轴线位移,并设有第一控制部件及第二控制部件,该第一控制部件与该夹持具的该第一导移部件相配合,以供该控制具控制复数个该夹持具沿该夹持轴线位移夹持电子元件,该第二控制部件与该固定具的该第二导移部件相配合,以供该控制具下压该作动具,而控制该作动具带动复数个该夹持具及电子元件沿该压接轴线位移。
2.如权利要求1所述的接合机构,其特征在于:该夹持具的该第一导移部件与该控制具的该第一控制部件为相互配合的杆件与导槽,该导槽具有复数个控制段。
3.如权利要求2所述的接合机构,其特征在于:该夹持具的该第一导移部件为该杆件,该控制具的该第一控制部件为具有该复数个控制段的该导槽,以供穿置该第一导移部件,该复数个控制段包含相通的第一控制段及第二控制段,该第一控制段为曲弧段,该第二控制段为直线段。
4.如权利要求3所述的接合机构,其特征在于:该夹持具设有承装部,以供装配一为偏心杆的该第一导移部件。
5.如权利要求1所述的接合机构,其特征在于:该作动具设有复数个沿该夹持轴线作相对配置的第一滑槽,以供滑置复数个该夹持具。
6.如权利要求1所述的接合机构,其特征在于:该作动具的侧方设有至少一沿该控制轴线配置的第二滑槽,以供该控制具的侧部滑置。
7.如权利要求1所述的接合机构,其特征在于:该作动具的底面或周侧设有至少一弹性件,以供该作动具沿该压接轴线作弹性位移。
8.如权利要求1所述的接合机构,其特征在于:该固定具的该第二导移部件与该固定具的该第二控制部件为相互配合的杆件与复数个导引段,该复数个导引段沿该控制轴线配置,并具有不同高度。
9.如权利要求8所述的接合机构,其特征在于:该固定具的侧面设有横板,该横板的底面设有该第二导移部件,该第二导移部件具有该复数个导引段,该复数个导引段包含第一导引段及第二导引段,该第二导引段的高度低于该第一导引段的高度,该控制具的该第二控制部件为杆件,以供沿该第一导引段及该第二导引段位移。
10.如权利要求1至9中任一项所述的接合机构,其特征在于:该控制具还包含至少一驱动器,以供驱动该控制具沿该控制轴线位移。
11.如权利要求1至9中任一项所述的接合机构,其特征在于,还包含基座,该基座配置于复数个该夹持具及该驱动结构的下方。
12.如权利要求11所述的接合机构,其特征在于:该基座设有至少一承置部,以供承置电子元件,复数个该夹持具位于该承置部的两侧。
13.如权利要求11所述的接合机构,其特征在于:该固定具以至少一支架装配于该基座的顶部,并位于该作动具的上方。
14.一种测试装置,其特征在于,包含:
测试室:设有至少一测试空间;
至少一电性测试器:配置于该测试室的该测试空间,并设有电性连接的探针及电路板,以供测试电子元件;
至少一如权利要求1至9中任一项所述的接合机构,该接合机构供夹持且驱动电子元件压接该电性测试器的该探针而执行电性测试作业。
15.如权利要求14所述的测试装置,其特征在于:该接合机构还包含基座,该基座装配于复数个该夹持具及该驱动结构的下方,并供装配该电性测试器的该探针。
16.如权利要求15所述的测试装置,其特征在于:该作动具与该基座间设有至少一弹性件,以供该作动具与该基座之间具有让位空间,而供该作动具沿该压接轴线作弹性位移。
17.如权利要求14所述的测试装置,其特征在于,还包含至少一天线测试器,该天线测试器配置于该测试室,以供对电子元件执行无线信号测试作业。
18.如权利要求14所述的测试装置,其特征在于:该测试室设有至少一输送管,以供输送干燥空气。
19.一种测试作业机,其特征在于,包含:
机台;
供料装置:配置于该机台上,并设有至少一容纳待测电子元件的供料承置器;
收料装置:配置于该机台上,并设有至少一容纳已测电子元件的收料承置器;
至少一如权利要求14至18中任一项所述的测试装置,配置于该机台上,以供对该电子元件执行测试作业;
输送装置:配置于该机台上,并设有至少一输送器,用以输送电子元件;
中央控制装置:以控制及整合各装置作动。
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CN202111406343.4A CN116165404A (zh) | 2021-11-24 | 2021-11-24 | 接合机构及其应用的测试装置、测试作业机 |
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