CN220171188U - 一种自锁电测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种自锁电测试装置，具体包括机架、加压座、加压组件、转轴及按压组件；机架上开设有测试槽，测试槽中设置有探针；加压组件与加压座滑动连接；按压组件通过转轴与加压座转动连接；按压端至转轴的间距大于按压组件至转轴的间距；进行电测试时，使得按压组件的按压端旋转至转轴与加压组件之间，由于按压端至转轴的间距大于加压组件至转轴的间距，使得加压组件受到按压端的压力，沿靠近测试槽的方向滑动；同时，由于按压端位于转轴与加压组件之间，电路结构的反作用力通过加压组件及按压端作用于转轴上，并不能影响按压组件的转动，此时形成自锁状态，确保加压组件能够稳固地将电路结构按压于探针上，避免接触不良的问题。

Description

一种自锁电测试装置

技术领域

本实用新型涉及电测试结构技术领域，尤其涉及一种自锁电测试装置。

背景技术

在电子产品的生产过程中，通常要对电子产品中的芯片、电路板等电路结构进行电性测试(例如，电阻测试、电容测试等)；常规的电性测试通常设置有一底座，底座上放置有上述的电路结构，底座的上方设置有探针组件，其中，既可以通过人工将探针组件下压，也可以通过气缸等结构将探针组件下压，以令探针组件与电路结构电连接。但无论采用哪种形式，均无法保证探针组件与电路结构稳定地接触，例如，人工方案中存在操作人员的操作素质差异，导致探针组件相对于电路结构的偏位；气缸方案中，压缩机等气源提供的压力相当于外部作用力，存在压力跳动的风险，进而导致探针组件相对于电路结构的偏位。

因此，有必要设计一种新的测试治具，以解决上述方案中电路结构接触不良的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种自锁电测试装置，以解决现有技术中的测试治具容易引起电路结构接触不良的技术问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种自锁电测试装置，包括：

机架，所述机架上开设有用于放置电路结构的测试槽，所述测试槽中设置有探针；

加压座，所述加压座设置于所述机架的一侧，并能沿远离或靠近所述测试槽的方向移动；

加压组件，所述加压组件沿远离或靠近所述测试槽的方向与所述加压座滑动连接；

转轴，所述转轴设置于所述加压组件远离所述测试槽的一侧，且所述转轴安装于所述加压座上；

按压组件，所述按压组件通过所述转轴与所述加压座转动连接；

其中，所述按压组件的按压端用于与所述加压组件抵接，所述按压端至所述转轴的间距大于所述加压组件至所述转轴的间距；

当所述加压组件与所述电路结构抵接时，所述按压端位于所述转轴与所述加压组件之间。

可选地，所述加压座朝向所述测试槽的一侧开设有滑动槽，所述加压组件与所述滑动槽滑动连接；

当所述加压组件与所述电路结构抵接时，所述加压组件至少部分凸出于所述滑动槽的槽口。

可选地，所述加压组件包括第一加压安装座，所述第一加压安装座向外凸设有第一抵接部；所述滑动槽的槽壁向内凸设有第二抵接部；

所述第一抵接部设置于所述第二抵接部远离所述测试槽的一侧；所述第一抵接部与所述第二抵接部之间设置有第一弹簧，所述第一弹簧分别与所述第一抵接部及所述第二抵接部抵接。

可选地，所述第一加压安装座靠近所述测试槽的一侧连接有第二加压安装座；

所述第二加压安装座开设有加压通槽，所述加压通槽中套设有加压块，所述加压块与所述加压通槽滑动连接；

所述加压块与所述第一加压安装座之间设置有第二弹簧，所述第二弹簧分别与所述加压块及所述第一加压安装座抵接。

可选地，所述按压组件包括与所述加压座转动连接的拨杆；

所述拨杆包括第一端部与第二端部，所述第一端部用于握持，所述第二端部为所述按压端。

可选地，所述第二端部转动连接有环状的辊压块，所述辊压块用于与所述加压组件抵接。

可选地，所述辊压块的数量为多个，且间隔设置。

可选地，所述加压座的一端与所述机架转动连接；

所述加压座的另一端安装有第一卡扣，所述加压座对应所述第一卡扣的位置设置有第二卡扣；当所述加压座沿靠近所述测试槽的方向转动时，所述第一卡扣与所述第二卡扣卡合连接。

可选地，所述第一卡扣与所述加压座转动连接，且所述第一卡扣与所述加压座之间设置有第三弹簧；

所述第三弹簧的一端与所述第一卡扣远离所述第二卡扣的一端抵接，所述第三弹簧的另一端与所述加压座抵接。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供的自锁电测试装置，进行电测试时，先将电路结构放置于测试槽中，然后令加压组件沿靠近测试槽的方向移动；随后通过旋转按压组件，使得按压组件的按压端旋转至转轴与加压组件之间，由于按压端至转轴的间距大于加压组件至转轴的间距，使得加压组件受到按压端的压力，沿远离转轴的方向滑动，即沿靠近测试槽的方向滑动，从而加压组件可以保证探针与电路结构之间的连接稳定性；在此基础上，由于按压端位于转轴与加压组件之间，电路结构的反作用力通过加压组件及按压端作用于转轴上，并不能影响按压组件的转动，此时形成自锁状态，确保加压组件能够稳固地将电路结构按压于探针上，避免接触不良的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第一整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第二整体结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第一剖面结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第二剖面结构示意图。

图示说明：10、机架；11、测试槽；

20、加压座；21、滑动槽；22、第二抵接部；

30、加压组件；31、第一加压安装座；32、第一抵接部；33、第二加压安装座；34、加压通槽；35、加压块；

40、转轴；

50、按压组件；51、拨杆；52、第一端部；53、第二端部；54、辊压块；

61、第一卡扣；62、第二卡扣。

具体实施方式

为使得本实用新型的实用新型目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

请参考图1至图4，图1为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第一整体结构示意图，图2为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第二整体结构示意图，图3为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第一剖面结构示意图，图4为本实用新型实施例提供的自锁电测试装置的第二剖面结构示意图。

本实施例提供的自锁电测试装置，应用于电路结构电测试的场景，通过对自锁电测试装置自身的结构进行优化，使得电路结构在电测试时能够更加稳定地与自锁电测试装置电连接，有效防止接触不良的情况。

如图1至图3所示，本实施例提供的自锁电测试装置包括：机架10、加压座20、加压组件30、转轴40及按压组件50；机架10上开设有用于放置电路结构的测试槽11，测试槽11中设置有探针，探针指的是能与电路结构电连接，以对电路结构进行检测的结构；加压座20设置于机架10的一侧，并能沿远离或靠近测试槽11的方向移动，其中，加压座20远离机架10时，可将电路结构放入测试槽11中，待电路结构放入测试槽11后，令加压座20沿靠近测试槽11的方向移动，直至加压座20覆盖于测试槽11的上方，便于后续加压组件30将电路结构准确地按压于探针上；加压组件30沿远离或靠近测试槽11的方向与加压座20滑动连接；转轴40设置于加压组件30远离测试槽11的一侧，且转轴40安装于加压座20上；按压组件50通过转轴40与加压座20转动连接。其中，按压组件50的按压端用于与加压组件30抵接，即当按压端与加压组件30抵接时，相当于利用按压组件50控制加压组件30的移动，按压端至转轴40的间距大于加压组件30至转轴40的间距；当加压组件30与电路结构抵接时，按压端位于转轴40与加压组件30之间。

具体地，进行电测试时，先将电路结构放置于测试槽11中，然后令加压组件30沿靠近测试槽11的方向移动，以完成加压组件30与测试槽11之间的定位；随后通过旋转按压组件50，使得按压组件50的按压端旋转至转轴40与加压组件30之间，由于按压端至转轴40的间距大于加压组件30至转轴40的间距，使得加压组件30受到按压端的压力，沿远离转轴40的方向滑动，即沿靠近测试槽11的方向滑动，从而加压组件30可以保证探针与电路结构之间的连接稳定性；在此基础上，由于按压端位于转轴40与加压组件30之间，电路结构的反作用力通过加压组件30及按压端作用于转轴40上，并不能影响按压组件50的转动，此时形成自锁状态，确保加压组件30能够稳固地将电路结构按压于探针上，避免接触不良的问题。

进一步地，加压座20朝向测试槽11的一侧开设有滑动槽21，加压组件30与滑动槽21滑动连接；当加压组件30与电路结构抵接时，加压组件30至少部分凸出于滑动槽21的槽口。需要补充的是，可以在加压座20上设置导轨与滑块，利用滑块与加压组件30连接，实现加压组件30与加压座20的滑动。

进一步地，加压组件30包括第一加压安装座31，第一加压安装座31向外凸设有第一抵接部32；滑动槽21的槽壁向内凸设有第二抵接部22；第一抵接部32设置于第二抵接部22远离测试槽11的一侧；第一抵接部32与第二抵接部22之间设置有第一弹簧，第一弹簧分别与第一抵接部32及第二抵接部22抵接。通过该第一弹簧的设置，使得加压组件30沿远离测试槽11的方向移动，当按压端不与第一加压安装座31抵接时，确保加压组件30不会因重力而沿靠近测试槽11的方向下滑。

进一步地，第一加压安装座31靠近测试槽11的一侧连接有第二加压安装座33；第二加压安装座33开设有加压通槽34，加压通槽34中套设有加压块35，加压块35与加压通槽34滑动连接；加压块35与第一加压安装座31之间设置有第二弹簧，第二弹簧分别与加压块35及第一加压安装座31抵接。可以理解的是，在加压组件30向测试槽11移动的过程中，加压块35与电路结构接触的同时，第二弹簧被压缩，其中，第二弹簧起到缓冲的作用，避免压力直接施加于电路结构上。

在本实施例中，按压组件50包括与加压座20转动连接的拨杆51；拨杆51包括第一端部52与第二端部53，第一端部52用于握持，第二端部53为按压端。可以理解的是，工作人员可以通过握持第一端部52，通过旋转第一端部52以带动作为按压端的第二端部53转动，使得第二端部53旋转至转轴40与加压组件30的第一加压安装座31之间，进而带动加压组件30整体下移，使得加压组件30将电路结构按压于探针上。

进一步地，为了使拨杆51的转动更加顺畅，第二端部53转动连接有环状的辊压块54，辊压块54用于与加压组件30抵接。其中，辊压块54的数量为多个，且间隔设置；本实施例中，辊压块54的数量为两个。

进一步地，如图1和图2所示，加压座20的一端与机架10转动连接；加压座20的另一端安装有第一卡扣61，加压座20对应第一卡扣61的位置设置有第二卡扣62；当加压座20沿靠近测试槽11的方向转动时，第一卡扣61与第二卡扣62卡合连接。

进一步地，第一卡扣61与加压座20转动连接，且第一卡扣61与加压座20之间设置有第三弹簧；第三弹簧的一端与第一卡扣61远离第二卡扣62的一端抵接，第三弹簧的另一端与加压座20抵接。通过第三弹簧的设置，使得第一卡扣61能够稳定地扣合于第二卡扣62上，进而提高加压座20相对于机架10之间连接稳定性。

综上所述，本实施例提供的自锁电测试装置能够有效防止电路结构与探针接触不良，并且具备稳定性高、精度高、使用便利等优点。

以上所述，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (9)

1.一种自锁电测试装置，其特征在于，包括：

机架(10)，所述机架(10)上设有用于放置电路结构的测试槽(11)，所述测试槽(11)中设置有探针；

加压座(20)，所述加压座(20)设置于所述机架(10)的一侧，并能沿远离或靠近所述测试槽(11)的方向移动；

加压组件(30)，所述加压组件(30)沿远离或靠近所述测试槽(11)的方向与所述加压座(20)滑动连接；

转轴(40)，所述转轴(40)设置于所述加压组件(30)远离所述测试槽(11)的一侧，且所述转轴(40)安装于所述加压座(20)上；

按压组件(50)，所述按压组件(50)通过所述转轴(40)与所述加压座(20)转动连接；

其中，所述按压组件(50)的按压端用于与所述加压组件(30)抵接，所述按压端至所述转轴(40)的间距大于所述加压组件(30)至所述转轴(40)的间距；

当所述加压组件(30)与所述电路结构抵接时，所述按压端位于所述转轴(40)与所述加压组件(30)之间。

2.根据权利要求1所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述加压座(20)朝向所述测试槽(11)的一侧开设有滑动槽(21)，所述加压组件(30)与所述滑动槽(21)滑动连接；

当所述加压组件(30)与所述电路结构抵接时，所述加压组件(30)至少部分凸出于所述滑动槽(21)的槽口。

3.根据权利要求2所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述加压组件(30)包括第一加压安装座(31)，所述第一加压安装座(31)向外凸设有第一抵接部(32)；所述滑动槽(21)的槽壁向内凸设有第二抵接部(22)；

所述第一抵接部(32)设置于所述第二抵接部(22)远离所述测试槽(11)的一侧；所述第一抵接部(32)与所述第二抵接部(22)之间设置有第一弹簧，所述第一弹簧分别与所述第一抵接部(32)及所述第二抵接部(22)抵接。

4.根据权利要求3所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述第一加压安装座(31)靠近所述测试槽(11)的一侧连接有第二加压安装座(33)；

所述第二加压安装座(33)开设有加压通槽(34)，所述加压通槽(34)中套设有加压块(35)，所述加压块(35)与所述加压通槽(34)滑动连接；

所述加压块(35)与所述第一加压安装座(31)之间设置有第二弹簧，所述第二弹簧分别与所述加压块(35)及所述第一加压安装座(31)抵接。

5.根据权利要求1所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述按压组件(50)包括与所述加压座(20)转动连接的拨杆(51)；

所述拨杆(51)包括第一端部(52)与第二端部(53)，所述第一端部(52)用于握持，所述第二端部(53)为所述按压端。

6.根据权利要求5所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述第二端部(53)转动连接有环状的辊压块(54)，所述辊压块(54)用于与所述加压组件(30)抵接。

7.根据权利要求6所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述辊压块(54)的数量为多个，且间隔设置。

8.根据权利要求1所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述加压座(20)的一端与所述机架(10)转动连接；

所述加压座(20)的另一端安装有第一卡扣(61)，所述加压座(20)对应所述第一卡扣(61)的位置设置有第二卡扣(62)；当所述加压座(20)沿靠近所述测试槽(11)的方向转动时，所述第一卡扣(61)与所述第二卡扣(62)卡合连接。

9.根据权利要求8所述的一种自锁电测试装置，其特征在于，所述第一卡扣(61)与所述加压座(20)转动连接，且所述第一卡扣(61)与所述加压座(20)之间设置有第三弹簧；

所述第三弹簧的一端与所述第一卡扣(61)远离所述第二卡扣(62)的一端抵接，所述第三弹簧的另一端与所述加压座(20)抵接。