CN221199729U - 封装兼容性检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电阻测试技术领域，涉及一种封装兼容性检测治具。本实用新型通过移动部件调整定位治具上的封装元件与探针部件的相对位置，压合组件将探针部件压紧在封装元件上使得两者导通，用以对定位治具上的封装元件进行电性能检测，采用定位治具可兼容多个封装产品，尤其针对小尺寸或者大尺寸的封装产品，达到了不需要多个封装多个治具的目的；靠压合组件将探针部件往下压紧在封装产品上达到贴合产品的效果，有效解决了传统探针固定的问题，解决了不同封装或者定位不同需要更换治具的问题。

Description

封装兼容性检测治具

技术领域

本实用新型涉及电阻测试技术领域，涉及一种封装兼容性检测治具。

背景技术

电阻是一个限流元件，将电阻接在电路中后，电阻器的阻值是固定的一般是两个引脚，它可限制通过它所连支路的电流大小，被广泛的应用于各行各业。而电阻的大小严重影响着电路的实际性能，并且不同大小的电阻，对电路的效果也存在显著的差异，因此，在使用电阻时，要严格限制电阻的大小。

电阻在打样生产时，一般需要对每一电阻进行检测，检测数量巨大，统一检测设备不能兼容多个封装，导致每个封装都需要制作相应的测试治具，增加检测成本，同时即使是同个封装，电阻上的测试点位也会有些许不同或更改，导致原有的治具就无法使用，影响电阻的生产速率。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种可兼容多个封装产品，达到了不需要多个封装多个治具的目的，解决了不同封装或者定位不同需要更换治具的问题的封装兼容性检测治具。

为了解决上述技术问题，本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种封装兼容性检测治具，包括：

机台，所述机台上设置有检测工位；

定位组件，设置于所述检测工位上，所述定位组件包括定位治具和移动部件，所述移动部件设置于所述检测工位上，所述定位治具设置于所述移动部件，所述移动部件用于调整所述定位治具的位置；

检测组件，设置于所述机台上，所述检测组件包括多个探针部件，多个探针部件围设在所述定位治具周围，所述探针部件用于对定位治具上的封装元件进行电性能检测；

压合组件，设置于所述定位治具正上方，所述压合组件用于将探针部件压紧在所述封装元件上使得两者导通。

在本实用新型的一个实施例中，所述定位治具包括治具板，所述治具板上设置有与所述封装元件相匹配的定位槽，所述定位槽包括多个开槽，多个开槽由下至上依次堆叠成倒金字塔结构。

在本实用新型的一个实施例中，所述移动部件包括移动板和固定板，所述定位治具设置于所述移动板上，所述固定板设置机台上，所述移动板与所述固定板相对设置，所述移动板设置在活动板，所述活动板与驱动器驱动连接，所述驱动器带动所述移动板上的定位治具相对于所述固定板做相对移动。

在本实用新型的一个实施例中，所述驱动器包括驱动座，所述驱动座上滑设有导向杆，所述导向杆的自由端与所述活动板连接，所述导向杆上设置有齿面，所述驱动座上转设有齿轮，所述齿轮与所述齿面啮合，所述齿轮上设置有移动柄，推动移动柄带动齿轮转动用以带动导向杆上的活动板相对运动。

在本实用新型的一个实施例中，所述压合组件包括压合架，所述压合架设置于所述机台上，所述压合架上设置有导向架，所述导向架上穿设有导杆，所述导向架上设置有气缸，所述气缸与所述导杆驱动连接，所述导杆与压合板连接，所述气缸带动所述压合板对将探针部件压紧在封装元件上。

在本实用新型的一个实施例中，所述探针部件包括探针杆，所述机台上设置有导套，所述探针杆穿设在所述导套上，且所述探针架与所述定位治具相对设置，所述探针架上设置有调节架，所述调节架上设置有检测探针。

在本实用新型的一个实施例中，所述调节架包括调节块，所述调节块设置于所述探针架上，所述调节块上穿设有第一滑杆，所述第一滑杆的自由端与所述检测探针连接，所述调节块上设置有第一螺丝，所述第一滑杆通过第一螺丝与所述调节块固定连接。

在本实用新型的一个实施例中，所述调节架还包括调整块，所述调整块设置于所述第一滑杆的自由端上，所述调整块上穿设有第二滑杆，所述第二滑杆与第一滑杆垂直设置，所述第二滑杆的自由端与所述检测探针连接，所述调整块上设置有第二螺丝，所述第二滑杆通过第二螺丝与所述调整块固定连接。

在本实用新型的一个实施例中，所述第二滑杆的自由端上设置有检测块，所述检测块上设置有安装孔，所述检测探针设置于所述安装孔内。

在本实用新型的一个实施例中，所述检测组件包括至少两个探针部件，多个探针部件对称设置在定位治具两侧，用以同步对封装元件进行电性能检测。

本实用新型的有益效果：

本实用新型通过移动部件调整定位治具上的封装元件与探针部件的相对位置，压合组件将探针部件压紧在封装元件上使得两者导通，用以对定位治具上的封装元件进行电性能检测，采用定位治具可兼容多个封装产品，尤其针对小尺寸或者大尺寸的封装产品，达到了不需要多个封装多个治具的目的；靠压合组件将探针部件往下压紧在封装产品上达到贴合产品的效果，有效解决了传统探针固定的问题，解决了不同封装或者定位不同需要更换治具的问题。

附图说明

图1是本实用新型的一种封装兼容性检测治具示意图。

图2是本实用新型的移动部件示意图。

图3是本实用新型的定位组件示意图。

图中标号说明：1、机台；2、定位治具；21、治具板；22、开槽；23、吸气孔；24、弹簧组；3、检测组件；31、探针杆；32、调节块；33、第一滑杆；34、检测块；35、检测探针；36、调整块；37、第二滑杆；38、安装孔；4、移动部件；41、驱动座；42、活动板；43、导向杆；44、移动柄；45、移动板；46、固定板；47、齿轮；5、压合架；51、导向架；52、气缸；53、导杆；54、压合板。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。

参照图1-3所示，一种封装兼容性检测治具，包括：

机台1，所述机台1上设置有检测工位；

定位组件，设置于所述检测工位上，所述定位组件包括定位治具2和移动部件4，所述移动部件4设置于所述检测工位上，所述定位治具2设置于所述移动部件4，所述移动部件4用于调整所述定位治具2的位置；

检测组件3，设置于所述机台1上，所述检测组件3包括多个探针部件，多个探针部件围设在所述定位治具2周围，所述探针部件用于对定位治具2上的封装元件进行电性能检测；

压合组件，设置于所述定位治具2正上方，所述压合组件用于将探针部件压紧在所述封装元件上使得两者导通。

本实用新型通过移动部件4调整定位治具2上的封装元件与探针部件的相对位置，压合组件将探针部件压紧在封装元件上使得两者导通，用以对定位治具2上的封装元件进行电性能检测，采用定位治具2可兼容多个封装产品，尤其针对小尺寸或者大尺寸的封装产品，达到了不需要多个封装多个治具的目的；靠压合组件将探针部件往下压紧在封装产品上达到贴合产品的效果，有效解决了传统探针固定的问题，解决了不同封装或者定位不同需要更换治具的问题。

在本实用新型的一个实施例中，所述定位治具2包括治具板21，所述治具板21上设置有与所述封装元件相匹配的定位槽，所述定位槽包括多个开槽22，多个开槽22由下至上依次堆叠成倒金字塔结构，所述开槽22下方设置有吸气孔23，所述吸气孔23与真空发生设备连接，用于吸附封装元件。

具体的，多个开槽22由下至上依次堆叠成倒金字塔结构，使得定位治具2可兼容多个封装，从小到大尺寸，小尺寸的载物位置越深；由小到大，依次往外扩，适用范围广。

所述移动板45上设置有弹簧组24，所述治具板21设置在所述弹簧组24上，所述弹簧组24起到对治具板21支撑的作用，同时可以避免检测探针35过渡压合损坏封装元件。

在本实用新型的一个实施例中，所述移动部件4包括移动板45和固定板46，所述定位治具2设置于所述移动板45上，所述固定板46设置机台1上，所述移动板45与所述固定板46相对设置，所述移动板45设置在活动板42，所述活动板42与驱动器驱动连接，所述驱动器带动所述移动板45上的定位治具2相对于所述固定板46做相对移动。

具体的，驱动器带动所述移动板45上的定位治具2相对于所述固定板46做相对移动，快速调整定位治具2与检测探针35的相对位置，实现了兼容多个封装元件，达到了不需要多个封装多个治具的目的。

在本实用新型的一个实施例中，所述驱动器包括驱动座41，所述驱动座41上滑设有导向杆43，所述导向杆43的自由端与所述活动板42连接，所述导向杆43上设置有齿面，所述驱动座41上转设有齿轮47，所述齿轮47与所述齿面啮合，所述齿轮47上设置有移动柄44，推动移动柄44带动齿轮47转动用以带动导向杆43上的活动板42相对运动。

具体的，导向杆43穿设在所述驱动座41上，推动移动柄44带动齿轮47转动以此带动具有齿面的导向杆43运动，用以带动导向杆43上的活动板42相对运动，快速完成对定位治具2位置的调节，保证检测稳定性，适用范围广。

在本实用新型的一个实施例中，所述压合组件包括压合架5，所述压合架5设置于所述机台1上，所述压合架5上设置有导向架51，所述导向架51上穿设有导杆53，所述导向架51上设置有气缸52，所述气缸52与所述导杆53驱动连接，所述导杆53与压合板54连接，所述气缸52带动所述压合板54对将探针部件压紧在封装元件上。

具体的，气缸52带动所述压合板54朝向定位治具2方向运动，压合板54带动探针杆31向下运动，使得检测探针35压紧在封装元件上使得两者导通，完成对定位治具2上的封装元件进行电性能检测，极大地提高了检测效率，压合板54同步对多个探针部件进行压料，保证检测探针35与封装元件的导通准确性，提高检测精度。

在本实用新型的一个实施例中，所述探针部件包括探针杆31，所述机台1上设置有导套，所述探针杆31穿设在所述导套上，且所述探针架与所述定位治具2相对设置，所述探针架上设置有调节架，所述调节架上设置有检测探针35。

具体的，探针杆31穿设在所述导套上，可以使得探针杆31可以相对所述机台1沿着导套上下运动，使得压合板54带动探针杆31向下运动，使得检测探针35压紧在封装元件上使得两者导通，移动性检测探针35解决了探针固定的问题，解决了不同封装或者定位不同需要更换治具的问题。

在本实用新型的一个实施例中，所述调节架包括调节块32，所述调节块32设置于所述探针架上，所述调节块32上穿设有第一滑杆33，所述第一滑杆33的自由端与所述检测探针35连接，所述调节块32上设置有第一螺丝，所述第一滑杆33通过第一螺丝与所述调节块32固定连接。

具体的，调节块32上穿设有第一滑杆33，第一滑杆33与检测探针35连接，使得检测探针35快速对准封装元件的测试点，第一滑杆33通过第一螺丝与所述调节块32固定连接，可以快速固定检测探针35的位置，保证检测稳定性。

在本实用新型的一个实施例中，所述调节架还包括调整块36，所述调整块36设置于所述第一滑杆33的自由端上，所述调整块36上穿设有第二滑杆37，所述第二滑杆37与第一滑杆33垂直设置，所述第二滑杆37的自由端与所述检测探针35连接，所述调整块36上设置有第二螺丝，所述第二滑杆37通过第二螺丝与所述调整块36固定连接。

具体的，第二滑杆37穿设在调整块36上，可以快速调整检测探针35的位置，第二滑杆37与第一滑杆33垂直设置，可以使的第一滑杆33与第二滑杆37从两个垂直的方向对检测探针35进行位置调整，使得检测探针35对准封装元件的检测点，保证检测精度，提高检测效率，第二滑杆37通过第二螺丝与所述调整块36固定连接，可以快速固定检测探针35的位置，保证检测稳定性。

在本实用新型的一个实施例中，所述第二滑杆37的自由端上设置有检测块34，所述检测块34上设置有安装孔38，所述检测探针35设置于所述安装孔38内。

具体的，检测探针35设置于所述安装孔38内，能够防止检测探针35在检测过程中不会发生晃动，同时检测探针35设置在检测块34上，可以防止相邻的检测探针35相互接触，防止短路，从而具有能够准确检查的优点，检测探针35设置在安装孔38内具有能够防止检测探针35多次使用发生变形。

检测探针35设置于所述安装孔38内，大大提高了探针的使用寿命，同时可以快速更换磨损探针，减少了设备的停机维修时间，延长的设备的生产时间，大大提高了产品的生产效率。

在本实用新型的一个实施例中，所述检测组件3包括至少两个探针部件，多个探针部件对称设置在定位治具2两侧，用以同步对封装元件进行电性能检测。

具体的，检测组件3包括4个探针部件，4个探针部件可以对封装元件进行电性能检测，保证电性能检测的稳定性，提高检测精度。

使用过程

将封装元件放置在治具板21上的定位槽内，并放置在对应的开槽22内，推动移动柄44带动齿轮47转动用以带动导向杆43上的活动板42相对运动，以此带动移动板45上的定位治具2移动至方便检测探针35检测的位置，固定板46可以对移动板45的位移行程进行位置限定，根据封装元件的规格，调节第一滑杆33和第二滑杆37的位置，使得检测探针35对准封装元件的测试点，通过第一螺丝、第二螺丝将第一滑杆33、第二滑杆37的位置进行固定，气缸52带动所述压合板54朝向定位治具2方向运动，压合板54带动探针杆31向下运动，使得检测探针35压紧在封装元件上使得两者导通，完成对定位治具2上的封装元件进行电性能检测。

以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例，本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换，均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。

Claims (10)

1.一种封装兼容性检测治具，其特征在于，包括：

机台，所述机台上设置有检测工位；

定位组件，设置于所述检测工位上，所述定位组件包括定位治具和移动部件，所述移动部件设置于所述检测工位上，所述定位治具设置于所述移动部件，所述移动部件用于调整所述定位治具的位置；

检测组件，设置于所述机台上，所述检测组件包括多个探针部件，多个探针部件围设在所述定位治具周围，所述探针部件用于对定位治具上的封装元件进行电性能检测；

压合组件，设置于所述定位治具正上方，所述压合组件用于将探针部件压紧在所述封装元件上使得两者导通。

2.如权利要求1所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述定位治具包括治具板，所述治具板上设置有与所述封装元件相匹配的定位槽，所述定位槽包括多个开槽，多个开槽由下至上依次堆叠成倒金字塔结构。

3.如权利要求1所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述移动部件包括移动板和固定板，所述定位治具设置于所述移动板上，所述固定板设置机台上，所述移动板与所述固定板相对设置，所述移动板设置在活动板，所述活动板与驱动器驱动连接，所述驱动器带动所述移动板上的定位治具相对于所述固定板做相对移动。

4.如权利要求3所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述驱动器包括驱动座，所述驱动座上滑设有导向杆，所述导向杆的自由端与所述活动板连接，所述导向杆上设置有齿面，所述驱动座上转设有齿轮，所述齿轮与所述齿面啮合，所述齿轮上设置有移动柄，推动移动柄带动齿轮转动用以带动导向杆上的活动板相对运动。

5.如权利要求1所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述压合组件包括压合架，所述压合架设置于所述机台上，所述压合架上设置有导向架，所述导向架上穿设有导杆，所述导向架上设置有气缸，所述气缸与所述导杆驱动连接，所述导杆与压合板连接，所述气缸带动所述压合板对将探针部件压紧在封装元件上。

6.如权利要求1所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述探针部件包括探针杆，所述机台上设置有导套，所述探针杆穿设在所述导套上，且所述探针杆与所述定位治具相对设置，所述探针杆上设置有调节架，所述调节架上设置有检测探针。

7.如权利要求6所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述调节架包括调节块，所述调节块设置于所述探针杆上，所述调节块上穿设有第一滑杆，所述第一滑杆的自由端与所述检测探针连接，所述调节块上设置有第一螺丝，所述第一滑杆通过第一螺丝与所述调节块固定连接。

8.如权利要求7所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述调节架还包括调整块，所述调整块设置于所述第一滑杆的自由端上，所述调整块上穿设有第二滑杆，所述第二滑杆与第一滑杆垂直设置，所述第二滑杆的自由端与所述检测探针连接，所述调整块上设置有第二螺丝，所述第二滑杆通过第二螺丝与所述调整块固定连接。

9.如权利要求8所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述第二滑杆的自由端上设置有检测块，所述检测块上设置有安装孔，所述检测探针设置于所述安装孔内。

10.如权利要求1所述的封装兼容性检测治具，其特征在于，所述检测组件包括至少两个探针部件，多个探针部件对称设置在定位治具两侧，用以同步对封装元件进行电性能检测。