CN115398567A - 分流电阻器 - Google Patents
分流电阻器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115398567A CN115398567A CN202180029182.3A CN202180029182A CN115398567A CN 115398567 A CN115398567 A CN 115398567A CN 202180029182 A CN202180029182 A CN 202180029182A CN 115398567 A CN115398567 A CN 115398567A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- resistor
- electrode
- shunt resistor
- length
- portions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 42
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000623 nickel–chromium alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000570 Cupronickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000000788 chromium alloy Substances 0.000 description 1
- UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N chromium iron Chemical compound [Cr].[Fe] UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HPDFFVBPXCTEDN-UHFFFAOYSA-N copper manganese Chemical compound [Mn].[Cu] HPDFFVBPXCTEDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YOCUPQPZWBBYIX-UHFFFAOYSA-N copper nickel Chemical compound [Ni].[Cu] YOCUPQPZWBBYIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/14—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
- H01C1/144—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors the terminals or tapping points being welded or soldered
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/01—Mounting; Supporting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/14—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
- H01C1/148—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors the terminals embracing or surrounding the resistive element
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C13/00—Resistors not provided for elsewhere
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/14—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
本发明涉及一种电流检测用的分流电阻器。分流电阻器(1)具有板状的电阻体(5)和与电阻体(5)的两端面(5a、5b)连接的电极(6、7)，电极(6、7)具有与电阻体(5)和电极(6、7)的接合部(8、9)分别平行地延伸的缺口部(11、12)，在将从接合部(8、9)到缺口部(11、12)的距离设为Y，将接合部(8、9)在电极(6、7)的宽度方向上的长度设为X时，缺口部(11、12)分别位于Y≤0.80X‑1.36的关系成立的位置。
Description
技术领域
本发明涉及一种电流检测用的分流电阻器。
背景技术
以往，分流电阻器被广泛用于电流检测用途。这样的分流电阻器具备板状的电阻体和接合于电阻体的两端的板状的电极。这样的电阻体由铜·镍系合金、铜·锰系合金、铁·铬系合金、镍·铬系合金等合金构成，这样的电极由铜等高导电性金属构成。
在这样的分流电阻器中，为了进行温度变动少的电流检测，要求电阻温度系数(TCR)小。电阻温度系数(TCR)是表示由温度变化引起的电阻值的变化的比例的指标。为了改善分流电阻器的TCR，进行使用例如Manganin(注册商标)等TCR小的合金作为电阻体的材料。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2007-329421号公报
发明内容
发明要解决的问题
然而，基于电阻体材料的选定所实现的TCR的调整(改善)有限。因此，本发明的目的在于提供一种分流电阻器，无论电阻体的材料如何，都能够容易地调整TCR、即、能够满足所期望的TCR。
用于解决问题的方案
在一技术方案中，提供一种分流电阻器，具有板状的电阻体和与所述电阻体的两端面连接的电极，其中，所述电极具有与所述电阻体和所述电极的接合部分别平行地延伸的缺口部，在将从所述接合部到所述缺口部的距离设为Y，将所述接合部在所述电极的宽度方向上的长度设为X时，所述缺口部分别位于Y≤0.80X-1.36的关系成立的位置。
在一技术方案中，在被所述接合部和所述缺口部夹着的电压检测部设有电压检测端子。
在一技术方案中，形成有所述缺口部的位置处的所述电极的宽度为所述接合部在所述电极的宽度方向上的长度的1/2以上。
发明的效果
在将从接合部到缺口部的距离设为Y，将接合部在电极的宽度方向上的长度设为X时，缺口部被形成于Y≤0.80X-1.36的关系成立的位置，并且与接合部平行地延伸。其结果，能够以简单的结构满足所期望的TCR。另外，通过调整缺口部的长度，能够容易地调整分流电阻器的TCR。
附图说明
图1是示意性地表示分流电阻器的一实施方式的立体图。
图2是图1所示的分流电阻器的俯视图。
图3是表示由温度变化引起的分流电阻器的电阻值的变化率的图表。
图4是表示分流电阻器的另一实施方式的俯视图。
图5是表示分流电阻器的又一实施方式的俯视图。
图6是示意性地表示分流电阻器的又一实施方式的立体图。
图7是图6的分流电阻器的分解立体图。
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。图1是示意性地表示分流电阻器1的一实施方式的立体图，图2是图1所示的分流电阻器1的俯视图。图2所示的空心箭头表示在分流电阻器1中流动的电流的方向。如图1和图2所示，分流电阻器1具备具有预定的厚度和宽度的板状的由合金构成的电阻体5和与所述电阻体5的两端面5a、5b连接的由高导电性金属构成的电极6、7。具体而言，电极6与端面5a连接，电极7与端面5b连接。没有特别说明的电极7的结构与电极6的结构相同，电极6和电极7相对于电阻体5对称地配置。电极6的宽度和电极7的宽度相等，均用宽度W2表示。电极6、7的宽度方向是与电流方向垂直的方向。作为构成电阻体5的合金的一例，可列举出镍铬系合金。作为构成电极6、7的高导电性金属的一例，可列举出铜。
具体而言，电极6、7各自的内侧端面6a、7a通过焊接(例如，电子束焊接、激光束焊接、或者钎焊)等手段分别与电阻体5的两端面5a、5b接合。内侧端面6a、7a是与电阻体5的接合面。以下，在本说明书中，有时将内侧端面6a、7a称为接合面6a、7a。
电极6的内侧端面6a和电阻体5的端面5a构成电阻体5和电极6的接合部8，电极7的内侧端面7a和电阻体5的端面5b构成电阻体5和电极7的接合部9。
电极6、7分别具有缺口部11、12。缺口部11、12分别与接合部8、9(接合面6a、7a和两端面5a、5b)平行地延伸。本实施方式的缺口部11、12具有在直线上延伸的狭缝状的形状。缺口部11从电极6的侧面6b朝向电极6的中心部呈直线状延伸，缺口部12从电极7的侧面7b朝向电极7的中心部呈直线状延伸。
没有特别说明的缺口部12的结构与缺口部11相同。缺口部11和缺口部12相对于电阻体5对称地配置。在本实施方式中，缺口部12具有与缺口部11同样的宽度W1。缺口部11在电极6、7的宽度方向(是与接合面6a、7a平行的方向，与电流方向垂直的方向)上的长度与缺口部12在电极6、7的宽度方向上的长度相等，均用长度t1表示。
通过在电极6、7形成缺口部11、12，从而在分流电阻器1中流动的电流避开缺口部11、12而流动。其结果，在分流电阻器1中流动的电流的状态与在不具有缺口部的分流电阻器中流动的电流的状态不同。其结果，分流电阻器1的TCR(电阻温度系数)与在电极未形成缺口部的情况下的分流电阻器的TCR(电阻温度系数)不同。
在本实施方式中，接合部8(接合面6a和端面5a)在电极6的宽度方向上的长度与接合部9(接合面7a和端面5b)在电极7的宽度方向上的长度相等，从接合部8(接合面6a)到缺口部11的距离与从接合部9(接合面7a)到缺口部12的距离相等。在本实施方式中，在将从接合部8、9的各接合部到缺口部11、12的各缺口部的距离设为Y，将接合部8、9在电极6、7的宽度方向上的长度设为X时，缺口部11、12位于以下的(1)式的关系成立的位置。
Y≤0.80X-1.36 (1)
通过将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，能够进行分流电阻器1的TCR的调整。具体而言，在缺口部11、12被形成于上述(1)式的关系成立的位置的情况下，通过使缺口部11、12的长度t1变化，能够调整分流电阻器1的TCR。换言之，通过调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够调整分流电阻器1的电阻温度系数。
在电极6、7的表面分别设有电压检测端子16、17。电压检测端子16、17是用于测定在电阻体5的两端(两端面5a、5b间)产生的电压的端子。例如，通过将铝线连接于电压检测端子16、17，从而检测在电阻体5的两端产生的电压。电压检测端子16被设于电极6上的电压检测部20，电压检测端子17被设于电极7上的电压检测部21。电压检测部20被接合部8和缺口部11夹着，电压检测部21被接合部9和缺口部12夹着。
通过将电压检测端子16、17分别设于电压检测部20、21，即，将电压检测部20、21设为电压的检测位置，从而能够测定反映出调整后的TCR的电压。即，能够在分流电阻器1的TCR受到缺口部11、12的影响的状态下测定电阻体5的电压。通过将电压检测端子16、17配置为与电阻体5相邻，能够测定更加反映出调整后的TCR的电压。
图3是表示由温度变化引起的分流电阻器1的电阻值的变化率的图表。图3表示电阻体5使用镍铬系合金而电极6、7使用铜的情况下的由温度变化引起的分流电阻器1的电阻值的变化率。缺口部11、12被形成于上述(1)式的关系成立的位置。在图3中，缺口部11、12的宽度W1(参照图2)为0.1mm，电极6、7的宽度W2(参照图2)为15mm，电阻体5的宽度W3(参照图2)为7mm，从接合部8、9(接合面6a、7a)的各接合部到缺口部11、12的各缺口部的距离Y(参照图2)为3mm。
图3示出缺口部11、12的长度t1为2mm、2.5mm、3mm以及3.5mm时的各个分流电阻器1的由温度变化引起的电阻值的变化率。在图3中，为了进行比较，还图示了未形成缺口部11、12的分流电阻器的电阻值的变化率。未形成缺口部11、12的分流电阻器的其他结构与分流电阻器1相同。
图3示出通过在电极6、7形成宽度W1为0.1mm的缺口部11、12，从而电阻值的变化率相对于分流电阻器1的温度的变化量的比例降低。电阻值的变化率相对于分流电阻器1的温度的变化量的比例相当于分流电阻器1的电阻温度系数(TCR)。并且，图3示出分流电阻器1的电阻温度系数依赖于缺口部11、12的长度t1。即，图3示出当在上述(1)式的关系成立的位置形成有缺口部11、12的情况下，通过调整缺口部11、12的长度t1，即，通过调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够调整分流电阻器1的电阻温度系数(TCR)。
如图3所示，通过增大缺口部11、12的长度t1，从而分流电阻器1的电阻温度系数变小。在长度t1为3mm时，分流电阻器1的电阻温度系数的绝对值最小，若将长度t1设为3.5mm，则分流电阻器1的电阻温度系数具有负的斜率。因而，通过调整缺口部11、12的长度t1，即，调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够在大范围内调整分流电阻器1的电阻温度系数(TCR)(即，能够满足所期望的TCR)。作为结果，不限于电阻体5使用镍铬系合金的情况，在电阻体5使用了各种合金的情况下，能够进行最佳的TCR调整。作为结果，根据本实施方式，通过仅是调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式成立的位置的简单的构造，能够满足所期望的电阻温度系数。
在本实施方式中，电阻体5的宽度W3为7mm，缺口部11、12的宽度W1为0.1mm，但宽度W3和宽度W1并不限定于本实施方式。无论宽度W3和宽度W1的大小如何，通过调整缺口部11、12的长度t1，都能够调整分流电阻器1的TCR。当在上述(1)式的关系成立的位置形成缺口部11、12，并且缺口部11、12与接合部8、9平行地延伸的情况下，通过调整缺口部11、12的长度t1，即，调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够容易地调整分流电阻器1的TCR(即，能够满足所期望的TCR)。
如图2所示，通过形成缺口部11(缺口部12)而变窄的电极6(电极7)的宽度W4优选为接合部8、9的长度X的1/2以上。换言之，电极6、7的宽度W4是在与电极6、7的宽度方向垂直的方向上形成有缺口部11、12的位置处的电极6、7的宽度。通过将宽度W4设为长度X的1/2以上，电极6、7能够具有足够的机械强度，能够防止因宽度W4变窄而导致的分流电阻器1的高频特性降低。图3的结果表示在将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置的情况下，在宽度W4的大小为长度X的1/2以上的范围内，TCR大范围地变化。
图4是表示分流电阻器1的另一实施方式的俯视图。没有特别说明的本实施方式的结构与参照图1和图2说明的实施方式相同，因此省略其重复的说明。在本实施方式中，缺口部12从电极7的侧面7c朝向电极7的中心部延伸。图4所示的侧面6c、7c是与侧面6b、7b相反的一侧的面。
在本实施方式中也是，当在上述(1)式的关系成立的位置形成有缺口部11、12的情况下，通过调整缺口部11、12的长度t1，即，调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够调整分流电阻器1的TCR(即，能够满足所期望的TCR)。在一实施方式中，也可以将缺口部11形成为从电极6的侧面6c朝向电极6的中心部延伸，并且将缺口部12形成为从电极7的侧面7b朝向电极7的中心部延伸。
图5是表示分流电阻器1的又一实施方式的俯视图。没有特别说明的本实施方式的结构与参照图1和图2说明的实施方式相同，因此省略其重复的说明。在本实施方式中，电极6还具有缺口部13，电极7还具有缺口部14。
缺口部13、14分别与接合部8、9(接合面6a、7a和两端面5a、5b)平行地延伸。本实施方式的缺口部13、14具有在直线上延伸的狭缝状的形状。缺口部13从电极6的侧面6c朝向电极6的中心部呈直线状延伸，缺口部14从电极7的侧面7c朝向电极7的中心部呈直线状延伸。缺口部13形成于缺口部11的延长线上，缺口部14形成于缺口部12的延长线上。即，缺口部13、14在与电极6、7的宽度方向垂直的方向上分别配置于与缺口部11、12相同的位置。
没有特别说明的缺口部14的结构与缺口部13相同。缺口部13和缺口部14相对于电阻体5对称地配置。在本实施方式中，缺口部14具有与缺口部13同样的宽度W5。缺口部13在电极6、7的宽度方向上的长度与缺口部14在电极6、7的宽度方向上的长度相等，均用长度t2表示。
在本实施方式的电极6、7的表面分别设有电压检测端子18、19。电压检测端子18设于电极6上的电压检测部22，电压检测端子19设于电极7上的电压检测部23。电压检测部22被接合部8和缺口部13夹着，电压检测部23被接合部9和缺口部14夹着。没有特别说明的电压检测端子18、19和电压检测部22、23的结构与电压检测端子16、17和电压检测部20、21相同。
在本实施方式中也是，当在上述(1)式的关系成立的位置形成有缺口部11、12、13、14的情况下，通过调整缺口部11、12的长度t1和缺口部13、14的长度t2，即，调整长度t1和长度t2而将缺口部11、12、13、14形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够调整分流电阻器1的TCR(即，能够满足所期望的TCR)。长度t1和长度t2既可以相同，也可以不同。宽度W1和宽度W5既可以相同，也可以不同。在本实施方式中也是，通过形成有缺口部11、12、13、14而变窄的电极6、7的宽度W4优选为接合部8、9的长度X的1/2以上。
图6是示意性地表示分流电阻器1的又一实施方式的立体图，图7是图6的分流电阻器1的分解立体图。没有特别说明的本实施方式的结构与参照图1和图2说明的实施方式相同，因此省略其重复的说明。本实施方式的分流电阻器1还具备绝缘体的基板40和底座35。在基板40的表面形成有导体41、42和电压检测端子46、47。图6所示的空心箭头表示在分流电阻器1中流动的电流的方向。底座35在其表面具有电触点36、37。
如图6和图7所示，本实施方式的缺口部11具有与接合部8平行地延伸的第1面11a和沿与第1面11a垂直的方向延伸的第2面11b，缺口部12具有与接合部9平行地延伸的第1面12a和沿与第1面12a垂直的方向延伸的第2面12b。电极6的外侧端面6d和第1面11a利用第2面11b连接，电极7的外侧端面7d和第1面12a利用第2面12b连接。
电极6在第1面11a与接合面6a之间被折弯，电极7在第1面12a与接合面7a之间被折弯。电极6、7相对于电阻体5对称地折弯。外侧端面6d、7d分别与导体41、42接触。通过这样的结构，电流从导体41经由电极6、电阻体5以及电极7向导体42流动。
第1面11a、12a分别与电触点36、37接触。底座35还具备未图示的多个导线。电触点36经由多个导线中的1个与电压检测端子46连接，电触点37经由其他导线与电压检测端子47连接。通过这样的结构，能够经由电压检测端子46、47测定在电阻体5的两端(两端面5a、5b间)产生的电压。例如，通过在电压检测端子46、47上连接铝线而检测在电阻体5的两端产生的电压。
在本实施方式中也是，电流避开缺口部11、12而从导体41向导体42流动。因而，与参照图1和图2说明的实施方式同样地，在本实施方式中也是，通过调整缺口部11、12在电极6、7的宽度方向上的长度t1，即，调整长度t1而将缺口部11、12形成于上述(1)式的关系成立的位置，从而能够调整分流电阻器1的电阻温度系数(TCR)(即，能够满足所期望的TCR)。在本实施方式中也是通过形成有缺口部11(缺口部12)而变窄的电极6(电极7)的宽度W4优选为接合部8、9的长度X的1/2以上。
上述实施方式是以具有本发明所属的技术领域中的通常知识的人能够实施本发明为目的而记载的。上述实施方式的各种变形例只要是本领域技术人员就当然能够实现，本发明的技术思想也能够应用于其他实施方式。因而，本发明并不限定于所记载的实施方式，应在基于由权利要求书定义的技术思想的最广的范围内进行解释。
产业上的可利用性
本发明能够用于电流检测用的分流电阻器。
附图标记说明
1、分流电阻器；6、7、电极；6a、7a、内侧端面(接合面)；6b、7b、侧面；6c、7c、侧面；6d、7d、外侧端面；8、9、接合部；11、12、13、14、缺口部；11a、12a、第1面；11b、12b、第2面；16、17、18、19、电压检测端子；20、21、22、23、电压检测部；35、底座；36、37、电触点；40、基板；41、42、导体；46、47、电压检测端子。
Claims (3)
1.一种分流电阻器，具有板状的电阻体和与所述电阻体的两端面连接的电极，其中，
所述电极具有与所述电阻体和所述电极的接合部分别平行地延伸的缺口部，
在将从所述接合部到所述缺口部的距离设为Y，将所述接合部在所述电极的宽度方向上的长度设为X时，所述缺口部分别位于Y≤0.80X-1.36的关系成立的位置。
2.根据权利要求1所述的分流电阻器，其中，
在被所述接合部和所述缺口部夹着的电压检测部设有电压检测端子。
3.根据权利要求1或2所述的分流电阻器，其中，
形成有所述缺口部的位置处的所述电极的宽度为所述接合部在所述电极的宽度方向上的长度的1/2以上。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020074778A JP7491723B2 (ja) | 2020-04-20 | 2020-04-20 | シャント抵抗器 |
| JP2020-074778 | 2020-04-20 | ||
| PCT/JP2021/014450 WO2021215229A1 (ja) | 2020-04-20 | 2021-04-05 | シャント抵抗器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115398567A true CN115398567A (zh) | 2022-11-25 |
Family
ID=78269149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202180029182.3A Pending CN115398567A (zh) | 2020-04-20 | 2021-04-05 | 分流电阻器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20230162894A1 (zh) |
| EP (1) | EP4141895A1 (zh) |
| JP (1) | JP7491723B2 (zh) |
| CN (1) | CN115398567A (zh) |
| WO (1) | WO2021215229A1 (zh) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2023087721A (ja) * | 2021-12-14 | 2023-06-26 | Koa株式会社 | シャント抵抗器および電流検出装置 |
| JP2023103546A (ja) * | 2022-01-14 | 2023-07-27 | Koa株式会社 | 電流検出装置およびその製造方法 |
| JP2023144451A (ja) * | 2022-03-28 | 2023-10-11 | Koa株式会社 | シャント抵抗器および電流検出装置 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1252887A (zh) * | 1997-04-16 | 2000-05-10 | 松下电器产业株式会社 | 电阻器及其制造方法 |
| JP2011018759A (ja) * | 2009-07-08 | 2011-01-27 | Koa Corp | シャント抵抗器 |
| CN103180916A (zh) * | 2010-08-26 | 2013-06-26 | 伊莎贝尔努特·霍伊斯勒两合公司 | 电流检测电阻器 |
| CN105097154A (zh) * | 2014-05-09 | 2015-11-25 | 兴亚株式会社 | 电流检测用电阻器 |
| WO2016063928A1 (ja) * | 2014-10-22 | 2016-04-28 | Koa株式会社 | 電流検出装置および電流検出用抵抗器 |
| CN107533086A (zh) * | 2015-04-28 | 2018-01-02 | Koa株式会社 | 电流检测装置 |
| WO2020008845A1 (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-09 | Koa株式会社 | シャント装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4971693B2 (ja) | 2006-06-09 | 2012-07-11 | コーア株式会社 | 金属板抵抗器 |
| US7911319B2 (en) | 2008-02-06 | 2011-03-22 | Vishay Dale Electronics, Inc. | Resistor, and method for making same |
-
2020
- 2020-04-20 JP JP2020074778A patent/JP7491723B2/ja active Active
-
2021
- 2021-04-05 CN CN202180029182.3A patent/CN115398567A/zh active Pending
- 2021-04-05 US US17/919,107 patent/US20230162894A1/en active Pending
- 2021-04-05 WO PCT/JP2021/014450 patent/WO2021215229A1/ja unknown
- 2021-04-05 EP EP21792601.3A patent/EP4141895A1/en active Pending
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1252887A (zh) * | 1997-04-16 | 2000-05-10 | 松下电器产业株式会社 | 电阻器及其制造方法 |
| JP2011018759A (ja) * | 2009-07-08 | 2011-01-27 | Koa Corp | シャント抵抗器 |
| CN103180916A (zh) * | 2010-08-26 | 2013-06-26 | 伊莎贝尔努特·霍伊斯勒两合公司 | 电流检测电阻器 |
| CN105097154A (zh) * | 2014-05-09 | 2015-11-25 | 兴亚株式会社 | 电流检测用电阻器 |
| WO2016063928A1 (ja) * | 2014-10-22 | 2016-04-28 | Koa株式会社 | 電流検出装置および電流検出用抵抗器 |
| US20170307658A1 (en) * | 2014-10-22 | 2017-10-26 | Koa Corporation | Current detecting device and current detecting resistor |
| CN107533086A (zh) * | 2015-04-28 | 2018-01-02 | Koa株式会社 | 电流检测装置 |
| WO2020008845A1 (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-09 | Koa株式会社 | シャント装置 |
| JP2020009838A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | Koa株式会社 | シャント装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP7491723B2 (ja) | 2024-05-28 |
| US20230162894A1 (en) | 2023-05-25 |
| JP2021174802A (ja) | 2021-11-01 |
| WO2021215229A1 (ja) | 2021-10-28 |
| EP4141895A1 (en) | 2023-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN115398567A (zh) | 分流电阻器 | |
| USRE39660E1 (en) | Surface mounted four terminal resistor | |
| EP4145471A1 (en) | Shunt resistor, shunt resistor manufacturing method, and current detecting device | |
| US20050258930A1 (en) | Metal plate resistor | |
| JP5237299B2 (ja) | 抵抗器（特にｓｍｄ抵抗器）及びその製造方法 | |
| JP2002057009A (ja) | 抵抗器の製造方法および抵抗器 | |
| KR960701454A (ko) | Ptc면형 히터 및 그 저항값 조정방법 | |
| EP1950771A1 (en) | Chip resistor and its manufacturing method | |
| WO2021220758A1 (ja) | シャント抵抗器 | |
| US7049928B2 (en) | Resistor and method of manufacturing the same | |
| CN113614860B (zh) | 电流检测用电阻器 | |
| US20230187105A1 (en) | Shunt resistor and current detection apparatus | |
| JP4391918B2 (ja) | 電流検出用抵抗器 | |
| CN117378018A (zh) | 电流检测装置 | |
| WO2024084761A1 (ja) | シャント抵抗器およびシャント抵抗器の製造方法 | |
| JP2005197394A (ja) | 金属抵抗器 | |
| JP5143353B2 (ja) | 抵抗器の製造方法 | |
| WO2024111254A1 (ja) | シャント抵抗器 | |
| US11562837B2 (en) | Circuit substrate | |
| WO2023199611A1 (ja) | シャント抵抗器およびシャント抵抗装置 | |
| JP2002057010A (ja) | 抵抗器の製造方法および抵抗器 | |
| US20230333143A1 (en) | Jumper element, shunt resistor apparatus, and method of adjusting characteristic of shunt resistor apparatus for current detection | |
| WO2023013455A1 (ja) | 抵抗器、その製造方法及び抵抗器を備えた装置 | |
| JP2023083751A (ja) | 抵抗器 | |
| JP2024075066A (ja) | シャント抵抗器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |