CN114325003A - 一种新型探针内部连接结构 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种新型探针内部连接结构,涉及探针技术领域,该一种新型探针内部连接结构,包括导筒和电路板,电路板位于导筒的正下方,导筒的内壁设置有连接装置,连接装置包括连接座,连接座插入导筒中并与其内壁螺纹连接,连接座的下端固定连接有导杆,导筒的内壁滑动连接有滑块,滑块的上端固定连接有顶杆,导筒的上端开设有滑孔。在使用时,被检测芯片的金属触点与顶杆相抵,顶杆受芯片压力被挤压进导筒中,顶杆带动滑块和定位块位移,滑块和定位块随之对稳定弹簧进行挤压,稳定弹簧受力变形产生弹力,稳定弹簧在变形过程中通过定位杆推动滑块,使滑块产生偏移,顶杆与导筒的内壁相抵,使得导筒通过顶杆与芯片相连通。
Description
技术领域
本发明涉及探针技术领域,具体为一种新型探针内部连接结构。
背景技术
我们知道,探针是一种应用于消费电子产品、通讯、汽车、医疗、航空航天、军工等领域中精密连接器内的核心部件,通过该探针去实现精密连接器与外部电子元件之间的电性连接,从而发挥精密连接器的正常功能,探针一般包含有针轴、针管及弹簧,针轴套于针管并相对针管具有初始位置及沿针轴的轴向向后滑移的压缩位置,弹簧收于针管内并抵触于针轴及针管之间,以使得针轴能相对针管做伸缩滑移,且针轴在弹簧的作用下滑移至初始位置;故在针轴与外部电子元件电性连接的过程中,针轴被外部电子元件顶推而由初始位置滑移至压缩位置以实现两者电性连接的目的,但现有大多探针设备内部与弹簧的连接端多为锥形,使用过程中易产生偏摆,使滑块与导筒间不能稳定接触,从而影响设备检测芯片时的准确度。
本发明主要解决的就是大多探针设备在使用过程中易出现探针偏摆,影响检查结果的问题。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种新型探针内部连接结构,解决了大多探针设备在使用过程中易出现探针偏摆,影响检查结果的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种新型探针内部连接结构,包括导筒和电路板,所述电路板位于导筒的正下方,所述导筒的内壁设置有连接装置,所述连接装置包括连接座,所述连接座插入导筒中并与其内壁螺纹连接,所述连接座的下端固定连接有导杆,所述导筒的内壁滑动连接有滑块,所述滑块的上端固定连接有顶杆,所述导筒的上端开设有滑孔,所述顶杆贯穿滑孔并与其内壁滑动连接。
优选的,所述导筒的内壁设置有稳定装置,所述稳定装置包括稳定弹簧,所述稳定弹簧位于导筒中,所述连接座的上端固定连接有限位杆,所述稳定弹簧套设在限位杆上,所述稳定弹簧的内壁与限位杆的表面相抵,所述滑块的下端固定连接有定位杆,所述稳定弹簧套设在定位杆上,所述稳定弹簧的内壁与定位杆的表面相抵。
优选的,所述电路板的上端开设有限位孔,所述导杆贯穿限位孔并与其内壁滑动连接,所述电路板的上端设置有两个对称设置的定位装置。
优选的,所述稳定弹簧的表面采用砂纸打磨处理,所述稳定弹簧自下而上直径逐渐减小。
优选的,所述定位装置包括限位杆,所述限位杆位于电路板的上端固定连接,所述导筒的表面固定连接有定位套,所述连接座的表面固定连接有限位套,所述定位杆依次贯穿限位套和定位套。
优选的,所述顶杆的表面与导筒的内壁相抵,所述滑块的上端与导筒的内顶壁相抵。
工作原理:在使用时,被检测芯片的金属触点与顶杆相抵,顶杆受芯片压力被挤压进导筒中,顶杆带动滑块和定位块位移,滑块和定位块随之对稳定弹簧进行挤压,稳定弹簧受力变形产生弹力,稳定弹簧在变形过程中通过定位杆推动滑块,使滑块产生偏移,顶杆与导筒的内壁相抵,使得导筒通过顶杆与芯片相连通,使得设备在运行过更加稳定,避免传统大多探针内部采用圆锥形滑块,滑块在与弹簧接触时易产生偏摆,使滑块与导筒间不能稳定接触,从而影响设备检测芯片时的准确度的问题,该装置的应用有效提高设备的稳定性,安装时,将限位套和定位套依次套设在定位杆上,即可将连接座和导筒固定住,避免设备在使用过程中产生松动,确保设备的正常运行。
(三)有益效果
本发明提供了一种新型探针内部连接结构。具备以下有益效果:
1、本发明在使用时,被检测芯片的金属触点与顶杆相抵,顶杆受芯片压力被挤压进导筒中,顶杆带动滑块和定位块位移,滑块和定位块随之对稳定弹簧进行挤压,稳定弹簧受力变形产生弹力,稳定弹簧在变形过程中通过定位杆推动滑块,使滑块产生偏移,顶杆与导筒的内壁相抵,使得导筒通过顶杆与芯片相连通,使得设备在运行过更加稳定,避免传统大多探针内部采用圆锥形滑块,滑块在与弹簧接触时易产生偏摆,使滑块与导筒间不能稳定接触,从而影响设备检测芯片时的准确度的问题,该装置的应用有效提高设备的稳定性。
2、本发明在使用时,安装时,将限位套和定位套依次套设在定位杆上,即可将连接座和导筒固定住,避免设备在使用过程中产生松动,确保设备的正常运行。
附图说明
图1为本发明的主结构示意图;
图2为本发明中稳定装置的结构示意图;
图3为本发明中定位装置的结构示意图;
图4为本发明中内部结构示意图;
图5为本发明安装时的结构示意图。
其中,1、导筒;2、滑孔;3、电路板;4、连接装置;41、顶杆;42、连接座;43、导杆;44、滑块;5、稳定装置;51、限位杆;52、稳定弹簧;53、定位杆;6、限位孔;7、定位装置;71、限位杆;72、定位套;73、限位套。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一:
如图1、2、3、4、5所示,本发明实施例提供一种新型探针内部连接结构,包括导筒1和电路板3,其特征在于:电路板3位于导筒1的正下方,导筒1的内壁设置有连接装置4,连接装置4包括连接座42,连接座42插入导筒1中并与其内壁螺纹连接,连接座42的下端固定连接有导杆43,导筒1的内壁滑动连接有滑块44,滑块44的上端固定连接有顶杆41,导筒1的上端开设有滑孔2,顶杆41贯穿滑孔2并与其内壁滑动连接。
实施例二:
如图1、2、3、4、5所示,本发明实施例提供一种新型探针内部连接结构,导筒1的内壁设置有稳定装置5,稳定装置5包括稳定弹簧52,稳定弹簧52位于导筒1中,连接座42的上端固定连接有限位杆51,稳定弹簧52套设在限位杆51上,稳定弹簧52的内壁与限位杆51的表面相抵,滑块44的下端固定连接有定位杆53,稳定弹簧52套设在定位杆53上,稳定弹簧52的内壁与定位杆53的表面相抵,电路板3的上端开设有限位孔6,导杆43贯穿限位孔6并与其内壁滑动连接,电路板3的上端设置有两个对称设置的定位装置7,稳定弹簧52的表面采用砂纸打磨处理,稳定弹簧52自下而上直径逐渐减小,定位装置7包括限位杆71,限位杆71位于电路板3的上端固定连接,导筒1的表面固定连接有定位套72,连接座42的表面固定连接有限位套73,限位杆71依次贯穿限位套73和定位套72,顶杆41的表面与导筒1的内壁相抵,滑块44的上端与导筒1的内顶壁相抵。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个引用结构”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种新型探针内部连接结构,包括导筒(1)和电路板(3),其特征在于:所述电路板(3)位于导筒(1)的正下方,所述导筒(1)的内壁设置有连接装置(4),所述连接装置(4)包括连接座(42),所述连接座(42)插入导筒(1)中并与其内壁螺纹连接,所述连接座(42)的下端固定连接有导杆(43),所述导筒(1)的内壁滑动连接有滑块(44),所述滑块(44)的上端固定连接有顶杆(41),所述导筒(1)的上端开设有滑孔(2),所述顶杆(41)贯穿滑孔(2)并与其内壁滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型探针内部连接结构,其特征在于:所述导筒(1)的内壁设置有稳定装置(5),所述稳定装置(5)包括稳定弹簧(52),所述稳定弹簧(52)位于导筒(1)中,所述连接座(42)的上端固定连接有限位杆(51),所述稳定弹簧(52)套设在限位杆(51)上,所述稳定弹簧(52)的内壁与限位杆(51)的表面相抵,所述滑块(44)的下端固定连接有定位杆(53),所述稳定弹簧(52)套设在定位杆(53)上,所述稳定弹簧(52)的内壁与定位杆(53)的表面相抵。
3.根据权利要求2所述的一种新型探针内部连接结构,其特征在于:所述电路板(3)的上端开设有限位孔(6),所述导杆(43)贯穿限位孔(6)并与其内壁滑动连接,所述电路板(3)的上端设置有两个对称设置的定位装置(7)。
4.根据权利要求2所述的一种新型探针内部连接结构,其特征在于:所述稳定弹簧(52)的表面采用砂纸打磨处理,所述稳定弹簧(52)自下而上直径逐渐减小。
5.根据权利要求3所述的一种新型探针内部连接结构,其特征在于:所述定位装置(7)包括限位杆(71),所述限位杆(71)位于电路板(3)的上端固定连接,所述导筒(1)的表面固定连接有定位套(72),所述连接座(42)的表面固定连接有限位套(73),所述限位杆(71)依次贯穿限位套(73)和定位套(72)。
6.根据权利要求5所述的一种新型探针内部连接结构,其特征在于:所述顶杆(41)的表面与导筒(1)的内壁相抵,所述滑块(44)的上端与导筒(1)的内顶壁相抵。
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003264024A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Citizen Electronics Co Ltd | コネクター |
WO2011046290A2 (ko) * | 2009-10-12 | 2011-04-21 | 주식회사 아이윈 | 활주형 포고핀 |
JP2011158329A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Citizen Tohoku Kk | コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 |
US20120019277A1 (en) * | 2009-04-03 | 2012-01-26 | Nhk Spring Co., Ltd. | Spring wire rod, contact probe, and probe unit |
KR20180029449A (ko) * | 2016-09-12 | 2018-03-21 | 김진천 | 미세 부품 핸들링 기구, 포고 핀 조립 장치 및 이를 이용한 포고 핀 조립 방법 |
CN208224429U (zh) * | 2018-06-15 | 2018-12-11 | 苏州联讯仪器有限公司 | 一种应用新型探针的激光器芯片测试装置 |
CN208820098U (zh) * | 2018-08-31 | 2019-05-03 | 东莞中探探针有限公司 | 弹簧式探针 |
CN208984682U (zh) * | 2018-10-26 | 2019-06-14 | 四川新君达永业科技有限公司 | 一种安全型电流测试探针 |
CN209656750U (zh) * | 2019-02-28 | 2019-11-19 | 华芯智造微电子(重庆)股份有限公司 | 一种应用新型探针的激光器芯片测试装置 |
CN111537869A (zh) * | 2020-06-17 | 2020-08-14 | 深圳市容微精密电子有限公司 | 一种适用于大电流测试的探针测试底座 |
-
2020
- 2020-10-10 CN CN202011079276.5A patent/CN114325003A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003264024A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Citizen Electronics Co Ltd | コネクター |
US20120019277A1 (en) * | 2009-04-03 | 2012-01-26 | Nhk Spring Co., Ltd. | Spring wire rod, contact probe, and probe unit |
WO2011046290A2 (ko) * | 2009-10-12 | 2011-04-21 | 주식회사 아이윈 | 활주형 포고핀 |
JP2011158329A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Citizen Tohoku Kk | コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置 |
KR20180029449A (ko) * | 2016-09-12 | 2018-03-21 | 김진천 | 미세 부품 핸들링 기구, 포고 핀 조립 장치 및 이를 이용한 포고 핀 조립 방법 |
CN208224429U (zh) * | 2018-06-15 | 2018-12-11 | 苏州联讯仪器有限公司 | 一种应用新型探针的激光器芯片测试装置 |
CN208820098U (zh) * | 2018-08-31 | 2019-05-03 | 东莞中探探针有限公司 | 弹簧式探针 |
CN208984682U (zh) * | 2018-10-26 | 2019-06-14 | 四川新君达永业科技有限公司 | 一种安全型电流测试探针 |
CN209656750U (zh) * | 2019-02-28 | 2019-11-19 | 华芯智造微电子(重庆)股份有限公司 | 一种应用新型探针的激光器芯片测试装置 |
CN111537869A (zh) * | 2020-06-17 | 2020-08-14 | 深圳市容微精密电子有限公司 | 一种适用于大电流测试的探针测试底座 |
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