JP2000241506A - プリント基板の検査装置 - Google Patents

プリント基板の検査装置

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JP2000241506A
JP2000241506A JP11042351A JP4235199A JP2000241506A JP 2000241506 A JP2000241506 A JP 2000241506A JP 11042351 A JP11042351 A JP 11042351A JP 4235199 A JP4235199 A JP 4235199A JP 2000241506 A JP2000241506 A JP 2000241506A
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JP
Japan
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pin
inspection
board
inspection probe
ring
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JP11042351A
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English (en)
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Ryoichi Yotsuya
良一 肆矢
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ピンボードに支持した特定の検査用プローブ
を容易に認識することができ、しかも、専用工具を必要
とすることなく簡単に検査用プローブの取り付け高さを
揃えることのできるプリント基板の検査装置を得る。 【解決手段】 先端部に備えたピン2がコイルばね5に
よって出没可能にされた検査用プローブ1を有し、検査
用プローブ1がソケット6を介してピンボード9に圧入
支持され、ピン2の先端部をプリント基板13の実装部
品の端子部に接触させて部品検査を行う検査装置であっ
て、検査用プローブ1のソケット6にリング15が挿着
支持され、リング15には色彩を着色し、色彩はカラー
コード番号と一致させて検査用プローブ1のピン番号の
下一桁を表示すると共に、リング15をピンボード9面
に位置決めさせることでピンボード9面上から検査用プ
ローブ1のピン2の先端部までの高さ決めの機能を有す
るようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板上に
実装した搭載部品の検査装置に関し、詳しくはピンボー
ドに直立状態に固定した検査用プローブのピン先端部を
搭載部品の端子部に接触させて部品個々の電流値や電圧
値を測定するものであって、検査用プローブにカラーコ
ード番号と一致する色彩のリングを挿着することによっ
て、検査用プローブのピン番号が容易に識別可能とな
り、また、リングの挿着によってピンボード面からピン
先端部までの高さ決めを容易に設定できるようにしたも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種、プリント基板検査装置に
使用される検査用プローブとソケットの一例を図7に示
す。検査用プローブ1は例えばベリリウム銅及びスチー
ルからなる先尖状のピン2の基部にプラッジャー3を有
し、このプランジャー3がニッケルシルバーからなるハ
ウジング4から抜け出し不能に係合され、ピン2はハウ
ジング4内に収納したピアノ線とステンレス・スチール
からなるコイルばね5のばね力により突出方向に支持さ
れている。検査用プローブのハウジング4にはニッケル
シルバー製のソケット6が装着され、ソケット6の下端
部に突出する端子7にワイヤ8が接続されている。これ
によって、ピン2とワイヤ8間はコイルばね5、ハウジ
ング4及びソケット6を介して導電状態にされている。
【0003】図8は検査用プローブによるプリント基板
検査装置の全体図を示す。検査用プローブ1はハウジン
グ4にソケット6を装着した状態において、例えばアク
リル樹脂等からなるピンボード9に形成した各孔9aに
圧入により挿着され直立状態に支持される。
【0004】検査用プローブ1が支持されたピンボード
9の上部には例えば抵抗10やコンデンサ11、ICチ
ップ12等の搭載部品が実装されたプリント基板13が
配置される。ここで、抵抗10の両リード端子10a,
10bに検査用プローブ1,1のピン2,2の先端部が
接触し、コンデンサ11の両リード端子11a,11b
に検査用プローブ1,1のピン2,2の先端部が接触
し、また、ICチップ12の各端子12a,12bに検
査用プローブ1,1のピン2,2の先端部が接触する。
すなわち、プリント基板13に実装された搭載部品の端
子に対して検査用プローブ1の各ピン2の先端部が接触
するように、ピンボード9に検査用プローブ1の取り付
け位置が設計されている。尚、プリント基板13の上部
には、プリント基板13を検査用プローブ1側へ加圧す
るための押し棒14aを有する押し板14が配置されて
いる。
【0005】このように構成したプリント基板検査装置
は、プリント基板の検査に先立って押し板14を下降さ
せ押し棒14aによってプリント基板13を加圧する。
これにより、プリント基板13に実装している搭載部品
の各端子と接触している検査用プローブ1のピン2が押
し下げられることで、コイルばね5に生じる圧縮力でピ
ン2と搭載部品の各端子との接触力が高まり確実な接触
圧が図れる。
【0006】かくして、上述したプリント基板検査装置
のセット状態において、例えば搭載部品が抵抗10の場
合の検査は、抵抗10の一方の端子10aに接触してい
る検査用プローブ1のソケット6のワイヤ8から電圧あ
るいは電流を印加することで、抵抗10の他方の端子1
0aに接触している検査用プローブ1のソケット6のワ
イヤ8から抵抗10の負荷に応じた電圧あるいは電流の
出力値を測定するものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、プリント基
板検査装置に使用されるピンボード9には、検査用プロ
ーブ1が数百本から千本近く取り付けられている。この
ため、特定の検査用プローブを認識する必要があり、そ
の認識方法として当該検査用プローブが位置するピンボ
ード9の部分にマジックペン等でプローブのピン番号を
記入して表示するが、ピンボード9には検査用プローブ
が密集しているためピン番号が記入できず、この場合、
特定の検査用プローブを捜し出すのに時間を要するとい
った問題がある。
【0008】一方、ピンボード9に取り付けられた検査
用プローブは、ピン2の各先端部がプリント基板13に
実装された搭載部品の端子に均一な接触圧で接触させる
ために、ピンボード9の上面からピン先端部までの高さ
を揃えて取り付ける必要がある。例えば、検査用プロー
ブの高さが不揃いであると、ピン先端部が搭載部品の端
子に接触しない場合が生じたり、あるいはピン先端部が
搭載部品の端子に必要以上に強く接触した場合ではピン
先端部が摩耗したり、コイルばね5が必要以上に圧縮さ
れてばね精度が低下する。
【0009】このため専用工具を使用して検査用プロー
ブの取り付け高さを揃える方法があるが、専用工具がな
い場合ではピンボード9の上面からピン先端部までの高
さをスケール等で一本づつ測定して揃えていた。しか
し、このような方法では検査用プローブが千本近くある
場合には高さ決めがの作業に多くの時間がかかる。
【0010】本発明は、上述したような課題を解消する
ためになされたもので、ピンボードに支持した特定の検
査用プローブを容易に認識することができ、しかも、専
用工具を必要とすることなく簡単に検査用プローブの取
り付け高さを揃えることのできるプリント基板の検査装
置を得ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明によるプリント基板の検査装置は、検査用プ
ローブのソケットに色彩を有するリングを挿着し、その
色彩をカラーコード番号と一致させて検査用プローブの
ピン番号の下一桁を表示するようにしたものである。
【0012】これによれば、リングの色彩によってピン
番号の下一桁を識別することができ、特定の検査用プロ
ーブの位置を容易に認識することができる。
【0013】また、本発明によるプリント基板の検査装
置は、検査用プローブのソケットの所定高さ位置にリン
グを挿着したものである。
【0014】これによれば、ピンボードに検査用プロー
ブのソケットを取り付け、この際、リングをピンボード
面上に接するようにすることでピンボード面から検査用
プローブのピン先端部までの高さを均一に決めることが
できる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明によるプリント基板
検査装置の実施の形態の例を図面を参照して説明する。
【0016】図1はプリント基板検査装置の全体図、図
1はソケットが装着状態の検査用プローブの斜視図、図
2は検査用プローブとソケットの分離状態の斜視図、図
3は図1のA−A線拡大断面図であり、図7で説明した
従来と同一構成部分には同じ符号を付して説明する。
【0017】検査用プローブ1は例えばベリリウム銅及
びスチールからなる先尖状のピン2の基部にプラッジャ
ー3を有し、このプランジャー3がニッケル・シルバー
からなるハウジング4から抜け出し不能に係合され、ピ
ン2はハウジング4内に収納したピアノ線とステンレス
・スチールからなるコイルばね5のばね力により突出方
向に支持されている。検査用プローブのハウジング4に
はニッケル・シルバー製のソケット6が装着され、ソケ
ット6の下端部に突出する端子7にワイヤ8が接続され
ている。これによって、ピン2とワイヤ8間はコイルば
ね5、ハウジング4及びソケット6を介して導電状態に
されている。
【0018】上述した検査用プローブ1のソケット6に
は本発明の特徴部分として例えば、プラスチックの成形
材からなる長さが統一された円筒状のリング15が圧入
により取り付けられ、リング15には色彩が着色されて
いる。この色彩はカラーコード番号と一致させるように
し、検査用プローブ1のピン番号の下一桁を表示する。
例えば、リング15の色彩が黒色の場合にはピン番号の
下一桁は「0」番を意味し、褐色の場合にはピン番号の
下一桁は「1」番を意味し、赤色の場合にはピン番号の
下一桁は「2」番を意味する。
【0019】また、上述したリング15はソケット6に
装着された検査用プローブ1をピンボードに取り付けた
ときの、ピンボード面からピン2の先端部までの高さ決
めのための機能を有する。本例の場合、リング15はそ
の上端面をソケット6の上端部に丁度一致する高さに挿
着することによって、リング15の挿着位置が正確に位
置出しされるようにしている。
【0020】図4はプリント基板検査装置の全体図を示
し、図8で説明した従来と同一構成部分には同じ符号を
付して説明する。
【0021】本発明によるリング15がソケット6に挿
着された検査用プローブ1は、例えばアクリル樹脂等か
らなるピンボード9に形成した各孔9aに、ピンボード
9の上方から圧入により挿着されることで、検査用プロ
ーブ1はリング15の下面がピンボード9の面上に接触
され直立状態に支持される。これによって、検査用プロ
ーブ1はピンボード9の面上からピン2の先端部までの
高さを均一に揃えることができるようになる。
【0022】検査用プローブ1が支持されたピンボード
9の上部には抵抗10やコンデンサ11、ICチップ1
2等の搭載部品が実装されたプリント基板13が配置さ
れている。ここで、抵抗10の両リード端子10a,1
0bに検査用プローブ1,1のピン2,2の先端部が接
触し、コンデンサ11の両リード端子11a,11bに
検査用プローブ1,1のピン2,2の先端部が接触し、
また、ICチップ12の各端子12a,12bに検査用
プローブ1,1のピン2,2の先端部が接触する。すな
わち、プリント基板13に実装された搭載部品の端子に
対して検査用プローブ1の各ピン2の先端部が接触する
ように、ピンボード9に検査用プローブ1の取り付け位
置が設計されている。尚、プリント基板13の上部に
は、プリント基板13を検査用プローブ1側へ加圧する
ための押し棒14aを有する押し板14が配置されてい
る。
【0023】このように本発明は、押し板14を下降さ
せ押し棒14aによってプリント基板13が加圧される
と、プリント基板13に実装している搭載部品の各端子
と接触している検査用プローブ1のピン2が均一に押し
下げられ、各コイルばね5が均等に圧縮されることにな
り、ピン2と搭載部品の端子とを均一な接触圧で接触さ
せることができる。
【0024】以上のように本発明によるプリント基板の
検査装置は、検査用プローブ1にリング15を取り付
け、このリング15に検査用プローブ1のピン番号の下
一桁を表示する色彩を着色したことで、多数の検査用プ
ローブ1の中から特定の検査用プローブの位置を容易に
認識することができる機能と、ピンボード9に検査用プ
ローブ1を取り付けたときにピンボード9の面上からピ
ン2の先端部までの高さを均一に揃えることができる機
能の両方を得ることができる。
【0025】検査用プローブ1のソケット6へのリング
15の取り付けは圧入による以外、例えば図5に示すよ
うにリングの内径部に雌ねじを形成したリング15aを
ソケット6の外周面に形成した雄ねじ部6aにねじ結合
することで、リング15の上端面がソケット6の上端部
に一致するように位置出ししている。尚、この際、両ね
じ部に回り止め剤を塗布すれば、ねじ部の緩み止めが行
える。
【0026】また、ソケット6へのリング15の取り付
け位置は、必ずしもソケット6の上端部に限ることな
く、図6に示すようにソケット6の下端部側の決められ
た位置にリング15を固定することであってもよい。こ
の場合、検査用プローブ1はピンボード9の裏面側から
孔9aに圧入により挿着し、リング15の上端面をピン
ボード9の下面に突き当てればピンボード9の上面から
突き出る検査用プローブ1の高さを揃えることができ
る。この場合、リング15はピンボード9の裏面側に位
置するようになるので、検査用プローブ1のピン番号は
ピンボード9の裏面からリング15の色彩を認識する。
【0027】本発明は上述しかつ図面に示した実施の形
態の例に限定されるものでなく、その要旨を逸脱しない
範囲内で種々の変形実施が可能である。
【0028】本例では、検査用プローブ1に対して別体
のソケット6が装着されるようにした場合について説明
したが、検査用プローブとソケットとが一体に組付けら
れた構造であってもよい。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明によるプリン
ト基板の検査装置は、検査用プローブのソケットに色彩
を有するリングを挿着し、その色彩をカラーコード番号
と一致させ、検査用プローブのピン番号の下一桁を表示
するようにしたので、多数の検査用プローブの中からリ
ングに着色した色彩から特定の検査用プローブの位置を
容易に認識することができるといった効果がある。
【0030】また、本発明によるプリント基板の検査装
置は、検査用プローブのソケットにリングを挿着したこ
とによって、ピンボードの面上からピンの先端部までの
高さを専用工具を使用したり調整作業を行うことなく均
一に揃えることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプリント基板検査装置による検査用プ
ローブの斜視図である。
【図2】検査用プローブとソケットを分離した斜視図で
ある。
【図3】図1のA−A線拡大断面図である。
【図4】本発明の検査用プローブによるプリント基板検
査装置の全体図である。
【図5】検査用プローブへのリングの異なる取り付け例
の斜視図である。
【図6】検査用プローブへのリングの取り付け位置の異
なる斜視図である。
【図7】従来の検査用プローブの拡大断面図である。
【図8】従来の検査用プローブによるプリント基板検査
装置の全体図である。
【符号の説明】
1…検査用プローブ、2…ピン、3…プランジャー、4
…ハウジング、5…コイルばね、6…ソケット、6a…
雄ねじ、8…ワイヤ、9…ピンボード、10,11,1
2…搭載部品、13…プリント基板、14…押し板、1
5…リング、15a…雌ねじを有するリング

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 先端部に備えたピンが圧縮ばねによって
    出没可能にされた検査用プローブを有し、上記検査用プ
    ローブがソケットを介してピンボードに圧入支持され、
    上記ピン先端部をプリント基板の実装部品の端子部に接
    触させて部品検査を行うようにするための検査装置にお
    いて、 上記検査用プローブのソケットにリングが挿着支持さ
    れ、上記リングには色彩を有し、色彩はカラーコード番
    号と一致させて上記検査用プローブのピン番号の下一桁
    を表示することを特徴とするプリント基板の検査装置。
  2. 【請求項2】 先端部に備えたピンが圧縮ばねによって
    出没可能にされた検査用プローブを有し、上記検査用プ
    ローブがソケットを介してピンボードに圧入支持され、
    上記ピン先端部をプリント基板の実装部品の端子部に接
    触させて部品検査を行うようにするための検査装置にお
    いて、 上記検査用プローブのソケットにリングが挿着支持さ
    れ、上記リングを上記ピンボード面に位置決めさせるこ
    とで上記ピンボード面上から上記検査用プローブのピン
    先端部までの高さ決めの機能を有することを特徴とする
    プリント基板の検査装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP2011145200A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Micronics Japan Co Ltd 電気的試験用プローブ及びその製造方法、並びに電気的接続装置及びその製造方法
CN109682997A (zh) * 2018-12-24 2019-04-26 京信通信系统(中国)有限公司 电调天线可感知模块主板的测试装置
CN110045526A (zh) * 2019-04-22 2019-07-23 武汉华星光电技术有限公司 点灯治具及点灯检测方法
CN112462110A (zh) * 2020-11-30 2021-03-09 强一半导体(苏州)有限公司 一种楔块调幅探针卡调幅件及其对接结构
CN112462111A (zh) * 2020-11-30 2021-03-09 强一半导体(苏州)有限公司 一种楔块调幅探针卡调幅结构及其对接结构
CN112462112A (zh) * 2020-11-30 2021-03-09 强一半导体(苏州)有限公司 一种探针卡楔块调幅方法
CN112526179A (zh) * 2020-11-30 2021-03-19 强一半导体(苏州)有限公司 一种楔块调幅探针卡及其主体

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100626629B1 (ko) 2002-11-19 2006-09-22 가부시키가이샤 요코오 고주파 소자용 검사 치구 및 이 치구에 채용된 접촉 프로브
JP2011145200A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Micronics Japan Co Ltd 電気的試験用プローブ及びその製造方法、並びに電気的接続装置及びその製造方法
CN109682997A (zh) * 2018-12-24 2019-04-26 京信通信系统(中国)有限公司 电调天线可感知模块主板的测试装置
CN110045526A (zh) * 2019-04-22 2019-07-23 武汉华星光电技术有限公司 点灯治具及点灯检测方法
CN112462110A (zh) * 2020-11-30 2021-03-09 强一半导体(苏州)有限公司 一种楔块调幅探针卡调幅件及其对接结构
CN112462111A (zh) * 2020-11-30 2021-03-09 强一半导体(苏州)有限公司 一种楔块调幅探针卡调幅结构及其对接结构
CN112462112A (zh) * 2020-11-30 2021-03-09 强一半导体(苏州)有限公司 一种探针卡楔块调幅方法
CN112526179A (zh) * 2020-11-30 2021-03-19 强一半导体(苏州)有限公司 一种楔块调幅探针卡及其主体
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