CN114055941B - 喷墨位移参数校正方法、校正装置以及校正系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种喷墨位移参数校正方法、喷墨位移参数校正装置、喷墨位移参数校正系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。该喷墨位移参数校正方法通过获取喷嘴的喷墨数据，计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，然后根据坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正，操作简单易行，可以对喷墨位移参数进行快速校正，能够有效提高喷墨位移参数的校正效率。

Description

喷墨位移参数校正方法、校正装置以及校正系统
技术领域
本发明涉及喷墨打印技术领域，尤其是涉及一种喷墨位移参数校正方法、喷墨位移参数校正装置、喷墨位移参数校正系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
喷墨打印是制备功能器件的一种较为常用的方法，通过喷墨打印技术在基板上的像素单元内喷入功能材料墨水，以得到相应的功能层。喷墨打印具有加工方式较为简单、适用范围较为广泛等优点。由于功能器件的厚度普遍较小且需要较高的加工精度，因此对喷墨打印的精度要求更为严苛。然而，在喷墨打印过程中，随着加工时间的延长，难以避免地会出现喷墨打印出现偏差的问题，此时需要对喷墨位移参数进行校正以提高喷墨打印的加工精度。尽管目前存在一些喷墨位移参数的校正方法，但是这些方法往往涉及到较为复杂的操作，校正效率较低。
发明内容
基于此，有必要提供一种能够提高喷墨位移参数校正效率的喷墨位移参数校正方法、喷墨位移参数校正装置、喷墨位移参数校正系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。
为了解决以上技术问题，本发明的技术方案在于：
一种喷墨位移参数校正方法，包括如下步骤：
获取喷嘴的喷墨数据，所述喷墨数据包括喷嘴喷墨时墨滴的理想滴落位置的坐标和实际滴落位置的坐标；
计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，所述坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正。
在其中一个实施例中，获取喷嘴的喷墨数据包括如下步骤：
控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，所述预设坐标为所述喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
获取所述喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标。
在其中一个实施例中，根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正包括如下步骤：
当所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以所述校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
在其中一个实施例中，以所述校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正包括如下步骤：
根据所述校正值调整喷墨电压以使墨滴的坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值。
在其中一个实施例中，所述控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨之后、所述根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正之前还包括如下步骤：
对喷嘴进行修复，以使修复后的喷嘴喷墨的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值；所述直径偏移量为墨滴在基板上的实际直径与该墨滴在基板上的理想直径之间的差值，所述理想直径为所述喷嘴每次以理想喷墨体积喷出的墨滴在基板上的直径。
在其中一个实施例中，所述对喷嘴进行修复包括如下步骤：
获取所述喷嘴每次喷墨的墨滴在基板上的实际直径；
计算所述喷嘴每次喷墨的墨滴的直径偏移量；
根据所述直径偏移量与直径偏移量阈值对喷嘴进行修复，当所述直径偏移量均不超过所述直径偏移量阈值时，无需对喷嘴进行修复；否则对该喷嘴进行修复以使其每次喷墨的墨滴的直径偏移量不超过所述直径偏移量阈值。
在其中一个实施例中，所述直径偏移量阈值不超过±3μm。
在其中一个实施例中，各坐标轴上的偏移量阈值不超过±20μm。
一种喷墨位移参数校正装置，包括数据获取模块、坐标偏移量计算模块以及喷墨位移参数校正模块；
所述数据获取模块用于获取喷嘴的喷墨数据，所述喷墨数据包括喷嘴喷墨时墨滴的理想滴落位置的坐标和实际滴落位置的坐标；
所述坐标偏移量计算模块用于计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，所述坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
所述喷墨位移参数校正模块用于根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正。
一种喷墨位移参数校正系统，包括控制器；所述控制器用于获取喷嘴的喷墨数据，喷墨数据包括喷嘴喷墨时墨滴的理想滴落位置的坐标和实际滴落位置的坐标；
所述控制器还用于计算喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
所述控制器还用于根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正。
上述喷墨位移参数校正方法通过获取喷嘴的喷墨数据，计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，然后根据坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正，操作简单易行，可以对喷墨位移参数进行快速校正，能够有效提高喷墨位移参数的校正效率。
上述喷墨位移参数校正法方法中，控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正，当坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。这样不需要复杂的操作即可对喷墨位移参数进行校正，能够提高喷墨位移参数的校正效率。并且在喷墨位移参数校正过程中，通过控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，这样可以更加准确地表现喷嘴喷墨的实际情况，提高喷墨位移参数校正的准确率。
进一步地，上述喷墨位移参数校正方法在控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨之后、根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正之前对喷嘴进行修复，使修复后的喷嘴每次喷墨时墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值。这样在对喷墨位移参数进行校正之前对喷嘴进行修复，可以避免需要修复的问题喷嘴的异常喷墨对坐标偏移量产生不利影响，能够提高喷墨位移参数校正的准确性。同时，在校正之前对喷嘴进行修复，可以快速发现需要修复的问题喷嘴，避免在后续校正过程中需要额外的操作来挑选需要修复的问题喷嘴，可以进一步提高喷墨位移参数的校正效率。
附图说明
图1为本发明一实施例中喷墨位移参数校正方法的流程示意图；
图2为本发明另一实施例中喷墨位移参数校正方法的流程示意图；
图3为本发明另一实施例中喷墨位移参数校正方法的流程示意图；
图4为本发明一实施例中喷嘴喷墨的墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置之间的关系示意图；
图5为本发明另一实施例中喷嘴喷墨时在基板上形成的墨滴组的示意图；
图6为本发明另一实施例中喷嘴喷墨时出墨角度偏差对墨滴实际滴落位置的影响示意图；
图7为本发明一实施例中喷墨位移参数校正装置的模块结构示意图；
图8为本发明另一实施例中喷墨位移参数校正装置的模块结构示意图；
图9为图8对应的喷墨位移参数校正装置中喷嘴修复模块结构示意图。
图中标记说明：
100、理想滴落位置；101、第一实际滴落位置；102、第二实际滴落位置；103、第三实际滴落位置；104、第四实际滴落位置；105、第五实际滴落位置；200、基板非有效区域；201、第1喷嘴喷墨的墨滴组；202、第2喷嘴喷墨的墨滴组；203、第3喷嘴喷墨的墨滴组；204、第n喷嘴喷墨的墨滴组；205、其他喷嘴喷墨的墨滴组的省略；300、喷墨打印头；301、喷嘴；302、墨滴。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关实施例对本发明进行更全面的描述。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
在本发明的描述中，应当理解的是，本发明中采用术语在本发明的描述中，应当理解的是，本发明中采用术语“中心”、“上”、“下”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
应当理解的是，本发明中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本发明范围的情况下，“第一”信息也可以被称为“第二”信息，类似的，“第二”信息也可以被称为“第一”信息。当两个元件为一体成型的结构时，同样可以认为该两个元件是“连接”关系。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参阅图1，本发明一实施例提供了一种喷墨位移参数校正方法，包括如下步骤：
S001：获取喷嘴的喷墨数据，喷墨数据包括喷嘴喷墨时墨滴的理想滴落位置的坐标和实际滴落位置的坐标；
S002：计算喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
S003：根据坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正。
本实施例中喷墨位移参数校正方法通过获取喷嘴的喷墨数据，计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，然后根据坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正，操作简单易行，可以对喷墨位移参数进行快速校正，能够有效提高喷墨位移参数的校正效率。
在一个具体的示例中，获取喷嘴的喷墨数据包括如下步骤：控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，预设坐标为喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；获取喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标。
请参阅图2，本发明另一实施例提供了一种喷墨位移参数校正方法，包括如下步骤：
S101：控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，预设坐标为喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
S102：获取喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标；
S103：计算喷嘴每次喷墨的墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
S104：根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正，当坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
可以理解的是，预设坐标位于基板非有效区域。通过在基板非有效区域设置预设坐标位置，不会给基板的有效区域带来不利影响，可以提高基板的利用率。
需要说明的是，根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组时，将零定义为正值。即根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组时，将大于等于零的差值分为一组，将小于零的差值分为另一组。或者，根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组时，将零定义为负值。即根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组时，将小于等于零的差值分为一组，将大于零的差值分为另一组。
本实施例中控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正，当坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。这样不需要复杂的操作即可对喷墨位移参数进行校正，能够提高喷墨位移参数的校正效率。并且在喷墨位移参数校正过程中，通过控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，这样可以更加准确地表现喷嘴喷墨的实际情况，提高喷墨位移参数校正的准确率。
请参阅图4，图4示出了一实施例中喷嘴喷墨时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置之间的关系示意图。当喷嘴以预设坐标为目标进行喷墨时，在理想状态下，墨滴滴落到理想滴落位置100处，即预设坐标为理想位置100的坐标。在实际喷墨过程中，墨滴可能会发生一定的偏移，图4中示出了墨滴的第一实际滴落位置101、第二实际滴落位置102、第三实际滴落位置103、第四实际滴落位置104以及第五实际滴落位置105。可以理解的是，墨滴的实际滴落位置不限于以上五种滴落位置。在图4所示的墨滴位置中，理想滴落位置100的坐标为(x0、y0)、第一实际滴落位置101的坐标为(x1、y1)、第二实际滴落位置102的坐标为(x2、y2)、第三实际滴落位置103的坐标为(x3、y3)、第四实际滴落位置104的坐标为(x4、y4)、第五实际滴落位置105的坐标为(x5、y5)。此时，x0＝x1＝x3、y0＝y2＝y4、y3＞y0＞y1、x2＞x0＞x4、x5＞x0、y5＞y0。第一实际滴落位置101的在X轴上的坐标偏移量为0，在Y轴上的坐标偏移量为y1-y0＜0，即第一实际滴落位置101在Y轴上的坐标偏移量为负值。第二实际滴落位置102的在X轴上的坐标偏移量为x2-x0＞0，在Y轴上的坐标偏移量为0，即第二实际滴落位置102在X轴上的坐标偏移量为正值。第三实际滴落位置103的在X轴上的坐标偏移量为0，在Y轴上的坐标偏移量为y3-y0＞0，即第三实际滴落位置103在Y轴上的坐标偏移量为正值。第四实际滴落位置104的在X轴上的坐标偏移量为x4-x0＜0，在Y轴上的坐标偏移量为0，即第四实际滴落位置104在X轴上的坐标偏移量为负值。第五实际滴落位置105的在X轴上的坐标偏移量为x5-x0＞0，在Y轴上的坐标偏移量为y5-y0＞0，即第五实际滴落位置105在X轴上的坐标偏移量为正值，在Y轴上的坐标偏移量也为正值。
可以理解的是，当喷嘴以预设坐标为目标进行喷墨时，预设坐标为(x0、y0)，墨滴的实际滴落位置的坐标为(xn、yn)，此时，墨滴的坐标偏移量为：X轴上坐标偏移量为xn-x0，Y轴上坐标偏移量为yn-y0。若xn-x0＞0，则该墨滴在X轴上的坐标偏移量为正值，若xn-x0＜0，则该墨滴在X轴上的坐标偏移量为负值，若xn-x0＝0，则该墨滴在X轴上的坐标偏移量为0。若yn-y0＞0，则该墨滴在Y轴上的坐标偏移量为正值，若yn-y0＜0，则该墨滴在Y轴上的坐标偏移量为负值，若yn-y0＝0，则该墨滴在Y轴上的坐标偏移量为0。当喷嘴在不同的预设坐标处进行次数为奇数的多次喷墨后，可以得到奇数个X轴上的坐标偏移量，以及奇数个Y轴上的坐标偏移量，然后根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正。比如，在X轴上，根据坐标偏移量在X轴上的差值的正、负情况对X轴上的差值进行分组，取X轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，在此过程中，将大于等于零的差值分为一组，将小于零的差值分为另一组，取X轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值。在Y轴上，根据坐标偏移量在Y轴上的差值的正、负情况对Y轴上的差值进行分组，取Y轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，在此过程中，将大于等于零的差值分为一组，将小于零的差值分为另一组，取Y轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值。
在一个优选的方案中，控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨时，控制不同的预设坐标位于同一直线上。控制不同预设坐标位于同一直线上，便于对喷嘴的喷墨进行控制。比如，当控制喷嘴喷墨时，通过移动喷墨打印头在不同的预设坐标处进行喷墨。
请参阅图5，通常情况下，喷墨打印头上设有多个喷嘴，控制多个喷嘴同时喷墨，并通过移动喷墨打印头可以在基板非有效区域200上形成多个墨滴组，比如通过移动喷墨打印头可以在基板非有效区域200上形成第1喷嘴喷墨的墨滴组201、第2喷嘴喷墨的墨滴组202、第3喷嘴喷墨的墨滴组203、第n喷嘴喷墨的墨滴组204，n为大于等于4的正整数。这样可以同时对喷墨打印头上的喷嘴进行喷墨，获取不同喷嘴的墨滴的坐标偏移量，方便对喷墨打印头上的喷嘴的喷墨位移参数进行校正，提高喷墨位移参数的校正效率。
优选地，控制相邻的预设坐标之间的距离相等。此时，可以通过控制喷墨打印头在每次喷墨时移动相同的距离，就可以在不同预设坐标处喷墨形成墨滴。优选地，控制相邻的预设坐标之间的距离相等且为100μm，此时可以保证喷嘴每次喷出的墨滴之间不会相互影响，进而可以进一步提高喷墨位移参数校正的准确率。可以理解的是，在喷墨过程中，控制喷墨打印头上的多个喷嘴同时进行第一次喷墨。然后移动喷墨打印头的位置，比如在Y轴方向上，移动喷墨打印头的位置，移动距离为100μm，再同时进行第二次喷墨。再在Y轴方向上移动喷墨打印头100μm，再同时进行第三次喷墨。再在Y轴方向上移动喷墨打印头100μm，再同时进行第四次喷墨。再在Y轴方向上移动喷墨打印头100μm，再同时进行第五次喷墨。如此，可以得到如图5中所示的墨滴组。可以理解的是其他喷嘴喷墨的墨滴组的省略205表示喷墨打印头上其他喷嘴喷墨时形成的墨滴组，其与第1喷嘴喷墨的墨滴组201、第2喷嘴喷墨的墨滴组202、第3喷嘴喷墨的墨滴组203以及第n喷嘴喷墨的墨滴组204具有相同的分布方式。
进一步优选地，奇数不少于5，即控制喷嘴进行不少于5次的喷墨。喷墨次数太少难以准确反映喷嘴喷墨的实际情况，喷墨次数太多会导致喷墨位移参数校正的效率降低。另外，当喷墨次数太多时，图像获取装置难以通过一次拍摄获取到喷嘴在多次喷墨时形成的墨滴组，这样也会导致喷墨位移参数校正效率降低。并且由于不能同时多个墨滴组进行拍摄，需要通过不同的照片来观察墨滴组的偏移情况，这样会将降低墨滴偏移情况获取的准确率，进而降低喷墨位移参数校正的准确率。更优选地，奇数为5～9。更优选地，奇数为5，即控制喷嘴进行5次的喷墨。
在一个具体的示例中，获取喷嘴多次喷墨时墨滴的实际滴落位置的坐标时，图像获取装置的拍摄中心对准多个墨滴中的中间位置的墨滴。这样可以使墨滴组位于照片的中心，避免墨滴组边缘的墨滴在照片上产生偏移或变形，提高校正准确率。在图5所示的墨滴组情况下，获取喷嘴5次喷墨时墨滴的实际滴落位置的坐标时，图像获取装置的拍摄中心对准5个墨滴中的中间位置的墨滴，即对准沿Y轴上的第3个墨滴。
在一个具体的示例中，各坐标轴上的偏移量阈值不超过±20μm。偏移量阈值太小则会导致校正频率增大，不利于校正效率的提高，偏移量阈值太大则会导致喷嘴的坐标偏移量不易被检出，难以对喷墨位移参数进行准确校正。
在一个具体的示例中，以校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正包括如下步骤：根据校正值调整喷墨电压以使墨滴的坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值。
进一步地，通过调整喷墨电压，调整出墨角度，以使墨滴的坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值。通常情况下，喷嘴两侧设置有压电陶瓷，通过对喷墨电压进行调整可以调整压电陶瓷的形变，调整出墨角度，进而调整墨滴的偏移量，这样可以使墨滴的坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值。
请参阅图6，喷墨打印头300上的喷嘴301喷出的墨滴302的理想滴落位置为B，墨滴的实际滴落位置为D，通过对喷墨电压进行调整可以调整压电陶瓷的形变，调整出墨角度，进而调整墨滴的偏移量，可以将墨滴302的实际滴落位置调整至C的位置，此时，墨滴302的坐标偏移量不超过偏移量阈值。具体地，当喷墨压力为38V时，多次喷墨得到的校正值BD＝25μm，喷嘴301与基板之间的距离为500μm，由此可以计算得到出墨角度为∠DAB＝arctan(BD/AB)＝arctan(25/500)＝2.86°。当偏移量阈值不超过20μm时，出墨角度需要不大于arctan(20/500)＝2.29°。此时将喷墨压力调整为36V时，电压下降，压电陶瓷的形变量减小，出墨角度也随之减小为1.8°，此时，墨滴落到C处，偏移量BC＝500×tan(1.8°)＝15.7μm，不超过偏移量阈值。
在一个具体的示例中，控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨之后、根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正之前还包括如下步骤：对喷嘴进行修复，以使修复后的喷嘴喷墨的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值；直径偏移量为墨滴在基板上的实际直径与该墨滴在基板上的理想直径之间的差值，理想直径为喷嘴每次以理想喷墨体积喷出的墨滴在基板上的直径。本示例中，在对喷墨位移参数进行校正之前对喷嘴进行修复，可以避免需要修复的问题喷嘴的异常喷墨对坐标偏移量产生不利影响，提高喷墨位移参数校正的准确性。同时，在校正之前对喷嘴进行修复，可以快速发现需要修复的问题喷嘴，避免在后续校正过程中需要额外的操作来挑选需要修复的问题喷嘴，可以进一步提高喷墨位移参数的校正效率。
请参阅图3，本发明另一实施例提供了一种喷墨位移参数校正方法，包括如下步骤：
S201：控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，预设坐标为喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
S202：对喷嘴进行修复，以使修复后的喷嘴每次喷墨时墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值；
S203：获取喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标；
S204：计算喷嘴每次喷墨的墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
S205：根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正，当坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
具体地，对喷嘴进行修复包括如下步骤：获取喷嘴每次喷墨的墨滴在基板上的实际直径；计算喷嘴每次喷墨的墨滴的直径偏移量；根据直径偏移量与直径偏移量阈值对喷嘴进行修复，当直径偏移量均不超过直径偏移量阈值时，无需对喷嘴进行修复；否则对该喷嘴进行修复以使其每次喷墨的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值。
进一步地，修复包括如下步骤：当直径偏移量为负值时，对该喷嘴进行疏通处理或者更换喷嘴；当直径偏移量为正值时，控制减小该喷嘴的喷墨体积或者更换喷嘴。
更进一步地，疏通处理为喷墨疏通喷嘴或者清洁喷嘴。比如，喷墨疏通可以采用高频率喷墨对喷嘴进行疏通，也可以采用擦拭等方式对喷嘴进行清洁。控制减小该喷嘴的喷墨体积包括减小该喷嘴的喷墨电压的步骤。通过减小喷墨电压可以减小喷嘴的喷墨体积，使喷嘴的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值。
在一个具体的示例中，理想直径与喷嘴每次喷墨时的理想喷墨体积满足如下关系：d＝3V+7，其中d为理想直径，单位为μm，V为喷嘴每次喷墨时的理想喷墨体积，单位为pL。通过对理想喷墨体积进行换算，可以得到理想直径，然后以此理想直径为基准，根据直径偏移量与直径偏移量阈值对喷嘴进行修复。
优选地，直径偏移量阈值不超过3μm。直径偏移量阈值不太小则会导致修复频率增大，不利于校正效率的提高，直径偏移量阈值太大则会导致问题喷嘴不易被检出，难以对喷墨位移参数进行准确校正。
本发明一实施例提供了一种喷墨位移参数校正装置，包括数据获取模块、坐标偏移量计算模块以及喷墨位移参数校正模块；数据获取模块用于获取喷嘴的喷墨数据，喷墨数据包括喷嘴喷墨时墨滴的理想滴落位置的坐标和实际滴落位置的坐标；坐标偏移量计算模块用于计算喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；喷墨位移参数校正模块用于根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正。
进一步地，喷墨位移参数校正装置还包括喷墨控制模块；喷墨控制模块用于控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，预设坐标为喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；数据获取模块用于获取喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标。
如图7所示，本发明一实施例提供了一种喷墨位移参数校正装置，该喷墨位移参数校正装置包括喷墨控制模块、数据获取模块、坐标偏移量计算模块以及喷墨位移参数校正模块；
喷墨控制模块用于控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，预设坐标为喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
数据获取模块用于获取喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标；
坐标偏移量计算模块用于计算喷嘴每次喷墨的墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
喷墨位移参数校正模块用于根据坐标偏移量与偏移量阈值对喷墨位移参数进行校正，当坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
请参阅图8，喷墨位移参数校正装置还包括喷嘴修复模块；喷嘴修复模块用于对喷嘴进行修复，以使修复后的喷嘴喷墨的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值；直径偏移量为墨滴在基板上的实际直径与该墨滴在基板上的理想直径之间的差值，理想直径为所述喷嘴每次以理想喷墨体积喷出的墨滴在基板上的直径。
请参阅图9，喷嘴修复模块包括直径获取模块、直径偏移量计算模块、喷嘴修复子模块；
直径获取模块用于获取喷嘴每次喷墨时墨滴的实际直径；
直径偏移量计算模块用于计算喷嘴每次喷墨时墨滴的直径偏移量，直径偏移量为墨滴的实际直径与该墨滴的理想直径之间的差值，理想直径为喷嘴每次喷墨时的理想喷墨体积在基板上形成的墨滴的直径；
喷嘴修复子模块用于根据直径偏移量与直径偏移量阈值对喷嘴进行修复，当直径偏移量均不超过直径偏移量阈值时，无需对喷嘴进行修复；当直径偏移量中存在超过直径偏移量阈值的直径偏移量时，对该喷嘴进行修复以使其每次喷墨时墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值，然后控制该修复后的喷嘴在基板上不同的预设坐标处进行次数为奇数的多次喷墨。
本发明还有一实施例提供了一种喷墨位移参数校正系统，该喷墨位移参数校正系统包括控制器；控制器用于获取喷嘴的喷墨数据，喷墨数据包括喷嘴喷墨时墨滴的理想滴落位置的坐标和实际滴落位置的坐标；控制器还用于计算喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；控制器还用于根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正。
进一步地，喷墨位移参数校正系统还包括喷墨打印头；喷墨打印头用于对基板进行喷墨打印。
更进一步地，控制器还用于控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，预设坐标为喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；数据获取模块用于获取喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标。
更进一步地，控制器还用于对喷嘴进行修复，以使修复后的喷嘴喷墨的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值；直径偏移量为墨滴在基板上的实际直径与该墨滴在基板上的理想直径之间的差值，理想直径为所述喷嘴每次以理想喷墨体积喷出的墨滴在基板上的直径。
更进一步地，控制器还用于获取喷嘴每次喷墨时墨滴的实际直径；控制器还用于计算喷嘴每次喷墨时墨滴的直径偏移量，直径偏移量为墨滴的实际直径与该墨滴的理想直径之间的差值，理想直径为喷嘴每次喷墨时的理想喷墨体积在基板上形成的墨滴的直径；控制器还用于根据直径偏移量与直径偏移量阈值对喷嘴进行修复，当直径偏移量均不超过直径偏移量阈值时，无需对喷嘴进行修复；当直径偏移量中存在超过直径偏移量阈值的直径偏移量时，对该喷嘴进行修复以使其每次喷墨时墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值，然后控制该修复后的喷嘴在基板上不同的预设坐标处进行次数为奇数的多次喷墨。
本发明还有一实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述喷墨位移参数校正方法的步骤。
本发明还有一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述喷墨位移参数校正方法的步骤。
可以理解的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种喷墨位移参数校正方法，其特征在于，包括如下步骤：
控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，所述预设坐标为所述喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
获取所述喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标；
计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，所述坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正，当所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以所述校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
2.如权利要求1所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，以所述校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正包括如下步骤：
根据所述校正值调整喷墨电压以使墨滴的坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值。
3.如权利要求1所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨时，控制不同的预设坐标位于同一直线上。
4.如权利要求1所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，控制相邻的预设坐标之间的距离相等。
5.如权利要求1～4中任一项所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，所述控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨之后、所述根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正之前还包括如下步骤：
对喷嘴进行修复，以使修复后的喷嘴喷墨的墨滴的直径偏移量不超过直径偏移量阈值；所述直径偏移量为墨滴在基板上的实际直径与该墨滴在基板上的理想直径之间的差值，所述理想直径为所述喷嘴每次以理想喷墨体积喷出的墨滴在基板上的直径。
6.如权利要求5所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，所述对喷嘴进行修复包括如下步骤：
获取所述喷嘴每次喷墨的墨滴在基板上的实际直径；
计算所述喷嘴每次喷墨的墨滴的直径偏移量；
根据所述直径偏移量与直径偏移量阈值对喷嘴进行修复，当所述直径偏移量均不超过所述直径偏移量阈值时，无需对喷嘴进行修复；否则对该喷嘴进行修复以使其每次喷墨的墨滴的直径偏移量不超过所述直径偏移量阈值。
7.如权利要求5所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，所述直径偏移量阈值不超过±3μm。
8.如权利要求1所述的喷墨位移参数校正方法，其特征在于，各坐标轴上的偏移量阈值不超过±20μm。
9.一种喷墨位移参数校正装置，其特征在于，包括喷墨控制模块、数据获取模块、坐标偏移量计算模块以及喷墨位移参数校正模块；
所述喷墨控制模块用于控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，所述预设坐标为所述喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
所述数据获取模块用于获取所述喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标；
所述坐标偏移量计算模块用于计算所述喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，所述坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
所述喷墨位移参数校正模块用于根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正，当所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以所述校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
10.一种喷墨位移参数校正系统，其特征在于，包括控制器；所述控制器用于控制喷嘴在基板上以奇数个不同的预设坐标为目标进行喷墨，所述预设坐标为所述喷嘴喷墨的墨滴的理想滴落位置的坐标；
所述控制器还用于获取所述喷嘴每次喷墨的墨滴的实际滴落位置的坐标；
所述控制器还用于计算喷嘴喷墨时墨滴的坐标偏移量，坐标偏移量包括各坐标轴上墨滴的实际滴落位置的坐标与该墨滴的理想滴落位置的坐标的差值；
所述控制器还用于根据所述坐标偏移量对喷墨位移参数进行校正，当所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值均不超过对应坐标轴上的偏移量阈值时，无需对喷墨位移参数进行校正；否则根据所述坐标偏移量在各坐标轴上的差值的正、负情况对各坐标轴上的差值进行分组，取各坐标轴上差值数量较多的分组中所有差值的平均值作为该坐标轴上的校正值，以所述校正值对各坐标轴上的喷墨位移参数进行校正。
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