CN114068851B - 像素单元分类方法、喷墨打印控制方法以及系统和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种像素单元分类方法、像素单元分类系统、像素单元分类装置、喷墨打印控制方法、喷墨打印控制系统、喷墨打印控制装置以及计算机可读存储介质。该像素单元分类方法通过进行喷墨试验，然后根据浮动率与浮动率阈值之间的关系对像素单元进行分类，将基板上的像素单元分为不同类型的像素单元。后续喷墨打印过程中，在保证喷入不同类型像素单元的溶质质量相同的条件下，控制对不同类型的像素单元喷入不同溶质浓度以及不同体积的墨水，这样可以有效改善墨水干燥时不同类型像素单元的溶剂氛围，降低基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异，提高像素单元内膜层的均匀性，进而提高器件显示的均匀性。

Description

像素单元分类方法、喷墨打印控制方法以及系统和装置

技术领域

本发明涉及喷墨打印技术领域，尤其是涉及一种像素单元分类方法、像素单元分类系统、像素单元分类装置、喷墨打印控制方法、喷墨打印控制系统、喷墨打印控制装置以及计算机可读存储介质。

背景技术

在显示器件的制备过程中，喷墨打印是一种较为常用的用来制作功能层的方法。比如，在有机发光二极管(OLED)器件制作工艺中，可以采用喷墨打印的方法将相应的功能材料墨水注入像素单元中以制备空穴注入层(HIL)、空穴传输层(HTL)、发光层(EML)、电子传输层(ETL)以及电子注入层(EIL)等膜层等。

在喷墨打印过程中，通常是通过干燥的方式除去功能材料墨水中的溶剂以得到相应厚度的膜层。然而在干燥过程中，基板上不同位置的像素单元内的溶剂挥发速度并不相同，尤其是基板边缘的像素单元与基板中部的像素单元内的溶剂挥发速度可能存在较大的差异。这样会导致基板上不同的像素单元内的膜层厚度存在较大的差异，进而出现器件显示不均的问题。

发明内容

基于此，有必要提供一种能够降低基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异的像素单元分类方法、像素单元分类系统、像素单元分类装置、喷墨打印控制方法、喷墨打印控制系统、喷墨打印控制装置以及计算机可读存储介质。

为了解决以上技术问题，本发明的技术方案为：

一种像素单元分类方法，包括如下步骤：

对试验基板进行喷墨试验，获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

计算像素单元内膜层厚度的浮动率，所述浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值；

根据所述浮动率与浮动率阈值对像素单元分类，将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验；将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；其中，每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

在其中一个实施例中，对试验基板进行喷墨试验，获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度包括如下步骤：

对第1块试验基板上的所有像素单元进行第1次喷墨试验，对各像素单元喷入第1体积的第1墨水，所述第1体积为所述第1墨水干燥后形成预设厚度的膜层所需的理论体积；

获取所述第1块试验基板上各像素单元内由第1体积的第1墨水干燥后形成的膜层的实际厚度。

在其中一个实施例中，计算像素单元内膜层厚度的浮动率包括如下步骤：

计算所述第1块试验基板上各像素单元内膜层厚度的第1浮动率，所述第1浮动率为所述实际厚度与所述预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值。

在其中一个实施例中，根据所述浮动率与浮动率阈值对像素单元分类包括如下步骤：

将第1浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第1类像素单元，当所有第1浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对第2块试验基板……第m块试验基板……和第n块试验基板进行喷墨试验，计算第m块试验基板上第m类像素单元内膜层厚度的第m浮动率，直至所有的第m浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验，将第m浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为第m类像素单元，n为不小于2的正整数，m为不小于2且不大于n的正整数；在对第m块试验基板进行喷墨试验时，在第m类像素单元内喷入的墨水为第m体积的第m墨水，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，且第m体积的第m墨水的溶质的质量等于第1体积的第1墨水的溶质的质量，所述第m类像素单元为第m块试验基板上除第1类像素单元、第2类像素单元……第m-1类像素单元之外的像素单元。

在其中一个实施例中，所述浮动率阈值不大于5％。

一种像素单元分类系统，包括试验控制模块、膜层厚度获取模块、浮动率计算模块、判断模块以及分类信息存储模块；

所述试验控制模块用于控制喷墨打印头对试验基板进行喷墨试验；

所述膜层厚度获取模块用于获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

所述浮动率计算模块用于计算像素单元内膜层厚度的浮动率，所述浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值；

所述分类信息存储模块用于将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述判断模块用于比较像素单元内膜层厚度的浮动率与浮动率阈值，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验；

所述分类信息存储模块还用于将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述试验控制模块还用于控制喷墨打印头每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

一种像素单元分类装置，包括喷墨打印头和分类控制器；

所述喷墨打印头用于对基板进行喷墨；

所述分类控制器用于控制喷墨打印头对试验基板进行喷墨试验；

所述分类控制器还用于获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

所述分类控制器还用于计算像素单元内膜层厚度的浮动率，所述浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值；

所述分类控制器还用于将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述分类控制器还用于比较像素单元内膜层厚度的浮动率与浮动率阈值，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验；

所述分类控制器还用于将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述分类控制器还用于控制喷墨打印头每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

一种喷墨打印控制方法，包括如下步骤：

根据上述任一实施例中所述的像素分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

控制对所述待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

一种喷墨打印控制系统，包括分类模块以及打印控制模块；

所述分类模块用于根据上述任一实施例中所述的像素分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

所述打印控制模块用于控制对所述待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

一种喷墨打印控制装置，包括喷墨打印头以及打印控制器；

所述喷墨打印头用于对基板进行喷墨；

所述打印控制器用于根据上述任一实施例中所述的像素分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

所述打印控制器还用于控制对所述待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

上述像素单元分类方法，通过进行喷墨试验，然后根据浮动率与浮动率阈值之间的关系对像素单元进行分类，将基板上的像素单元分为不同类型的像素单元。后续喷墨打印过程中，在保证喷入不同类型像素单元的溶质质量相同的条件下，控制对不同类型的像素单元喷入不同溶质浓度以及不同体积的墨水，这样可以有效改善墨水干燥时不同类型像素单元的溶剂氛围，降低基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异，提高像素单元内膜层的均匀性，进而提高器件显示的均匀性。

附图说明

图1为本发明一实施例中像素单元分类方法的流程示意图；

图2为本发明另一实施例中像素单元分类方法的流程示意图；

图3为本发明一实施例中基板上像素单元的分布图；

图4为图3对应的基板在A-A处的剖视图；

图5为图3对应的基板以10％溶质浓度的墨水进行整板打印时，各像素单元的膜层厚度示意图；

图6为图3对应的基板以不同溶质溶度和不同体积的墨水进行打印的示意图；

图7为本发明一实施例中喷墨打印控制系统的模块结构示意图。

图中标记说明：

100、基板；101、第一子像素单元；102、第二子像素单元；103、第三子像素单元；104、第四子像素单元；105、第五子像素单元。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关实施例对本发明进行更全面的描述。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

在本发明的描述中，应当理解的是，本发明中采用术语在本发明的描述中，应当理解的是，本发明中采用术语“中心”、“上”、“下”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

应当理解的是，本发明中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本发明范围的情况下，“第一”信息也可以被称为“第二”信息，类似的，“第二”信息也可以被称为“第一”信息。当两个元件为一体成型的结构时，同样可以认为该两个元件是“连接”关系。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，本发明一实施例提供了一种像素单元分类方法，该像素单元分类方法包括如下步骤：

S001：对试验基板进行喷墨试验；

S002：获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

S003：计算像素单元内膜层厚度的浮动率，浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与预设厚度的比值；

S004：根据浮动率与浮动率阈值对像素单元分类，将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验；将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

本实施例中通过进行喷墨试验，然后根据浮动率与浮动率阈值之间的关系对像素单元进行分类，将基板上的像素单元分为不同类型的像素单元。后续喷墨打印过程中，在保证喷入不同类型像素单元的溶质质量相同的条件下，控制对不同类型的像素单元喷入不同溶质浓度以及不同体积的墨水，这样可以有效改善墨水干燥时不同类型像素单元的溶剂氛围，降低基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异，提高像素单元内膜层的均匀性，进而提高器件显示的均匀性。

请参阅图2，优选地，像素单元分类方法包括如下步骤：

S101：对第1块试验基板上的所有像素单元进行第1次喷墨试验，对各像素单元喷入第1体积的第1墨水，第1体积为第1墨水干燥后形成预设厚度的膜层所需的理论体积；

S102：获取第1块试验基板上各像素单元内膜层的实际厚度；

S103：计算第1块试验基板上各像素单元内膜层厚度的第1浮动率，第1浮动率为实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与预设厚度的比值；

S104：将第1浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第1类像素单元；

当所有第1浮动率均小于浮动率阈值时，进行S105：停止喷墨试验；否则进行S106：依次对第2块试验基板……第m块试验基板……和第n块试验基板进行喷墨试验，计算第m块试验基板上第m类像素单元内膜层厚度的第m浮动率，直至所有的第m浮动率均小于浮动率阈值时停止喷墨试验，将第m浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第m类像素单元，n为不小于2的正整数，m为不小于2且不大于n的正整数；在对第m块试验基板进行喷墨试验时，控制在第m类像素单元内喷入第m体积的第m墨水，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，且第m体积的第m墨水的溶质的质量等于第1体积的第1墨水的溶质的质量，第m类像素单元为第m块试验基板上除第1类像素单元、第2类像素单元……第m-1类像素单元之外的像素单元。

进一步优选地，浮动率阈值不大于5％。浮动率阈值过大则难以准确对浮动率进行分类，进而导致难以对基板上像素单元进行准确分类的问题。将浮动率阈值设置为不大于5％有利于进一步提高基板上像素单元分类的准确性，降低后续喷墨打印时基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异，提高像素单元内膜层的均匀性。

本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制方法，该喷墨打印控制方法包括如下步骤：

根据上述像素分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

控制对待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

在本实施例的喷墨打印控制方法中，先将待打印基板上的像素单元进行分类，然后对不同类型的像素单元采用不同溶质浓度和体积的墨水进行喷墨，这样可以有效改善墨水干燥时不同类型像素单元的溶剂氛围，降低基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异，提高像素单元内膜层的均匀性，进而提高器件显示的均匀性。

具体地，当所有第1浮动率均小于浮动率阈值时，表明按照第1体积的第1墨水能够使各像素单元内膜层厚度的浮动率满足小于浮动率阈值条件，此时控制对待打印基板上的所有像素单元均喷入第1体积的第1墨水。当不是所有第1浮动率均小于浮动率阈值时，对待打印基板上不同类型的像素单元喷入不同溶质浓度以及不同体积的墨水，在此喷墨过程中，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，且第m体积的第m墨水的溶质的质量等于第1体积的第1墨水的溶质的质量。比如，第2墨水的溶质浓度小于第1墨水的溶质浓度、第3墨水的溶质浓度小于第2墨水的溶质浓度等，但是需要保证喷入待打印基板上的各像素单元内的墨水的溶质的质量相等。

可以理解的是，第1块试验基板、第2块试验基板……第m块试验基板……第n块试验基板以及待打印基板具有相同的像素矩阵。

下面结合图3～图6对喷墨过程中像素单元内膜层厚度存在差异的情况进行描述。

请参阅图3，图3中示出了本发明一实施例中的基板100上像素单元的分布情况，该基板上一共有25个像素单元，25个像素单元依次编号为1～25，25个像素单元呈5行5列式分布，各像素单元的尺寸相同，相邻的像素单元之间的距离相等。为了便于描述，在图3和图4中，仅对编号1～5的像素单元进行标号，分别标记为第一子像素单元101、第二子像素单元102、第三子像素单元103、第四子像素单元104、第五子像素单元105。

请参阅图5，在第一块试验基板上各像素单元喷入第1体积的第1墨水，第1体积为100pL，第1墨水的溶质的浓度为10％，第1墨水干燥后在像素单元内形成膜层。在干燥过程中，由于像素单元周围的溶剂氛围不同，当像素单元周围存在较多的其他像素单元时，该像素单元内形成的膜层厚度更加接近预设厚度。对应到图5中，编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元内形成的膜层的厚度最接近预设厚度，编号为2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元内形成的膜层的厚度与预设厚度存在较大的差异，编号为1、5、21、25的像素单元内形成的膜层的厚度与预设厚度存在更大的差异。具体地，100pL溶质浓度为10％的的第1墨水在像素单元内形成的预设厚度为100nm，采用该墨水喷墨之后在编号为1～25的像素单元内形成的膜层的实际厚度如表1所示。

表1

像素单元编号	1	2	3	4	5
						膜厚(nm)	90	95	100	95	90
膜层厚度浮动率	10％	5％	0	5％	10％
						像素单元编号	6	7	8	9	10
膜厚(nm)	95	100	100	100	95
						膜层厚度浮动率	5％	0	0	0	5％
像素单元编号	11	12	13	14	15
						膜厚(nm)	100	100	100	100	100
膜层厚度浮动率	0	0	0	0	0
						像素单元编号	16	17	18	19	20
膜厚(nm)	95	100	100	100	95
						膜层厚度浮动率	5％	0	0	0	5％
像素单元编号	21	22	23	24	25
						膜厚(nm)	90	95	100	95	90
膜层厚度浮动率	10％	5％	0	5％	10％

由表1可知，设置浮动率阈值为5％，此时编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元内形成的膜层厚度的浮动率小于预设浮动率阈值，将编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元记为第1类像素单元。编号为2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元内形成的膜层厚度的浮动率不小于预设浮动率阈值，编号为1、5、21、25的像素单元内形成的膜层厚度的浮动率不小于预设浮动率阈值。此时，继续进行喷墨试验，在第2块试验基板上编号为2、4、6、10、16、20、22、24、1、5、21、25的像素单元内喷入第2体积的第2墨水，第2墨水的溶质浓度为8％，第2体积为125pL。

需要说明的是，在进行喷墨试验时，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，第m墨水与第m-1墨水的溶质浓度之差不宜过大。当第m墨水与第m-1墨水的溶质浓度之差过大时，在喷墨过程中，与第m-1体积相比，第m体积会显著增大，这样导致干燥过程难度加大，增加喷墨打印的成本；并且，还会导致溶剂消耗量大幅增加，既会增大成本，还会增大溶剂的排放量，增大溶剂处理的难度，同时也会对环境造成破坏。

在第2块试验基板上编号为2、4、6、10、16、20、22、24、1、5、21、25的像素单元内喷入第2体积的第2墨水，在对应的像素单元内形成的膜层厚度如表2所示。可以理解的是，在第2块试验基板上喷墨时，编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元不进行喷墨，因此，在表2中编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元的膜层厚度以及膜层厚度浮动率为空白。

表2

由表2可知，设置浮动率阈值为5％，编号为2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元在喷入溶质浓度为8％、体积为125pL的第2墨水之后，膜层厚度浮动率小于浮动率阈值，将编号为2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元记为第2类像素单元。编号为1、5、21、25的像素单元内膜层厚度浮动率仍然不小于浮动率阈值。此时，继续进行喷墨试验，在第3块试验基板上编号为1、5、21、25的像素单元内喷入第3体积的第3墨水，第3墨水的溶质浓度为5％，第3体积为200pL。

在第3块试验基板上编号为1、5、21、25的像素单元内喷入第3体积的第3墨水，在对应的像素单元内形成的膜层厚度如表3所示。可以理解的是，在第3块试验基板上喷墨时，编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23、2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元不进行喷墨，因此，在表3中编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23、2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元的膜层厚度以及膜层厚度浮动率为空白。

表3

由表3可知，设置浮动率阈值为5％，编号为1、5、21、25的像素单元在喷入溶质浓度为5％、体积为200pL的第3墨水之后，膜层厚度浮动率小于浮动率阈值，将编号为1、5、21、25的像素单元记为第3类像素单元。此时第3块试验基板上各像素单元的膜层厚度浮动率均小于浮动率阈值，停止喷墨试验。即，通过第1次喷墨试验、第2次喷墨试验以及第3次喷墨试验之后，可以将基板上的像素单元分为三类，第1类像素单元为编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元，第2类像素单元为编号为2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元，第3类像素单元为编号为1、5、21、25的像素单元。

请参阅图6，在基于以上将待打印基板分为三类像素单元的情况下，第一子像素单元101和第五子像素单元105为第3类像素单元；第二子像素单元102和第四子像素单元104为第2类像素单元；第三子像素单元103为第1类像素单元。在第一子像素单元101和第五子像素单元105内均喷入200pL溶质浓度为5％的墨水，在第二子像素单元102和第四子像素单元104均喷入125pL溶质浓度为8％的墨水，在第三子像素单元103喷入200pL溶质浓度为5％的墨水。

将基板上的像素单元分为三类之后，将待打印基板上对应的像素单元分为第1类像素单元、第2类像素单元以及第3类像素单元。即，将待打印基板上的编号为3、7、8、9、11、12、13、14、15、17、18、19、23的像素单元记为第1类像素单元，将编号为2、4、6、10、16、20、22、24的像素单元记为第2类像素单元，将编号为1、5、21、25的像素单元记为第3类像素单元。在喷墨打印时，控制对待打印基板上的第1类像素单元均喷入100pL溶质浓度为10％的墨水，对第2类像素单元均喷入125pL溶质浓度为8％的墨水，对第3类像素单元均喷入200pL溶质浓度为5％的墨水。干燥之后，待打印基板像素单元内膜层厚度以及膜层厚度浮动率如表4所示。

表4

像素单元编号	1	2	3	4	5
						膜厚(nm)	100	100	100	100	100
膜层厚度浮动率	0	0	0	0	0
						像素单元编号	6	7	8	9	10
膜厚(nm)	100	100	100	100	100
						膜层厚度浮动率	0	0	0	0	0
像素单元编号	11	12	13	14	15
						膜厚(nm)	100	100	100	100	100
膜层厚度浮动率	0	0	0	0	0
						像素单元编号	16	17	18	19	20
膜厚(nm)	100	100	100	100	100
						膜层厚度浮动率	0	0	0	0	0
像素单元编号	21	22	23	24	25
						膜厚(nm)	100	100	100	100	100
膜层厚度浮动率	0	0	0	0	0

由表4可知，对待打印基板上像素单元进行分类，并在不同类的像素单元内喷入不同溶质浓度和不同体积的墨水之后，干燥得到的膜层厚度浮动率均小于浮动率阈值。即，由此得到的待打印基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异小，这样能够有效提高像素单元膜层厚度的均匀性。

请参阅图7，本发明一实施例提供了一种像素单元分类系统，该像素单元分类系统包括试验控制模块、膜层厚度获取模块、浮动率计算模块、判断模块以及分类信息存储模块；

试验控制模块用于控制喷墨打印头对试验基板进行喷墨试验；

膜层厚度获取模块用于获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

浮动率计算模块用于计算像素单元内膜层厚度的浮动率，浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与预设厚度的比值；

分类信息存储模块用于将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

判断模块用于比较像素单元内膜层厚度的浮动率与浮动率阈值，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验；

分类信息存储模块还用于将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

试验控制模块还用于控制喷墨打印头每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

具体地，试验控制模块用于控制喷墨打印头对第1块试验基板上的所有像素单元进行第1次喷墨试验，对各像素单元喷入第1体积的第1墨水，第1体积为第1墨水干燥后形成预设厚度的膜层所需的理论体积；

膜层厚度获取模块用于获取第1块试验基板上各像素单元内由第1体积的第一墨水干燥后形成的膜层的实际厚度；

浮动率计算模块用于计算第1块试验基板上各像素单元内膜层厚度的第1浮动率，第1浮动率为实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与预设厚度的比值；

分类信息存储模块用于将第1浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第1类像素单元；

判断模块用于比较所有第1浮动率与浮动率阈值，当所有第1浮动率均小于浮动率阈值时，由试验控制模块控制喷墨打印头停止喷墨试验，否则由试验控制模块控制喷墨打印头依次第2块试验基板……第m块试验基板……和第n块试验基板进行喷墨试验，计算第m块试验基板上第m类像素单元内膜层厚度的第m浮动率，直至所有的第m浮动率均小于浮动率阈值时停止喷墨试验；

分类信息存储模块还用于将第m浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第m类像素单元，n为不小于2的正整数，m为不小于2且不大于n的正整数；

试验控制模块还用于控制喷嘴在对第m块试验基板进行喷墨试验时，控制在第m类像素单元内喷入第m体积的第m墨水，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，且第m体积的第m墨水的溶质的质量等于第1体积的第1墨水的溶质的质量，第m类像素单元为第m块试验基板上除第1类像素单元、第2类像素单元……第m-1类像素单元之外的像素单元。

本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制系统，该喷墨打印控制系统包括分类模块以及打印控制模块；

分类模块用于根据上述像素分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

打印控制模块用于控制对待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

采用本实施例中的喷墨打印控制系统能够将基板上的像素单元进行分类，为后续喷墨打印做准备。将像素单元分为不同类的像素单元之后，控制对不同类型的像素单元喷入不同溶质浓度以及不同体积的墨水，这样可以有效改善墨水干燥时不同类型像素单元的溶剂氛围，降低基板上不同的像素单元内的膜层厚度差异，提高像素单元内膜层的均匀性，进而提高器件显示的均匀性。

本发明还有一实施例提供了一种像素单元分类装置，该像素单元分类装置包括喷墨打印头和分类控制器；

喷墨打印头用于对基板进行喷墨；

分类控制器用于控制喷墨打印头对试验基板进行喷墨试验；分类控制器还用于获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；分类控制器还用于计算像素单元内膜层厚度的浮动率，浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与预设厚度的比值；分类控制器还用于将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；分类控制器还用于比较像素单元内膜层厚度的浮动率与浮动率阈值，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于浮动率阈值时停止喷墨试验；分类控制器还用于将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；分类控制器还用于控制喷墨打印头每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

在一个具体的示例中，分类控制器用于控制喷墨打印头对第1块试验基板上的所有像素单元进行第1次喷墨试验，对各像素单元喷入第1体积的第1墨水，第1体积为第1墨水干燥后形成预设厚度的膜层所需的理论体积；

分类控制器还用于获取第1块试验基板上各像素单元内由第1体积的第一墨水干燥后形成的膜层的实际厚度；

分类控制器还用于计算第1块试验基板上各像素单元内膜层厚度的第1浮动率，第1浮动率为实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与预设厚度的比值；

分类控制器还用于将第1浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第1类像素单元；

分类控制器还用于比较所有第1浮动率与浮动率阈值，当所有第1浮动率均小于浮动率阈值时，由试验控制模块控制喷墨打印头停止喷墨试验，否则由试验控制模块控制喷墨打印头依次第2块试验基板……第m块试验基板……和第n块试验基板进行喷墨试验，计算第m块试验基板上第m类像素单元内膜层厚度的第m浮动率，直至所有的第m浮动率均小于浮动率阈值时停止喷墨试验；

分类控制器还用于将第m浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第m类像素单元，n为不小于2的正整数，m为不小于2且不大于n的正整数；

分类控制器还用于控制喷嘴在对第m块试验基板进行喷墨试验时，控制在第m类像素单元内喷入第m体积的第m墨水，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，且第m体积的第m墨水的溶质的质量等于第1体积的第1墨水的溶质的质量，第m类像素单元为第m块试验基板上除第1类像素单元、第2类像素单元……第m-1类像素单元之外的像素单元。进一步地，控制器还用于控制当所有第1浮动率均小于浮动率阈值时，控制对待打印基板上的所有像素单元均喷入第1体积的第1墨水，否则控制对待打印基板上的第1类像素单元均喷入第1体积的第1墨水，……对待打印基板上的第m类像素单元均喷入第m体积的第m墨水。

本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制装置，该喷墨打印控制装置包括喷墨打印头以及打印控制器；

喷墨打印头用于对基板进行喷墨；

打印控制器用于根据上述像素分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

打印控制器还用于控制对待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

优选地，喷墨打印头包括溶剂室、墨水原液室、多个子墨水室以及多个喷嘴；溶剂室和墨水原液室分别与每个子墨水室连接以分别用于为子墨水室提供溶剂和墨水原液；多个子墨水室用于供溶剂和墨水原液混合以形成不同溶质浓度的墨水，多个喷嘴与多个子墨水室一一对应连接以用于喷出子墨水室内的墨水。具体地，多个子墨水室用于供溶剂和墨水原液混合以形成不同溶质浓度的第1墨水……第m-1墨水以及第m墨水。

进一步优选地，每个子墨水室内均设有搅拌件以用于搅拌子墨水室内的墨水，溶剂室与子墨水室连接的管道上设有第一阀门以用于控制溶剂进入子墨水室的流量，墨水原液室与子墨水室连接的管道上设有第二阀门以用于控制墨水原液进入子墨水室的流量，喷嘴与子墨水室连接的管道设设有第三阀门以用于控制墨水喷出的流量。

可以理解的是，分类控制器和/或打印控制器还用于控制搅拌子墨水室内的墨水，喷墨打印控制器还用于控制溶剂进入子墨水室的流量，控制器还用于控制墨水原液进入子墨水室的流量，控制器还用于控制墨水喷出的流量。

本发明还有一实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述像素单元分类方法的步骤和/或实现上述喷墨打印控制方法的步骤。

本发明还有一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述像素单元分类方法的步骤和/或实现上述喷墨打印控制方法的步骤。

可以理解的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种像素单元分类方法，其特征在于，包括如下步骤：

对试验基板进行喷墨试验；

获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

计算像素单元内膜层厚度的浮动率，所述浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值；

根据所述浮动率与浮动率阈值对像素单元分类，将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验；将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；其中，依次对后续试验基板进行喷墨试验时，每次喷墨的像素单元为所有在前喷墨试验记录的像素单元之外的像素单元，每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

2.如权利要求1所述的像素单元分类方法，其特征在于，对试验基板进行喷墨试验，获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度包括如下步骤：

对第1块试验基板上的所有像素单元进行第1次喷墨试验，对各像素单元喷入第1体积的第1墨水，所述第1体积为所述第1墨水干燥后形成预设厚度的膜层所需的理论体积；

获取所述第1块试验基板上各像素单元内由第1体积的第1墨水干燥后形成的膜层的实际厚度。

3.如权利要求2所述的像素单元分类方法，其特征在于，计算像素单元内膜层厚度的浮动率包括如下步骤：

计算所述第1块试验基板上各像素单元内膜层厚度的第1浮动率，所述第1浮动率为所述实际厚度与所述预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值。

4.如权利要求3所述的像素单元分类方法，其特征在于，根据所述浮动率与浮动率阈值对像素单元分类包括如下步骤：

将第1浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为第1类像素单元，当所有第1浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对第2块试验基板……第m块试验基板……和第n块试验基板进行喷墨试验，计算第m块试验基板上第m类像素单元内膜层厚度的第m浮动率，直至所有的第m浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验，将第m浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为第m类像素单元，n为不小于2的正整数，m为不小于2且不大于n的正整数；在对第m块试验基板进行喷墨试验时，在第m类像素单元内喷入的墨水为第m体积的第m墨水，第m墨水的溶质浓度小于第m-1墨水的溶质浓度，且第m体积的第m墨水的溶质的质量等于第1体积的第1墨水的溶质的质量，所述第m类像素单元为第m块试验基板上除第1类像素单元、第2类像素单元……第m-1类像素单元之外的像素单元。

5.如权利要求1~4中任一项所述的像素单元分类方法，其特征在于，所述浮动率阈值不大于5%。

6.一种像素单元分类系统，其特征在于，包括试验控制模块、膜层厚度获取模块、浮动率计算模块、判断模块以及分类信息存储模块；

所述试验控制模块用于控制喷墨打印头对试验基板进行喷墨试验；

所述膜层厚度获取模块用于获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

所述浮动率计算模块用于计算像素单元内膜层厚度的浮动率，所述浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值；

所述分类信息存储模块用于将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述判断模块用于比较像素单元内膜层厚度的浮动率与浮动率阈值，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验，依次对后续试验基板进行喷墨试验时，每次喷墨的像素单元为所有在前喷墨试验记录的像素单元之外的像素单元；

所述分类信息存储模块还用于将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述试验控制模块还用于控制喷墨打印头每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

7.一种像素单元分类装置，其特征在于，包括喷墨打印头和分类控制器；

所述喷墨打印头用于对基板进行喷墨；

所述分类控制器用于控制喷墨打印头对试验基板进行喷墨试验；

所述分类控制器还用于获取试验基板上各像素单元内的膜层的实际厚度；

所述分类控制器还用于计算像素单元内膜层厚度的浮动率，所述浮动率为像素单元内的膜层的实际厚度与预设厚度的差值的绝对值与所述预设厚度的比值；

所述分类控制器还用于将膜层厚度的浮动率小于浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述分类控制器还用于比较像素单元内膜层厚度的浮动率与浮动率阈值，当所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时，停止喷墨试验，否则依次对后续试验基板进行喷墨试验直至试验基板上所有像素单元内膜层厚度的浮动率均小于所述浮动率阈值时停止喷墨试验，依次对后续试验基板进行喷墨试验时，每次喷墨的像素单元为所有在前喷墨试验记录的像素单元之外的像素单元；

所述分类控制器还用于将后续每块试验基板上膜层厚度的浮动率小于所述浮动率阈值的像素单元记为同一类像素单元；

所述分类控制器还用于控制喷墨打印头每次喷墨试验时墨水的溶质浓度小于前一次喷墨试验时墨水的溶质溶度，且每次喷墨试验中喷入像素单元的墨水的溶质质量相等。

8.一种喷墨打印控制方法，其特征在于，包括如下步骤：

根据权利要求1~5中任一项所述的像素单元分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

控制对所述待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

9.一种喷墨打印控制系统，其特征在于，包括分类模块以及打印控制模块；

所述分类模块用于根据权利要求1~5中任一项所述的像素单元分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

所述打印控制模块用于控制对所述待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

10.一种喷墨打印控制装置，其特征在于，包括喷墨打印头以及打印控制器；

所述喷墨打印头用于对基板进行喷墨；

所述打印控制器用于根据权利要求1~5中任一项所述的像素单元分类方法获取的试验基板上像素单元的分类情况对待打印基板上的像素单元按照位置对应关系进行分类；

所述打印控制器还用于控制对所述待打印基板上的所有像素单元按照相应的分类喷入对应体积的对应墨水。

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