CN114030301A - 喷墨打印控制方法、控制装置以及喷墨打印系统 - Google Patents

喷墨打印控制方法、控制装置以及喷墨打印系统 Download PDF

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CN114030301A CN202011636162.6A CN202011636162A CN114030301A CN 114030301 A CN114030301 A CN 114030301A CN 202011636162 A CN202011636162 A CN 202011636162A CN 114030301 A CN114030301 A CN 114030301A
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柳开郎
孙贤文
付东
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Abstract

本发明涉及一种喷墨打印控制方法、喷墨打印控制装置、喷墨打印系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。通过根据在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值与偏移量阈值控制打印，进而能够对喷墨打印过程进行及时控制。当绝对值不大于偏移量阈值，表明墨滴能够滴落到像素单元中，此时继续打印；当绝对值大于偏移量阈值，表明墨滴没有滴落到像素单元中，此时暂停打印。通过上述喷墨打印控制方法能够有效控制墨滴滴落到像素单元中，提高后续成膜阶段膜层厚度的均匀性，进而提高器件的良率。

Description

喷墨打印控制方法、控制装置以及喷墨打印系统
技术领域
本发明涉及喷墨打印技术领域，尤其是涉及一种喷墨打印控制方法、喷墨打印控制装置、喷墨打印系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
在显示器件的制备过程中，通常会用到喷墨打印将功能材料墨水注入像素单元中，以用来制备相应的功能层。比如，在有机发光二极管(OLED)器件制作工艺中，可以采用喷墨打印将相应的功能材料墨水注入像素单元中以制备空穴注入层(HIL)、空穴传输层(HTL)、发光层材料(EML)等。
作为喷墨打印的一种形式，如图1所示，通过喷墨打印头102将墨滴103注入像素单元108中。在这个打印过程中，如果功能材料墨水在喷墨过程中墨滴没有落到像素单元中，在后续成膜阶段会出现膜层厚度不均匀的问题，给器件的效率和性能带来不利影响。传统的喷墨打印过程中，难以及时检测到墨滴没有滴落到像素单元中的情况，导致后续膜层厚度不均，进而导致器件的良率不佳。
发明内容
基于此，有必要提供一种能够有效控制墨滴滴落到像素单元中、提高器件良率的喷墨打印控制方法、喷墨打印控制装置、喷墨打印系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。
为了解决以上技术问题，本发明的技术方案为：
一种喷墨打印控制方法，包括如下步骤：
分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，所述墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
计算所述在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
当所述绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当所述绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
在其中一个实施例中，所述喷墨打印控制方法还包括设置所述偏移量阈值的步骤；
设置所述偏移量阈值包括如下步骤：
获取基板上像素矩阵的最小像素重复单元的短边的长度，所述最小像素重复单元的短边的长度为像素单元的短边的长度与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离之和；
根据所述最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值。
在其中一个实施例中，所述根据所述最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值为将所述偏移量阈值设置为不超过所述最小像素重复单元的短边的长度的1/2。
在其中一个实施例中，所述喷墨打印控制方法还包括如下步骤：对所述在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。
在其中一个实施例中，所述对预设喷墨参数进行补偿校正包括如下步骤：
获取所述在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；
按照预设喷墨参数在所述点阵标记喷墨，所述预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至所述点阵标记中各点上的喷墨参数；
获取所述预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；
获取所述墨滴的实际滴落位置与对应的所述点阵标记中各点的位置的差值的平均值；
按照所述平均值作为补偿值对所述预设喷墨参数进行补偿校正。
一种喷墨打印控制装置，包括偏移量获取模块、绝对值计算模块以及喷墨打印控制模块；
所述偏移量获取模块用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，所述墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
所述绝对值计算模块用于计算所述在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
所述喷墨打印控制模块用于根据所述绝对值与偏移量阈值控制打印，当所述绝对值不大于所述偏移量阈值时，继续打印，当所述绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
在其中一个实施例中，所述喷墨打印控制装置还包括喷墨补偿校正模块；所述喷墨补偿校正模块用于对所述在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。
在其中一个实施例中，所述喷墨补偿校正模块包括点阵位置获取模块、喷墨试验模块、墨滴位置获取模块、平均值获取模块以及补偿校正子模块；
所述点阵位置获取模块用于获取所述在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；
所述喷墨试验模块用于按照预设喷墨参数在所述点阵标记喷墨，所述预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至所述点阵标记中各点上的喷墨参数；
所述墨滴位置获取模块用于获取所述预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；
所述平均值获取模块用于获取所述墨滴的实际滴落位置与对应的所述点阵标记中各点的位置的差值的平均值；
所述补偿校正子模块用于按照所述平均值作为补偿值对所述预设喷墨参数进行补偿校正。
一种喷墨打印系统，包括喷墨打印头和控制器；
所述喷墨打印头用于对基板进行喷墨打印；
所述控制器用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，所述墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
所述控制器还用于计算所述在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
所述控制器还用于根据所述绝对值与偏移量阈值控制打印，当所述绝对值不大于所述偏移量阈值时，继续打印，当所述绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例中所述的喷墨打印控制方法的步骤。
上述喷墨打印控制方法包括如下步骤：分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值。计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值。根据绝对值与偏移量阈值控制打印，当绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当绝对值大于偏移量阈值时，暂停打印。采用上述喷墨打印控制方法通过根据在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值与偏移量阈值控制打印，进而能够对喷墨打印过程进行及时控制。当绝对值不大于偏移量阈值，表明墨滴能够滴落到像素单元中，此时继续打印；当绝对值大于偏移量阈值，表明墨滴没有滴落到像素单元中，此时暂停打印。通过上述喷墨打印控制方法能够有效控制墨滴滴落到像素单元中，提高后续成膜阶段膜层厚度的均匀性，进而提高器件的良率。
附图说明
图1为本发明背景技术中喷墨打印头将墨滴注入像素单元的示意图；
图2为本发明一实施例中喷墨打印过程及其三维坐标示意图；
图3为本发明一实施例中喷墨打印控制方法的流程示意图；
图4为本发明另一实施例中喷墨打印控制方法的流程示意图；
图5为本发明一实施例中墨滴滴落的偏移示意图；
图6为本发明一实施例中偏移量阈值设置示意图；
图7为本发明一实施例中预设喷墨参数补偿校正示意图；
图8为本发明一实施例中喷墨打印控制装置的模块结构示意图；
图9为本发明另一实施例中喷墨打印控制装置的模块结构示意图；
图10为图9中对应喷墨打印控制装置中预设喷墨参数补偿模块的模块结构示意图。
图中标记说明：
100、像素区；101、墨棒；102、喷墨打印头；103、墨滴；104、理想滴落位置；105、实际滴落位置；106、偏移角度；107、位移差值；108、像素单元；109、其他像素单元的省略；201、像素单元长边的长度；202、像素单元短边的长度；203、短边方向上相邻像素单元之间的距离；300、像素区以外的区域；301、像素区以外的点阵标记中的点；302、试验墨滴；303、十字光标；401、长度获取模块；402、阈值设置模块；403、偏移量获取模块；404、绝对值计算模块；405、喷墨打印控制模块；500、喷墨补偿校正模块；501、点阵位置获取模块；502、喷墨试验模块；503、墨滴位置获取模块；504、平均值获取模块；505、补偿校正子模块。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关实施例对本发明进行更全面的描述。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
在本发明的描述中，应当理解的是，本发明中采用术语在本发明的描述中，应当理解的是，本发明中采用术语“中心”、“上”、“下”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
应当理解的是，本发明中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本发明范围的情况下，“第一”信息也可以被称为“第二”信息，类似的，“第二”信息也可以被称为“第一”信息。当两个元件为一体成型的结构时，同样可以认为该两个元件是“连接”关系。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参阅图2，在一个具体的示例中，对喷墨打印过程及其三维坐标示意图进行了展示。喷墨打印时，墨棒(Ink stick)中填充的功能材料墨水通过底部的喷墨打印头(Printhead)上的喷嘴(Nozzle)喷出，滴入到基板的像素单元中。在喷墨打印时，若按照相应的方向建立X、Y、Z三维坐标系，可认为承载墨棒的装置的运动轨迹在X方向和Z(竖直)方向上，也即墨棒、喷墨打印头及喷嘴等都在X、Z方向上运动，基板沿Y方向运动。
本发明一实施例提供了一种喷墨打印控制方法，该喷墨打印控制方法包括如下步骤：
分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
根据绝对值与偏移量阈值控制打印，当绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当绝对值大于偏移量阈值时，暂停打印。
请参阅图3，在一个具体的示例中，喷墨打印控制方法包括如下步骤：
S101：在先基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量，对在先基板进行喷墨打印并获取打印过程中墨滴的偏移量。
S102：当前基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量，对当前基板进行喷墨打印并获取打印过程中墨滴的偏移量。
S103：计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量差值的绝对值。
S104：根据S103中绝对值与偏移量阈值控制打印，比较S103中的绝对值是否大于偏移量阈值。当该绝对值不大于偏移量阈值时，进行S105继续打印；当该绝对值大于偏移量阈值时，进行S106暂停打印。
进一步地，喷墨打印控制方法还包括设置偏移量阈值的步骤。设置偏移量阈值包括如下步骤：获取基板上像素矩阵的最小像素重复单元的短边的长度，最小像素重复单元的短边的长度为像素单元的短边的长度与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离之和；根据最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值。
具体地，请参阅图6，在基板上的像素区100，多个像素单元108呈点阵分布，为了便于显示与说明，其他像素单元的省略109在图中用圆点表示。可以理解的是，其他像素单元的省略109实际上也是表示对应的像素单元。如图6中所示，每个像素单元108具有像素单元长边的长度201、像素单元短边的长度202。在短方向上，相邻像素单元之间具有短边方向上的距离203。在一个具体的示例中，最小像素重复单元的短边的长度为像素单元的短边的长度202与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离203之和。进一步地，在得到最小像素重复单元的短边的长度之后，根据该最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值。
为了便于理解本发明，在一些具体的示例中，最小像素重复单元的短边的长度的表现公式为W＝b+c。式中，W为最小像素重复单元的短边的长度，b为像素单元短边的长度，c为沿短边方向上相邻像素单元之间的距离。然后根据W设置偏移量阈值Q。
在一个优选的方案中，根据最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值为将偏移量阈值设置为不超过最小像素重复单元的短边的长度的1/2。也就是在该方案中，偏移量阈值设置为不超过最小像素重复单元的短边的长度的1/2，即Q≤W×1/2。设置此偏移量阈值Q，当在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值不大于该偏移量阈值时，墨滴能够注入像素单元中，此时可以继续打印。当在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值大于该偏移量阈值时，墨滴没有注入像素单元中，此时需要暂停打印。进一步优选地，根据最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值为将偏移量阈值设置为最小像素重复单元的短边的长度的1/2，此时Q＝W×1/2。在保证墨滴能够注入像素单元中的基础上，避免偏移量阈值过小而出现频繁暂停，影响生产效率。
可以理解的是，在前基板和当前基板可以是两块连续生产的基板，还可以是不连续生产的基板。在实际喷墨打印过程中，随着打印加工的进行，以某一基板打印合格(墨滴能够注入像素单元)为起点，当加工一定时间之后，可能会出现墨滴没有注入像素单元中的情况。此时，如果不能及时发现生产中的这个问题，将会导致不合格基板的出现，不合格基板表现为墨滴没有注入像素单元中，导致在后续成膜阶段膜的厚度不均匀，影响器件的效率和性能。采用本实施例中的控制方法，以该打印合格的基板作为在先基板，获取该在先基板墨滴的偏移量，此时在先基板打印合格。然后继续打印后续基板。当打印到一定时间或者一定数量的基板之后，以接下来的一个基板作为当前基板，对该当前基板进行打印并获取墨滴的偏移量。接着计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量差值的绝对值，将该绝对值与偏移量阈值Q进行比较。如果该绝对值不大于该偏移量阈值Q，表明该当前基板打印时，墨滴能够注入像素单元中，此时可以继续打印。当该绝对值大于该偏移量阈值时，表明当前基板打印时，墨滴没有注入像素单元中，此时需要暂停打印。这样能够及时判断墨滴是否注入像素单元中，避免在墨滴没有注入像素单元的情况下继续生产，降低出现不合格打印基板的风险，进而提高器件的良率。
在一个具体的示例中，获取在先基板打印时墨滴的偏移量包括：获取在先基板打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值。进一步地，获取当前基板打印时墨滴的偏移量包括：获取当前基板打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值。
关于获取在先基板打印时墨滴的偏移量以及获取当前基板打印时墨滴的偏移量的方法请参阅图5。图5中示出了本发明一实施例中墨滴滴落的偏移示意图。在喷墨打印过程中，墨滴从喷嘴中喷出而注入到基板的像素单元中。在理想状态下，墨滴竖直滴落到像素单元内。但是在实际滴落过程中，墨滴滴落时可能会有一个偏移角度，该偏移角度的存在使得墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置会存在一定的偏差。具体地，功能材料墨水从墨棒101底部的喷墨打印头102上的喷嘴喷出，注入基板上的像素单元108内。墨滴103的实际滴落路径与理想滴落路径之间形成的夹角θ为偏移角度106。实际滴落位置105与理想滴落位置104之间的位移差值107即为墨滴滴落的偏移量。因而，可以通过检测的打印喷嘴的墨滴滴落的偏移角度，以及打印喷嘴与基板之间的距离计算获取该偏移量。
作为偏移量的计算方法，偏移量S＝h×tanθ。其中，S为墨滴的偏移量，h为喷嘴与基板之间的距离，θ为墨滴103的实际滴落路径与理想滴落路径之间形成的夹角。
按照上述偏移量的测试和计算方法，当获取在先基板打印时墨滴的偏移量时，分别获取在先基板打印时墨滴的实际滴落路径与理想滴落路径之间形成的夹角、以及在先基板打印时喷嘴与基板之间的距离，即可计算得到先基板打印时墨滴的偏移量。当多个喷嘴时，取多个偏移量的平均值作为在先基板打印时墨滴的偏移量。
按照上述偏移量的测试和计算方法，当获取当前基板打印时墨滴的偏移量时，分别获取当前基板打印时墨滴的实际滴落路径与理想滴落路径之间形成的夹角、以及当前基板打印时喷嘴与基板之间的距离，即可计算得到当前板打印时墨滴的偏移量。当多个喷嘴时，取多个偏移量的平均值作为当前基板打印时墨滴的偏移量。
优选地，对在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。具体地，对预设喷墨参数进行补偿校正包括如下步骤：
获取在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；
按照预设喷墨参数在点阵标记喷墨，预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至点阵标记中各点上的喷墨参数；
获取预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；
获取墨滴的实际滴落位置与对应的点阵标记中各点的位置的差值的平均值；
按照平均值作为补偿值对预设喷墨参数进行补偿校正。
请参阅图7，图7中示出了预设喷墨参数补偿校正的示意图。基板分为像素区100和像素区以外的区域300。当需要对预设喷墨参数补偿校正时，在像素区以外的区域300(非像素区)形成点阵标记，并获取点阵标记中各点301的位置。然后按照预设喷墨参数在点阵标记喷墨，以形成试验墨滴302，并获取试验墨滴302的实际滴落位置(即像素区以外的区域300上试验墨滴302的位置)。需要说明的是，在点阵标记中喷墨时，预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至点阵标记中各点的喷墨参数，在该预设喷墨参数的理想情况下，墨滴滴落在点阵标记中的点301上。但是在实际喷墨情况下，试验墨滴302与点阵标记中的点301之间存在一定的偏移。此时，每个试验墨滴302与点阵标记中的点301相对应。优选地，当试验墨滴302周围存在多个点阵标记中的点301时，取与该试验墨滴302距离最近的点阵标记中的点301作为与该试验墨滴302相对应的点。计算该试验墨滴302偏移量时，取该试验墨滴302和其对应的点阵标记中的点301之间的距离。具体地，点阵标记中的点301的位置在设置点阵标记中的点301时即可以获取；试验墨滴302的位置可以通过十字光标303获取。
进一步地，作为试验墨滴302偏移量的计算方法。ΔY1＝Y1-Y10，式中，ΔY1为一个试验墨滴302的实际滴落位置与对应的点阵标记中的点301的位移差值，Y1为十字光标303获取到的该试验墨滴302的位置，Y10为对应的点阵标记中的点301的位置。ΔY2＝Y2-Y20，式中，ΔY2为另一个试验墨滴302的实际滴落位置与对应的点阵标记中的点301的位移差值，Y2为十字光标303获取到的该试验墨滴302的位置，Y20为对应的点阵标记中的点301的位置。依次类推，ΔYn＝Yn-Yn0，式中，ΔYn为第n个试验墨滴302的实际滴落位置与对应的点阵标记中的点301的位移差值，Yn为十字光标303获取到的该试验墨滴302的位置，Yn0为对应的点阵标记中的点301的位置。
更进一步地，通过上述方法计算得到ΔY1、ΔY2、ΔY3、……ΔYn，其中n为正整数。取计算得到的n个差值的平均值作为补偿值对预设喷墨参数进行补偿补正，即ΔY＝(ΔY1+ΔY2+ΔY3+……+ΔYn)/n，以ΔY作为补偿值对预设喷墨参数进行补偿校正，有利于提高喷墨打印中墨滴滴落的准确性。
请参阅图4，本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制方法，该喷墨打印方法包括如下步骤：
S201：在先基板放置在打印平台上。此步骤是打印前的准备步骤，将在先基板放置在打印平台上做好打印准备。
S202：墨滴滴落位置测试。在喷墨打印之前，由于喷墨系统可能存在实际墨滴偏移的问题，因此，在喷墨打印之前对墨滴滴落位置进行测试，能够获知墨滴的偏移情况，将墨滴的偏移情况补偿到喷墨系统中，可以提高喷墨打印的准确度。
S203：预设喷墨参数补偿校正。根据S202中墨滴滴落位置测试结果计算补偿值，并对预设喷墨参数进行补偿校正。具体地，S202和S203的方法可以按照图7中示出的预设喷墨参数补偿校正以及上述关于图7中补偿校正的方法进行。
S204：在先基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量。可以理解的是，S204中在先基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量的方法可以参照S101中在先基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量的方法进行。
S205：当前基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量。可以理解的是，S205中当前基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量的方法可以参照S102中当前基板喷墨打印并获取墨滴的偏移量的方法进行。
S206：计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量差值的绝对值。可以理解的是，S206中的计算方法可以参照S103中的计算方法进行。
S207：比较S206中的绝对值是否大于偏移量阈值。当该绝对值不大于偏移量阈值时，进行S208继续打印；当该绝对值大于偏移量阈值时，进行S209暂停打印。可以理解的是，当该绝对值大于偏移量阈值时，喷墨打印设备可以发出警示以用于提醒工作人员。当打印暂停后，可以使用未打印的基板作为在先基板进行S201，再次开始S201～S207的步骤。
还可以理解的是，当打印暂停后，当前基板的非像素区可以用来进行预设喷墨参数补偿校正。即在当前基板的非像素区采用S202～S203的方法对预设喷墨参数进行补偿校正。补偿校正之后再将未打印基板采用补偿校正后的喷墨系统进行打印。
本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印控制装置，该喷墨打印控制装置包括偏移量获取模块、绝对值计算模块以及喷墨打印控制模块；
偏移量获取模块用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
绝对值计算模块用于计算在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
喷墨打印控制模块用于根据绝对值与偏移量阈值控制打印，当绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
进一步地，请参阅图8，本发明还有一个实施例提供了一种喷墨打印控制装置，该喷墨打印控制装置包括长度获取模块401、阈值设置模块402、偏移量获取模块403、绝对值计算模块404以及喷墨打印控制模块405；
长度获取模块401用于获取基板上像素矩阵的最小像素重复单元的短边的长度，最小像素重复单元的短边的长度为像素单元的短边的长度与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离之和；
阈值设置模块402用于根据最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值；
偏移量获取模块403用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
绝对值计算模块404用于计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
喷墨打印控制模块405用于根据绝对值与偏移量阈值控制打印，当绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当绝对值大于偏移量阈值时，暂停打印。
可以理解的是，喷墨打印控制装置还包括警示模块(图中未示出)，警示模块用于在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值大于偏移量阈值时，发出警示以提醒工作人员。警示的方式可以是但不限定于警示音、警示灯等。
请参阅图9，在一个具体的示例中，喷墨打印控制装置还包括喷墨补偿校正模块500；喷墨补偿校正模块500用于对在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。
具体地，请参阅图10，喷墨补偿校正模块500包括点阵位置获取模块501、喷墨试验模块502、墨滴位置获取模块503、平均值获取模块504以及补偿校正子模块505；
点阵位置获取模块501用于获取在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；
喷墨试验模块502用于按照预设喷墨参数在点阵标记喷墨，预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至点阵标记中各点上的喷墨参数；
墨滴位置获取模块503用于获取预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；
平均值获取模块504用于获取墨滴的实际滴落位置与对应的点阵标记中各点的位置的差值的平均值；
补偿校正子模块505用于按照平均值作为补偿值对预设喷墨参数进行补偿校正。
结合图6和图7，对喷墨打印控制装置进行进一步详细描述。请再次参阅图6，长度获取模块401用于获取基板上像素矩阵的最小像素重复单元的短边的长度W，最小像素重复单元的短边的长度W为像素单元的短边的长度202与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离203之和(W＝b+c)。阈值设置模块402用于根据最小像素重复单元的短边的长度W设置偏移量阈值Q。优选地，Q≤W×1/2，即Q≤(b+c)×1/2。更优选地，Q＝W×1/2，即Q＝(b+c)×1/2。偏移量获取模块403用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量。绝对值计算模块404用于计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值。喷墨打印控制模块405用于根据绝对值与偏移量阈值控制打印，当绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当绝对值大于偏移量阈值时，暂停打印。
请再次参阅图7，点阵位置获取模块501用于获取在先基板上像素区以外的点阵标记中各点301的位置。喷墨试验模块502用于在预设喷墨参数下对点阵标记喷墨，在点阵标记中形成试验墨滴302，预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至点阵标记中各点上的喷墨参数。墨滴位置获取模块503用于获取预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置，其中墨滴位置获取模块包括十字光标303，通过十字光标303可以获取试验墨滴302的位置。平均值获取模块504用于获取墨滴的实际滴落位置与对应的点阵标记中各点的位置的差值的平均值，平均值ΔY＝(ΔY1+ΔY2+ΔY3+……+ΔYn)/n。
本发明还有一实施例提供了一种喷墨打印系统，该喷墨打印系统包括喷墨打印头和控制器；喷墨打印头用于对基板进行喷墨打印；控制器用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；控制器还用于计算在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；控制器还用于根据绝对值与偏移量阈值控制打印，当绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当绝对值大于偏移量阈值时，暂停打印。
进一步地，控制器还用于获取基板上像素矩阵的最小像素重复单元的短边的长度，最小像素重复单元的短边的长度为像素单元的短边的长度与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离之和。控制器还用于根据最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值。
优选地，控制器还用于控制对在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。具体地，对预设喷墨参数进行补偿校正过程中，控制器用于获取在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；控制器还用于按照预设喷墨参数在点阵标记喷墨，预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至点阵标记中各点上的喷墨参数；控制器还用于获取预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；控制器还用于获取墨滴的实际滴落位置与对应的点阵标记中各点的位置的差值的平均值；控制器还用于按照平均值作为补偿值对预设喷墨参数进行补偿校正。
本发明还有一实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述喷墨打印控制方法的步骤。
上述计算机设备，其处理器执行程序时，通过实现如上述各实施例中的任意一种喷墨打印控制方法，根据在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值与偏移量阈值控制打印，进而能够对喷墨打印过程进行及时控制，有效控制墨滴滴落到像素单元中，提高后续成膜阶段膜层厚度的均匀性，进而提高器件的良率。
本发明还有一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述喷墨打印控制方法的步骤。
上述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时能够根据在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值与偏移量阈值控制打印，进而能够对喷墨打印过程进行及时控制，有效控制墨滴滴落到像素单元中，提高后续成膜阶段膜层厚度的均匀性，进而提高器件的良率。
可以理解的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种喷墨打印控制方法，其特征在于，包括如下步骤：
分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，所述墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
计算所述在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
当所述绝对值不大于偏移量阈值时，继续打印，当所述绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
2.如权利要求1所述的喷墨打印控制方法，其特征在于，还包括设置所述偏移量阈值的步骤；
设置所述偏移量阈值包括如下步骤：
获取基板上像素矩阵的最小像素重复单元的短边的长度，所述最小像素重复单元的短边的长度为像素单元的短边的长度与沿短边方向上相邻像素单元之间的距离之和；
根据所述最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值。
3.如权利要求2所述的喷墨打印控制方法，其特征在于，所述根据所述最小像素重复单元的短边的长度设置偏移量阈值为将所述偏移量阈值设置为不超过所述最小像素重复单元的短边的长度的1/2。
4.如权利要求1～3中任一项所述的喷墨打印控制方法，其特征在于，还包括如下步骤：对所述在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。
5.如权利要求4所述的喷墨打印控制方法，其特征在于，所述对预设喷墨参数进行补偿校正包括如下步骤：
获取所述在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；
按照预设喷墨参数在所述点阵标记喷墨，所述预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至所述点阵标记中各点上的喷墨参数；
获取所述预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；
获取所述墨滴的实际滴落位置与对应的所述点阵标记中各点的位置的差值的平均值；
按照所述平均值作为补偿值对所述预设喷墨参数进行补偿校正。
6.一种喷墨打印控制装置，其特征在于，包括偏移量获取模块、绝对值计算模块以及喷墨打印控制模块；
所述偏移量获取模块用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，所述墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
所述绝对值计算模块用于计算所述在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
所述喷墨打印控制模块用于根据所述绝对值与偏移量阈值控制打印，当所述绝对值不大于所述偏移量阈值时，继续打印，当所述绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
7.如权利要求6所述的喷墨打印控制装置，其特征在于，还包括喷墨补偿校正模块；所述喷墨补偿校正模块用于对所述在先基板打印之前，对预设喷墨参数进行补偿校正。
8.如权利要求7所述的喷墨打印控制装置，其特征在于，所述喷墨补偿校正模块包括点阵位置获取模块、喷墨试验模块、墨滴位置获取模块、平均值获取模块以及补偿校正子模块；
所述点阵位置获取模块用于获取所述在先基板上像素区以外的点阵标记中各点的位置；
所述喷墨试验模块用于按照预设喷墨参数在所述点阵标记喷墨，所述预设喷墨参数为将墨滴对应喷墨至所述点阵标记中各点上的喷墨参数；
所述墨滴位置获取模块用于获取所述预设喷墨参数喷墨时墨滴的实际滴落位置；
所述平均值获取模块用于获取所述墨滴的实际滴落位置与对应的所述点阵标记中各点的位置的差值的平均值；
所述补偿校正子模块用于按照所述平均值作为补偿值对所述预设喷墨参数进行补偿校正。
9.一种喷墨打印系统，其特征在于，包括喷墨打印头和控制器；
所述喷墨打印头用于对基板进行喷墨打印；
所述控制器用于分别获取在先基板和当前基板打印时墨滴的偏移量，所述墨滴的偏移量为打印时墨滴的实际滴落位置与理想滴落位置的位移差值；
所述控制器还用于计算所述在先基板和所述当前基板打印时墨滴的偏移量的差值的绝对值；
所述控制器还用于根据所述绝对值与偏移量阈值控制打印，当所述绝对值不大于所述偏移量阈值时，继续打印，当所述绝对值大于所述偏移量阈值时，暂停打印。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1～5中任一项所述的喷墨打印控制方法的步骤。
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