CN113892027B - 光照射系统 - Google Patents
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Abstract
本发明的光照射系统，具备多个LED(11)、检测来自LED(11)的光的传感器、以及为了使树脂固化而使多个LED(11)间歇点亮的控制单元，控制单元能够使多个LED(11)以检查模式点亮，作为检查模式，控制单元在间歇点亮的熄灭期间，使多个LED(11)按每组点亮，基于此时的传感器(90)的输出值与参照值(120b)的比较结果来判定LED故障。
Description
技术领域
本发明涉及光照射系统。
背景技术
作为具有在预定方向上呈直线状地排列的多个LED的照明装置，已知有例如在制造钢板、板玻璃、食品、纸币等的各种制造工序的产品检查中，对线传感器摄像头等传感器的检测位置以与传感器的视场角一致的方式呈线状地进行照明的线状照明装置(例如，参照专利文献1)。
另外，作为具有在平面上排列的多个紫外线LED的光照射装置，已知有例如在制造由紫外线固化性塑料形成的膜等的各种制造工序中，为了使塑料固化来成形膜而照射紫外线的面状光照射装置(例如，参照专利文献2)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2007-225591号公报
专利文献2：日本特开2011-079157号公报
发明内容
发明所要解决的课题
这种光照射装置为了确保膜等制造物的品质，需要对光的照射位置均匀地照射强光。
后者的光照射装置的数百个或数千个LED大多以小间距排列。光固化性塑料利用来自各LED的光而固化，因此，若一部分LED发生短路、亮度降低等故障，则制造物的品质下降。
为了防止制造物的品质下降等，也考虑了在光照射装置的光的照射方向配置照度计，在检查或制造之前对各LED正常点亮的情况进行检查。但是，光照射装置大多设置在检查线、生产线上，难以准确地进行基于照度计的照度检查。
另外，也考虑了对多个LED分别设置传感器，基于传感器的输出来监视各LED有无故障。但是，对所有LED分别设置传感器并不现实。另外，在传感器与LED为1对1的情况下，当传感器的输出值降低了时，则不仅有可能是该LED存在故障，也有可能是传感器的检测精度下降。尤其是，在LED照射紫外线的情况下、在LED为高亮度LED的情况下，传感器可能过早发生故障。
本发明是鉴于这样的情况而做出的，其目的在于提供一种能够准确地检测LED的故障的光照射系统。
用于解决课题的技术方案
为了解决上述课题，本发明的一技术方案的光照射系统具备：光照射装置主体；设置于所述光照射装置主体的用于使树脂固化的多个LED；检测来自所述LED的光的光量传感器；以及为了使树脂固化而使所述多个LED间歇点亮的控制单元，在所述光照射系统中，所述控制单元能够使所述多个LED以检查模式点亮，作为所述检查模式，所述控制单元在所述间歇点亮的熄灭期间，使所述多个LED按每组点亮，基于此时的所述光量传感器的检测值与参照值的比较结果，所述控制单元对LED故障进行判定。
在该技术方案中，控制单元使多个LED按每组点亮，控制单元按每组存储参照值，并使用数量比该组的数量少的传感器来判定各LED的故障。也可以对每个组设置传感器。但是，若对每个组设置传感器，则传感器的数量变多，而且在传感器的检测精度的检查中会花费与传感器的数量增多的量相应的工夫。尤其是，在LED照射紫外线的情况下，传感器可能过早产生故障。
在传感器与组为1对1的情况下，当传感器的输出值降低了时，则不仅有可能是该组的LED的一部分存在故障，也有可能是传感器的检测精度下降。与此相对，在传感器的数量比组的数量少的情况下，1个传感器负责的组为2个以上。在2个以上的组的各组中同时发生LED的故障的可能性低。因此，在关于2个以上的组中的某一组的传感器的输出值降低了的情况下，则并非传感器的检测精度下降，而是该组的LED发生了故障。这样，所述各实施方式的光照射系统能够准确地检测LED的故障。
发明效果
根据本发明，能够准确地检测LED的故障。
附图说明
图1是本发明的第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的俯视图。
图2是第1实施方式的LED光照射系统的LED的点亮用的电路构成图。
图3是第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的剖视图。
图4是第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的主要部分剖视图。
图5是第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的主要部分剖视图。
图6是第1实施方式的控制装置的点亮控制的时间图的例子。
图7是第1实施方式的控制装置的点亮控制的时间图的其他例子。
图8是第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的变形例的主要部分剖视图。
图9是本发明的第2实施方式的LED光照射系统的光照射装置的长边方向剖视图。
图10是第2实施方式的LED光照射系统的光照射装置的短边方向剖视图。
图11是示出第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的变形例的基板10的俯视图。
图12是第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的其他变形例的主要部分剖视图。
图13是第1实施方式的LED光照射系统的光照射装置的其他变形例的主要部分剖视图。
具体实施方式
以下参照附图对本发明的第一实施方式的LED光照射系统进行说明。
该LED光照射系统例如是为了使光固化树脂固化而对预定的区域照射光的LED光照射系统。如图2所示，该LED光照射系统具有光照射装置1、电力供给单元2、以及连接线3，该连接线3将光照射装置1与电力供给单元2相连而从电力供给单元2向光照射装置1供电。连接线3向光照射装置1提供驱动电力。
如图1和图2所示，光照射装置1具有多个基板10，各基板10具有串联连接的多个LED11。各LED主要射出紫外线。各LED基板10通过连接线3与作为晶体管的FET(场效应晶体管)12和电流感应电阻(电流感测电阻)13相连。FET12的漏极端子与串联连接的多个LED11(LED串联电路)的低电位端相连，该FET12的源极端子与电流感应电阻13串联连接。
此外，在本实施方式中，FET12被连接到LED串联电路的低电位端侧，但也可以将FET12连接到LED串联电路的高电位端侧。在该情况下，FET12的源极端子与LED串联电路的高电位端侧相连。
各LED基板10具有高电位侧电力供给部14a和低电位侧电力供给部14b，所述高电位侧电力供给部14a通过连接线3连接到电力供给单元2的直流电源装置D的高电位端，所述低电位侧电力供给部14b连接到FET12。
如图1和图2所示，电力供给单元2具有一个或多个调光基板20，各调光基板20构成为对多个LED基板10逐一调光。在本实施方式中，调光基板20被设置在电力供给单元2内，但调光基板20也可以被设置在光照射装置1内。另外，在电力供给单元2设有向各调光基板20提供调光信号的调光信号供给部30，调光信号供给部30可以分别设定向多个LED基板10供给的电流量。例如，调光信号供给部30将与操作者输入到电力供给单元2的输入部40的信息相应的各LED基板10用的调光信号发送到各调光基板20。
各调光基板20通过图中未显示的D/A转换器将接收到的调光信号提供给各运算放大器21的基准电位输入部21b。也就是说，各调光基板20将基于来自调光信号供给部30的调光信号的基准电位向与各LED基板10对应的运算放大器21的基准电位输入部21b供给。
像这样构成，所以，能够进行使并排设置的多个LED11的端部的正下方的光照射位置与并排设置的多个LED11的中央的正下方的光照射位置成为同等的光量那样的调整。另外，即使各LED11的光量存在因制造因素等造成的偏差，也可以进行减小光照射位置的光量的偏差的调整。
运算放大器21的输出端子21c与FET12的栅极端子相连，该运算放大器的比较电位输入部21a连接于对应的FET12的源极端子与电流感应电阻13之间。
如图2所示，构成具有FET12、电流感应电阻13以及运算放大器21的众所周知的恒流电路。在该恒流电路中，FET12使来自直流电流装置D的驱动电流流向连接的LED串联电路。通过该恒流电路，电流感应电阻13的高电位侧的电位根据运算放大器的基准电位输入部21b的电位而变化，这样就可以通过改变基准电位输入部21b的电位来进行流向各LED11的电流的控制(各LED11的光量调节)。此外，可以使用恒压电路而不是恒流电路。
像上述那样构成，所以，本实施方式的电力供给单元2可以使多个LED11按每个组点亮。具体来说，在本实施方式中，电力供给单元2能够按每个基板10使LED11点亮。
各LED基板10例如由铝制的板形成，并以与散热器72a面接触的方式被固定，该散热器72a设置于光照射装置主体71并沿基板10延伸。在本实施方式中，如图3所示，固定有散热器72a的下侧散热器72b被固定于光照射装置主体71。光照射装置主体71具有：下侧主体71a，固定有下侧散热器2b；多个侧面板71b，各侧面板的下端固定在下侧主体71a的端部；罩(透明板或透明构件)80，覆盖由下侧主体71a和侧面板71b形成的空间的上端侧。罩80例如由作为丙烯酸酯的塑料、玻璃等透光性材料形成。散热器72a和下侧散热器72b可以为空冷式，但水冷式的能够不受周围环境影响地进行冷却。
该光照射装置1在罩80的端部设置有能够检测光量的传感器90。可以使用能够检测光量的光电二极管、光量计等光量传感器作为传感器90。传感器90的检测结果向电力供给单元2的控制装置(控制单元)100发送。
对多个基板10设置数量比该基板10的数量少的传感器90。在本实施方式中，对12个基板10设置两个传感器90。两个传感器90中的一个配置于罩80的一端侧，检测从罩80的一端射出的光。两个传感器90中的另一个配置于罩80的另一端侧，检测从罩80的另一端射出的光。
在本实施方式中，如图1所示，有时将罩80的一端与另一端之间的LED11的并排设置方向称为X方向，将罩80的与X方向正交的延伸设置方向称为Y方向。
在本实施方式中，罩80的厚度方向上的一面是来自LED11的光入射的入射面80a，厚度方向上的另一面是光出射的出射面80b。在罩80设置有多个反射部81。在一个例子中，各反射部81是设置于出射面80b的凹部。在本实施方式中，凹部具有四个倾斜面。如图5所示，四个倾斜面中的两个倾斜面81a、81b在X方向上排列，另外两个倾斜面在Y方向上排列。在一个例子中，凹部具有棱锥形状。
在X方向上排列的两个倾斜面81a、81b分别为大致三角形或三角形，在Y方向上排列的两个倾斜面也是大致三角形或三角形。在X方向上排列的两个倾斜面81a、81b也可以分别为大致梯形或梯形，在Y方向上排列的两个倾斜面也可以分别为大致梯形或梯形。在本实施方式中，如图5所示，倾斜面81a、81b分别与出射面80b所成的角度β为30°。角度β只要满足以下描述的功能即可，可以是其他角度。
如图4所示，各反射部81对应于多个LED11。如图1所示，在本实施方式中，从LED11的光轴LA方向观察时，各反射部81配置于四个LED11的中央位置。此外，在本实施方式中，在俯视下，对一个基板10的12个LED11配置三个反射部81。此外，反射部81也可以配置于三个LED11的中央位置、两个LED11的中央位置、五个LED11的中央位置、或六个LED11的中央位置。
如图4和图5所示，面81a、81b将来自对应的LED11的光向X方向反射。也就是说，面81a、81b将来自对应的LED11的光朝向传感器90反射。
如图5所示，与LED11的光轴LA成角度α的光向面81a、81b入射。优选的是，对角度α加上角度β而得的角度为罩80的材质的临界角以上。若形成罩80的材质的折射率为1.5左右，则临界角约为42°。在本实施方式中，角度β为30°，因此，来自LED11的与光轴LA成12°以上的角度的光被面81a、81b全反射。
此外，并不一定必须全反射。即使对角度α加上角度β而得的角度小于罩80的材质的临界角，入射到倾斜面81a、81b的光的一部分也会朝向传感器90反射。
如图2所示，控制装置100是具有处理器110、存储部120、RAM等的计算机、具有与该计算机相同的功能的集成电路等。
在存储部120存储有点亮程序120a和参照值120b的集合。点亮程序120a使设定了的电流流向各基板10。例如如图6的时间图所示，点亮程序120a使设定了的电流分别流向各基板10。
在存储部120中，对多个基板10中的各基板存储参照值120b。参照值120b可以基于存储在存储部120中的参照值制作程序120c来制作。例如，处理器110，基于参照值制作程序120c，按每个基板10使LED11点亮，并将与点亮的基板10对应设置的两个传感器90的检测值与该检测的对象的基板10的识别信息相关联，而作为参照值120b存储在存储部120中。可以将两个传感器90的检测值分别存储在存储部120中，也可以将两个传感器90的检测值的平均值、相加值等存储在存储部120中。基板10的识别信息可以是基板10的编号、位置信息等。也可以将按每个基板10使LED11点亮时的所有传感器90的检测值设为参照值120b。
也可以在光照射装置1或电力供给单元2设置有用于参照值设定开始的按钮41等操作部。在该情况下，处理器110可以根据操作部的操作，进行上述的参照值120b的计测和向存储部120的存储。另外，处理器110也可以根据来自平板电脑等外部计算机的预定的信号，进行上述的参照值120b的计测和向存储部120的存储。由于存在参照值120b根据配置光照射装置1的环境而变化的情况，因此，与操作部的操作或来自计算机的信号相应的参照值120b的设定对于为了LED11的准确的故障检测是有利的。
如图6所示，处理器110基于点亮程序120a，在利用多个基板10进行光照射的过程中，在检查模式下使各LED11点亮。如图6所示，处理器110使多个基板10的LED11在预定的点亮期间L1点亮，然后在预定的熄灭期间L2熄灭。处理器110使多个基板10同时点亮、熄灭。
处理器110一边进行上述的点亮和熄灭一边基于点亮程序120a进行检查模式下的点亮。检查模式下的点亮在熄灭期间L2进行。另外，在检查模式的点亮中，例如如图6所示，使多个基板10逐一点亮。在图6中，处理器110在第一次的熄灭期间L2仅使编号为No.1的基板10点亮，在第二次的熄灭期间L2仅使编号为No.2的基板10点亮，在第三次的熄灭期间L3仅使编号为No.3的基板10点亮，然后也同样地使基板10逐一点亮。
也就是说，处理器110使多个LED11按每组以检查模式点亮。此外，在检查模式下，处理器110也可以每次使两个、三个等多个基板10点亮。在该情况下，也可以说处理器110使多个LED11按每组点亮。
处理器110在进行了检查模式的点亮时，将对应于点亮了的基板10的两个传感器90的检测值与该基板10的参照值120b进行比较，并基于比较结果进行该基板10的LED11的故障判定。在本实施方式中，由于各基板10具有12个LED11，因此，若12个LED11中的1个LED11因故障而没有点亮，则两个传感器90的检测值相对于参照值120b会小例如5％以上。因此，通过所述比较，处理器110能够进行各基板10的故障判定。
此外，在本实施方式中，各基板10用的参照值120b被预先存储在存储部120中。与此相对，也可以将在检查模式下各基板10被点亮时的对应的传感器20的检测值作为各基板10的参照值120b储存在存储部120中。在该情况下，在制作参照值120b时，光照射装置1被配置于实际使用的环境，并且由光照射装置1照射光的对象也存在。因此，参照值120b更加准确。
另外，如图7所示，也可以通过使成为对象的基板10在熄灭期间L2持续点亮，来进行检查模式下的点亮。在该情况下，也能够进行参照值120b的制作。另外，在该情况下，即使在熄灭期间L2很短时，检查模式下的来自LED11的光的放射量也稳定。在光的照射量重要的情况下，熄灭期间L2越短越好。例如，熄灭期间L2有时为数μ秒。此外，为了高效地进行树脂的固化，优选熄灭期间L2为1m秒以下。此外，在熄灭期间L2为2m秒以上或1秒以上的情况下，也能够应用本实施方式的技术。有时难以在这样短的时间内使LED11以检查模式点亮进而熄灭。在该情况下，如图7那样的检查模式下的点亮对于为了使检查模式下的各LED11的光的照射量稳定是有利的。
另外，如图8所示，也可以设置有遮挡传感器90的曝光部的快门91。作为快门91，例如，可以使用众所周知的焦平面快门、中心式快门(Lens Shutter)、电子前帘快门、滚动快门等电子快门。处理器110基于点亮程序120a来控制快门91，以使得在点亮期间L1快门91关闭，在熄灭期间L2快门91打开。处理器110也可以在熄灭期间L2仅打开与在检查模式下点亮的基板10对应的传感器90的快门91。
该构成防止因在点亮期间L1来自所有LED11的大量的光照射传感器90而造成的传感器90的劣化。尤其是，在各LED11射出紫外线的情况下、在各LED11是高亮度LED的情况下，通过快门90有效地防止了传感器90的劣化。
传感器90也可以收纳于壳体92，传感器90被壳体92和快门91覆盖。在该情况下，进一步有效地防止了传感器90的劣化。
以下将参照附图对本发明的第二实施方式的LED光照射系统进行说明。
如图9和图10所示，该LED光照射系统使用以线状的方式进行光照射的光照射装置4来替代第一实施方式的以面状的方式进行光照射的光照射装置1。该LED光照射系统具有与第一实施方式同样的电力供给单元2和连接线3。对与第一实施方式同样的构成标注相同的附图标记，并省略其说明。
光照射装置4具有多个基板10，各基板10具有串联连接的多个LED11。电力供给单元2和各基板10的连接与第一实施方式同样。因此，在第二实施方式中，电力供给单元2也能够按每组、例如按每个基板10使多个LED11点亮。
该光照射装置4在罩80的端部设置有能够检测光量的传感器90，传感器90的检测结果向电力供给单元2的控制装置100发送。
在第二实施方式中也是，对多个基板10设置数量比基板10的数量少的传感器90。具体来说，光照射装置4在LED11的并排设置方向的两端各设置一个传感器90，光照射装置4具有三个以上的基板10。各传感器90检测从罩80的端部射出的光。在第二实施方式中，有时将LED的并排设置方向称为X方向，有时将罩80的与X方向正交的延伸设置方向称为Y方向。
如图9和10所示，在光照射装置4设置有用于将来自多个LED11的光聚集在Y方向上的聚光透镜4a。聚光透镜4a由透明的塑料、玻璃等形成，是线性菲涅尔透镜、柱面透镜、圆柱形状的棒状透镜等。另外，如图9和10所示，也可以设置有用于将来自多个LED11的光漫射的漫射板4b。透过了聚光透镜4a后的光透过罩80。漫射板由透明的塑料、玻璃等形成。也可以不设置聚光透镜4a和漫射板4b。
在透过了聚光透镜4a、漫射板4b等的来自LED11的光所出射的出射面80b设置有与第一实施方式同样的多个反射部81，多个反射部81在X方向上排列。
如图10所示，与第一实施方式同样，各反射器81将来自多个LED11的光在罩80内向X方向的一方或另一方反射。
在第二实施方式中也是，与第一实施方式或其变形例同样，在存储部120中，对多个基板10中的各基板10存储参照值120b。
并且，在第二实施方式中也是，处理器110使各基板10的LED11如图6、图7等所示那样，在点亮期间L1点亮、在熄灭期间L2熄灭。另外，与第一实施方式同样，处理器110在熄灭期间L2使多个基板10逐一以检查模式点亮，并将此时的两个传感器90的检测值与该基板10的参照值120b进行比较。另外，处理器110基于比较结果来进行各基板10的故障判定。
这样，第二实施方式与第一实施方式同样，也能够在使用光照射装置4的期间准确地判定各基板10的故障。
此外，在第二实施方式中，反射部81也可以配置于罩80的Y方向的端部附近。在该情况下，使用通过聚光透镜4a聚集在Y方向上并对照射位置进行照射的光以外的光，来进行各基板10的故障判定。后述的光漫射器82、83也可以同样地配置。
另外，在第一实施方式和第二实施方式中，也可以省略反射部81。即使在该情况下，例如，在罩80为漫射板，并且在罩80的入射面80a设置有用于漫射的凹凸的情况下，来自各LED的光中的一部分在出射面80b被反射，反射后的光的一部分也会到达传感器90。在第二实施方式中采用这样的罩80的情况下，可以省略漫射板4b。另外，来自LED10的光也可以通过其他方法到达罩80的端部的传感器90。
另外，可以在聚光透镜4a的端部设置传感器90，由传感器90检测来自聚光透镜4a的端部的光。
在第一实施方式和第二实施方式中，也可以省略反射部81，并将各传感器90设置于基板10。例如，也可以如图11所示那样，在四个LED11的中央位置配置传感器90。在该情况下也是，对多个基板10设置数量比基板10的数量少的传感器90。此外，也可以将传感器90配置于三个LED11的中央位置、两个LED11的中央位置、五个LED11的中央位置、或六个LED11的中央位置。
在该情况下也是，与第一实施方式或其变形例同样，在存储部120中，对多个基板10中的各基板10存储参照值120b。
并且，处理器110使各基板10的LED11如图6、图7等所示那样，在点亮期间L1点亮、在熄灭期间L2熄灭。另外，与第一实施方式同样，处理器110在熄灭期间L2使多个基板10逐一以检查模式点亮，并将此时的对应的三个传感器90的检测值与该基板10的参照值120b进行比较。因此，与第一实施方式和第二实施方式同样，能够在使用光照射装置1时准确地判定各基板10的LED11的故障。
此外，在上述的各实施方式中，各反射部81具有棱锥形状，但各反射部81也可以具有圆顶形状。各反射部只要是将来自对应的LED11的光的一部分朝向传感器90反射的结构即可，也可以是其他形状。
此外，在上述的各实施方式中，也可以将传感器90设置于光照射装置1、4内的其他部位。或者，也可以将传感器90设置于光照射装置1、4之外。即使在这些情况下，只要各基板10的参照值120b被存储在存储部120中，就能够通过在检查模式的各基板10的点亮时对传感器90的检测值与参照值120b进行比较，准确地判定各基板10的LED11的故障。
在将传感器90设置于光照射装置1、4之外的情况下，传感器90配置于树脂固化装置内。更具体地说，传感器90配置于树脂固化装置的树脂固化室内。树脂固化室是用于使来自光照射装置1、4的紫外线不会浪费地泄漏到树脂固化装置之外的室。在该情况下，有时在光照射装置1、4不设置罩80。在该情况下，检查模式时的来自各基板10的光被树脂固化室内的壁面、输送装置、以及光照射装置1、4的主体中的至少一个反射，反射后的光被传感器90检测。即，参照值120b也同样是传感器90对反射的光的检测值。在该情况下也是，来自外部的光难以进入树脂固化室，因此也能够进行LED的准确的故障检测。
此外，在所述各实施方式中，在控制装置100的存储部120存储参照值120b，将传感器90的检测值向控制装置100发送。与此相对，也可以在作为计算机的其他控制装置的存储部存储参照值120b，将传感器90的检测值向其他控制装置发送，其他控制装置基于参照值120b来判定各基板10的故障。在该情况下，控制装置100和其他控制装置作为控制单元发挥功能。
在所述各实施方式中，通过控制装置100使多个LED11间歇点亮从而光照射装置1、4使树脂固化，控制装置100在间歇点亮的熄灭期间L2使多个LED11按每组点亮。并且，控制装置100基于传感器90的检测值和参照值120b的比较结果来判定LED故障。用于使树脂固化的光照射装置1、4在不少情况下配置在使树脂固化来制造产品的工序的深处。另外，该工序用于高效且准确地进行树脂的固化，所以，在作为固化对象的树脂被配置于光照射位置的状态下，不会使各LED11熄灭。
在本实施方式中，能够在熄灭期间L2准确地判定多个LED11有无故障。也就是说，能够一边执行树脂的固化一边不断监测多个LED11有无故障。该构成在确保或保障制造的产品的品质方面极其有利。
在所述各实施方式中，控制装置100使多个LED11按每组点亮，控制装置100按每组存储参照值120b，并使用数量比该组的数量少的传感器90来判定各LED11的故障。也可以对每个组设置传感器90。但是，若对每个组设置传感器90，则传感器90的数量变多，而且在传感器90的检测精度的检查中会花费与传感器90的数量增多的量相应的工夫。尤其是，在LED11照射紫外线的情况下，传感器90可能过早产生故障。
在传感器90与组为1对1的情况下，当传感器90的输出值降低了时，则不仅有可能是该组的LED11的一部分存在故障，也有可能是传感器90的检测精度下降。与此相对，在传感器90的数量比组的数量少的情况下，1个传感器90负责的组为2个以上。在2个以上的组的各组中同时发生LED11的故障的可能性低。因此，在对于2个以上的组中的某一组的传感器的输出值降低了的情况下，则并非传感器90的检测精度下降，而是该组的LED11发生了故障。这样，所述各实施方式的光照射系统能够准确地检测LED11的故障。
另外，在所述各实施方式中，传感器90被配置为检测来自所述透明板或透明构件的端部的光。因此，传感器90不会招致光照射装置1、4的光照射用的光量的下降。另外，在光照射装置1、4为紫外线照射的情况下，其照射范围的强光不会直接对传感器90照射，因此能够防止传感器90过早故障。
另外，在所述各实施方式中，在罩80的出射面80b设置有反射部81，因此，能够高效地使来自LED11的光的一部分朝向罩80的端部。这在准确地进行基于传感器90的检测值的LED11的故障的判断方面有利。
在所述各实施方式中，反射部81，在从LED11的光轴LA方向观察时，配置于多个LED11的中央位置，各LED11的光量对传感器90的检测值的影响大致同等。这对于为了准确地检测各LED11有无故障是有利的。
如图11所示，也可以以在从LED11的光轴LA方向观察时传感器90配置于多个LED11的中央位置的方式将传感器90安装于基板10。在该情况下，各LED11的光量对传感器90的检测值的影响也大致同等。
此外，在所述各实施方式中，也可以在罩(透明板)90或聚光透镜(透明构件)4a的端部设置单一的传感器90而不是多个传感器90。即使在该情况下，也能够达成与上述同样的作用效果。
另外，如图12所示，也可以设置光漫射部82来代替反射部81。例如，光漫射部82是通过在出射面80b的一部分形成数十μm～数百μm的凹凸而设置的。凹凸可以是均匀的，也可以是无规则的。例如，光漫射部82是通过以物理或化学的方式使出射面80b形成为粗糙面状而设置的。
在设置光漫射部82来替代反射部81的情况下，来自LED11的光因光漫射部82而向各种方向漫射，其一部分朝向传感器90。也可以说光漫射部82也是朝向传感器90反射光的反射部。
另外，如图13所示，也可以设置光漫射部83来替代反射部81。例如，光漫射部83是通过在入射面80a的一部分贴附漫射光的片而设置的。也可以通过在入射面80a的一部分形成数十μm～数百μm的凹凸来设置光漫射部83。凹凸可以是均匀的，也可以是不规则的。例如，光漫射部82是通过以物理或化学方式使出射面80b形成为粗糙面状而设置的。
在设置光漫射部82来替代反射部81的情况下，来自LED11的光因光漫射部83而向各种方向漫射，其一部分朝向传感器90。
光漫射部82或光漫射部83，在罩80的俯视图中，相对于罩80整体的面积为3％以下。此外，即使光漫射部82或光漫射部83的面积相对于罩80整体的面积为5％以下，只要可确保对象的照射的光的量，也能够成立。
这样，来自LED11的光的一部分因设置于罩80的反射部81或光漫射部82、83而朝向传感器90，因此，能够一边进行基于LED11的光的照射一边准确地进行LED11有无故障的判断。这在确保使用光照装置1、4制造的产品的品质方面是有利的。
此外，在上述各实施方式中，光照射装置1、4也可以用作检查装置用的照明。在进行使用紫外线的检查的情况下，各LED11主要射出紫外线。也存在根据检查的种类而各LED11射出可见光、红外线的情况。
附图标记说明
1、4...光照射装置，2...电力供给单元，3...连接线，10...LED基板，11...LED，12...FET，13...电流感应电阻，20...调光基板，21...运算放大器，30...调光器信号供给部，40...输入部，71...照射装置主体，80...罩，80a...入射面，80b...出射面，81...反射部，90...传感器，91...快门，100...控制装置，120...存储部，120b...参照值，120c...参照值制作程序。
Claims (10)
1.一种光照射系统，具备：
光照射装置主体；
多个LED，设置于所述光照射装置主体，用于使树脂固化；
光量传感器，检测来自所述LED的光；以及
控制单元，为了使树脂固化而使所述多个LED间歇点亮，所述间歇点亮中使所述多个LED以预定的点亮期间点亮后以1m秒以下的熄灭期间熄灭，
其中，
所述控制单元能够使所述多个LED以检查模式点亮，
作为所述检查模式，所述控制单元在所述间歇点亮的所述1m秒以下的所述熄灭期间，使所述多个LED按每组点亮，基于此时的所述光量传感器的检测值与参照值的比较结果，所述控制单元对LED故障进行判定。
2.根据权利要求1所述的光照射系统，还具备：
透明构件，设置于所述光照射装置主体，供来自所述多个LED的光透射，
所述光量传感器检测来自所述透明构件的端部的光。
3.根据权利要求1所述的光照射系统，还具备：
透明板，安装于所述光照射装置主体，供来自所述多个LED的光透射，
所述透明板的厚度方向上的一面为来自所述多个LED的光入射的入射面，厚度方向上的另一面为光出射的出射面，
在所述出射面或所述入射面设置有用于使来自所述多个LED的光的一部分朝向透明板的端部的多个反射部或光漫射部，
所述光量传感器被配置为，检测来自所述透明板的端部的光。
4.根据权利要求3所述的光照射系统，
所述反射部，在从所述多个LED的光轴方向观察时，配置于多个LED的中央位置。
5.根据权利要求1～3中任一项所述的光照射系统，具备：
装配了所述多个LED的多个基板，
所述光量传感器安装于所述基板，并且在从所述多个LED的光轴方向观察时，配置于多个LED的中央位置。
6.根据权利要求1～5中任一项所述的光照射系统，
所述多个LED在与所述LED的光轴正交的X方向上呈1列地并排设置。
7.根据权利要求1～5中任一项所述的光照射系统，
所述多个LED在与所述LED的光轴正交的X方向上并排设置，并且在与所述光轴及所述X方向正交的Y方向上并排设置。
8.根据权利要求1～7中任一项所述的光照射系统，
该光照射系统具备数量比所述组的数量少的所述光量传感器，
所述控制单元具有如下功能：使所述多个LED按每个所述组点亮，并将此时的所述传感器的输出值按每个所述组存储为所述参照值。
9.一种光照射系统，具备：
光照射装置主体；
多个LED，设置于所述光照射装置主体，用于使树脂固化；
光量传感器，检测来自所述LED的光；以及
控制单元，为了使树脂固化而使所述多个LED间歇点亮，
其中，
所述控制单元能够使所述多个LED以检查模式点亮，
作为所述检查模式，所述控制单元在用于使所述树脂固化的所述多个LED的所述间歇点亮的熄灭期间，使所述多个LED按每组点亮，基于此时的所述光量传感器的检测值与参照值的比较结果，所述控制单元对LED故障进行判定，
所述光照射系统还具备透明板，所述透明板安装于所述光照射装置主体，供来自所述多个LED的光透射，
所述透明板的厚度方向上的一面为来自所述多个LED的用于使所述树脂固化的光入射的入射面，厚度方向上的另一面为用于使所述树脂固化的光出射的出射面，
在所述出射面或所述入射面设置有用于使来自所述多个LED的光的一部分朝向透明板的端部的多个反射部或光漫射部，
所述光量传感器被配置为，检测来自所述透明板的端部的光，
在俯视所述透明板时，所述反射部或所述光漫射部的面积相对于所述透明板整体的面积为5％以下。
10.根据权利要求3、4或9所述的光照射系统，
所述多个反射部设置于所述出射面。
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|---|---|---|---|---|
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Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103162820A (zh) * | 2011-12-12 | 2013-06-19 | 株式会社杰士汤浅国际 | 灯的不点亮检测装置、光照射装置以及灯的不点亮检测方法 |
| JP2015230781A (ja) * | 2014-06-04 | 2015-12-21 | ウシオ電機株式会社 | ライン状光照射装置およびライン状光照射装置の動作状態検査方法 |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0827239B2 (ja) * | 1986-11-14 | 1996-03-21 | オムロン株式会社 | 照明装置 |
| JPH0752677B2 (ja) * | 1988-08-31 | 1995-06-05 | ホーヤ株式会社 | ランプ異常検出回路およびランプ切替装置 |
| CA2434724A1 (en) * | 2001-01-09 | 2002-09-12 | Gelcore Llc | Device to monitor a led traffic light |
| JP4077171B2 (ja) * | 2001-04-25 | 2008-04-16 | 国土交通省近畿地方整備局長 | 照明灯動作情報収集方法および照明灯動作情報収集システム |
| JP2007027295A (ja) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Ushio Inc | 紫外線照射装置 |
| JP2009262050A (ja) * | 2008-04-24 | 2009-11-12 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 紫外線照射装置 |
| JP5104526B2 (ja) * | 2008-05-02 | 2012-12-19 | 住友電気工業株式会社 | バイオセンサ測定器及びセンサシステム |
| US8581269B2 (en) * | 2010-02-10 | 2013-11-12 | Lumen Dynamics Group Inc. | Modular high density LED array light sources |
| TWI463272B (zh) * | 2010-11-30 | 2014-12-01 | Ushio Electric Inc | Light irradiation device |
| JP5234091B2 (ja) * | 2010-11-30 | 2013-07-10 | ウシオ電機株式会社 | 光照射装置 |
| JP2014107067A (ja) * | 2012-11-26 | 2014-06-09 | Gs Yuasa Corp | ランプの不点検知装置および光照射装置 |
| JP5984398B2 (ja) * | 2012-01-18 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 発光装置及びその制御方法 |
| CN103596346B (zh) * | 2013-11-26 | 2016-08-17 | 常州市武进区半导体照明应用技术研究院 | Led灯具故障的检测方法和装置 |
| JP2015156292A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | アイリスオーヤマ株式会社 | Ｌｅｄ照明装置 |
| WO2016140209A1 (ja) * | 2015-03-02 | 2016-09-09 | シャープ株式会社 | 照明装置、表示装置、及びテレビ受信装置 |
| JP6723510B2 (ja) * | 2015-06-15 | 2020-07-15 | 株式会社リコー | 光学モデルの選定方法、検出光量分布補正方法、光学モデルの補正方法及び光学検査装置 |
| US10065563B2 (en) * | 2015-09-16 | 2018-09-04 | Truck-Lite Co. Llc | Light emitting diode failure detection system for a vehicle |
| US20170086282A1 (en) * | 2015-09-17 | 2017-03-23 | UltraLED Inc. | Led lamp for a vehicle and testing method therefor |
| JP6601128B2 (ja) * | 2015-10-08 | 2019-11-06 | ウシオ電機株式会社 | 光照射装置及び光照射方法 |
| JP6617378B2 (ja) * | 2015-11-24 | 2019-12-11 | 株式会社アイテックシステム | 照明装置 |
| JP6517721B2 (ja) * | 2016-03-18 | 2019-05-22 | Ｈｏｙａ Ｃａｎｄｅｏ Ｏｐｔｒｏｎｉｃｓ株式会社 | 光照射装置 |
| JP6896215B2 (ja) * | 2016-03-25 | 2021-06-30 | 株式会社アイテックシステム | Ｌｅｄ照明システムの短絡異常検出装置、その装置を有するｌｅｄ照明装置、およびｌｅｄ照明システムの短絡異常検出方法 |
| JP6917751B2 (ja) * | 2017-03-31 | 2021-08-11 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 描画装置 |
-
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103162820A (zh) * | 2011-12-12 | 2013-06-19 | 株式会社杰士汤浅国际 | 灯的不点亮检测装置、光照射装置以及灯的不点亮检测方法 |
| JP2015230781A (ja) * | 2014-06-04 | 2015-12-21 | ウシオ電機株式会社 | ライン状光照射装置およびライン状光照射装置の動作状態検査方法 |
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