CN113857080A - 一种集成芯片pin检测与不良品分类设备及检测分类方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架，所述机架上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件、耐压测试组件、电性测试组件和循环组件，所述耐压测试组件侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件，所述循环组件位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件，所述分料组件包括良品出料组件和数个不良品出料组件。本发明可对电性测试之后的集成芯片进行分类，同时在可循环治具进行循环。

Description

一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法

技术领域

本发明属于集成芯片PIN检测及分类领域，具体涉及一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法。

背景技术

集成芯片在生产的过程中需要对PIN进行检测，并区分检测后的PIN的良品和不良品。传统的设备只具备单纯的检测和区分良品与不良品的功能，并不能对不良品再次进行区分。同时，传统的设备检测时装载集成芯片的治具需要人工进行循环，或者通过一些简单的结构辅助进行循环。上述缺陷大大的制约了PIN不良分类的效率，同时也降低了分类的精度。现有技术中存在一些解决上述问题的相关的探索，但都不能满足实际的需求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备及检测分类方法，可对电性测试之后的集成芯片进行分类，同时在可循环治具进行循环。

本发明所采用的技术方案是：一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架，所述机架上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件、耐压测试组件、电性测试组件和循环组件，所述耐压测试组件侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件，所述循环组件位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件，所述分料组件包括良品出料组件和数个不良品出料组件。

其中一个实施例中，所述循环组件包括倾斜设置的下导向板和设置于下导向板上方且倾斜设置的上导向板，所述上导向板位置较高的一侧其中一端设有进料轨道，所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具，所循环治具上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽，当所述循环治具移动到与进料轨道对应的位置时，所述循环治具的滑槽与进料轨道连通，所述上导向板靠近进料轨道的一端与位于上导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿上导向板移动的上侧推机构，所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有推动循环治具下移的下推机构，所述下导向板远离进料轨道的一端与位于下导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构，所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。

其中一个实施例中，所述上导向板和下导向板至少其中一侧面设有侧板，所述侧板分别与上导向板和下导向板连接，所述上导向板顶部设有与侧板连接的顶板。

其中一个实施例中，所述顶板上表面设有产品检测光纤，所述产品检测光纤设置于与进料轨道对应的循环治具上方。

其中一个实施例中，所述上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构均包括推动循环治具移动的推板和与推板连接且驱动所述推板移动的推料气缸。

其中一个实施例中，所述分料组件包括设置于循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。

其中一个实施例中，数个所述不良品出料组件包括但不限于DCR不良品出料组件、LK不良品出料组件、LX不良品出料组件、BL不良品出料组件、TR不良品出料组件和多种不良品出料组件。

其中一个实施例中，所述良品出料组件和每个不良品出料组件均包括气缸安装板和出料块，所述气缸安装板上设有与出料块连接且驱动出料块上移和下移的驱动气缸，所述出料块上设有与进料轨道连通且可供集成芯片通过的出料槽。

其中一个实施例中，所述出料块顶部设有盖板。

本发明还公开了一种集成芯片PIN检测分类方法，包括以下步骤：

步骤10、将装有集成芯片的料管放置于下料组件上，进入步骤20；

步骤20、下料组件工作，将料管内的集成芯片逐一送入耐压测试组件，进入步骤30；

步骤30、耐压测试组件工作，对通过的集成芯片进行耐压测试，如耐压测试合格，集成芯片进入电性测试组件，进入步骤40，如耐压测试不合格，该不合格的集成芯片进入耐压不良品收料组件并由耐压不良品收料组件排出；

步骤40、电性测试组件工作，对通过的集成芯片进行电性测试，进入步骤 50；

步骤50、经电性测试的集成芯片通过进料轨道进入循环治具，循环组件工作，根据步骤40中的检测结果，将装有集成芯片的循环治具推送到对应的良品出料组件或不良品出料组件，进入步骤60；

步骤60、良品出料组件或不良品出料组件对应的驱动气缸驱动出料块移动且将出料块与对应的循环治具的滑槽连通，集成芯片进入出料块并排出。

本发明的有益效果在于：

1、本发明设置一个良品出料组件和数个不良品出料组件，根据电性测试的结果对集成芯片进行分类，并通过循环组件将集成芯片送到对应的出料组件，改变了传统分类方式中只能针对良品和不良品进行分类的方式，提高效率的同时，也使得分类更加的精准；

2、循环组件通过上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构配合上导向板和下导向板，可实现循环治具在循环组件内部的循环，无需人工进行干预；

3、产品检测光纤的设置可检测进入循环治具的集成芯片的位置是否精确，保证后续分料的顺利进行；

4、分料组件设置一个良品出料组件和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类；

5、良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移实现与循环治具的连通，保证集成芯片在推送过程中不会误入错误的出料通道。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明循环组件结构示意图；

图3为本发明分料组件结构示意图；

图4为良品出料组件和不良品出料组件结构示意图。

图中：1、机架；2、下料组件；3、耐压测试组件；4、电性测试组件；5、循环组件；6、耐压不良品收料组件；7、分料组件；51、下导向板；52、上导向板；53、进料轨道；54、循环治具；541、滑槽；55、上侧推机构；56、下推机构；57、下侧推机构；58、顶升机构；59、侧板；510、产品检测光纤； 551、推板；552、推料气缸；71、良品出料组件；72、DCR不良品出料组件； 73、LK不良品出料组件；74、LX不良品出料组件；75、BL不良品出料组件； 76、TR不良品出料组件；77、多种不良品出料组件；711、气缸安装板；712、出料块；713、驱动气缸；714、盖板；7121、出料槽。

具体实施方式

下面将结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。

实施例1：

如图1和图3所示，本发明公开了一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架1，所述机架1上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件2、耐压测试组件3、电性测试组件4 和循环组件5，所述耐压测试组件3侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件 6，所述循环组件5位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件7，所述分料组件7包括良品出料组件71和数个不良品出料组件。

本设备设置循环组件5和分料组件7，且分料组件7包括良品出料组件71 和数个不良品出料组件，经过耐压测试组件3和电性测试组件4后的集成芯片在循环组件5的作用下将集成芯片输送到对应的分料组件7，并通过分料组件进行分料。数个组件相互配合，可实现对集成芯片PIN的检测和分类。

实施例2：

如图1-图3所示，在上述实施例的基础上，所述循环组件5包括倾斜设置的下导向板51和设置于下导向板51上方且倾斜设置的上导向板52，所述上导向板52位置较高的一侧其中一端设有进料轨道53，所述上导向板52和下导向板51上均设有与其相对滑动的数个循环治具54，所循环治具54上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽541，当所述循环治具54移动到与进料轨道53对应的位置时，所述循环治具54的滑槽541与进料轨道53连通，所述上导向板52靠近进料轨道53的一端与位于上导向板52上的循环治具54对应的位置设有推动循环治具54沿上导向板52移动的上侧推机构55，所述上导向板52远离进料轨道53的一端上方设有推动循环治具54下移的下推机构56，所述下导向板51远离进料轨道53的一端与位于下导向板51上的循环治具54 对应的位置设有推动循环治具54沿下导向板51移动的下侧推机构57，所述下导向板51靠近进料轨道53的一端下方设有推动循环治具54上移的顶升机构 58。

循环组件5通过上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构 58配合上导向板52和下导向板51以实现循环治具54在循环组件5内的循环，无需人工干预，大大的提高了分类的效率。

实施例3：

如图1-图3所示，在上述实施例的基础上，所述上导向板52和下导向板 51至少其中一侧面设有侧板59，所述侧板59分别与上导向板52和下导向板 51连接，所述上导向板52顶部设有与侧板59连接的顶板。

侧板59和顶板的设置，为循环治具54的位移提供限位，且使得循环组件 5形成一个闭合的空间，保证循环治具54循环的准确。

实施例4：

如图1-图3所示，在上述实施例的基础上，所述顶板上表面设有产品检测光纤510，所述产品检测光纤510设置于与进料轨道53对应的循环治具54上方。

产品检测光纤510的设置可检测进入循环治具54的集成芯片的位置是否精确，保证后续分料的顺利进行。

实施例5：

如图1-图3所示，在上述实施例的基础上，所述上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58均包括推动循环治具54移动的推板551 和与推板551连接且驱动所述推板551移动的推料气缸552。

上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58均通过推料气缸552驱动推板551来推动循环治具54，这样的方式简单且高效。

实施例6：

如图1-图3所示，在上述实施例的基础上，所述分料组件7包括设置于循环组件5位置较低的侧面的良品出料组件71和数个不良品出料组件，所述良品出料组件71和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具54的滑槽541连通，所述良品出料组件71设置于与循环组件5的进料轨道53对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近进料轨道53的一端到远离进料轨道53的一端依次延伸。

分料组件设置一个良品出料组件71和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类。同时，良品出料组件71和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具54的滑槽541连通，保证集成芯片在推送过程中不会误入错误的出料通道。

实施例7：

如图1-图3所示，在上述实施例的基础上，数个所述不良品出料组件包括但不限于DCR不良品出料组件72、LK不良品出料组件73、LX不良品出料组件 74、BL不良品出料组件75、TR不良品出料组件76和多种不良品出料组件77。

不良品出料组件为数种，其数量可根据实际情况增加或减少，以满足不同情况下不良品分类的需求。

实施例8：

如图1-图4所示，在上述实施例的基础上，所述良品出料组件71和每个不良品出料组件均包括气缸安装板711和出料块712，所述气缸安装板711上设有与出料块712连接且驱动出料块712上移和下移的驱动气缸713，所述出料块712上设有与进料轨道53连通且可供集成芯片通过的出料槽7121。

良品出料组件71和每个不良品出料组件均通过驱动气缸713驱动出料块 712的方式连通出料槽7121，以进行出料，防止集成芯片在推送过程中误入错误的出料通道。

实施例9：

如图1-图4所示，在上述实施例的基础上，所述出料块712顶部设有盖板 714。

盖板714的设置，在集成芯片进入出料块712时可对其进行限位，防止集成芯片被抛离设备。

本发明还公开了一种集成芯片PIN检测分类方法，包括以下步骤：

步骤10、将装有集成芯片的料管放置于下料组件2上，进入步骤20；

步骤20、下料组件2工作，将料管内的集成芯片逐一送入耐压测试组件3，进入步骤30；

步骤30、耐压测试组件3工作，对通过的集成芯片进行耐压测试，如耐压测试合格，集成芯片进入电性测试组件4，进入步骤40，如耐压测试不合格，该不合格的集成芯片进入耐压不良品收料组件6并由耐压不良品收料组件6排出；

步骤40、电性测试组件4工作，对通过的集成芯片进行电性测试，进入步骤50；

步骤50、经电性测试的集成芯片通过进料轨道53进入循环治具54，循环组件5工作，根据步骤40中的检测结果，将装有集成芯片的循环治具54推送到对应的良品出料组件71或不良品出料组件，进入步骤60；

步骤60、良品出料组件71或不良品出料组件对应的驱动气缸713驱动出料块712移动且将出料块712与对应的循环治具54的滑槽541连通，集成芯片进入出料块712并排出。

本发明设置PLC控制各组件之间的运行，并在各组件设置产品检测组件，以保证产品流转的正常。所述的下料组件2为本分类设备的初始组件，其作用在于固定装有集成芯片的料管且可将料管内的集成芯片逐一送入耐压测试组件3，其包括料管固定组件和进料阻挡组件，料管组件用于固定料管，进料阻挡组件用于与耐压测试组件3连通且在本分类设备停机的过程中阻挡集成芯片进入耐压测试组件3。所述的耐压测试组件3位于下料组件2和电性测试组件 4之间，其作用在于对集成芯片进行电性测试，其包括耐压测试输送组件和耐压固定及测试组件，耐压测试输送组件用于将耐压测试合格的集成芯片送入电性测试组件4内，同时将耐压测试不合格的集成芯片送入与耐压测试组件3配套使用的耐压不良品收料组件6，耐压固定及测试组件用于固定集成芯片及进行耐压测试。所述的电性测试组件4位于耐压测试组件3和循环组件5之间，用于对集成芯片进行电性测试，其包括电性固定及测试组件和电性测试输送组件，电性固定及测试组件用于固定集成芯片及进行电性测试，电性测试输送组件用于将电性测试之后的集成芯片送入循环组件5。

循环组件5通过进料轨道53与电性测试组件4连通，电性测试完成的集成芯片进入循环治具54的滑槽541内。根据电性测试的结果，上侧推机构55 推动循环治具54朝着远离进料轨道53的一端位移，将集成芯片送到对应的出料通道对应的位置。下推机构56将移动到上导向板52末端的循环治具54推送到下导向板51上，下侧推机构57推动循环治具54朝靠近进料轨道53的一端位移，顶升机构58将移动到下导向板51末端的循环治具54推动到上导向板52侧面，完成循环治具54的循环。

上述上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58均通过推料气缸552驱动并由推板551完成推送的动作。

分料组件7设置一个良品出料组件71和数个不良品出料组件。如果电性测试合格，良品出料组件71的驱动气缸713驱动出料块712上移或下移，将出料块712上的出料槽7121与循环组件5连通，该集成芯片通过出料槽7121 排出。如果电性测试不合格，循环组件5会带动循环治具54移动到对应的不良品出料组件的位置，该不良品出料组件的驱动气缸713驱动出料块712上移或下移，将出料块712上的出料槽7121与循环组件5连通，该集成芯片通过出料槽7121排出。

所述的不良品出料组件的DCR不良品出料组件72为电阻检测不合格的不良品对应的出料组件；LK不良品出料组件73为电感检测不合格的不良品对应的出料组件；LX不良品出料组件74为漏感检测不合格的不良品对应的出料组件；BL不良品出料组件75为圈比检测不合格的不良品对应的出料组件；TR不良品出料组件76为极性检测不合格的不良品对应的出料组件；多种不良品出料组件77为上述两种及多种检测不合格的不良品对应的出料组件。

以上所述实施例仅表达了本发明的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，包括倾斜设置的机架，其特征在于，所述机架上表面从位置较高的一端到位置较低的一端依次设有相互连通的下料组件、耐压测试组件、电性测试组件和循环组件，所述耐压测试组件侧面设有与其连通的耐压不良品收料组件，所述循环组件位置较低的一端设有与其内部连通的分料组件，所述分料组件包括良品出料组件和数个不良品出料组件。

2.根据权利要求1所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述循环组件包括倾斜设置的下导向板和设置于下导向板上方且倾斜设置的上导向板，所述上导向板位置较高的一侧其中一端设有进料轨道，所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具，所循环治具上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽，当所述循环治具移动到与进料轨道对应的位置时，所述循环治具的滑槽与进料轨道连通，所述上导向板靠近进料轨道的一端与位于上导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿上导向板移动的上侧推机构，所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有推动循环治具下移的下推机构，所述下导向板远离进料轨道的一端与位于下导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构，所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。

3.根据权利要求2所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述上导向板和下导向板至少其中一侧面设有侧板，所述侧板分别与上导向板和下导向板连接，所述上导向板顶部设有与侧板连接的顶板。

4.根据权利要求3所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述顶板上表面设有产品检测光纤，所述产品检测光纤设置于与进料轨道对应的循环治具上方。

5.根据权利要求4所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构均包括推动循环治具移动的推板和与推板连接且驱动所述推板移动的推料气缸。

6.根据权利要求1或2所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述分料组件包括设置于循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。

7.根据权利要求6所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，数个所述不良品出料组件包括但不限于DCR不良品出料组件、LK不良品出料组件、LX不良品出料组件、BL不良品出料组件、TR不良品出料组件和多种不良品出料组件。

8.根据权利要求7所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述良品出料组件和每个不良品出料组件均包括气缸安装板和出料块，所述气缸安装板上设有与出料块连接且驱动出料块上移和下移的驱动气缸，所述出料块上设有与进料轨道连通且可供集成芯片通过的出料槽。

9.根据权利要求8所述的一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备，其特征在于，所述出料块顶部设有盖板。

10.一种集成芯片PIN检测分类方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤10、将装有集成芯片的料管放置于下料组件上，进入步骤20；

步骤20、下料组件工作，将料管内的集成芯片逐一送入耐压测试组件，进入步骤30；

步骤30、耐压测试组件工作，对通过的集成芯片进行耐压测试，如耐压测试合格，集成芯片进入电性测试组件，进入步骤40，如耐压测试不合格，该不合格的集成芯片进入耐压不良品收料组件并由耐压不良品收料组件排出；

步骤40、电性测试组件工作，对通过的集成芯片进行电性测试，进入步骤50；

步骤50、经电性测试的集成芯片通过进料轨道进入循环治具，循环组件工作，根据步骤40中的检测结果，将装有集成芯片的循环治具推送到对应的良品出料组件或不良品出料组件，进入步骤60；

步骤60、良品出料组件或不良品出料组件对应的驱动气缸驱动出料块移动且将出料块与对应的循环治具的滑槽连通，集成芯片进入出料块并排出。

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