CN113791335A - 不同排列组合的探针卡 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种不同排列组合的探针卡,其上具有2N‑1个探针孔,第一列探针孔具有2N‑1‑1个,第二列探针孔具有2N‑1个,另外在第二列的外侧具有数量不少于2N‑1个的排线孔;每个探针孔具有一根引线连接一个排线孔。本发明的探针孔数之和具有完整自然数序列,探针孔和引线排布位置清晰。
Description
技术领域
本发明涉及一种探卡中探针的排布形式。
背景技术
探针是什么,探针是电子测试中测试PCB的一种测试针,通常表面镀金,是高端的电子元件。
作为信息探测工具来说,探针卡是一种测试接口,主要用于接插探针,通过探针连接测试机和芯片,将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触,通过传输信号对芯片参数进行测试。探针卡是应用在IC尚未封装前,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。
一般的探针卡上的探针是圆周形排布,或者矩阵式排布,在后续的引线布置线路上有一定的局限,线路绕行过于复杂,或者线路连接关系不易分清。
发明内容
发明目的:提供一种具有完整自然数序列而无过多重复组合数,排布位置清晰分布的不同排列组合的探针卡。
技术方案:
本发明的不同排列组合的探针卡,其上具有2N-1个探针孔,N为不小于3的自然数;探针孔排成相互平行的两列,第一列具有2N-1-1个,第二列具有2N-1个,另外在第二列的外侧具有数量不少于2N-1(多余的可以空置)个的排线孔(供插接排线连接到测试机);每个探针孔具有一根引线连接一个排线孔。第一列的探针孔通过引线向其外侧行走,接着从上下两端分别绕行,然后连接到排线孔位;第二列的探针孔通过引线直接延长到外侧的排线孔(或者排线针)。
每一个针孔具有一根引脚,每一个针孔中可以插入一根探针。每一根探针的尖端接触芯片上的一个待测电极点,全部排线孔可以通过排线连接到探针台的测试机。
第一列分为N-1组,自上而下依次排列,第一组为一个探针孔,第二组为2个探针孔,第N-1组为2 N-2个探针孔。
第二列单独作为第N组。
任意一组针孔的数量或者任意几组针孔的数量之和能够构成一个完整的自然数序列:1、2、3、…、2N-1。同一组的所有探针孔可以同时集中使用,无需在不同组中的非全部孔位插入探针。
比如需要插入三个探针时,采用第一组和第二组的组合;如需要插入5个探针时,采用第一组和第三组的组合;插入11根探针时,采用附图2的第一组、第二组、第四组的组合。不同组合的和数基本唯一确定,算法最经济,编程容易,便于高效收集信号和快速发送控制指令。
每一组的探针孔间距为A,每一组的间距为B。B>A,使得组与组有比较清楚间隔,容易识别,不易接错引线,容易快速计算探针总数。
第一列的第1至N-2组的引线从上端绕行连接到排线孔,第N-1组的引线从下端绕行连接到排线孔。上下引线基本分置(相差一根引线),使得上下空间均衡使用。
第一列与第二列的引线走向相反,便于两列之间缩短距离;第一列上下引线分别在上下两侧行走;使得IC电路板的尺寸可以尽可能减小,而且布局均匀便于引线散热。
有益效果:
本发明的探针排为两列,排布位置清晰,引线容易分开行走,引线路线基本平直,没有交叉,转弯少,不易出现杂乱状况;引线的线程较短,测试电路的电阻较小;具有完整自然数序列而无过多重复组合数的探针孔,不同的探针总数可以采用不同分组的组合,容易分辨,容易统计数据;而且同一组的所有探针孔可以同时集中使用。任意数的组合种类少,可变量少,甚至可以唯一确定。
附图说明
图1是本发明的一种7针组合的探针卡;
图2是本发明的一种15针组合的探针卡.
图中: 1-第一组;2-第二组;3-第三组(图1中第二列或图2中第一列);4-第四组(第二列);6-排线孔;5、7、8-引线;10-探针孔。。
具体实施方式
实施例一:
第一组与第二组排成第一列,第三组排成第二列;
第一列的第一组具有一只针孔,第二组具有两只竖向排布针孔;
第二列单独的一组为第三组,具有四只竖向排布针孔。
任意一组针孔的数量或者任意两组针孔的数量之和能够构成一个完整的自然数序列:1、2、3、…、7。
另外在第二列的外侧具有数量不少于7个的排线孔;每个探针孔具有一根引线连接一个排线孔。
实施例二:
第一组具有一只针孔,第二组具有两只竖向排布针孔,第三组具有四只竖向排布针孔,第四组具有8只竖向排布针孔。
第一列的第一组具有一只针孔,第二组具有两只竖向排布针孔、第三组具有四只竖向排布针孔;
第二列单独的一组为第四组,具有八只竖向排布针孔。
任意一组针孔的数量或者任意两组针孔的数量之和能够构成一个完整的自然数序列:1、2、3、…、7、…、15。
第一列分为3组,自上而下依次排列,第一组为一个探针孔,第二组为2个探针孔,第3组为4个探针孔;第二列单独作为第4组,具有8个探针孔。
另外在第二列的外侧具有数量不少于15个的排线孔;每个探针孔具有一根引线连接一个排线孔,第一列的第1至2组的引线从上端绕行连接到排线孔,第3组的引线从下端绕行连接到排线孔,第4组的引线直接向右延伸连接排线孔。
Claims (4)
1.一种不同排列组合的探针卡,其特征在于:其上具有2N-1个探针孔,N为不小于3的自然数;探针孔排成相互平行的两列,第一列具有2N-1-1个,第二列具有2N-1个,另外在第二列的外侧具有数量不少于2N-1个的排线孔;每个探针孔具有一根引线连接一个排线孔。
2.根据权利要求1所述的不同排列组合的探针卡,其特征在于:
第一列分为N-1组,自上而下依次排列,第一组为一个探针孔,第二组为2个探针孔,第N-1组为2 N-2个探针孔;第二列单独作为第N组。
3.根据权利要求1或2所述的不同排列组合的探针卡,其特征在于:
每一组的探针孔间距为A,每一组的间距为B,B>A。
4.根据权利要求1或2所述的不同排列组合的探针卡,其特征在于:第一列的第1至N-2组的引线从上端绕行连接到排线孔,第N-1组的引线从下端绕行连接到排线孔;第N组的引线直接向右延伸连接排线孔。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115754388A (zh) * | 2022-10-19 | 2023-03-07 | 深圳锐盟半导体有限公司 | 一种探针卡、芯片测试方法、测试机及存储介质 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101911284A (zh) * | 2007-12-28 | 2010-12-08 | 富士通半导体股份有限公司 | 半导体器件及其制造方法 |
US20110006797A1 (en) * | 2009-07-07 | 2011-01-13 | Nec Electronics Corporation | Probe card and test equipment |
CN102081111A (zh) * | 2010-12-06 | 2011-06-01 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 探针卡 |
CN103018501A (zh) * | 2012-12-11 | 2013-04-03 | 江苏汇成光电有限公司 | 晶圆测试探针卡 |
CN203881860U (zh) * | 2014-03-21 | 2014-10-15 | 天津可巴特电子有限公司 | 一种用于电子产品测试工装的连接单元 |
CN211652958U (zh) * | 2019-12-27 | 2020-10-09 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 用于并行测试机台的针座装置 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101911284A (zh) * | 2007-12-28 | 2010-12-08 | 富士通半导体股份有限公司 | 半导体器件及其制造方法 |
US20110006797A1 (en) * | 2009-07-07 | 2011-01-13 | Nec Electronics Corporation | Probe card and test equipment |
CN102081111A (zh) * | 2010-12-06 | 2011-06-01 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 探针卡 |
CN103018501A (zh) * | 2012-12-11 | 2013-04-03 | 江苏汇成光电有限公司 | 晶圆测试探针卡 |
CN203881860U (zh) * | 2014-03-21 | 2014-10-15 | 天津可巴特电子有限公司 | 一种用于电子产品测试工装的连接单元 |
CN211652958U (zh) * | 2019-12-27 | 2020-10-09 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 用于并行测试机台的针座装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115754388A (zh) * | 2022-10-19 | 2023-03-07 | 深圳锐盟半导体有限公司 | 一种探针卡、芯片测试方法、测试机及存储介质 |
CN115754388B (zh) * | 2022-10-19 | 2023-09-29 | 深圳锐盟半导体有限公司 | 一种探针卡、芯片测试方法、测试机及存储介质 |
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