CN113466771A - 一种校验老化板校验波形的装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种校验老化测试板校验波形的装置，包括用于连接老化测试板的PCB板、与PCB板连接用于切换通道的通道切换件、与PCB板连接用于显示各通道波形的波形抓取设备，PCB板设置有用于校验各通道波形的波形校验部件。本发明通过采用上述各部件对老化测试板的校验波形进行校验，节省了人工逐个连接各通道的时间，提高了通道切换效率，进而提高了校验效率；另外，通过预设于PCB板的波形校验部件对各通道的波形直接进行校验，实现了各通道调整值的快速匹配，进一步提高了校验效率。

Description

一种校验老化板校验波形的装置及方法

技术领域

本发明涉及可靠性测试领域，特别涉及一种校验老化板校验波形的装置及方法。

背景技术

老化实验是很多产品出厂前必须进行的信赖性相关的实验，例如半导体行业的芯片产品。老化实验中，核心部件之一是老化测试板。首次使用老化测试板之前，需要对其各通道进行校验，使其所有通道的波形都符合要求，即输出波形符合设定的波形或满足芯片数据参数(datasheet)上各通道规定波形，否则，可能导致老化实验的数据不准确。另外，老化实验进行过程中，老化测试板也会与产品一同经历严苛的温度与电压电流的应力过程，因此，使用一段时间后，老化测试板的各部件会有一定程度的退化，可能引起老化测试板各通道波形的漂移或失真，依然需要对老化测试板的各通道再次校验。

芯片老化测试用的老化测试板的通道数量较多，有近百个，目前的校验方法中，一般是通过人工手动逐个连接各通道至波形抓取设备，校验过程中，对于波形漂移或失真的通道，还需要连接不同的电阻等元器件完成校验，随着芯片设计愈加复杂，通道数目也在不断增多，因此，目前采用的校验方法因其耗时且效率低下，已经不能满足校验需求。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种校验老化板校验波形的装置及方法，能实现快速高效的完成老化测试板校验波形的校验。

为解决上述技术问题，本发明提供的校验老化测试板校验波形的装置，包括：

PCB板，与所述老化测试板信号连接，用于传输所述老化测试板各通道的信号；

通道切换件，安装于所述PCB板，并与所述PCB板信号连接，用于切换所述老化测试板各通道；

波形抓取设备，与PCB板信号连接，用于抓取所述老化测试板各通道的信号波形；

所述PCB板包括波形校验部件，用于校验所述老化测试板各通道输出的信号波形。

较佳地，所述PCB板包括：

信号输入接口，包括数量至少与所述老化测试板通道数量相同的针脚；

信号切换接口，所述信号切换接口的针脚对应于所述信号输入接口的针脚；

信号输出接口，与所述波形抓取设备信号连接，向所述波形抓取设备输出信号。

较佳地，所述波形校验部件包括多个定值电阻，所述波形校验部件通过将一个或多个所述定值电阻并联于所述老化测试板各通道的信号输出电路以校验输出的信号波形。

较佳地，所述定值电阻的数量为六个，所述定值电阻的阻值分别为1Ω、2Ω、3Ω、5Ω、10Ω和20Ω。

较佳地，所述波形校验部件阻值调节范围为1Ω至41Ω，调节步长为1Ω。

较佳地，所述通道切换件包括：

底座，安装于所述PCB板，用于固定所述通道切换件；

弹片组，包括与所述信号切换接口的针脚数量相同的弹片，各所述弹片与所述信号切换接口的针脚一一信号连接，各所述弹片之间绝缘设置；

手轮，安装于所述底座，并与所述信号输出口信号连接；

簧片，所述簧片的一端安装于所述手轮并与所述手轮信号连接，转动所述手轮以使所述簧片的另一端依次接触各所述弹片并与所述弹片形成信号连接。

较佳地，所述底座通过紧固件安装于所述PCB板。

较佳地，所述弹片组形成为圆环状，所述手轮设置于所述弹片组的中心位置处。

较佳地，所述弹片、所述簧片均为导体。

较佳地，所述波形抓取设备为示波器。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种采用上述校验老化测试板校验波形的装置对老化测试板校验波形进行校验的方法，包括如下步骤：

步骤一，将老化测试板连接于PCB板的信号接入口；

步骤二，转动手轮，将老化测试板各通道输出的信号逐一显示于波形抓取设备；

步骤三，调节波形校验部件的电阻值，将老化测试板各通道输出的信号波形调整至理想状态，并记录理想状态的信号波形所对应的电阻值。

本发明通过将老化测试板连接至PCB板实现老化测试板的各通道与PCB板的各线路接通，再通过通道切换件依次将老化测试板的各通道波形信号逐一传输至波形抓取设备以显示各通道的校验波形是否理想；对于非理想波形的通道信号，再通过波形校验部件进行调整至理想波形，并记录调整值以便最终实现对老化测试板前端的修正。本发明节省了人工逐个连接各通道的时间，提高了通道切换效率，进而提高了校验效率；另外，通过预设于PCB板的波形校验部件对各通道的波形直接进行校验，实现了各通道调整值的快速匹配，进一步提高了校验效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面对本发明所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的校验老化测试板校验波形装置的一实施例结构示意图；

图2是本发明的校验老化测试板校验波形装置的一实施例的PCB板的结构示意图；

图3是本发明的校验老化测试板校验波形装置的一实施例的通道切换件的结构示意图；

图4是图3中A处的放大图。

图中，1-PCB板；2-通道切换件；3-紧固件；11-波形校验部件；12-信号输入接口；13-信号切换接口；14-信号输出接口；21-底座；22-弹片组；23-手轮；24-簧片；221-弹片。

具体实施方式

下面将结合附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

图1示出了本发明的一种校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，包括：

PCB板1，与所述老化测试板信号连接，用于传输所述老化测试板各通道的信号；

通道切换件2，安装于所述PCB板1，并与所述PCB板1信号连接，用于切换所述老化测试板各通道；

波形抓取设备，与PCB板1信号连接，用于抓取所述老化测试板各通道的信号波形；

所述PCB板1包括波形校验部件11，用于校验所述老化测试板各通道输出的信号波形。

本发明实施例中，将老化测试板连接至PCB板1上，老化测试板的各通道输出的信号(即，待校验波形)通过PCB板1的信号线路，经通道切换件2切换后，依次输出至波形抓取设备，同时，通过PCB板1上设置的波形校验部件11，将输出的波形为非理想波形的通道信号，调整至理想波形，并记录波形校验部件11的调整值，以便最终实现对老化测试板前端的修正。本发明利用通道切换件2切换各通道信号，节省了人工逐个连接各通道的时间，提高了通道切换效率，进而提高了校验效率；另外，通过预设于PCB板1的波形校验部件11对各通道的波形直接进行校验，实现了各通道调整值的快速匹配，进一步提高了校验效率。

参考图2，较佳地，所述PCB板1包括：

信号输入接口12，包括数量至少与所述老化测试板通道数量相同的针脚；

信号切换接口13，所述信号切换接口13的针脚对应于所述信号输入接口12的针脚；

信号输出接口14，与所述波形抓取设备信号连接，向所述波形抓取设备输出信号。

本发明实施例中，PCB板1的信号输入接口12中，针脚的数量至少与老化测试板的通道数量相同，以保证老化测试板的每个通道在PCB板1中均有一路信号线路与之接通；PCB板1的信号切换接口13中，针脚的数量与信号输入接口12的针脚数量相同，且一一对应，通过PCB板1的内部走线，形成数量与针脚数量相同的信号线路用于传递信号输入接口12接受到的信号；PCB板1的信号输出接口14，只有一路信号线路，该路信号线路连接至波形抓取设备，用于将通道切换件2传输来的信号输出至波形抓取设备。

较佳地，所述波形校验部件11包括多个定值电阻，所述波形校验部件11通过将一个或多个所述定值电阻并联于所述老化测试板各通道的信号输出电路以校验输出的信号波形。

较佳地，所述定值电阻的数量为六个，所述定值电阻的阻值分别为1Ω、2Ω、3Ω、5Ω、10Ω和20Ω。

较佳地，所述波形校验部件11阻值调节范围为1Ω至41Ω，调节步长为1Ω。

本发明实施例中，波形校验部件11通过上述六个定值电阻的串联组合可以形成1Ω至41Ω范围内，步长为1Ω的电阻调节，该调节范围及调节步长满足目前芯片用老化测试板校验波形的校验需求，另外，操作上，一般通过在PCB板1上设置按钮111，每个按钮111对应一个电阻，按下按钮111即可实现将相应的电阻串联入电路，由于此操作为本领域内的常规技术手段，此处不再赘述；可理解地，本发明的方案不限于上述六个定值电阻，其组合方式也不限于串联，后续根据不同的需求，通过改变定值电阻的阻值及定值电阻的组合方式，可以实现范围更大或更新，步长更长或更短的调节，此处不再赘述。

参考图3和图4，较佳地，所述通道切换件2包括：

底座21，安装于所述PCB板1，用于固定所述通道切换件2；

弹片组22，包括与所述信号切换接口13的针脚数量相同的弹片221，各所述弹片221与所述信号切换接口13的针脚一一信号连接，各所述弹片221之间绝缘设置；

手轮23，安装于所述底座21，并与所述信号输出口信号连接；

簧片24，所述簧片24的一端安装于所述手轮23并与所述手轮23信号连接，转动所述手轮23以使所述簧片24的另一端依次接触各所述弹片221并与所述弹片221形成信号连接。

较佳地，所述底座21通过紧固件3安装于所述PCB板1。

较佳地，所述弹片组22形成为圆环状，所述手轮23设置于所述弹片组22的中心位置处。可理解地，手轮23设置于圆环状弹片组22的中央位置处，手轮23与各弹片221的距离相同，转动簧片24即可实现通道的切换。

较佳地，所述弹片221、所述簧片24均为导体。

本发明实施例中，通道切换件2为机械结构，弹片组22的各弹片221在底座21的厚度方向贯穿底座21且弹片221的顶端延伸超出底座21的上表面、弹片221的底端延伸超出底座21的下表面，各弹片221的底端与信号切换接口13的各针脚接触以导通至老化测试板的各通道；转动手轮23以带动簧片24转动时，簧片24依次与各弹片221的顶端接触以实现通道切换功能。可理解地，通道切换件2的主要作用是将PCB板1的信号切换接口13与信号输出接口14导通，并且通过手轮23带动簧片24转动以接触不同的弹片221实现通道的切换。

较佳地，所述波形抓取设备为示波器(未示出)。

本发明提供的一种采用校验老化测试板校验波形的装置对老化测试板的校验波形进行校验的方法，包括如下步骤：

步骤一，将老化测试板连接于PCB板1的信号接入口；

步骤二，转动手轮23，将老化测试板各通道输出的信号逐一显示于波形抓取设备；

步骤三，调节波形校验部件11的电阻值，将老化测试板各通道输出的信号波形调整至理想状态，并记录理想状态的信号波形所对应的电阻值。

本发明实施例中，对老化测试板校验波形进行校验时，老化测试板的信号传输路径如下：老化测试板的各通道的信号传输至PCB板1的信号输入接口12的与各通道具有信号连接的各针脚上，再从信号输入接口12的各针脚通过PCB板1的内部走线传输至信号切换接口13的各针脚，之后传输至与信号切换接口13的各针脚相接触的弹片221，未与簧片24相接触的弹片221上的信号暂时停止继续传输，与簧片24接触的弹片221的信号继续通过簧片24传输至PCB板1的信号输出接口14，再传输至波形抓取设备，利用波形抓取设备将该信号示出，手轮23转动带动簧片24转动，簧片24依次与各弹片221接触，以将各弹片221的信号依次传输至波形抓取设备，完成老化测试板所有通道的波形展示。

本发明实施例中，老化测试板的某一通道的信号输出至波形抓取设备，当该通道的信号不理想时，可通过PCB板1的波形校验部件11对该通道的波形进行校验，波形校验部件11主要是通过在信号线路中串联电阻实现的，本发明实施例中的电阻为定值电阻，包括1Ω、2Ω、3Ω、5Ω、10Ω和20Ω六个定值电阻，可以实现1Ω至41Ω，调节步长为1Ω的调节，可理解地，在其他实施例中，也可以使用滑动变阻器等可变电阻器件，调节的范围与步长可根据需求进行选定。

综上所述，本发明通过将将老化测试板连接至PCB板实现老化测试板的各通道与PCB板的各线路接通，再通过通道切换件依次将老化测试板的各通道波形信号逐一传输至波形抓取设备以显示各通道的校验波形是否理想；对于非理想波形的通道信号，再通过波形校验部件进行调整至理想波形，并记录调整值以便最终实现对老化测试板前端的修正。本发明节省了人工逐个连接各通道的时间，提高了通道切换效率，进而提高了校验效率；另外，通过预设于PCB板的波形校验部件对各通道的波形直接进行校验，实现了各通道调整值的快速匹配，进一步提高了校验效率。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

Claims (11)

1.一种校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，包括：

PCB板，与所述老化测试板信号连接，用于传输所述老化测试板各通道的信号；

通道切换件，安装于所述PCB板，并与所述PCB板信号连接，用于切换所述老化测试板各通道；

波形抓取设备，与PCB板信号连接，用于抓取所述老化测试板各通道的信号波形；

所述PCB板包括波形校验部件，用于校验所述老化测试板各通道输出的信号波形。

2.如权利要求1所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述PCB板包括：

信号输入接口，包括数量至少与所述老化测试板通道数量相同的针脚；

信号切换接口，所述信号切换接口的针脚对应于所述信号输入接口的针脚；

信号输出接口，与所述波形抓取设备信号连接，向所述波形抓取设备输出信号。

3.如权利要求2所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述波形校验部件包括多个定值电阻，所述波形校验部件通过将一个或多个所述定值电阻并联于所述老化测试板各通道的信号输出电路以校验输出的信号波形。

4.如权利要求3所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述定值电阻的数量为六个，所述定值电阻的阻值分别为1Ω、2Ω、3Ω、5Ω、10Ω和20Ω。

5.如权利要求4所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述波形校验部件阻值调节范围为1Ω至41Ω，调节步长为1Ω。

6.如权利要求5所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述通道切换件包括：

底座，安装于所述PCB板，用于固定所述通道切换件；

弹片组，包括与所述信号切换接口的针脚数量相同的弹片，各所述弹片与所述信号切换接口的针脚一一信号连接，各所述弹片之间绝缘设置；

手轮，安装于所述底座，并与所述信号输出口信号连接；

簧片，所述簧片的一端安装于所述手轮并与所述手轮信号连接，转动所述手轮以使所述簧片的另一端依次接触各所述弹片并与所述弹片形成信号连接。

7.如权利要求6所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述底座通过紧固件安装于所述PCB板。

8.如权利要求7所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述弹片组形成为圆环状，所述手轮设置于所述弹片组的中心位置处。

9.如权利要求8所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述弹片、所述簧片均为导体。

10.如权利要求1所述的校验老化测试板校验波形的装置，其特征在于，所述波形抓取设备为示波器。

11.一种采用如权利要求1至10任一项所述校验老化测试板校验波形的装置对老化测试板校验波形进行校验的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

步骤一，将老化测试板连接于PCB板的信号接入口；

步骤二，转动手轮，将老化测试板各通道输出的信号逐一显示于波形抓取设备；

步骤三，调节波形校验部件的电阻值，将老化测试板各通道输出的信号波形调整至理想状态，并记录理想状态的信号波形所对应的电阻值。

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