CN113341194B - 电流检测电路、电流检测系统以及电流检测电路的调整方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 107
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 29
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 6
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0023—Measuring currents or voltages from sources with high internal resistance by means of measuring circuits with high input impedance, e.g. OP-amplifiers
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
- G01R19/16571—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing AC or DC current with one threshold, e.g. load current, over-current, surge current or fault current
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0092—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/30—Structural combination of electric measuring instruments with basic electronic circuits, e.g. with amplifier
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
- G01R19/257—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques using analogue/digital converters of the type with comparison of different reference values with the value of voltage or current, e.g. using step-by-step method
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
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- Electromagnetism (AREA)
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Abstract
实施方式涉及电流检测电路、电流检测系统以及电流检测电路的调整方法。实施方式的电流检测电路具备:电流检测部,具有比较与负载电流成比例的第一电压和与检测电流成比例的第二电压的运算放大器,输出所述检测电流;以及调整部,生成与比较了与所述检测电流成比例的监测电压和参照电压后的结果相应的数据而调整所述运算放大器的输入偏置。
Description
相关申请
本申请享受2020年3月3日提出申请的日本专利申请号2020-35515的优先权的利益,在本申请中引用该日本专利申请的全部内容。
技术领域
实施方式一般来说涉及电流检测电路、电流检测系统以及电流检测电路的调整方法。
背景技术
以往,在具有运算放大器的电流检测电路中,公开有施加用于使运算放大器所具有的偏置(offset)移位的电压来消除负载电流的不灵敏区(日语:不感帯)的技术。运算放大器的输入偏置电压会影响负载电流的检测不灵敏区以及检测电流的偏置。在对运算放大器的输入追加另外的偏置电压而使检测电流移位了的情况下,虽然没有不灵敏区,但对于输入偏置电压引起的检测电流的偏移没有效果。即,存在对于一定的负载电流的检测电流的偏移未被改善这一问题。另外,运算放大器的输入偏置电压随时间变化。因而,期望在需要负载电流的检测的情况下以输入偏置电压接近零的方式进行调整、无负载时的电流的偏置较小的电流检测电路、电流检测系统以及电流检测电路的调整方法。
发明内容
实施方式提供在需要负载电流的检测的情况下能够以进行电流转换的运算放大器的输入偏置电压被调整为接近零的状态检测负载电流的电流检测电路、电流检测系统以及电流检测电路的调整方法。
实施方式的电流检测电路具备:电流检测部,具有运算放大器,该运算放大器比较与经由驱动元件向负载供给的负载电流成比例的第一电压和与检测电流成比例的第二电压,能够通过数据来调整输入偏置电压,所述电流检测部基于所述运算放大器的输出来输出所述检测电流;以及调整部,根据比较了与所述检测电流成比例的监测电压和参照电压后的结果,生成所述数据而调整所述运算放大器的偏置。
附图说明
图1是表示第一实施方式的电流检测系统的构成的图。
图2是表示负载电流与监测电压的关系的图。
图3是表示偏置的调整方法的时序图。
图4是具体表示第一实施方式的电流检测系统的构成的图。
图5是表示运算放大器的构成的图。
图6是表示运算放大器的偏置的调整方法的时序图。
图7是表示第二实施方式的电流检测系统的构成的图。
图8是表示偏置的调整方法的时序图。
图9是表示偏置的调整方法的流程图。
具体实施方式
以下,参照添附附图,详细地说明实施方式的电流检测电路以及电流检测系统。另外,本发明不被这些实施方式限定。
(第一实施方式)
图1是表示第一实施方式的电流检测系统的图。本实施方式的电流检测系统具有驱动电路10、控制电路20。驱动电路10具有电流检测电路11、驱动控制部14、与驱动元件15。驱动电路10在驱动元件15上连接负载17,在电源端子侧连接电阻R1、R2,在接地端子侧连接电阻R3。电流检测系统利用电流检测电路11监测流经驱动需要相对较大的功率的负载17的驱动元件15的负载电流IL,以便控制电路20能够监视。
电流检测电路11具有电流检测部12与偏置调整部13。电流检测部12根据电压V1以及V2将监测电流IM向电阻R3输出。电压V1是从电源电压Vd下降了由于负载电流IL而在电阻R1中产生的电压后的电压。电压V2是从电源电压Vd下降了由于监测电流IM而在电阻R2中产生的电压后的电压。
电流检测部12具备负反馈电路,该负反馈电路具有放大电压V1与电压V2的电压差的运算放大器(未图示)。负反馈电路以电压V1与电压V2的电压差成为零的方式控制监测电流IM并输出。因而,能够根据电阻R1与电阻R2的电阻值之比,设定流经电阻R2的电流。例如通过使电阻R2相对于电阻R1成为K倍的电阻值(K是1以上的任意的正数),使得电流检测部12输出减少为负载电流IL的1/K倍的监测电流IM。
偏置调整部13调整电流检测部12的运算放大器的输入偏置电压。偏置调整部13例如以使在电阻R3中产生的监测电压VM与参照电压相等的方式调整运算放大器的输入偏置电压。
控制电路20例如由微型计算机(microcomputer)(以下,称作微机)构成。控制电路20向偏置调整部13供给使偏置的调整开始的调整开始信号。调整开始信号例如响应于用户的工作指示而输出。来自用户的工作指示是需要向负载17供给负载电流IL的要求。在负载17例如是驱动汽车的电动车窗的马达的情况下,用户的工作指示是电动车窗的开闭指示。
控制电路20向驱动控制部14供给驱动控制信号。驱动控制部14响应于驱动控制信号而生成驱动信号,并向驱动元件15供给。驱动元件15响应于驱动信号而成为接通,向负载17供给负载电流IL。
负载电流IL流动的结果是,监测电流IM经由电流检测部12向电阻R3的一端供给。电阻R3的另一端接地。监测电流IM是相对于负载电流IL例如以规定的比率减少了的电流。因而,监测电压VM是与负载电流IL相应的电压。监测电压VM例如在控制电路20中被进行AD转换,并作为数字值被检测。
参照附图,对偏置调整部13的偏置的调整进行说明。图2是表示负载电流IL与监测电压VM的关系的图。横轴表示负载电流IL,纵轴表示监测电压VM。VR是参照电压。实线200表示通过本实施方式设定的特性。虚线201与202表示取决于运算放大器的输入偏置电压而向正侧、负侧分别偏移了电压VO的情况。若负载电流IL增加,则监测电压VM线性地增加。在向负侧偏移了的情况下,监测电压VM贴近零,不能线性地监测。
偏置调整部13在驱动元件15切断而负载电流IL为零时,调整电流检测部12的偏置,以使与参照电压VR相等电压作为监测电压VM而产生。由此,即使驱动元件15成为接通,负载电流IL流动,也能够避免负载电流IL不被检测的不灵敏区。在偏置调整过程中,为了向一个方向收敛调整,不能将参照电压VR取为零、即GND电位。另一方面,若使参照电压VR为比GND高的电位,则为了使监测电压VM与参照电压VR一致而将运算放大器的输入偏置电压VO调整为较大的状态。因此,参照电压VR期望的是设为虽然比GND稍高、但能够在调整过程收敛的电压。例如假设输入偏置电压VO为±10mV,参照电压VR设为0.1V。
在汽车的车身系统控制、例如电动车窗的情况下,在马达的工作开始之前的期间观测无负载电流。在马达的工作开始之前的期间、也就是即将利用驱动控制部14使驱动元件15驱动之前,能够每次从控制电路20输出调整开始信号而实施电流检测部12的偏置调整。由此,即使运算放大器的输入偏置电压随时间变化、或者温度漂移了的情况下,也能够在向负载17供给负载电流IL之前进行调整,因此能够构成高精度地检测驱动电路10的驱动时的负载电流IL的电流检测系统。例如在关闭汽车的电动车窗的动作中,能够准确地检测出用户的手指等夹住、负载电流IL成为过电流的状态。另外,通过采用每次响应来自控制电路20的调整开始信号而在规定时间内完成电流检测部12的偏置调整的构成,能够提供实用的电流检测系统。
图3是表示第一实施方式中的偏置的调整方法的时序图。从上层起依次表示用户控制、动作期间分配、调整开始信号、调整期间脉冲以及驱动控制信号。
(a)表示来自用户的工作开始指示与工作结束指示。
(b)表示由控制电路20设定的时间分配。TC表示诊断期间,TO表示动作期间。诊断期间TC响应于工作开始指示而开始。在诊断期间TC,例如在负载17是马达的情况下,进行马达是否与周边设备(未图示)正确地连接、或者是否向电源产生短路(接电源)、是否向GND产生短路(接地)等诊断。另外,在本实施方式中,在诊断期间TC内进行电流检测部12的偏置调整。如果在规定时间内的诊断期间TC内没有异常,则转移至动作期间TO,控制电路20使驱动电路10驱动。在有异常的情况下,例如控制电路20避免向动作期间TO的转移。诊断期间TC例如在汽车的电动车窗的情况下设定为100ms左右。
(c)表示控制电路20输出的调整开始信号。控制电路20响应于来自用户的工作开始指示而将调整开始信号向偏置调整部13供给。
(d)表示调整期间脉冲。偏置调整部13响应于调整开始信号而生成在任意的时间设定的调整期间脉冲。在调整期间脉冲为H电平的期间,进行电流检测部12的偏置的调整。调整期间脉冲被设定为落入诊断期间TC内。
(e)表示驱动控制部14向驱动元件15供给的驱动控制信号。驱动控制信号例如是占空比被控制了的PWM信号。通过调整驱动控制信号的占空比,可调整驱动元件15的接通/断开,控制负载电流IL向负载17的供给。
在动作期间TO,电流检测部12与偏置调整部13维持偏置调整完成的状态。由于在诊断期间TC,规定的诊断结束,并且在动作期间TO,驱动电路10动作,因此能够以使负载电流IL无不灵敏区且将输入偏置电压VO调整为比以往小的状态检测负载电流。在动作期间TO,向负载17供给负载电流IL。动作期间TO响应于工作结束指示而结束。
图4是具体地表示图1的电流检测系统的构成的图。对与已叙述的实施方式对应的构成,标注相同的附图标记,仅在需要的情况下进行重复的记载。之后相同。本实施方式的电流检测部12具有运算放大器41与PMOS晶体管42。
运算放大器41的非反转输入端(+)连接于电阻R1的一端,被施加电压V1。电压V1是从电源电压Vd下降了由于负载电流IL而在电阻R1产生的电压后的电压。因而,电压V1与负载电流IL成比例地降低,成为与负载电流IL相应的电压。运算放大器41的反转输入端(-)连接于电阻R2的一端,被施加电压V2。电压V2是从电源电压Vd下降了由于监测电流IM而在电阻R2产生的电压后的电压。电压V2与监测电流IM成比例地降低,成为与监测电流IM相应的电压。运算放大器41将电压V1与电压V2的差电压放大并将与该差电压相应的输出信号向作为开关元件的PMOS晶体管42的栅极供给。
运算放大器41与PMOS晶体管42构成负反馈电路,以电压V1与电压V2成为相等的方式动作。因而,能够通过电阻R1与电阻R2的电阻比设定负载电流IL与监测电流IM之比。晶体管42的源极连接于电阻R2的另一端,漏极连接于电阻R3的一端。晶体管42通过运算放大器41的输出信号来控制,将监测电流IM向电阻R3输出。监测电流IM通过电阻R3转换为监测电压VM,被输入到偏置调整部13与控制电路20。
偏置调整部13具有电压比较电路43、数据锁存电路44、调整脉冲生成电路45。电压比较电路43将比较了监测电压VM与参照电压VR后的结果向数据锁存电路44供给。
调整脉冲生成电路45响应于来自控制电路20的控制信号(调整开始信号),生成调整期间脉冲与逐次比较脉冲而向数据锁存电路44供给。调整期间脉冲划定偏置的调整时间。逐次比较脉冲调整由数据锁存电路44对数据进行锁存的定时。数据锁存电路44将锁存的数据向运算放大器41供给,以使监测电压VM与参照电压VR相等的方式调整运算放大器41的偏置。
驱动控制部14具有输入电路46与栅极驱动电路47。输入电路46响应于来自控制电路20的控制信号(驱动控制信号)而生成PWM信号,并向栅极驱动电路47供给。栅极驱动电路47将PWM信号放大并向构成驱动元件15的PMOS晶体管48的栅极供给。PMOS晶体管48响应于栅极驱动电路47的输出信号而接通/断开,将负载电流IL向负载17供给。
根据本实施方式,偏置调整部13以使监测电压VM与参照电压VR相等的方式调整运算放大器41的偏置。偏置的调整在驱动元件15断开且负载电流IL为零时进行。由于在负载电流IL为零的情况下也产生监测电压VM,因此能够无以往的不灵敏区地检测负载电流IL。由此,与负载电流IL流动无关,能够避免负载电流IL不被检测的情况。另外,通过使参照电压VR的值为虽然接近GND但稍向正侧偏置的电位,从而偏置调整部13的收敛动作无破绽地,能够将运算放大器41的偏置抑制为微小的值。
参照图5,对偏置的调整方法进行说明。图5是表示构成运算放大器41的输入级的差动对41A的电路的一个例子的图。图5示出将差动对41A通过6比特的调整信号调整电流驱动能力来调整偏置的情况。差动对41A在反转输入端(-)侧具有7个NMOS晶体管T0~T6,在非反转输入端(+)侧具有7个NMOS晶体管T7~T13。另外,在图5中,简化地在反转输入端(-)以及非反转输入端(+)分别各示出四个NMOS晶体管。
晶体管T0~T6的源极连接于端子N1,栅极连接于反转输入端(-)。晶体管T0~T5的漏极分别经由开关S0~S5连接于端子N2。晶体管T7~T13的源极连接于端子N1,栅极连接于非反转输入端(+)。晶体管T8~T13的漏极分别经由开关S8~S13连接于端子N3。换言之,开关S0~S5、S8~S13分别以串联的方式连接于晶体管T0~T5、T8~T13各自的主电流通路。晶体管T6与晶体管T7分别始终连接于端子N1与N2之间以及端子N1与N3之间。端子N2与N3连接于运算放大器41的输出端。
晶体管T6与T7形成差动对,是主要负责差动放大的晶体管。晶体管T0~T5、T8~T13是辅助地附加到晶体管T6以及T7的主差动对的晶体管。晶体管T6与T7与其他晶体管相比被制造成元件面积更大。晶体管T0~T5、T8~T13具有与20~25的加权相应的电流驱动能力即源极面积。晶体管T0~T5、T8~T13的源极面积只要是相对于主差动对能够校正其成对偏移的尺寸即可,分辨率也可以根据需要而变更。
晶体管T0~T5、T8~T13的连接状态通过开关S0~S5、S8~S13的接通/断开控制。各开关S0~S5、S8~S13的接通/断开通过供给来自数据锁存电路44的数据D0~D5和其反转数据/D0~/D5而控制。被供给了H电平的数据的开关成为接通状态,所连接的晶体管被选择而构成差动对41A。具有最大加权的晶体管T5与T8所连接的开关S5与S8的接通/断开,通过从数据锁存电路44供给的调整信号的最高位比特而被控制。通过与主差动对并联连接的晶体管的组合来调整差动对41A的电流驱动能力,从而调整运算放大器41的输入偏置电压。增加构成差动对41A的晶体管的级数,并增加基于参照电压VR与监测电压VM的比较结果的、偏置的调整次数。由此能够提高运算放大器41的偏置的调整的精度并精度良好地检测负载电流IL。
图6是表示图4所示的运算放大器41的偏置的调整方法的时序图。图6示出偏置调整部13进行逐次调整型的动作的例子。从上段开始依次示出(a)调整开始信号、(b)内部时钟信号、(c)调整期间脉冲、(d)逐次比较脉冲、(e)监测电压、(f)比较输出信号以及(g)数据锁存状态。(b)内部时钟信号由未图示的内部时钟生成电路生成。(d)逐次比较脉冲示出了比特长度为6比特的情况。逐次比较脉冲例如响应于调整期间脉冲为H电平的期间中的内部时钟信号C2~C7而生成。(e)的实线表示监测电压VM,虚线表示参照电压VR。
若从控制电路20输入调整开始信号,则调整脉冲生成电路45与调整开始信号后的内部时钟信号C1的下降同步地生成调整期间脉冲。在调整期间脉冲为H电平的期间,调整脉冲生成电路45向数据锁存电路44输出逐次比较脉冲。电压比较电路43比较监测电压VM与参照电压VR,将其比较结果(比较输出信号)向数据锁存电路44输出。数据锁存电路44在逐次比较脉冲的下降定时t1~t6获取比较结果。例如比较输出信号在监测电压VM比参照电压VR高的情况下成为H电平,在监测电压VM比参照电压VR低的情况下成为L电平。
具体而言,从加权大的晶体管起依次固定而进行电压比较。在构成了基于晶体管T6与T7的差动对的状态的定时t1,进行监测电压与参照电压的比较,根据其比较输出信号,固定晶体管T5与T8。在定时t1,监测电压VM比参照电压VR低,因此比较输出信号成为L电平。因而,在定时t1,数据锁存电路44获取“0”作为数据D5。同样,数据锁存电路44在各定时t2~t6,获取与比较输出信号相应的数据。在定时t1获取的数据D5是最高位的比特。
加权大的晶体管大幅影响偏置的调整。因而,根据电压比较电路43的比较结果,从加权大的NMOS晶体管起依次选择而确定连接关系。在图6中,依次进行了电压比较,结果示出了数据D5~D0获取0、1、0、0、1、0。由此,能够以6次的步骤结束运算放大器41的偏置的调整。偏置调整部13能够将运算放大器41的偏置调整为,使监测电压VM阶段性地收敛而成为最接近参照电压VR的电位。
在使内部时钟信号为62.5KHz的情况下,内部时钟信号的1个周期成为16μs。在以6比特的逐次比较脉冲调整差动对的情况下,至少将内部时钟信号的7个周期用于偏置的调整。在将调整开始信号的上升起到第8个周期的内部时钟信号C8的周期为止设定为偏置的调整时间的情况下,偏置的调整时间成为128μs。在诊断期间TC被设定为100ms的情况下,能够在不满足诊断时间TC的1/100的时间内调整运算放大器41的偏置,因此较为实用。
在将差动对41A的一方分别用7个NMOS晶体管构成、利用从数据锁存电路44供给的6比特的数据调整了运算放大器41的偏置的情况下,偏置的调整能够在单侧实现基于25=32色调的调整,能够以32分割的分辨率高精度地调整。
驱动电路10由偏置被调整了的运算放大器41构成,向负载17供给负载电流IL。之后,在使驱动控制部14动作之前,通过已叙述的调整的流程,进行电流检测部12的运算放大器41的偏置的调整。由此,能够在偏置被调整了的状态下向负载17供给负载电流IL,因此能够构成精度良好地检测负载电流IL的电流检测系统。
汽车的车身系统用马达一般不会始终动作,而是只在用户指示时动作,并且直到有接下来的指示为止不进行动作。由于不是从用户一指示就立即开始动作,因此对于在动作中有休止期间那样的用途,能够在动作的开始前设置调整自身的偏置的期间。在本实施方式的偏置调整电路中,能够充分地缩短自身诊断所需的时间,因此能够在每次动作时在短时间内调整偏置。另外,即使由于随时间变化、温度漂移而在输入偏置电压中有变化,也能够每次进行调整。
(第二实施方式)
图7是表示第二实施方式的电流检测系统的构成的图。本实施方式为了抑制消耗电流而设置使驱动电路10的动作停止的休止期间。本实施方式在电流检测电路11中还具有模式控制部16。模式控制部16是控制驱动电路10的休止(待机)状态与通常动作状态的电路。具体而言,模式控制部16响应于来自控制电路20的模式控制信号而解除驱动电路10的休止状态。然后,模式控制部16生成开始偏置的调整的待机解除信号而向偏置调整部13供给。未如图1以及图4所示从控制电路20输入调整开始信号。
偏置调整部13响应于待机解除信号而开始偏置的调整。模式控制部16例如也可以具有响应于电源电压Vd向电流检测电路11的施加而生成复位信号的、所谓的上电复位电路(未图示),并将上电复位电路生成的复位信号用作偏置的调整的开始信号。
在本实施方式中,响应于来自模式控制部16的信号而开始运算放大器41的偏置的调整。因而,无需从控制电路20另外供给使偏置的调整开始的调整开始信号,因此能够使控制电路20的负担减少。例如在由微机构成了控制电路20的情况下,通常,微机进行各种控制。因而,通过将偏置的调整作业的开始的控制移交给模式控制部16,能够减少微机的负担。
图8是表示第二实施方式中的偏置的调整方法的时序图。
(a)表示来自用户的工作开始指示与工作结束指示。
(b)表示控制电路20设定的时间分配。诊断期间TC响应于工作开始指示而开始。在规定时间后,成为动作期间TO。响应于工作结束指示而动作期间TO结束,返回休止状态。
(c)表示控制电路20向模式控制部16供给的模式控制信号的定时。控制电路20对于模式控制部16,在工作开始指示的定时供给解除驱动电路10的待机状态的模式控制信号,在工作结束指示的定时供给转移至待机状态的模式控制信号。电流检测电路11从工作开始指示到工作结束指示为止成为待机解除状态。
(d)表示电流检测电路11的内部状态。若成为待机解除状态且开始自动调整,则在由时钟频率与步骤数决定的自动调整期间TA内,进行电流检测部12的偏置的调整。自动调整期间TA被设定于诊断期间TC的期间内。驱动控制部14在自动调整期间TA结束后的正常动作期间TB,允许向负载17供给负载电流IL。通过在诊断期间TC内使自动调整期间TA结束,能够在正常动作期间TB利用被进行了偏置调整的驱动电路10向负载17供给负载电流IL。电流检测电路11在工作结束指示之后成为待机状态。
(e)表示模式控制部16输出的待机解除信号。
(f)表示偏置调整部13生成的调整期间脉冲。偏置调整部13响应于待机解除信号,根据构成差动对41A的NMOS晶体管的级数、内部时钟信号的周期等生成在任意的时间设定的调整期间脉冲。在调整期间脉冲为H电平的期间,进行偏置的调整。调整期间脉冲为H电平的期间中的偏置的调整与第一实施方式相同。
图9是表示偏置的调整方法的流程图。是基于图8的时序图的流程图。若驱动电路10在待机状态(S100)下被供给待机解除信号(S101:是),则开始运算放大器41的偏置调整(S102)。在未被供给待机解除信号的情况下(S101:否),维持待机状态。
在经过了调整期间TA的情况下(S103:是),允许驱动控制部14的动作(S104)。在未经过调整期间TA的情况下(S103:否),禁止来自控制电路20的驱动信号,并等待调整结束。
根据本实施方式的调整方法,在诊断时间TC内所设定的自动调整期间TA中,规定的诊断结束,并且在进行了偏置的调整之后,驱动电路10成为通常动作状态。由于在自动调整期间TA调整了偏置之后使驱动电路10动作,因此能够精度良好地检测驱动电路10的动作状态下的负载电流IL。
另外,根据本实施方式的调整方法,模式控制部16每次响应于从控制电路20供给的模式输出信号而生成待机解除信号,自动地开始偏置的调整。因而,控制电路20仅供给模式控制信号,无需供给使偏置的调整开始的调整开始信号。因此,能够减少控制电路20的负担。通过将偏置的调整的控制移交给模式控制部16,能够减少控制电路20的负担。
在实施方式中,说明了偏置调整部13具备依次锁存电压比较电路43的比较结果的数据锁存电路44的构成,但也可以构成为使用根据电压比较电路43的比较结果来更新数据的向上/向下计数器。能够构成为在向上/向下计数器的计数值收敛时,使运算放大器41的偏置的调整结束。
虽然说明了本发明的几个实施方式,但这些实施方式是作为例子而提出的,并不意图限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种方式实施,在不脱离发明的主旨的范围内,能够进行各种省略、替换、变更。这些实施方式及其变形包含在发明的范围、主旨中,并且包含在权利要求书所记载的发明与其等效的范围中。
Claims (18)
1.一种电流检测电路,具备:
电流检测部,具有运算放大器,该运算放大器比较与经由驱动元件向负载供给的负载电流成比例的第一电压和与检测电流成比例的第二电压,能够通过数据来调整输入偏置电压,所述电流检测部基于所述运算放大器的输出而输出所述检测电流;以及
调整部,根据比较了与所述检测电流成比例的监测电压和参照电压后的结果,生成所述数据而调整所述运算放大器的偏置,
所述调整部具备:
电压比较电路,比较所述监测电压与所述参照电压,输出所述数据;
脉冲生成电路,生成规定的定时信号;以及
锁存电路,响应于所述定时信号而对所述数据进行锁存。
2.根据权利要求1所述的电流检测电路,
所述调整部响应于调整开始信号而开始偏置的调整。
3.根据权利要求2所述的电流检测电路,
所述调整开始信号是解除所述电流检测部的待机状态的待机解除信号。
4.根据权利要求2所述的电流检测电路,
具备生成所述调整开始信号而向所述调整部供给的模式控制部。
5.根据权利要求4所述的电流检测电路,
所述模式控制部响应于电源电压的施加而生成所述调整开始信号。
6.根据权利要求1所述的电流检测电路,
在所述驱动元件断开时,调整所述运算放大器的偏置,在所述运算放大器的偏置的调整完成之后,使所述驱动元件接通,向所述负载供给所述负载电流。
7.根据权利要求1所述的电流检测电路,
所述运算放大器具有连接n个晶体管对而成的差动对,所述n个晶体管按照2的n次方的加权而被依次调整了电流放大率,n为0至n。
所述调整部利用所述数据使所述晶体管对的一方导通。
8.根据权利要求1所述的电流检测电路,
所述参照电压被设定为相对于接地电位成为稍靠正方向的电压的值,
所述电流检测部在所述负载电流为零的情况下,根据所述参照电压使所述检测电流流动。
9.一种电流检测系统,具备:
驱动元件,向负载供给负载电流;
驱动控制部,向所述驱动元件供给驱动信号,控制所述负载电流向所述负载的供给;
电流检测部,具有运算放大器,该运算放大器被输入与所述负载电流成比例的第一电压和与检测电流成比例的第二电压,能够通过数据来调整输入偏置电压,所述电流检测部基于所述运算放大器的输出而输出所述检测电流;
调整部,根据比较了与所述检测电流成比例的监测电压和参照电压后的结果,生成所述数据而调整所述运算放大器的偏置;以及
控制电路,向所述调整部供给使所述调整部的偏置的调整开始的调整开始信号,
所述调整部具备:
电压比较电路,比较所述监测电压与所述参照电压,输出所述数据;
脉冲生成电路,生成规定的定时信号;以及
锁存电路,响应于所述定时信号而对所述数据进行锁存。
10.根据权利要求9所述的电流检测系统,
所述调整开始信号是解除所述电流检测部的待机状态的待机解除信号。
11.根据权利要求9所述的电流检测系统,
具备生成所述调整开始信号而向所述调整部供给的模式控制部。
12.根据权利要求11所述的电流检测系统,
所述模式控制部响应于电源电压的施加而生成所述调整开始信号。
13.根据权利要求9所述的电流检测系统,
所述参照电压被设定为相对于接地电位成为稍靠正方向的电压的值,
所述电流检测部在所述负载电流为零的情况下,根据所述参照电压输出所述检测电流。
14.一种电流检测电路的调整方法,该电流检测电路具备电流检测部,该电流检测部具有运算放大器,该运算放大器放大与负载电流成比例的第一电压和与相对于所述负载电流以规定的比率减少了的检测电流成比例的第二电压的差电压,
在所述电流检测电路的调整方法中,比较与所述检测电流成比例的监测电压和参照电压,并调整所述运算放大器的偏置,以使所述监测电压与所述参照电压相等,
所述调整包括如下步骤:
比较所述监测电压与所述参照电压,输出所述数据;
生成规定的定时信号;以及
响应于所述定时信号而对所述数据进行锁存。
15.根据权利要求14所述的电流检测电路的调整方法,
响应于解除所述电流检测电路的待机状态的解除信号而开始所述运算放大器的偏置的调整。
16.根据权利要求14所述的电流检测电路的调整方法,
响应于复位信号而开始所述运算放大器的偏置的调整,所述复位信号是响应于电源电压向所述电流检测电路的施加而生成的信号。
17.根据权利要求14所述的电流检测电路的调整方法,
在输出所述负载电流的驱动元件断开时,调整所述运算放大器的偏置,在所述运算放大器的偏置的调整完成之后,使所述驱动元件接通,向所述负载供给所述负载电流。
18.根据权利要求14所述的电流检测电路的调整方法,
所述运算放大器具有将按照规定的加权调整了尺寸的多个晶体管并联连接而成的差动对,
在所述多个晶体管内从加权大的晶体管起依次选择构成所述差动对的晶体管。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020-035515 | 2020-03-03 | ||
JP2020035515A JP7293151B2 (ja) | 2020-03-03 | 2020-03-03 | 電流検出回路および電流検出システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113341194A CN113341194A (zh) | 2021-09-03 |
CN113341194B true CN113341194B (zh) | 2024-04-26 |
Family
ID=77467509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010920530.3A Active CN113341194B (zh) | 2020-03-03 | 2020-09-04 | 电流检测电路、电流检测系统以及电流检测电路的调整方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11448668B2 (zh) |
JP (1) | JP7293151B2 (zh) |
CN (1) | CN113341194B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2020-09-04 CN CN202010920530.3A patent/CN113341194B/zh active Active
- 2020-09-10 US US17/016,571 patent/US11448668B2/en active Active
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Also Published As
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---|---|
US11448668B2 (en) | 2022-09-20 |
CN113341194A (zh) | 2021-09-03 |
JP2021139665A (ja) | 2021-09-16 |
JP7293151B2 (ja) | 2023-06-19 |
US20210278444A1 (en) | 2021-09-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |