JP2016110315A - 発振回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】発振信号の周波数/デューティ比を調整又はテストするときに、電源電圧を安定化させるための時間を抑制しつつ、通常動作時には安定的な発振信号を出力できる発振回路を提供する。【解決手段】基準電圧出力部7は互いに異なる電圧値に設定された複数の基準電圧を切換出力する。電圧電流変換部13は、基準電圧出力部の基準電圧を、第1電源線100に与えられる電源電圧VDDに基づいて電流変換する。出力部21は、電圧電流変換部の出力電流に応じて発振信号を出力する。第1スイッチ8は基準電圧出力部と電圧電流変換部との間に直列接続され、第2スイッチ9及び第1コンデンサ11は、第1スイッチ8と電圧電流変換部13との間のノードN2とグランド23との間に直列接続される。また、第3スイッチ10及び第2コンデンサ12は、基準電圧出力部7と第1スイッチ8との間のノードN1と第2電源線23との間に少なくとも一つ以上接続される。【選択図】図2
Description
本発明は、発振回路に関する。
この種の発振回路として基準電圧を電源電圧に基づいて電流変換しこの出力電流に応じて発振信号を出力するものがある(例えば、特許文献1参照)。このとき、電圧電流変換時に電源電圧が変動するとジッタ特性が悪化し、出力発振信号の周波数/デューティ比の精度に影響する。このため、電源電圧の電源線(第1電源線相当)の電圧安定化のため外付けのキャパシタを付与することがあるが、大きなキャパシタを付与してしまうと、動作テスト時又は発振信号のOSCトレーニングするときに、電源電圧を安定化させるための時間が伸びてしまうため望ましくない。
本発明の目的は、発振信号のOSCトレーニングするとき又はテストするときに、電源電圧を安定化させるための時間を抑制しつつ、通常動作時には安定的な発振信号を出力できるようにした発振回路を提供することにある。
請求項1、2記載の発明によれば、次のように動作する。基準電圧出力部は互いに異なる電圧値に設定された複数の基準電圧を切換出力する。電圧電流変換部は、基準電圧出力部の基準電圧を第1電源線に与えられる電源電圧に基づいて電流変換する。出力部は、電圧電流変換部の出力電流に応じて発振信号を出力する。第1スイッチは基準電圧出力部と電圧電流変換部との間に直列接続されており、第2スイッチ及び第1容量要素は、第1スイッチと電圧電流変換部との間のノードと第2電源線との間に直列接続されている。また、第3スイッチ及び第2容量要素は、基準電圧出力部と第1スイッチとの間のノードと第2電源線との間に少なくとも一つ以上接続されている。
請求項1記載の発明によれば、発振回路が通常動作するときには第1から第3スイッチが何れもオンし、OSCトレーニングされるときには、第1スイッチ及び第2スイッチがオンしつつ第3スイッチがオフし基準電圧出力部が基準電圧を切換出力することで当該基準電圧に応じて第1容量要素を充放電して出力部の発振信号のOSCトレーニングが行われる。第1容量要素の充電後に第1スイッチがオフし第3スイッチがオンすることで第2容量要素が充電し、第2容量要素の充電後に第1スイッチをオンして通常動作にしている。すると、OSCトレーニングするときには、第2容量要素を充電する時間が不要となり、OSCトレーニング時間を極力抑制できる。また、発振回路が通常動作するときには、電圧電流変換部は基準電圧出力部の基準電圧を第1容量要素及び第2容量要素に充電した状態で電流変換できるため、出力部は、この安定化電流に応じて発振信号を出力でき、安定した発振信号を出力できる。
請求項2記載の発明によれば、発振信号の検査を行うときに第2容量要素を充電できるようになり時間を有効活用できる。
請求項3記載の発明によれば、発振回路を通常動作させるときには第1から第3スイッチの何れもオンし、テストするときには第1スイッチがオンし第2スイッチ及び第3スイッチがオフし、発振信号が正常に出力されているか否かのテスト用の発振信号を出力する。すると、テスト時には、第1容量要素及び第2容量要素を充電する時間が不要となるため、テスト時間を抑制できる。また、発振回路が通常動作するときには、電圧電流変換部は基準電圧出力部の基準電圧を第1容量要素及び第2容量要素に充電した状態で電流変換できるため、出力部は、この安定化電流に応じて発振信号を出力でき、安定した発振信号を出力できる。
請求項3記載の発明によれば、発振回路を通常動作させるときには第1から第3スイッチの何れもオンし、テストするときには第1スイッチがオンし第2スイッチ及び第3スイッチがオフし、発振信号が正常に出力されているか否かのテスト用の発振信号を出力する。すると、テスト時には、第1容量要素及び第2容量要素を充電する時間が不要となるため、テスト時間を抑制できる。また、発振回路が通常動作するときには、電圧電流変換部は基準電圧出力部の基準電圧を第1容量要素及び第2容量要素に充電した状態で電流変換できるため、出力部は、この安定化電流に応じて発振信号を出力でき、安定した発振信号を出力できる。
以下、発振回路の幾つかの実施形態について図面を参照しながら説明する。各実施形態間で同一又は類似の構成については同一又は類似の符号を付して第2実施形態以降については必要に応じて説明を省略する。
(第1実施形態)
以下に説明する各実施形態では、図1に示すように、車両用のマスタECU(Electronic Control Unit)1に接続されたスレーブ2内の発振回路3に適用した形態について説明する。スレーブ2は、発振回路3、制御部としてのCPU4、レシーバ5、及び、トランスミッタ6を備え、その一部又は全部が集積回路化されており、CPU4は外部のECU1から供給されるシンクパルス信号に基づいて、発振回路3が出力するクロック信号(発振信号相当)の周波数を変更制御可能になっている。
以下に説明する各実施形態では、図1に示すように、車両用のマスタECU(Electronic Control Unit)1に接続されたスレーブ2内の発振回路3に適用した形態について説明する。スレーブ2は、発振回路3、制御部としてのCPU4、レシーバ5、及び、トランスミッタ6を備え、その一部又は全部が集積回路化されており、CPU4は外部のECU1から供給されるシンクパルス信号に基づいて、発振回路3が出力するクロック信号(発振信号相当)の周波数を変更制御可能になっている。
図2に示すように、発振回路3は、主に、基準電圧出力部7、第1スイッチ8、第2スイッチ9、第3スイッチ10、第1コンデンサ(第1容量要素相当)11、第2コンデンサ(第2容量要素相当)12、電圧電流変換部13、カレントミラー回路14、第1及び第2コンパレータ15及び16、第3コンデンサ17、第4コンデンサ18、有効/無効切換回路19、並びに、フリップフロップ回路20を備える。ここで、カレントミラー回路14、第1及び第2コンパレータ15及び16、第3及び第4コンデンサ17及び18、並びに、有効/無効切換回路19は、出力部21を構成する。この出力部21は、電圧電流変換部13の出力電流に応じて発振信号を出力する。
基準電圧出力部7は、電源端子22及びグランド(第2電源線相当)23間に抵抗24a、24b…24c及び24dを複数直列接続して構成され、例えばバンドギャップリファレンス回路により出力される高精度な基準電圧VBGRを、複数の抵抗24a、24b…24c及び24dにより分圧し、スイッチ25a、25b…25c及び25dを通じて出力する。スイッチ25a、25b…25c及び25dは、その一方が同一ノードN1に共通接続され、その他方が隣り合う抵抗24a及び24b間、…、24c及び24d間のノードに接続され、互いに異なる複数の基準電圧を切換出力可能になっている。
第1スイッチ8は、基準電圧出力部7と電圧電流変換部13との間に直列接続されている。この第1スイッチ8は、基準電圧出力部7と電圧電流変換部13の入力段容量との間を通電/非通電するためのスイッチであり、電圧電流変換部13への入力電圧を通電/非通電切換するために用いられる。第1スイッチ8はCPU4によりオンオフ制御可能に構成されている。
第2スイッチ9及び第1コンデンサ11は、第1スイッチ8と電圧電流変換部13との間のノードN2とグランド23との間に直列接続されている。これらの第2スイッチ9及び第1コンデンサ11は、必要なとき(例えば、通常動作時、OSCトレーニング時)において、電圧電流変換部13の入力電圧を安定化するために設けられており、第1コンデンサ11は数pF程度の値で設定される。第2スイッチ9はCPU4によりオンオフ制御可能に構成されている。
第3スイッチ10及び第2コンデンサ12は基準電圧出力部7と第1スイッチ8との間のノードN1とグランド23との間に接続されており、電圧電流変換部13の入力電圧を安定化するために設けられており、第2コンデンサ12は数pF程度の値で設定される。
図1に示す例では、第3スイッチ10及び第2コンデンサ12は、単位スイッチ38a…38b及び単位コンデンサ39a…39bをそれぞれ直列接続したものを複数並列接続して構成している。第3スイッチ10もまたCPU4によりオンオフ制御可能に構成されている。なお、この第3スイッチ10及び第2コンデンサ12は、少なくとも一つ以上、基準電圧出力部7と第1スイッチ8との間のノードN2とグランド23との間に直列接続されていれば良い。
電圧電流変換部13は、例えばオペアンプ27、Nチャネル型のMOSトランジスタ28、抵抗29、を図示形態に組み合わせて構成され、基準電圧出力部7の基準電圧をオペアンプ27の非反転入力端子に入力し、オペアンプ27の出力にMOSトランジスタ28のゲートを接続すると共に、MOSトランジスタ28のソースから抵抗29を介してグランド23に通電すると共に、抵抗29の電圧をオペアンプ27の反転入力端子にフィードバック接続して構成される。これにより、電圧電流変換部13は、基準電圧出力部7の出力電圧を電流変換出力できる。
電圧電流変換部13の出力は、カレントミラー回路14に入力される。カレントミラー回路14は、例えば、入力トランジスタ30と、入力トランジスタ30にカレントミラー接続された第1及び第2の出力トランジスタ31及び32とを備える。入力トランジスタ30と第1出力トランジスタ31のミラー比は所定の第1値に設定され、入力トランジスタ30と第2出力トランジスタ32のミラー比は所定の第2値に設定されている。これらの第1値及び第2値は、互いに同一値に設定されていても異なる値に設定されても良い。
第1出力トランジスタ31の出力電流は第3コンデンサ17に入力される。第3コンデンサ17は第1出力トランジスタ31の出力電流を充電する。第1コンパレータ15は、バンドギャップリファレンス電圧VBGRと第3コンデンサ17の充電電圧とを比較し、この比較結果をフリップフロップ回路20の第1入力端子に出力する。
第2出力トランジスタ32の出力電流は第4コンデンサ18に入力される。第4コンデンサ18は、第2出力トランジスタ32の出力電流を充電する。第2コンパレータ16は、バンドギャップリファレンス電圧VBGRと第4コンデンサ18の充電電圧とを比較し、この比較結果をフリップフロップ回路20の第2入力端子に出力する。
フリップフロップ回路20は、例えばRSフリップフロップにより構成され、第1入力端子(セット端子)に「L」パルスが入力されると、第1レベル「H」を出力端子OUTに出力し続け、第2入力端子(リセット端子)に「L」パルスが入力されると第2レベル「L」を出力端子に出力し続ける。
カレントミラー回路14を構成する第1出力トランジスタ31、第3コンデンサ17、及び、第1コンパレータ15は、第1時間計測部33として動作する。第2出力トランジスタ32、第4コンデンサ18、及び、第2コンパレータ16は、第2時間計測部34として動作する。
有効/無効切換回路19は、例えばNチャネル型のMOSトランジスタ35、36、及びNOTゲート37を組み合わせて構成され、出力端子OUTの出力論理レベルに応じて、第3、第4コンデンサ17、18の端子を開放/短絡することで、第1時間計測部33及び第2時間計測部34の有効/無効を切換える。例えば、出力端子OUTの出力レベルが第1レベル「H」のときには、MOSトランジスタ35がオンすることで、第3コンデンサ17の充電電圧が放電され、第1時間計測部33の動作が無効化される。また同時に、MOSトランジスタ36がオフすることで、第4コンデンサ18の端子間が開放され、第2時間計測部34の動作が有効化される。
逆に、出力端子OUTの出力論理レベルが第2レベル「L」のときには、MOSトランジスタ36がオンすることで、第4コンデンサ18の充電電圧が放電され、第2時間計測部34の動作が無効化される。また同時に、MOSトランジスタ35がオフすることで、第3コンデンサ17の端子間が開放され、第1時間計測部33の動作が有効化される。
上記構成の作用について説明する。図3は、通常動作時にマスタECU1からスレーブ2に送信されるシンクパルス信号とスレーブ2内の発振回路3のクロック信号との関係をタイミングチャートにより概略的に示している。マスタECU1は、スレーブ2に各種コマンドを送信することにより、スレーブ2がこのコマンドに応じた処理を実行するが、マスタECU1はこのコマンドを送信するときに、図3に示すシンクパルス信号を所定周期(例えば500[μs])の間隔で送信する。
スレーブ2は、CPU4の内蔵カウンタによりクロック信号のパルスをカウントしながらシンクパルス信号を所定回数(例えば8回)受信すると、この次のシンクパルスを受信するまでの間、ECU1から入力されるコマンドをブロックし、次回のシンクパルスを受信する前までOSCトレーニング期間T2とする(図3の期間T2参照)。
OSCトレーニング期間T2は、発振回路3のクロック信号(発振信号)が所望の周波数で発生するか確認するために設けられる期間となっている。CPU4は、ECU1から入力されるシンクパルスの間隔、及び、クロック信号のパルスのカウント数を用い、シンクパルス間隔に基づくカウント理論値と実際のカウント数とを比較することで、クロック信号が所望の周波数範囲で発生しているか否かを判定する(図3の期間T3参照)。
このとき、CPU4は、算出される周波数が所定範囲内であれば、そのまま次のマスタECU1−スレーブ2間の通信処理に移行するが、算出される周波数が所定範囲外となっていれば、次のマスタECU1−スレーブ2間の通信処理に移行する前に、発振回路3の発振周波数を調整することでクロック信号の周波数をより高い精度に調整する。例えばOSCトレーニング前において、クロック信号が目標周波数に対し例えば±5[%]程度の周波数誤差であれば、OSCトレーニング後には目標周波数に対し例えば±1[%]程度の周波数誤差に調整できる。
以下、発振回路3の通常状態における動作について図4を参照しながら説明する。通常動作中には、出力端子OUTのレベルが第1レベル「H」又は第2レベル「L」の何れかとなっている。このため、有効/無効切換回路19は、MOSトランジスタ35、36のうち何れか一方をオンし他方をオフする。ここでは、ある時刻t0において、出力端子OUTが第2レベル「L」レベルとされており、有効/無効切換回路19のMOSトランジスタ36がオンすると共にMOSトランジスタ35がオフしていることを想定して説明する。このとき、第1時間計測部33は有効化されており、第2時間計測部34は無効化されている。
通常動作中には、CPU4は、基準電圧出力部7の中のスイッチ25a、25b…25c、25dのうち何れか一つをオン制御し(ここでは25cと想定)、その他のスイッチ25a、25b…25d(25c除く)をオフ制御する。すると、基準電圧出力部7は、バンドギャップリファレンス電圧VBGRの分圧電圧を出力する。また図6に示すように、CPU4は、第1〜第3スイッチ8〜10の全てをオン制御する。このため、第1コンデンサ11及び第2コンデンサ12は、基準電圧出力部7が出力するノードN1の電圧を充電する。この電圧は電圧電流変換部13に入力される。
電圧電流変換部13は、この入力された基準電圧を電流変換し、電流信号をカレントミラー回路14に出力する。カレントミラー回路14は、入力トランジスタ30と第1出力トランジスタ31との間のミラー比に応じた定電流について、第1出力トランジスタ31を通じて第3コンデンサ17に出力する。MOSトランジスタ35がオフしているため、第3コンデンサ17は定電流を充電する。第1出力トランジスタ31の出力電流は一定であるため、第3コンデンサ17の充電電圧は時間経過に伴い第1勾配A1で例えば線形的に上昇する(図4のTA1期間参照)。
また、カレントミラー回路14は、入力トランジスタ30及び第2出力トランジスタ32間のミラー比に応じた電流について、第2出力トランジスタ32を通じて第4コンデンサ18に出力するが、MOSトランジスタ36がオンしているため、この電流はMOSトランジスタ36を通じて流れ、第4コンデンサ18には充電されない。
この期間TA1中では、第3コンデンサ17の充電電圧が上昇するが、この充電電圧がバンドギャップリファレンス電圧VBGRに達すると、第1コンパレータ15の出力が反転する。フリップフロップ回路20は、この第1コンパレータ15の反転出力レベル「L」を入力すると、出力を反転することで出力端子OUTのレベルを反転する。ここでは、出力端子OUTが第2レベル「L」から第1レベル「H」に遷移する(図4のt1参照)。
出力端子OUTのレベルが第1レベル「H」に遷移すると、MOSトランジスタ35がオンしMOSトランジスタ36がオフする。すると、第3コンデンサ17の充電電圧がMOSトランジスタ35を通じて放電され、第1コンパレータ15の出力は再度第1レベル「H」に変化する。第3コンデンサ17の充電電圧が急峻に低下し0Vに固定される。このため第1時間計測部33の動作が無効化される。これと同時に、第4コンデンサ18の端子間が開放されるため、第4コンデンサ18はカレントミラー回路14の第2出力トランジスタ32を通じて充電開始する。第2出力トランジスタ32の出力電流は一定であるため、第4コンデンサ18の充電電圧は時間経過に伴い例えば線形的に上昇する(図4のTA2期間参照)。
この期間TA2中では第4コンデンサ18の充電電圧が上昇するが、この充電電圧がバンドギャップリファレンス電圧VBGRに達すると、第2コンパレータ16の出力が反転する。フリップフロップ回路20は、この第2コンパレータ16の反転出力レベル「L」を入力すると、出力を反転することで出力端子OUTのレベルを反転する。ここでは、出力端子OUTが、第1レベル「H」から第2レベル「L」に遷移する(図4のt2参照)。
出力端子OUTが第2レベル「L」に遷移すると、MOSトランジスタ35がオフしMOSトランジスタ36がオンする。すると、第4コンデンサ18の充電電圧がMOSトランジスタ36を通じて放電され、第2コンパレータ16の出力は再度「H」に変化する。第4コンデンサ18の充電電圧が急峻に低下し0Vに固定されるため、第2時間計測部34の動作が無効化される。これと同時に、第3コンデンサ17の端子間が開放されるため、第3コンデンサ17はカレントミラー回路14の第1出力トランジスタ31を通じて充電開始する。この動作は前述の期間TA1中の動作と同様であり、この後、第1時間計測部33、第2時間計測部34は、期間TA1、TA2の動作を交互に繰り返す。通常状態においてはこのように動作する。この結果、電圧電流変換部13の入力容量を常に大きくできるため、電圧電流変換部13の入力電圧を安定化でき、これにより、クロック信号のジッタ発生を抑制できる。
次に、OSCトレーニング処理動作を説明する。発振回路3は、通常動作中において出力端子OUTからクロック信号をCPU4に出力するが、図3に示すように、OSCトレーニング期間T2に差しかかると、CPU4はシンクパルス信号間隔に基づくカウント理論値と実際のカウント数とを比較することで、クロック信号が所望の周波数範囲で発生しているか否かを判定し、クロック信号の周波数を調整する(図3の期間T3)。このとき、CPU4は第1スイッチ8〜第3スイッチ10を切換制御し、電圧電流変換部13の入力容量を変化させる。
通常動作時には、CPU4は、第1スイッチ8〜第3スイッチ10をオン制御しクロックをカウントする(例えば図5のTa1期間、図6参照)。OSCトレーニング時には、まずCPU4は、出力部21の発振信号の特性を調整する期間に入る前に、第1スイッチ8及び第2スイッチ9をオン制御し第3スイッチ10をオフ制御する(図5のTb0期間、図7参照)。このとき、電圧電流変換部13の入力電圧の入力容量値が通常動作時より少なくなるため、充電時間(例えば充電完了時間)が通常動作時に比較して短くなる。
そしてCPU4は、第1スイッチ8〜第3スイッチ10のオンオフ状態を保持したまま、出力部21が出力する発振信号の周波数を必要に応じて調整制御する(図5のTb前半期間、図8参照)。OSCトレーニング時において、CPU4は、クロック信号が所望の周波数範囲を満たしていないときに、基準電圧出力部7のスイッチ25a〜25dを選択的にオンオフ制御することで基準電圧出力部7の出力電圧を切換出力する。これにより出力部21が出力するクロック信号の周波数を調整できる。このときオペアンプ27の非反転入力端子に接続された容量は第1コンデンサ11の容量値となり、第1及び第2コンデンサ11及び12の合成容量値より小さくなる。このため、第1コンデンサ11が基準電圧出力部7の出力電圧を充放電したときには、電圧電流変換部13の入力電圧が所定電圧範囲に短時間で落ち着き、この結果、OSCトレーニング(周波数調整)を短時間で行うことができる。
この後、CPU4は第1スイッチ8をオフ制御する(図5のTb後半期間、図9参照)。この結果、オペアンプ27の非反転入力端子が開放され当該入力電圧が保持される。この後、CPU4はクロック信号をカウントする期間(図5のTa2期間参照)に入る。このときCPU4は第3スイッチ10をオン制御する(図10参照)。これにより、クロック信号のカウント時間中に第2コンデンサ12を充電できるようになり時間を有効活用できる。また、CPU4は第1スイッチ8がオフしている間に第3スイッチ10を切換えているため、オペアンプ27の非反転入力端子の入力電圧の急激な変動を防止できる。
また、例えば所定時間を経過した充電完了後、CPU4は、第1スイッチ8をオン制御する(図6参照)。これにより第1スイッチ8〜第3スイッチ10の制御状態を全てオン状態とすることができ、通常状態に戻すことができる。
<まとめ>
例えば電源端子100(第1電源線)に外付け容量(例えば容量値1μF)が付与されておらず、この電源端子100の電源電圧VDDを発振回路3の電源として使用すると、オペアンプ27の入力段と電源端子100との間に存在する寄生容量の影響が大きくなり、出力部21が出力するクロック信号のジッタ特性が悪化する虞がある。そこで、電圧電流変換部13の入力段であるオペアンプ27の非反転入力端子とグランド(第2電源線)23との間に例えば数pF程度の第1コンデンサ(第1容量要素)11を付加することで、電源端子100と電圧電流変換部13の入力段との間の寄生容量の影響を小さくすることができ、クロック信号のジッタの発生を抑制できる。したがって、第1コンデンサ11を電源端子100に付与される外付け容量に代えて設ける場合には、発振回路3を集積回路により構成したとしても当該第1コンデンサ11の容量値を小さく構成でき回路面積を大幅に縮小化できる。
例えば電源端子100(第1電源線)に外付け容量(例えば容量値1μF)が付与されておらず、この電源端子100の電源電圧VDDを発振回路3の電源として使用すると、オペアンプ27の入力段と電源端子100との間に存在する寄生容量の影響が大きくなり、出力部21が出力するクロック信号のジッタ特性が悪化する虞がある。そこで、電圧電流変換部13の入力段であるオペアンプ27の非反転入力端子とグランド(第2電源線)23との間に例えば数pF程度の第1コンデンサ(第1容量要素)11を付加することで、電源端子100と電圧電流変換部13の入力段との間の寄生容量の影響を小さくすることができ、クロック信号のジッタの発生を抑制できる。したがって、第1コンデンサ11を電源端子100に付与される外付け容量に代えて設ける場合には、発振回路3を集積回路により構成したとしても当該第1コンデンサ11の容量値を小さく構成でき回路面積を大幅に縮小化できる。
そして、CPU4が、OSCトレーニングするときには、第1スイッチ8及び第2スイッチ9をオン制御しつつ第3スイッチ10をオフ制御し、第1コンデンサ11の充電完了後に第1スイッチ8をオフ制御して出力部21の発振信号のOSCトレーニングを行い、当該OSCトレーニングしている間に第3スイッチ10をオン制御することで第2コンデンサ12に充電し、第2コンデンサ12の充電後に第1スイッチ8をオン制御して通常動作に戻している。
このため、OSCトレーニングを行う前に、電圧電流変換部13の入力容量を少なくすることで当該入力容量の充電時間を低減でき、OSCトレーニングを早期に開始できる。また、クロック信号のカウント時間Ta中に第2コンデンサ12を充電できるようになり、時間を有効活用できる。また、第1スイッチ8がオフしている間に第3スイッチ10がオンに切換えられて第2コンデンサ12を充電している。このため、その後第1スイッチ8をオンに切換えてもオペアンプ27の非反転入力端子の入力電圧の急激な変動を防止できる。
例えば、OSCトレーニングにおいて、第2及び第3スイッチ9及び10が共にオンされていると、第1及び第2コンデンサ12及び13の合成容量がオペアンプ27の入力容量となるが、電圧電流変換部13の入力容量が大きくなりすぎる。すると、この入力容量の増加に伴い電圧電流変換部13の入力電圧安定化時間が長くなり、OSCトレーニング時の調整時間が伸びやすくなる。したがって、発振特性を調整開始してから内部クロックをカウントするまでの時間が長期化してしまう虞がある。
本実施形態によれば、OSCトレーニングするときには、CPU4がまず第1スイッチ8及び第2スイッチ9をオン制御しつつ第3スイッチ10をオフ制御し基準電圧出力部7が基準電圧を切換出力して第1コンデンサ11を充放電することで出力部21のクロック信号のOSCトレーニングが行われる。その後にCPU4が第1スイッチ8をオフ制御して第3スイッチ10をオン制御することで第2コンデンサ12に充電し、第2コンデンサ12の充電後に第1スイッチ8をオン制御して通常動作に戻している。このため、OSCトレーニングを行う前に電圧電流変換部13の入力容量値を少なくすることができ、当該入力容量の充電時間を低減でき、OSCトレーニング時間を極力抑制できる。
また、CPU4がクロック信号をカウントする時間Ta2中(発振信号の検査中)に第2コンデンサ12を充電できるようになり時間を有効活用でき、通常動作に戻すときには電圧電流変換部13の入力容量値を多くでき、安定したクロック信号を出力できる。また、第1スイッチ8がオフしている間に第3スイッチ10をオンに切換制御しているため、オペアンプ27の非反転入力端子の入力電圧の急激な変動を防止できる。
(第2実施形態)
図11は第2実施形態に係る追加説明図を示す。第2実施形態は、テスト時における特徴部分について説明する。図2に示す発振回路3は半導体ウェハを用いて量産され、ウェハテストが行われた後に工場出荷される。本実施形態に示す発振回路3の場合、半導体ウェハに発振回路3が形成された後、電源入力、回路接続、発振出力などが正常になされているかを確認する。このようなテストのうち、例えば発振信号の出力テストを行う場合には、例えばテスト制御部(例えばCPU4)が基準電圧出力部7のスイッチ25a〜25dを順次オンオフ切換えし、基準電圧出力部7の出力電圧を切換出力し、出力部21が発振信号を正常出力するか否か、所定の発振周波数となるか否か、を検査項目とする場合がある。テストするときには量産用に大量の回路をテストするため、できる限り効率的に行うことが望ましい。
図11は第2実施形態に係る追加説明図を示す。第2実施形態は、テスト時における特徴部分について説明する。図2に示す発振回路3は半導体ウェハを用いて量産され、ウェハテストが行われた後に工場出荷される。本実施形態に示す発振回路3の場合、半導体ウェハに発振回路3が形成された後、電源入力、回路接続、発振出力などが正常になされているかを確認する。このようなテストのうち、例えば発振信号の出力テストを行う場合には、例えばテスト制御部(例えばCPU4)が基準電圧出力部7のスイッチ25a〜25dを順次オンオフ切換えし、基準電圧出力部7の出力電圧を切換出力し、出力部21が発振信号を正常出力するか否か、所定の発振周波数となるか否か、を検査項目とする場合がある。テストするときには量産用に大量の回路をテストするため、できる限り効率的に行うことが望ましい。
そこでテストするときには、CPU4が第1スイッチ8をオン制御し、第2及び第3スイッチ9及び10をオフ制御した状態で、出力部21がテスト用のクロック信号を出力するようにすると良い。この結果、電圧電流変換部13を構成するオペアンプ27の入力容量値が最小限となり、基準電圧出力部7の出力電圧を充電する時間がほとんど不要となる。これにより、スイッチ25a〜25dを切換えて基準電圧出力部7の出力基準電圧を変化させてからオペアンプ27の入力電圧が安定するまでの時間を短縮でき効率的にテストを実行できる。テスト実行後には、テスト制御部(例えばCPU4)により第1スイッチ8〜第3スイッチ10をオンした後に出荷すればよい。
本実施形態では、テスト時に効率的に検査できる。また本実施形態では、第1実施形態で説明した図2に示す回路を用いているため、第1実施形態と同一の効果も備える。
本実施形態では、テスト時に効率的に検査できる。また本実施形態では、第1実施形態で説明した図2に示す回路を用いているため、第1実施形態と同一の効果も備える。
(他の実施形態)
前述実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に示す変形または拡張が可能である。
前述の実施形態では、周波数を調整する形態を示したが、デューティ比を調整する形態に適用しても良い。第1容量要素として第1コンデンサ11、第2容量要素として第2コンデンサ12を用いて説明したが、例えば集積回路内に構成する場合には半導体基板に生じる寄生容量など様々な容量要素を適用できる。制御部はCPU4に限られない。各実施形態の構成は、適宜組み合わせて適用できる。電源端子100に外付け容量を付与する形態に適用しても良い。
前述実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に示す変形または拡張が可能である。
前述の実施形態では、周波数を調整する形態を示したが、デューティ比を調整する形態に適用しても良い。第1容量要素として第1コンデンサ11、第2容量要素として第2コンデンサ12を用いて説明したが、例えば集積回路内に構成する場合には半導体基板に生じる寄生容量など様々な容量要素を適用できる。制御部はCPU4に限られない。各実施形態の構成は、適宜組み合わせて適用できる。電源端子100に外付け容量を付与する形態に適用しても良い。
前述実施形態に示したOSCトレーニングでは、クロック信号(発振信号)の周波数を調整する形態を示したが、周波数に限られずデューティ比を調整する形態に適用しても良い。この場合、第1時間計測部33、第2時間計測部34の特性(例えばコンデンサ17、18の容量値)を個別に変更すると良い。
特許請求の範囲に記載した構成要素に符号を対応して付しているが、これは特許請求の範囲内の構成要素と明細書中に記載した構成例との対応関係を理解しやすくするために記載したものであり、請求項に係る発明はこの構成要素に限られるものではない。
図面中、3は発振回路、4はCPU(制御部)、8は第1スイッチ、9は第2スイッチ、10は第3スイッチ、11は第1コンデンサ(第1容量要素)、12は第2コンデンサ(第2容量要素)、13は電圧電流変換部、21は出力部、23はグランド(第2電源線)、100は電源端子(第1電源線)、N1、N2はノード、を示す。
Claims (3)
- 第1電源線(100)と第2電源線(23)との間に構成され、
互いに異なる複数の基準電圧を切換出力可能な基準電圧出力部(7)と、
前記基準電圧出力部の基準電圧を前記第1電源線に与えられる電源電圧(VDD)に基づいて電流変換する電圧電流変換部(13)と、
前記電圧電流変換部の出力電流に応じて発振信号を出力する出力部(21)と、
前記基準電圧出力部と前記電圧電流変換部との間に直列接続された第1スイッチ(8)と、
前記第1スイッチと前記電圧電流変換部との間のノード(N2)と前記第2電源線との間に直列接続された第2スイッチ(9)及び第1容量要素(11)と、
前記基準電圧出力部と前記第1スイッチとの間のノード(N1)と前記第2電源線との間に少なくとも一つ以上だけ直列接続された第3スイッチ(10)及び第2容量要素(12)と、を備え、前記第1から第3スイッチが制御部(4)によりオンオフ制御可能でOSCトレーニングが可能に構成され、
通常動作するときには、前記第1から第3スイッチはその何れもオンして前記出力部から発振信号を出力させ、
OSCトレーニングするときには、
前記第1スイッチ及び第2スイッチがオンしつつ前記第3スイッチがオフし前記基準電圧出力部が基準電圧を切換出力することで前記基準電圧出力部の基準電圧に応じて前記第1容量要素が充放電して前記出力部の発振信号のOSCトレーニングが行われ、当該第1容量要素が充放電した後に前記第1スイッチがオフし前記第3スイッチがオンすることで前記第2容量要素が充電し、前記第2容量要素の充電後に前記第1スイッチがオンして前記通常動作する、ことを特徴とする発振回路。 - 前記OSCトレーニングするときには、
前記第1スイッチがオフし前記第3スイッチがオンすることで前記第2容量要素が充電している間に前記出力部が出力する発振信号の検査を行うことを特徴とする請求項1記載の発振回路。 - 第1電源線(100)と第2電源線(23)との間に構成され、
互いに異なる複数の基準電圧を切換出力可能な基準電圧出力部(7)と、
前記基準電圧出力部の基準電圧を前記第1電源線に与えられる電源電圧(VDD)に基づいて電流変換する電圧電流変換部(13)と、
前記電圧電流変換部の出力電流に応じて発振信号を出力する出力部(21)と、
前記基準電圧出力部と前記電圧電流変換部との間に直列接続された第1スイッチ(8)と、
前記第1スイッチと前記電圧電流変換部との間のノード(N2)と前記第2電源線との間に直列接続された第2スイッチ(9)及び第1容量要素(11)と、
前記基準電圧出力部と前記第1スイッチとの間のノード(N1)と前記第2電源線との間に少なくとも一つ以上だけ接続された第3スイッチ(10)及び第2容量要素(12)と、を備え、制御部(4)により前記第1から第3スイッチをオンオフ制御可能に構成され、
通常動作するときには前記第1から前記第3スイッチはその何れもオンし、
テストされるときには前記第1スイッチがオンし前記第2スイッチ及び前記第3スイッチがオフし前記出力部が発振信号を正常に出力しているか否かのテスト用の発振信号を出力する、ことを特徴とする発振回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014245831A JP2016110315A (ja) | 2014-12-04 | 2014-12-04 | 発振回路 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2014245831A JP2016110315A (ja) | 2014-12-04 | 2014-12-04 | 発振回路 |
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JP2016110315A true JP2016110315A (ja) | 2016-06-20 |
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ID=56122270
Family Applications (1)
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JP2014245831A Pending JP2016110315A (ja) | 2014-12-04 | 2014-12-04 | 発振回路 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2016110315A (ja) |
-
2014
- 2014-12-04 JP JP2014245831A patent/JP2016110315A/ja active Pending
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