CN112924455A

CN112924455A - 检测系统

Info

Publication number: CN112924455A
Application number: CN201911232478.6A
Authority: CN
Inventors: 徐荣祥
Original assignee: Chun His Co ltd
Current assignee: Chun His Co ltd
Priority date: 2019-12-05
Filing date: 2019-12-05
Publication date: 2021-06-08

Abstract

本发明为一种检测系统，包括一灯源装置环设于一检测装置，以照明检测装置，其中灯源装置包括有一灯座内设有至少一基板，基板上排列设有复数排发光元件，灯座上更设有一扩散板，以覆盖基板以及复数排发光元件。一控制装置连接检测装置以及基板，以控制检测装置以及所有发光元件发光，或控制复数排发光元件间隔发光，令复数排发光元件发射的光源呈现条纹状光源。本发明可提供全方位的光源，且光源可以条纹状的方式呈现，能避免待测物过度反光，可提升的检测的准确率。

Description

检测系统

技术领域

本发明有关一种检测技术，特别是指一种可提供良好照明的检测系统。

背景技术

过去传统制造商在检验出厂的产品是否具有缺陷时，仅能以人工的方式，逐一挑选检查产品，但这样的检验方式不但耗时，更耗费许多人力。随着科技日新月异，科技不断的进步，目前已开始发展出利用光学进行产品检验的技术，该技术透过摄影机拍摄产品的影像后，利用后端仪器或管理者对影像直接进行检测，能有效减少检验的时间。

一般在利用影像检测待测物的装置结构包括有一检视座，检视座的上方设有固定式的发光装置以及摄影机。检测时管理者将待测物放置在检视座上，并操作发光装置照明待测物后，操作摄影机拍摄待测物的影像，以产生检测影像提供给管理者判断待测物的情况。其缺点在于，发光装置仅设置在一固定位置，使光源的照射面较不完整，且摄影机以及检视座皆采固定式，在检测待测物时，无法任意转动摄影机或待测物，使得检测时容易出现检测死角，检测效果不佳。

再者，若待测物的表面为高反射的金属表面时，在一般发光装置的光线在照射下，待测物的表面即使具有不正常的凹陷，也会反射回高亮度的光线，造成管理者无法观察到表面不正常的凹陷，因而遗漏掉产品的缺陷。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种检测系统，其可在待测物周围环设光源，以提供全方位的光源，且光源以条纹状呈现，能避免光线不当地被待测物反射，可提升检测的准确率。

本发明的另一目的在于提供一种检测系统，可有效检测待测物的各种角度，避免出现死角。

为达上述的目的，本发明提供一种检测系统包括，一检测装置以及一灯源装置连接一控制装置，其中灯源装置环设检测装置，以照明检测装置。灯源装置的结构包括一灯座，灯座内设有至少一基板，且基板上排列设有复数排发光元件，以及一扩散板设置在灯座上，以覆盖基板及复数排发光元件；控制装置则用以控制检测装置作动，以及所有发光元件发光，或者控制复数排发光元件间隔发光，令复数排发光元件发射的光源呈现条纹状光源。

其中灯源装置为半圆形灯源装置，以环绕于检测装置。

检测系统更包括一侧光源装置，相对设置于灯源装置另一端，且连接控制装置，以接收控制装置的控制发光。

其中检测装置更包括一移动装置连接控制装置，移动装置可供夹持一待测物，并根据控制装置的控制转动待测物；一摄影装置连接控制装置，且接收控制装置的控制拍摄不同角度的待测物的至少一检测影像，并将检测影像传递至控制装置；一照明装置设置于摄影装置的镜头一侧，且连接控制装置，并接收控制装置的控制以提供光源。

其中检测装置更包括一固定架以供设置一待测物；一移动装置连接控制装置，移动装置可供夹持一摄影装置，并根据控制装置的控制，移动摄影装置沿着待测物边缘，以拍摄至少一检测影像，摄影装置亦连接控制装置，令摄影装置可将检测影像传递至控制装置；一照明装置设置于摄影装置的镜头一侧，且连接控制装置，并接收控制装置的控制以提供光源。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的立体图。

图2为本发明的系统方块图。

图3为本发明的灯源装置透视图。

图4A为本发明的灯源装置所有发光元件发光示意图。

图4B为本发明的灯源装置所有发光元件发光照射至待测物的检测影像示意图。

图5A为本发明的灯源装置间隔排发光元件发光示意图。

图5B为本发明的灯源装置间隔排发光元件发光照射至待测物的检测影像示意图。

图6为本发明的另一实施例立体图。

图7为本发明的另一实施例系统方块图。

符号说明：1、检测系统；10、检测装置；12、移动装置；122、投光器；14、摄影装置；142、照明装置；20、灯源装置；21、架体；22、灯座；24、基板；26、发光元件；28、扩散板；29、侧光源装置；30、控制装置；40、待测物；2、检测系统；50、检测装置；52、固定架；54、移动装置；56、摄影装置；562、照明装置。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明提供一种检测系统，其可提供全方位的光源，且光源能以条纹状的方式呈现，可避免待测物过度反光，以提升检测的准确率，且能检测待测物的各种角度，避免出现检测死角。

请参照图1至图3，以详细说明本发明的检测系统1结构如何达到上述的功效，检测系统1包括一检测装置10、一灯源装置20、一侧光源装置29以及一控制装置30，控制装置30可为计算机装置，电性连接并控制检测装置10、灯源装置20以及侧光源装置29。检测装置10为提供拍摄待测物影像的设备，检测装置10所拍摄的影像可提供给控制装置30，以进行待测物的检测。灯源装置20安装在一架体21上，灯源装置20可提供环绕等距光源，较佳的灯源装置20可为半圆形灯源装置环设检测装置10，进而达到无死角照明检测装置10中待测物的目的，以提供光源进行检测。侧光源装置29则设置在架体21上，且相对灯源装置20的另一端，用以辅助灯源装置20提供额外的光源。

请配合参照图3，灯源装置20包括有一灯座22，灯座22内设有至少一基板24可为电路板，且基板24上排列设有复数排发光元件26，发光元件26可为发光二极管，如白光发光二极管，灯座22上更设有一扩散板28，以覆盖基板24以及复数排发光元件26；灯座22内的基板24电性连接控制装置30，令控制装置30可控制基板24上所有发光元件26发光，或者仅控制复数排发光元件26间隔发光，令复数排发光元件26发射的光源呈现条纹状光源，进而降低亮度。

接着请参照图1以及图2，以说明检测装置10的结构，检测装置10包括有一移动装置12以及一摄影装置14，移动装置12及摄影装置14皆电性连接控制装置30，并接收控制装置30的控制，本实施例的移动装置12为机器手臂可供夹持一待测物40，控制装置30可控制移动装置12移动并转动待测物40的角度；移动装置12上更设有一投光器122，其电性连接并接收控制装置30的控制开关，投光器122开启后可对准待测物40照明，并随着待侧物40移动。摄影装置14则用以拍摄待测物40的影像，且摄影装置14的镜头一侧更设有一照明装置142，照明装置142连接并接收控制装置30的控制，照明装置142可提供光源给摄影装置14进行影像的拍摄。在进行检测时控制装置30控制移动装置12转动待测物40，同时控制装置30会控制摄影装置14拍摄多张不同视角的待测物40的检测影像后，再将检测影像传递至控制装置30中，令控制装置30自动判断检测影像中的待测物40是否具有缺陷，以及符合产品出厂标准，或者控制装置30将检测影像提供给管理者，令管理者针对检测影像进行人工判断。

接下来请配合参照图2、图4A、图4B、图5A以及图5B，以说明灯源装置20的灯光状态对于检测影像的影响。本实施例举例待测物40为具高反射率材料特性，如具有光滑金属表面的物件，首先在图4A中，当控制装置30控制灯源装置20中的所有发光元件26开启，此时灯源装置20投射的亮度过大，如图4B所示，待测物40的凹陷处仍会反射高亮度的光线，最终导致检测影像所呈现的凹陷处不明显，因此该检测影像无论是经由控制装置30自动判断，或是人工判断皆会产生失误。

对此，当待测物40为高反射表面的物体时，请参照图5A，本发明检测系统1的控制装置30可控制灯源装置20的基板24上的复数排发光元件26间隔发光，以降低光源亮度，此时拍摄出来的检测影像如图5B所示，光线投射在待测物40的凹陷处呈现出清晰的条纹状，从而有效地提升待测物40表面形状的精确度。

除上述实施例之外，本发明更提供第二实施例，请参照图6与图7，本实施例的检测系统2包括有一检测装置50、一灯源装置20以及一控制装置30。检测装置50为提供拍摄待测物影像的设备，所拍摄的影像可提供给控制装置30，以对待测物40进行检测。灯源装置20环设检测装置50，以提供环绕等距光源，较佳的灯源装置20可为半圆形灯源装置，进而无死角照明检测装置10中的待测物。其中，灯源装置20以及控制装置30的结构、连接关系，以及灯源装置20所产生的功效，皆与上述实施例相同，这里不再赘述。

本实施例与前一实施例的差异在于，如图6与图7所示，检测装置50的结构还包括一固定架52以供设置待测物40，移动装置54可为机械手臂电性连接控制装置30，且夹持有摄影装置56，摄影装置56的镜头一侧设有照明装置562，其电性连接并接收控制装置30的控制，以提供光源。通过控制装置30的控制，移动装置54操作摄影装置56沿着待测物40边缘拍摄至少一检测影像，其中摄影装置56也电性连接并接收控制装置30的控制，因此摄影装置56可对待测物40拍摄多张不同视角的检测影像，并将检测影像传递至控制装置30中，令控制装置30自动判断检测影像中的待测物40是否具有缺陷，是否符合产品出厂标准，或者将检测影像提供给管理者，令管理者进行人工判断。

综上所述，本发明可在待测物周围环设光源，以提供全方位的光源，且光源可条纹状的方式呈现，能避免光线过度反光，提升的检测的准确率，检测装置更可检测待测物的各种角度，避免检验出现死角。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims

1.一种检测系统，其特征在于，包括：

一检测装置；

一灯源装置，环设该检测装置，以照明该检测装置，该灯源装置包括：

一灯座，该灯座内设有至少一基板，该基板上排列设有复数排发光元件；

一扩散板，设置于该灯座上，以覆盖该基板以及该发光元件；以及

一控制装置，连接该检测装置以及该基板，以控制该检测装置以及所有该发光元件发光，或该控制装置用于控制复数排该发光元件间隔发光，令该发光元件发射的光源呈现条纹状光源。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该灯源装置为半圆形灯源装置，以环绕于该检测装置。

3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该发光元件为发光二极管。

4.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，更包括一侧光源装置，相对设置于该灯源装置另一端，且连接该控制装置，以接收该控制装置的控制发光。

5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该基板为电路板。

6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该检测装置更包括：

一移动装置，连接该控制装置，该移动装置用于夹持一待测物，并根据该控制装置的控制转动该待测物；及

一摄影装置，连接该控制装置，接收该控制装置的控制拍摄不同角度的该待测物的至少一检测影像，并将该检测影像传递至该控制装置。

7.根据权利要求6所述的检测系统，其特征在于，摄影装置的镜头一侧更设有一照明装置，连接该控制装置，并接收该控制装置的控制以提供光源。

8.根据权利要求6所述的检测系统，其特征在于，该移动装置为机器手臂。

9.根据权利要求6所述的检测系统，其特征在于，该移动装置上更设有一投光器，电性连接控制装置，该投光器用于对准该待测物照明。

10.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该检测装置更包括：

一固定架，以供设置一待测物；

一摄影装置，连接该控制装置，以拍摄该待测物产生至少一检测影像，并将该检测影像传递至该控制装置；及

一移动装置，连接该控制装置，该移动装置用于夹持该摄影装置，该移动装置根据该控制装置的控制，移动该摄影装置沿着该待测物边缘，以拍摄该检测影像。

11.根据权利要求10所述的检测系统，其特征在于，该摄影装置的镜头一侧更设有一照明装置，连接该控制装置，并接收该控制装置的控制以提供光源。

12.根据权利要求10所述的检测系统，其特征在于，该移动装置为机器手臂。