CN112629822B - 偏光片内污检验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了偏光片内污检验方法,包括如下步骤:S1、将偏光片安装于专用的检验治具上,然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上,通过输送机构输送至保护膜清除装置;S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测,然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除;S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内,并通过集光光学器件照射于偏光片上;S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验;S5、检验人员通过显示屏显示的数据判定该偏光片是否合格。本发明能批量进行检验,提高了检验的效率和精度,一定程度上降低了不良品流出客户端几率。
Description
技术领域
本发明属于偏光片内污检验领域,更具体地说,尤其涉及偏光片内污检验方法。
背景技术
偏光片的全称是偏振光片,液晶显示器的成像必须依靠偏振光,所有的液晶都有前后两片偏振光片紧贴在液晶玻璃,组成总厚度1mm左右的液晶片,如果少了任何一张偏光片,液晶片都是不能显示图像的,3D眼镜就是运用了这种原理。
偏光片贴合过程中,在贴合时滚轮上的脏污带入保护膜与偏光片基板之间,导致保护膜内脏污的现象,在现有的检验台面上,用反射灯反射检查表面不良,无法有效的发现偏光片膜内内污现象,不良品易流出客户端。
目前的检验手段是通过人工对进行目视检验,但是目视检验无法有效的检出不良,需要通过专用的破坏检验方法进行检验才能降低保护膜内脏污不良的流出,并且检验覆盖面小,不良品流出客户端几率较大,而且检验的效率较低,因此,我们提出偏光片内污检验方法。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的偏光片内污检验方法。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
偏光片内污检验方法,包括如下步骤:
S1、将偏光片安装于专用的检验治具上,然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上,通过输送机构输送至保护膜清除装置;
S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测,确保偏光片保护膜面朝上,然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除;
S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内,并通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度,照射于偏光片上;
S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验,并将检验数据传输在操作端的显示屏上;
S5、检验人员通过显示屏显示的数据以及偏光片内污检验的控制计划判定该偏光片是否合格。
优选的,步骤S1所述的输送机构输包括带式输送机以及安装在带式输送机两侧用于对检验治具横向限位的限位板,所述带式输送机具体为轻型固定带式输送机,所述限位板设置为表面光滑的限位板,且所述限位板与检验治具的侧边滑动连接。
优选的,步骤S2所述的监控探头具体设置为红外摄像头,所述红外摄像头的波长为1.5-400微米,所述红外摄像头包括镜头、感光元件、信号处理元件,外部光线通过镜头聚焦在感光元件上,感光元件与信号处理元件电连接,所述信号处理模块输出端输出模拟信号或数字信号;所述模拟信号为CVBS、S-VIDEO、VGA;所述数字信号为ITU-R BT.656、ITU-RBT.601、ITU-R BT.1120、DVI、HDMI。
优选的,所述红外摄像头还包括用于检验环境光照度的光线检验模块,所述光线检验模块包括多个扫描线、多个读取线以及多个光感测元件,每一光感测元件耦接该多个扫描线的一者以及该多个读取线的一者,该光线检验方法包括:同时开启该多个扫描线的至少两者,用以开启该多个光感测元件中的多个耦接的光感测元件。
优选的,步骤S2中采用机械臂对检验治具进行翻转,当监控探头监测到偏光片的保护膜面未朝上,激活机械臂进行动作,通过机械臂将检验治具翻转至偏光片的保护膜面朝上。
优选的,所述机械臂设置为PID控制式机械臂,所述机械臂通过调整控制器增益构成自校正PID控制器或与其它控制方法结合构成复合控制系统,并通过该控制系统控制机械臂进行动作。
优选的,步骤S3所述的集光光学器件包括光源和调整光圈,所述光源的照度为12000lux,所述调整光圈调节光圈的大小。
优选的,步骤S4所述的检验摄像头具体设置为高清摄像头,所述检验摄像头的镜头元件使用五层玻璃镜头,且高清摄像头上设置有信号传输模块,所述信号传输模块包括WIFI天线、LTE天线、射频开关、频分器以及处理器,所述射频开关包括第一输入端口、第二输入端口以及WIFI信号输出端口,所述频分器包括第三输入端口、第一输出端口以及第二输出端口,所述WIFI天线与所述第一输入端口连接,所述LTE天线与所述第三输入端口连接,所述第一输出端口与所述第二输入端口连接,所述频分器用于将所述LTE天线接收的信号中的WIFI信号以及LTE信号分开,并将分开后的所述WIFI信号以及所述LTE信号分别通过所述第一输出端口以及所述第二输出端口输出
本发明的技术效果和优点:本发明提供的偏光片内污检验方法,与传统的破坏检验方法相比,本发明以通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度照射于偏光片然后通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验,能对偏光片进行全面的检验,能批量进行检验,大大提高检验效率和准确度,一定程度上降低了不良品流出客户端几率。
附图说明
图1为本发明的偏光片内污检验方法流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提供了如图1的偏光片内污检验方法,包括如下步骤:
S1、将偏光片安装于专用的检验治具上,然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上,通过输送机构输送至保护膜清除装置;
S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测,确保偏光片保护膜面朝上,然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除;
S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内,并通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度,照射于偏光片上;
S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验,并将检验数据传输在操作端的显示屏上;
S5、检验人员通过显示屏显示的数据以及偏光片内污检验的控制计划判定该偏光片是否合格。
其中,步骤S1的输送机构输包括带式输送机以及安装在带式输送机两侧用于对检验治具横向限位的限位板,带式输送机具体为轻型固定带式输送机,限位板设置为表面光滑的限位板,且限位板与检验治具的侧边滑动连接。
其中,步骤S2的监控探头具体设置为红外摄像头,红外摄像头的波长为1.5-400微米,红外摄像头包括镜头、感光元件、信号处理元件,外部光线通过镜头聚焦在感光元件上,感光元件与信号处理元件电连接,信号处理模块输出端输出模拟信号或数字信号;模拟信号为CVBS、S-VIDEO、VGA;数字信号为ITU-R BT.656、ITU-R BT.601、ITU-R BT.1120、DVI、HDMI;
红外摄像头肚饿镜头采用特殊光学玻璃材料解决了红外摄像头红外对应清晰成像的问题,从而使可见光区到红外光区的光线都可以在同一个焦面位置成像,实现清晰的图像;特殊的渡膜技术则让红外光尽可能的透过去;多层镀膜还可以最大限度的抑制逆光条件下鬼影和闪光的发生,即使在逆光等不良条件下也可以获得相对高对比度的优质画面。
其中,红外摄像头还包括用于检验环境光照度的光线检验模块,光线检验模块包括多个扫描线、多个读取线以及多个光感测元件,每一光感测元件耦接该多个扫描线的一者以及该多个读取线的一者,该光线检验方法包括:同时开启该多个扫描线的至少两者,用以开启该多个光感测元件中的多个耦接的光感测元件。
其中,步骤S2中采用机械臂对检验治具进行翻转,当监控探头监测到偏光片的保护膜面未朝上,激活机械臂进行动作,通过机械臂将检验治具翻转至偏光片的保护膜面朝上;
检验治具设置为亚克力矩形检验治具,检验治具的上端呈线性等间距开设有大小不一的凹槽,偏光片放置于凹槽的内部。
其中,机械臂设置为PID控制式机械臂,机械臂通过调整控制器增益构成自校正PID控制器或与其它控制方法结合构成复合控制系统,并通过该控制系统控制机械臂进行动作;
PID控制器是由视觉传感器、机械臂系统及主控计算机组成,其中机械臂系统又包括模块化机械臂和灵巧手两部分;
机械手的作业端设置有真空吸盘,便于将偏光片吸附出,然后根据需要进行翻转。
其中,步骤S3的集光光学器件包括光源和调整光圈,光源的照度为12000lux,调整光圈调节光圈的大小;
光源具体可采用强光LED灯以及强光手电,强光手电在使用时需要配合固定支架进行使用,固定支架安装强光手电的夹头可根据需求进行转动。
其中,步骤S4的检验摄像头具体设置为高清摄像头,检验摄像头的镜头元件使用五层玻璃镜头,且高清摄像头上设置有信号传输模块,信号传输模块包括WIFI天线、LTE天线、射频开关、频分器以及处理器,射频开关包括第一输入端口、第二输入端口以及WIFI信号输出端口,频分器包括第三输入端口、第一输出端口以及第二输出端口,WIFI天线与第一输入端口连接,LTE天线与第三输入端口连接,第一输出端口与第二输入端口连接,频分器用于将LTE天线接收的信号中的WIFI信号以及LTE信号分开,并将分开后的WIFI信号以及LTE信号分别通过第一输出端口以及第二输出端口输出。
综上所述:本发明提供的偏光片内污检验方法,与传统的破坏检验方法相比,本发明以通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度照射于偏光片然后通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验,能对偏光片进行全面的检验,能批量进行检验,检验效率和精度大大提高,一定程度上降低了不良品流出客户端几率。
最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (1)
1.偏光片内污检验方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1、将偏光片安装于专用的检验治具上,然后将检验治具连同偏光片放置于输送机构上,通过输送机构输送至保护膜清除装置;步骤S1所述的输送机构输包括带式输送机以及安装在带式输送机两侧用于对检验治具横向限位的限位板,所述带式输送机具体为轻型固定带式输送机,所述限位板设置为表面光滑的限位板,且所述限位板与检验治具的侧边滑动连接;
S2、首先通过安装在保护膜清除装置上的监控探头对偏光片的位置进行监测,确保偏光片保护膜面朝上,然后通过保护膜清除装置将偏光片的保护膜去除;步骤S2中采用机械臂对检验治具进行翻转,当监控探头监测到偏光片的保护膜面未朝上,激活机械臂进行动作,通过机械臂将检验治具翻转至偏光片的保护膜面朝上;
S3、将清除过保护膜的偏光片通过输送机构输送至暗房内,并通过集光光学器件以距偏光片10cm的高度并斜角45度的照射角度,照射于偏光片上;步骤S3所述的集光光学器件包括光源和调整光圈,所述光源的照度为12000lux,所述调整光圈调节光圈的大小;
S4、通过检验摄像头从偏光片的左上角开始,从上到下,从左到右的方向移动并进行检验,并将检验数据传输在操作端的显示屏上;
S5、检验人员通过显示屏显示的数据以及偏光片内污检验的控制计划破判定该偏光片是否合格;
步骤S2所述的监控探头具体设置为红外摄像头,所述红外摄像头的波长为1.5-400微米,所述红外摄像头包括镜头、感光元件、信号处理元件,外部光线通过镜头聚焦在感光元件上,感光元件与信号处理元件电连接,所述信号处理模块输出端输出模拟信号或数字信号;所述模拟信号为CVBS、S-VIDEO、VGA;所述数字信号为ITU-R BT.656、ITU-R BT.601、ITU-RBT.1120、DVI、HDMI;
所述红外摄像头还包括用于检验环境光照度的光线检验模块,所述光线检验模块包括多个扫描线、多个读取线以及多个光感测元件,每一光感测元件耦接该多个扫描线的一者以及该多个读取线的一者,该光线检验方法包括:同时开启该多个扫描线的至少两者,用以开启该多个光感测元件中的多个耦接的光感测元件;
所述机械臂设置为PID控制式机械臂,所述机械臂通过调整控制器增益构成自校正PID控制器或与其它控制方法结合构成复合控制系统,并通过该控制系统控制机械臂进行动作;
步骤S4所述的检验摄像头具体设置为高清摄像头,所述检验摄像头的镜头元件使用五层玻璃镜头,且高清摄像头上设置有信号传输模块,所述信号传输模块包括WIFI天线、LTE天线、射频开关、频分器以及处理器,所述射频开关包括第一输入端口、第二输入端口以及WIFI信号输出端口,所述频分器包括第三输入端口、第一输出端口以及第二输出端口,所述WIFI天线与所述第一输入端口连接,所述LTE天线与所述第三输入端口连接,所述第一输出端口与所述第二输入端口连接,所述频分器用于将所述LTE天线接收的信号中的WIFI信号以及LTE信号分开,并将分开后的所述WIFI信号以及所述LTE信号分别通过所述第一输出端口以及所述第二输出端口输出。
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Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08292130A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Rohm Co Ltd | 光学的検査方法およびその装置 |
JPH11118726A (ja) * | 1997-10-14 | 1999-04-30 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 欠陥検査装置 |
CN101629871A (zh) * | 2009-08-07 | 2010-01-20 | 苏州达信科技电子有限公司 | 偏光片检测装置及方法 |
CN203984548U (zh) * | 2014-07-26 | 2014-12-03 | 深圳市欧尼弗科技有限公司 | 一种可实现红外遥控的摄像头 |
CN204021866U (zh) * | 2014-08-14 | 2014-12-17 | 福建省万达汽车玻璃工业有限公司 | 一种汽车镀膜玻璃在线检验装置 |
KR20160005445A (ko) * | 2014-07-07 | 2016-01-15 | 동우 화인켐 주식회사 | 편광판의 결함 검사 장치 및 방법 |
CN106019693A (zh) * | 2016-08-01 | 2016-10-12 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种偏光片离型纸的剥离装置 |
CN106198571A (zh) * | 2016-08-31 | 2016-12-07 | 江苏星浪光学仪器有限公司 | 光学滤光片水检台及其检测方法 |
KR20170002220A (ko) * | 2015-06-29 | 2017-01-06 | (주) 인텍플러스 | 편광필름의 얼룩 검사장치 |
CN106892172A (zh) * | 2017-03-28 | 2017-06-27 | 南京联信自动化科技有限公司 | 保护膜斜线剥离去除装置 |
CN206369707U (zh) * | 2016-12-23 | 2017-08-01 | 联策科技股份有限公司 | 光学检测系统 |
CN107941815A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-04-20 | 南京联信自动化科技有限公司 | 一种偏光片的外观缺陷检测装置 |
CN108284587A (zh) * | 2018-04-17 | 2018-07-17 | 祝佳 | 一种适于贴膜机的机械手装置及方法 |
CN111036578A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-21 | 无锡动视宫原科技有限公司 | 一种偏光片表面细微凹凸点的检测方法及检测系统 |
CN211426319U (zh) * | 2019-12-27 | 2020-09-04 | 无锡动视宫原科技有限公司 | 一种面阵相机拍摄偏光片瑕疵检测装置 |
CN111638222A (zh) * | 2020-07-22 | 2020-09-08 | 东莞市瑞图新智科技有限公司 | 一种滤光片的缺陷检测系统及方法 |
-
2020
- 2020-11-23 CN CN202011320991.3A patent/CN112629822B/zh active Active
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08292130A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Rohm Co Ltd | 光学的検査方法およびその装置 |
JPH11118726A (ja) * | 1997-10-14 | 1999-04-30 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 欠陥検査装置 |
CN101629871A (zh) * | 2009-08-07 | 2010-01-20 | 苏州达信科技电子有限公司 | 偏光片检测装置及方法 |
KR20160005445A (ko) * | 2014-07-07 | 2016-01-15 | 동우 화인켐 주식회사 | 편광판의 결함 검사 장치 및 방법 |
CN203984548U (zh) * | 2014-07-26 | 2014-12-03 | 深圳市欧尼弗科技有限公司 | 一种可实现红外遥控的摄像头 |
CN204021866U (zh) * | 2014-08-14 | 2014-12-17 | 福建省万达汽车玻璃工业有限公司 | 一种汽车镀膜玻璃在线检验装置 |
KR20170002220A (ko) * | 2015-06-29 | 2017-01-06 | (주) 인텍플러스 | 편광필름의 얼룩 검사장치 |
CN106019693A (zh) * | 2016-08-01 | 2016-10-12 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种偏光片离型纸的剥离装置 |
CN106198571A (zh) * | 2016-08-31 | 2016-12-07 | 江苏星浪光学仪器有限公司 | 光学滤光片水检台及其检测方法 |
CN206369707U (zh) * | 2016-12-23 | 2017-08-01 | 联策科技股份有限公司 | 光学检测系统 |
CN106892172A (zh) * | 2017-03-28 | 2017-06-27 | 南京联信自动化科技有限公司 | 保护膜斜线剥离去除装置 |
CN107941815A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-04-20 | 南京联信自动化科技有限公司 | 一种偏光片的外观缺陷检测装置 |
CN108284587A (zh) * | 2018-04-17 | 2018-07-17 | 祝佳 | 一种适于贴膜机的机械手装置及方法 |
CN111036578A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-21 | 无锡动视宫原科技有限公司 | 一种偏光片表面细微凹凸点的检测方法及检测系统 |
CN211426319U (zh) * | 2019-12-27 | 2020-09-04 | 无锡动视宫原科技有限公司 | 一种面阵相机拍摄偏光片瑕疵检测装置 |
CN111638222A (zh) * | 2020-07-22 | 2020-09-08 | 东莞市瑞图新智科技有限公司 | 一种滤光片的缺陷检测系统及方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
基于结构光的偏光片外观缺陷检测技术研究;曾小星;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20170515(第5期);I138-1020 * |
贺健.偏光片外观缺陷成像仿真与检测.《中国优秀硕士学位论文全文数据库(电子期刊)信息科技辑》.2017,(第第05期期),正文第9-16页. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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