CN107941815A - 一种偏光片的外观缺陷检测装置 - Google Patents

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田成哲
安龙吉
刘勇虎
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    • GPHYSICS
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
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    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation

Abstract

本发明涉及偏光片技术领域,尤其是一种偏光片的外观缺陷检测装置;包括检测平台,所述检测平台包括置物台,所述置物台为透明的,所述置物台的下方有一个容纳空腔,所述容纳空腔内安装有光源,所述检测平台的上方安装有辊轮,所述辊轮与检测平台之间通过连接杆连接,所述辊轮用于剥离待测偏光片最上层的保护膜层,所述连接杆位于检测平台的一侧,所述检测平台的上方还安装有偏光片质量分析单元;本发明中检测平台上有偏光片固定架,固定架上有一层防滑层,偏光片固定架可以在检测平台与偏光片之间设置一个隔断层,从而可以便捷的将偏光片移走,提高工作效率。

Description

一种偏光片的外观缺陷检测装置
技术领域
本发明涉及偏光片技术领域,尤其是一种偏光片的外观缺陷检测装置。
背景技术
液晶显示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)由于利用液晶的双折射性,需使用偏光片以调节入射到液晶分子的光振动方向。偏光片具有使在复数个方向振动的同时入射的自然光变成只在一个方向上振动的机能,其种类有碘系、染料系、相位差、半透射(semi-transmissive)及反射型等的偏光膜。其中,碘系偏光膜在制作具有高透射及高偏光特性的高精细LCD用偏光膜时,是将碘应用在透明的PVA(PolyVinylAlcohol)膜中而变成可以吸收可见光区域的光。
传统偏光片量测方法的缺点在于必须破坏偏光片本身的结构 ( 完全剥离保护膜及离型膜 ),且无法在线检验,无法全面控管出货质量。
发明内容
本发明的目的是:克服现有技术中的不足,提供一种能在线检测,能全面管控出货质量的偏光片外观缺陷检测装置。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案如下:
一种偏光片的外观缺陷检测装置,包括检测平台,所述检测平台包括置物台,所述置物台为透明的,所述置物台的下方有一个容纳空腔,所述容纳空腔内安装有光源,所述检测平台的上方安装有辊轮,所述辊轮与检测平台之间通过连接杆连接,所述辊轮用于剥离待测偏光片最上层的保护膜层,所述连接杆位于检测平台的一侧,所述检测平台的上方还安装有偏光片质量分析单元。
优选的,所述置物台采用透明的防静电有机玻璃制成。
优选的,所述检测平台上有偏光片固定架,所述固定架上有一层防滑层。
优选的,所述防滑层为硅胶层,所述硅胶层的厚度为0.5-0.8mm。
优选的,所述固定架上有若干吸附孔,所述吸附孔通过抽气管与负压装置连接。
优选的,所述负压装置采用抽气机。
采用本发明的技术方案的有益效果是:
1、本发明中检测平台上有偏光片固定架,固定架上有一层防滑层,偏光片固定架可以在检测平台与偏光片之间设置一个隔断层,从而可以便捷的将偏光片移走,提高工作效率。
2、本发明中固定架上有若干吸附孔,吸附孔通过抽气管与负压装置连接,将偏光片置于固定架上,通过负压装置抽气与吸附孔之间形成负压,能够将偏光片吸附的更稳定。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图中:1置物台,2容纳空腔,3光源,4辊轮,5连接杆,6偏光片质量分析单元,7偏光片固定架,8防滑层。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本发明作进一步说明。
如图1所示,一种偏光片的外观缺陷检测装置,包括检测平台,检测平台包括置物台1,置物台1为透明的,置物台1的下方有一个容纳空腔2,容纳空腔2内安装有光源3,在光源3的作用下,可以更清晰的对偏光片进行质量检测,检测的精确度更高,检测平台的上方安装有辊轮4,辊轮4与检测平台之间通过连接杆5连接,辊轮4用于剥离待测偏光片最上层的保护膜层,连接杆5位于检测平台的一侧,检测平台的上方还安装有偏光片质量分析单元6。
本实施例中置物台采用透明的防静电有机玻璃制成,采用此结构,一方面可以延长置物台的使用寿命,另一方面,可以有效降低偏光片与置物台之间产生静电的概率。
本实施例中检测平台上有偏光片固定架7,固定架上有一层防滑层,偏光片固定架7可以在检测平台与偏光片之间设置一个隔断层,从而可以便捷的将偏光片移走,提高工作效率。
本实施例中防滑层8为硅胶层,硅胶层的厚度为0.5-0.8mm,硅胶层可以防止偏光片的位置发生移动,从而能将偏光片更稳定的吸附在固定架上,大大提高了检测的精度。
本实施例中固定架上有若干吸附孔,吸附孔通过抽气管与负压装置连接,将偏光片置于固定架上,通过负压装置抽气与吸附孔之间形成负压,能够将偏光片吸附的更稳定。
本实施例中负压装置采用抽气机,采用抽气机作为负压装置,结构简单,占地面积小,使用更方便。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (6)

1.一种偏光片的外观缺陷检测装置,其特征在于:包括检测平台,所述检测平台包括置物台,所述置物台为透明的,所述置物台的下方有一个容纳空腔,所述容纳空腔内安装有光源,所述检测平台的上方安装有辊轮,所述辊轮与检测平台之间通过连接杆连接,所述辊轮用于剥离待测偏光片最上层的保护膜层,所述连接杆位于检测平台的一侧,所述检测平台的上方还安装有偏光片质量分析单元。
2.根据权利要求1所述的一种偏光片的外观缺陷检测装置,其特征在于:所述置物台采用透明的防静电有机玻璃制成。
3.根据权利要求1所述的一种偏光片的外观缺陷检测装置,其特征在于:所述检测平台上有偏光片固定架,所述固定架上有一层防滑层。
4.根据权利要求3所述的一种偏光片的外观缺陷检测装置,其特征在于:所述防滑层为硅胶层,所述硅胶层的厚度为0.5-0.8mm。
5.根据权利要求3所述的一种偏光片的外观缺陷检测装置,其特征在于:所述固定架上有若干吸附孔,所述吸附孔通过抽气管与负压装置连接。
6.根据权利要求5所述的一种偏光片的外观缺陷检测装置,其特征在于:所述负压装置采用抽气机。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109164108A (zh) * 2018-08-13 2019-01-08 合肥鼎中智能科技有限公司 一种保护膜检测方法及保护膜检测室
CN109270074A (zh) * 2018-09-19 2019-01-25 翰博高新材料(合肥)股份有限公司 一种膜片目检工作台设备
CN111036578A (zh) * 2019-12-27 2020-04-21 无锡动视宫原科技有限公司 一种偏光片表面细微凹凸点的检测方法及检测系统
CN112629822A (zh) * 2020-11-23 2021-04-09 惠州市富丽电子有限公司 偏光片内污检验方法
CN112710457A (zh) * 2020-12-17 2021-04-27 江西富益特显示技术有限公司 一种偏光片孔洞检测设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101629871A (zh) * 2009-08-07 2010-01-20 苏州达信科技电子有限公司 偏光片检测装置及方法
CN102590221A (zh) * 2012-02-24 2012-07-18 深圳大学 一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法
CN106292010A (zh) * 2016-09-23 2017-01-04 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 一种带清理的偏光片剥离装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101629871A (zh) * 2009-08-07 2010-01-20 苏州达信科技电子有限公司 偏光片检测装置及方法
CN102590221A (zh) * 2012-02-24 2012-07-18 深圳大学 一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法
CN106292010A (zh) * 2016-09-23 2017-01-04 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 一种带清理的偏光片剥离装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109164108A (zh) * 2018-08-13 2019-01-08 合肥鼎中智能科技有限公司 一种保护膜检测方法及保护膜检测室
CN109270074A (zh) * 2018-09-19 2019-01-25 翰博高新材料(合肥)股份有限公司 一种膜片目检工作台设备
CN111036578A (zh) * 2019-12-27 2020-04-21 无锡动视宫原科技有限公司 一种偏光片表面细微凹凸点的检测方法及检测系统
CN112629822A (zh) * 2020-11-23 2021-04-09 惠州市富丽电子有限公司 偏光片内污检验方法
CN112629822B (zh) * 2020-11-23 2024-02-13 惠州市富丽电子有限公司 偏光片内污检验方法
CN112710457A (zh) * 2020-12-17 2021-04-27 江西富益特显示技术有限公司 一种偏光片孔洞检测设备

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