CN112526226A - 检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法和系统 - Google Patents

检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法和系统 Download PDF

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Abstract

本申请涉及移动网络领域，提供了检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法和系统，以全面检出对天线性能产生实际影响的电池盖。所述方法包括：印制电路板将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定；将印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接；天线辐射体对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将馈线上的信号传输至网络分析仪；网络分析仪根据预设参数阈值和馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体的性能影响。本申请的技术方案的检测具有全面性以及较高的准确性。

Description

检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法和系统
技术领域
本发明涉及移动终端领域，特别涉及一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法和系统。
背景技术
目前，一些智能终端的电池盖上会喷涂金属镀层，以使其呈现比较靓丽色彩。然而，在喷涂了金属镀层后，这些镀层的金属成分对智能终端内部的天线造成影响，尤其当金属喷涂工艺有一定偏差时，外观上电池盖色差并不大，但可能会对不同批次的整机的天线性能造成不同影响。现有检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，通常是对电池盖金属镀层的厚度进行检测，并且考虑到检测方法的复杂性，通常只能是抽测即抽取一定的样本来检测，因此，现有方法并不能全面有效地检出对天线性能产生实际影响的电池盖。
发明内容
本申请提供一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法和系统，以全面检出对天线性能产生实际影响的电池盖。
一方面，本申请提供了一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，包括：
印制电路板将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定；
将所述印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接；
所述天线辐射体对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将所述馈线上的信号传输至网络分析仪；
所述网络分析仪根据预设参数阈值和所述馈线上传输的信号，分析所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体的性能影响。
另一方面，本申请提供了一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统，印制电路板、天线辐射体、网络分析仪和具有待测金属镀层的智能终端的电池盖；
所述印制电路板，用于将所述具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定，并将所述印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接；
所述天线辐射体，用于对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将所述馈线上的信号传输至所述网络分析仪；
所述网络分析仪，用于根据预设参数阈值和所述馈线上传输的信号，分析所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体的性能影响。
从上述本申请提供的技术方案可知，由于印制电路板可以将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定，并且印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接，网络分析仪再根据预设参数阈值和馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体的性能影响。与现有技术通过抽测不能全面检出对天线性能有影响的金属镀层相比，本申请的技术方案通过电性连接，采用网络分析仪能够分析出每一个电池盖上的金属镀层对天线的性能影响，检测具有全面性以及较高的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法的流程图；
图2是本申请实施例提供的网络分析仪根据预设参数阈值和从天线辐射体的馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体或天线辐射体的等同体的性能影响的流程图；
图3是本申请实施例提供的检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本说明书中，诸如第一和第二这样的形容词仅可以用于将一个元素或动作与另一元素或动作进行区分，而不必要求或暗示任何实际的这种关系或顺序。在环境允许的情况下，参照元素或部件或步骤(等)不应解释为局限于仅元素、部件、或步骤中的一个，而可以是元素、部件、或步骤中的一个或多个等。
在本说明书中，为了便于描述，附图中所示的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。
本申请提出了一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，如附图1所示，主要包括步骤S101至S104，详述如下：
步骤S101：印制电路板将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定。
在本申请实施例中，印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)主要包括承载和传递信号的功能，其中，承载功能表现在可以将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定，而传递信号的功能通过将印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接来实现。因此，本申请实施例的PCB具有限位装置、定位装置和压合装置等，这些装置可以使得PCB变成夹具。具体地，印制电路板将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定可以是：采用印制电路板上的限位装置和定位装置将电池盖夹住，采用印制电路板上的压合装置将电池盖在三维的各个方向(即三维坐标系的X轴、Y轴和Z轴方向)上压合固定。当检测电池盖金属镀层时，将压合装置扣合以将电池盖固定，当检测完成时，压合装置抬起，可以取出电池盖，放入下一个电池盖时，再次扣合压合装置再次检测。需要说明的是，考虑到实际天线在使用时需要接地，因此，在本申请实施例中，可以将PCB充当天线辐射体的接地平面及GND平面；GND平面是作为天线辐射不可缺少的一部分参与天线辐射。
步骤S102：将印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接。
需要说明的是，在本申请实施例中，天线辐射体是步骤S101中提及的具有待测金属镀层的智能终端的天线的等同体，即，该天线辐射体的尺寸、结构、性能特征和电参数等分别与该智能终端内正常配置的天线的尺寸、结构、性能特征和电参数(包括谐振频率等)等相同。如此，才能达到通过检测该智能终端的电池盖金属镀层对天线性能的影响，发现该智能终端的电池盖金属镀层对智能终端的天线的影响。如前所述，传递信号的功能是通过将印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接来实现的。在本申请实施例中，印制电路板上的线路一端与天线辐射体的馈线，接收来自溃源的电信号，该线路的另一端连接到固定(例如，通过焊接方式固定)在印制电路板上的线缆接口。
步骤S103：天线辐射体对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将馈线上的信号传输至网络分析仪。
与通常的天线功能类似，在本申请实施例中，天线辐射体主要是对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号。由于印制电路板上的线路一端与天线辐射体的馈线以接收来自溃源的电信号，线路的另一端连接到固定在印制电路板上的线缆接口。因此，将馈线上的信号传输至网络分析仪具体可以是：通过电缆和印制电路板上的线缆接口，将天线辐射体的馈线上的信号传输至网络分析仪。
步骤S104：网络分析仪根据预设参数阈值和从天线辐射体的馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体或天线辐射体的等同体的性能影响。
从上述实施例可知，通过上述步骤S101至步骤S103，可以将天线辐射体的馈线上传输的信号传输至网络分析仪。至此，作为本申请一个实施例，网络分析仪根据预设参数阈值和从天线辐射体的馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体或天线辐射体的等同体的性能影响可以通过步骤S201至步骤S203实现，如图2所示，说明如下：
步骤S201：根据天线辐射体的馈线上传输的信号，生成在具有待测金属镀层的场景下天线辐射体的谐振曲线。
步骤S202：将生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，其中，标准谐振曲线为天线辐射体或天线辐射体的等同体在良品电池盖的金属镀层的影响下生成的谐振曲线。
如前所述，天线辐射体的等同体实际可以为智能终端内正常配置的天线，其在尺寸、结构、性能特征和电参数等分别与该智能终端内正常配置的天线的尺寸、结构、性能特征和电参数(包括谐振频率等)相同，标准谐振曲线是天线辐射体或天线辐射体的等同体在良品电池盖的金属镀层的影响下生成的谐振曲线。
步骤S203：若经步骤S201生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，两者的偏移量大于预设参数阈值，则确定待测金属镀层对天线辐射体或天线辐射体的等同体产生不良影响，否则，确定待测金属镀层不对天线辐射体或天线辐射体的等同体产生不良影响。
在本申请实施例中，天线辐射体生成的谐振曲线包含S11、VSWR和天线谐振频率等信息。若经步骤S201生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，两者的偏移量大于预设参数阈值，则确定待测金属镀层对天线辐射体或天线辐射体的等同体产生不良影响，否则，确定待测金属镀层不对天线辐射体或天线辐射体的等同体产生不良影响。例如，标准谐振曲线反映出的智能终端的天线的带宽在600MHz～3GHz，若预设带宽阈值为20MHz，经步骤S201生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，偏移量小于20MHz，则确定待测金属镀层不对天线辐射体或天线辐射体的等同体产生不良影响，若偏移量不小于20MHz，则确定待测金属镀层对天线辐射体或天线辐射体的等同体产生不良影响。
从上述附图1示例的检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法可知，由于印制电路板可以将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定，并且印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接，网络分析仪再根据预设参数阈值和馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体的性能影响。与现有技术通过抽测不能全面检出对天线性能有影响的金属镀层相比，本申请的技术方案通过电性连接，采用网络分析仪能够分析出每一个电池盖上的金属镀层对天线的性能影响，检测具有全面性以及较高的准确性。
请参阅附图3，是本申请实施例提供的一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统，该系统可以包括印制电路板301、天线辐射体302、网络分析仪303和具有待测金属镀层的智能终端的电池盖304，详述如下：
印制电路板301，用于将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖304固定，并将印制电路板301上的线路与天线辐射体302的馈线305连接；
天线辐射体302，用于对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将馈线上的信号传输至网络分析仪303；
网络分析仪303，用于根据预设参数阈值和馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体302或天线辐射体302的等同体的性能影响。
从上述图3示例的检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统可知，由于印制电路板301可以将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖304固定，并且印制电路板301上的线路与天线辐射体302的馈线305连接，网络分析仪303再根据预设参数阈值和馈线上传输的信号，分析待测金属镀层对天线辐射体302的性能影响。与现有技术通过抽测不能全面检出对天线性能有影响的金属镀层相比，本申请的技术方案通过电性连接，采用网络分析仪能够分析出每一个电池盖上的金属镀层对天线的性能影响，检测具有全面性以及较高的准确性。
可选地，上述印制电路板301具体用于采用印制电路板301上的限位和定位装置将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖304夹住，采用印制电路板301上的压合装置将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖304在三维的各个方向上压合固定。
可选地，天线辐射体302具体用于通过电缆306和印制电路板301上的线缆接口，将馈线305上的信号传输至网络分析仪303。
可选地，网络分析仪303具体用于根据馈线305上传输的信号，生成在具有待测金属镀层的场景下天线辐射体的谐振曲线，将生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，若生成的谐振曲线与标准谐振曲线的偏移量大于预设参数阈值，则确定待测金属镀层对天线辐射体302或天线辐射体302的等同体产生不良影响，否则，确定待测金属镀层不对天线辐射体302或天线辐射体302的等同体产生不良影响，其中，标准谐振曲线为天线辐射体302或天线辐射体302的等同体在良品电池盖的金属镀层的影响下生成的谐振曲线。
可选地，上述实施例中的天线辐射体302的结构和性能参数与智能终端内正常配置的天线的结构和性能参数相同。
以上所述的具体实施方式，对本申请的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本申请的具体实施方式而已，并不用于限定本申请的保护范围，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，其特征在于，所述方法包括：
印制电路板将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定；
将所述印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接；
所述天线辐射体对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将所述馈线上的信号传输至网络分析仪；
所述网络分析仪根据预设参数阈值和所述馈线上传输的信号，分析所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体的性能影响。
2.如权利要求1所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，其特征在于，所述印制电路板将具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定，包括：
采用所述印制电路板上的限位装置和定位装置将所述电池盖夹住；
采用所述印制电路板上的压合装置将所述电池盖在三维的各个方向上压合固定。
3.如权利要求1所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，其特征在于，所述将所述馈线上的信号传输至网络分析仪，包括：通过电缆和所述印制电路板上的线缆接口，将所述馈线上的信号传输至网络分析仪。
4.如权利要求1所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，其特征在于，所述网络分析仪根据预设参数阈值和所述馈线上传输的信号，分析所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体的性能影响，包括：
根据所述馈线上传输的信号，生成在具有所述待测金属镀层的场景下所述天线辐射体的谐振曲线；
将所述生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，所述标准谐振曲线为所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体在良品电池盖的金属镀层的影响下生成的谐振曲线；
若所述生成的谐振曲线与所述标准谐振曲线的偏移量大于所述预设参数阈值，则确定所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体产生不良影响，否则，确定所述待测金属镀层不对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体产生不良影响。
5.如权利要求1至4任意一项所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述天线辐射体在良品电池盖的金属镀层的影响下生成的谐振曲线。
6.如权利要求1至4任意一项所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的方法，其特征在于，所述天线辐射体的结构和电参数分别与所述智能终端内正常配置的天线的结构和电参数相同。
7.一种检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统，其特征在于，所述系统包括印制电路板、天线辐射体、网络分析仪和具有待测金属镀层的智能终端的电池盖；
所述印制电路板，用于将所述具有待测金属镀层的智能终端的电池盖固定，并将所述印制电路板上的线路与天线辐射体的馈线连接；
所述天线辐射体，用于对外辐射电磁波信号或将电磁波信号转换为电信号，并将所述馈线上的信号传输至所述网络分析仪；
所述网络分析仪，用于根据预设参数阈值和所述馈线上传输的信号，分析所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体的性能影响。
8.如权利要求7所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统，其特征在于，所述印制电路板用于采用所述印制电路板上的限位和定位装置将所述电池盖夹住，采用所述印制电路板上的压合装置将所述电池盖在三维的各个方向上压合固定。
9.如权利要求7所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统，其特征在于，所述网络分析仪具体用于根据所述馈线上传输的信号，生成在具有所述待测金属镀层的场景下所述天线辐射体的谐振曲线，将所述生成的谐振曲线与标准谐振曲线相比，若所述生成的谐振曲线与所述标准谐振曲线的偏移量大于所述预设参数阈值，则确定所述待测金属镀层对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体产生不良影响，否则，确定所述待测金属镀层不对所述天线辐射体或所述天线辐射体的等同体产生不良影响，所述标准谐振曲线为所述天线辐射体在良品电池盖的金属镀层的影响下生成的谐振曲线。
10.如权利要求8至9任意一项所述检测电池盖金属镀层对天线性能的影响的系统，所述天线辐射体的结构和性能参数与所述智能终端内正常配置的天线的结构和性能参数相同。
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