CN206270461U - 一种用于pcb主板的测试电路及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于电子电路技术领域，提供了一种用于PCB主板的测试电路及测试装置，测试电路与夹具连接，该测试电路包括主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块，天线模块的输出端接调频模块的输入端，调频模块的输出端接主控模块的输入端，主控模块的控制端接测试模块的接收端，调频模块对天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给主控模块，主控模块接收到反馈信号后控制测试模块进行测试。该测试方式简单易行，避免了原来连接器插接式的接触带来的摩擦和形变，减少了夹具的维护，同时也减少了连接器物料，节约了生产成本，解决了现有的PCB主板测试技术存在着测试方式繁琐，夹具的反复测试导致夹具容易损坏的问题。

Description

一种用于PCB主板的测试电路及测试装置

技术领域

本实用新型属于电子电路技术领域，特别涉及一种用于PCB主板的测试电路及测试装置。

背景技术

目前，大量PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)主板的生产，带来了夹具维护的困扰，加上电子产品的价格日益竞争激烈，节省PCB主板的BOM(Bill of Material，物料清单)成本是各PCB主板厂商的重要目标。

然而，目前PCB主板的生产线上一般采用连接器与夹具的耦合测试方式，这种测试方式的缺点是：夹具反复测试操作，容易造成夹具上的测试头损坏，而且经常需要更换夹具上的测试头，给生产上带来一定麻烦。

因此，现有的PCB主板测试技术存在着测试方式繁琐，夹具的反复测试导致夹具容易损坏的问题。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种用于PCB主板的测试电路及测试装置，旨在解决现有的PCB主板测试技术存在着测试方式繁琐，夹具的反复测试导致夹具容易损坏的问题。

本实用新型提供了一种用于PCB主板的测试电路，所述测试电路与夹具连接，所述测试电路包括：

主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块；

所述天线模块的输出端接所述调频模块的输入端，所述调频模块的输出端接所述主控模块的输入端，所述主控模块的控制端接所述测试模块的接收端；

所述调频模块对所述天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给所述主控模块，所述主控模块接收到所述反馈信号后控制所述测试模块进行测试。

本实用新型还提供了一种用于PCB主板的测试装置，包括测试电路，所述测试电路与夹具连接，所述测试电路包括：

主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块；

所述天线模块的输出端接所述调频模块的输入端，所述调频模块的输出端接所述主控模块的输入端，所述主控模块的控制端接所述测试模块的接收端；

所述调频模块对所述天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给所述主控模块，所述主控模块接收到所述反馈信号后控制所述测试模块进行测试。

本实用新型提供了一种用于PCB主板的测试电路及测试装置，测试电路与夹具连接，该测试电路包括主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块，天线模块的输出端接调频模块的输入端，调频模块的输出端接主控模块的输入端，主控模块的控制端接测试模块的接收端，调频模块对天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给主控模块，主控模块接收到反馈信号后控制测试模块进行测试。该测试方式简单易行，避免了原来连接器插接式的接触带来的摩擦和形变，减少了夹具的维护，同时也减少了连接器物料，节约了生产成本，解决了现有的PCB主板测试技术存在着测试方式繁琐，夹具的反复测试导致夹具容易损坏的问题。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种用于PCB主板的测试电路的结构示意图。

图2为本实用新型实施例提供的一种用于PCB主板的测试电路的示例电路结构图。

具体实施方式

为了使本实用新型要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图1示出了本实用新型实施例提供的一种用于PCB主板的测试电路的结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分，详述如下：

该种用于PCB主板的测试电路，所述测试电路与夹具连接，所述测试电路包括：

主控模块103、调频模块102、天线模块101以及测试模块104；

所述天线模块101的输出端接所述调频模块102的输入端，所述调频模块102的输出端接所述主控模块103的输入端，所述主控模块103的控制端接所述测试模块104的接收端；

所述调频模块102对所述天线模块101发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给所述主控模块103，所述主控模块103接收到所述反馈信号后控制所述测试模块104进行测试。

作为本实用新型一实施例，所述天线模块101用于接收或发射射频信号，所述调频模块102用于对上述射频信号进行调制或解调，直至射频信号处于预设值范围时，调频模块102会发送反馈信号给主控模块103。所述天线模块101与所述调频模块102相辅相成。

作为本实用新型一实施例，所述测试模块104包括同心圆测试焊盘，所述主控模块103控制所述同心圆测试焊盘与所述夹具上的同心圆接口压力接触并进行测试。当射频信号测试的时候，通过夹具上的同心圆接口顶到所述同心圆测试焊盘，这样通过压力接触的方式，避免了现有技术采用连接器插接式的接触带来的摩擦和形变，减少了夹具的维护。其次，由于同心圆测试焊盘是通过微带线将射频信号连接至夹具的，为了保证测试可靠和尽量降低测试模块104对正常使用时的不良影响，微带线通过过孔经尽量短的距离从PCB主板别的层(以调频模块和天线模块为参考层，通过这个参考层在PCB主板的顶层或底层，以尽量和匹配器件位于同一层的减少过孔等造成的微带不连续性)连接至同心圆测试焊盘。微带线是由支在介质基片上的单一导体带构成的微波传输线。

图2示出了本实用新型实施例提供的一种用于PCB主板的测试电路的示例电路结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分，详述如下：

作为本实用新型一实施例，所述天线模块101包括：

天线A1、电容C1、电容C2以及电阻R1；

所述天线A1的第一输出端接地，所述天线A1的第二连接端与所述电容C1的第一端以及所述电阻R1的第一端相连接，所述电阻R1的第二端与所电容C2的第一端连接的公共连接端作为所述天线模块101的输出端，所述电容C1的第二端与所述电容C2的第二端接地。

作为本实用新型一实施例，所述调频模块102包括调频芯片U1，所述调频芯片U1的输入端IN和输出端OUT分别为所述调频模块102的输入端和输出端。在本实施例中，调频芯片U1采用了型号SX6520的调频芯片，当然，调频芯片的型号不作限定，只要能达到与本实施例调频芯片U1所述的功能作用亦可。

作为本实用新型一实施例，所述主控模块103包括微处理器U2，所述微处理器U2的接收端REC和控制端CTRL分别为所述主控模块103的输入端和控制端。在本实施例中，微处理器U2采用了型号TMS320F28023的主控芯片，当然，主控芯片的型号不作限定，只要能达到与本实施例微处理器U2所述的功能作用亦可。

以下结合图1和图2对上述一种用于PCB主板的测试电路及测试装置的工作原理进行说明：

首先，通过天线模块中的天线A1接收或发射射频信号，然后传输给调频模块，调频模块对所述射频信号进行调制，直至所述射频信号的频率处于预设范围值时发送反馈信号给主控模块，所述主控模块接收到反馈信号后控制测试模块的同心圆测试焊盘开始进行测试，同心圆测试焊盘与夹具的同心圆接口进行压力接触，避免了原来连接器插接式的接触带来的摩擦和形变，减少了夹具的维护，同时也减少了连接器物料，节约了生产成本，该测试方式简单易行。

综上所述，本实用新型实施例提供了一种用于PCB主板的测试电路及测试装置，测试电路与夹具连接，该测试电路包括主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块，天线模块的输出端接调频模块的输入端，调频模块的输出端接主控模块的输入端，主控模块的控制端接测试模块的接收端，调频模块对天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给主控模块，主控模块接收到反馈信号后控制测试模块进行测试。该测试方式简单易行，避免了原来连接器插接式的接触带来的摩擦和形变，减少了夹具的维护，同时也减少了连接器物料，节约了生产成本，解决了现有的PCB主板测试技术存在着测试方式繁琐，夹具的反复测试导致夹具容易损坏的问题。本实用新型实施例实现简单，不需要增加额外的硬件，可有效降低成本，具有较强的易用性和实用性。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于PCB主板的测试电路，所述测试电路与夹具连接，其特征在于，所述测试电路包括：

主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块；

所述天线模块的输出端接所述调频模块的输入端，所述调频模块的输出端接所述主控模块的输入端，所述主控模块的控制端接所述测试模块的接收端；

所述调频模块对所述天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给所述主控模块，所述主控模块接收到所述反馈信号后控制所述测试模块进行测试。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试模块包括同心圆测试焊盘，所述主控模块控制所述同心圆测试焊盘与所述夹具的同心圆接口压力接触并进行测试。

3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述天线模块包括：

天线、电容C1、电容C2以及电阻R1；

所述天线的第一输出端接地，所述天线的第二连接端与所述电容C1的第一端以及所述电阻R1的第一端相连接，所述电阻R1的第二端与所电容C2的第一端连接的公共连接端作为所述天线模块的输出端，所述电容C1的第二端与所述电容C2的第二端接地。

4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述调频模块包括调频芯片，

所述调频芯片的输入端和输出端分别为所述调频模块的输入端和输出端。

5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述主控模块包括微处理器，

所述微处理器的接收端和控制端分别为所述主控模块的输入端和控制端。

6.一种用于PCB主板的测试装置，包括测试电路，所述测试电路与夹具连接，其特征在于，所述测试电路包括：

主控模块、调频模块、天线模块以及测试模块；

所述天线模块的输出端接所述调频模块的输入端，所述调频模块的输出端接所述主控模块的输入端，所述主控模块的控制端接所述测试模块的接收端；

所述调频模块对所述天线模块发射或接收的射频信号进行调制，并发送反馈信号给所述主控模块，所述主控模块接收到所述反馈信号后控制所述测试模块进行测试。

7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块包括同心圆测试焊盘，所述主控模块控制所述同心圆测试焊盘与所述夹具的同心圆接口压力接触并进行测试。

8.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述天线模块包括：

天线、电容C1、电容C2以及电阻R1；

所述天线的第一输出端接地，所述天线的第二连接端与所述电容C1的第一端以及所述电阻R1的第一端相连接，所述电阻R1的第二端与所电容C2的第一端连接的公共连接端作为所述天线模块的输出端，所述电容C1的第二端与所述电容C2的第二端接地。

9.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述调频模块包括调频芯片，

所述调频芯片的输入端和输出端分别为所述调频模块的输入端和输出端。

10.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述主控模块包括微处理器，

所述微处理器的接收端和控制端分别为所述主控模块的输入端和控制端。