CN108107279B - 一种定制天线的来料检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种定制天线的来料检测方法，该定制天线通过网络分析仪进行检测。与现有技术相比，本发明的优点在于：通过将定制天线进行封样得到封样天线，并将该封样天线作为负载，进行网络分析仪的负载校准，能够对定制化天线实现精确测定同时方便对后续的来料天线进行定量测定，提高了检测效率，更加方便实用。
Description
技术领域
本发明具体涉及一种定制天线的来料检测方法。
背景技术
随着无线通信产业的快速发展，应用于无线通信产业的天线需求量也越来越大，如收音机、电视机、移动电话、电表等，均需要经由天线才能将声音、影像或其他数据进行传送，则天线的性能是影响通讯质量非常关键的因素，若天线存在性能问题，将会直接导致终端设备的射频性能下降，由此导致返工造成成本增加，因此，天线在制造完成后的检测过程是十分重要的。
目前，通过网络分析仪检验天线的驻波比以实现天线的检验，且网络分析仪在进行使用之前，首先需要进行校准，主要是开路校准、短路校准以及50欧姆负载校准，该网络分析仪只能用于对普通天线的校准，对于根据实际产品结构进行特殊定制的天线，由于定制天线只有装在产品内部的时候才能体现50欧姆的阻抗，而单独测量定制天线时，其阻抗已经偏离50欧姆，因此，不能精确地测量定制天线的性能。
因此，需要提供一种能够检测定制天线的方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种能够批量检测来料定制天线，以达到提高效率目的的定制天线的来料检测方法。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种定制天线的来料检测方法，所述定制天线通过网络分析仪进行检测，其特征在于，包括有以下步骤：
步骤1)、根据需求确定定制天线并进行封样，以获得封样天线；
步骤2)、对网络分析仪的频率范围进行初步设定后，并对网络分析仪进行校准，所述校准包括有开路校准、短路校准以及对步骤1)中封样天线作为负载进行的负载校准，从而获取校准后的网络分析仪；
步骤3)、使用步骤2)中校准后的网络分析仪检测后续待检测定制天线在频率范围内的驻波比SWR；
步骤4)、若检测到步骤3)中待检测定制天线在频率范围内的驻波比SWR<2，则执行步骤5)；否则，执行步骤6)；
步骤5)、认为待检测定制天线合格；
步骤6)、待检测定制天线不合格。
所述的封样天线为在确认定制天线物料后选择其中一个定制天线进行封样，通过后续来料定制天线与封样天线的物料进行比对，以判断是否需要对封样天线物料进行更改或后续来料天线与封样天线是否一致。
优选地，在步骤1)中，根据需求所确定的定制天线的频段有两个，分别为t1～t2和t3～t4，其中，t1<t2<t3<t4。
进一步优选，在步骤2)中，设定网络分析仪的频率范围为t0～t5，其中，t0<t1，t5>t4。
优选地，t1为880MHZ，t2为960MHZ，t3为1710MHZ，t4为1880MHZ。
进一步优选，t0为800MHZ，t5为2GHZ。
优选地，在步骤2)中的负载校准完成后，需要按下网络分析仪上的Marker按钮，选择Marker1为t1，Marker2为t2，Marker3为t3，Marker4为t4，从而将网络分析仪的检测频段设定为t1～t2和t3～t4。这样，能够很好地对网络分析仪进行检测频段的设定，从而方便后续来料定制天线的测定。
优选地，在步骤2)中，通过校准件对网络分析仪进行校准，所述校准件具有开路接头和短路接头，在进行开路校准时，所述校准件的开路接头与网络分析仪的检测口相连接；在进行短路校准时，所述校准件的短路接头与网络分析仪的检测口相连接；在进行负载校准时，封样天线为负载，并与网络分析仪的检测口相连接。
优选地，在进行开路校准或短路校准时，所述校准件悬空，并远离周围物体在m米之外；在进行负载校准时，所述封样天线悬空并远离周围物体在m米之外。这样，防止周围物体影响测试结果。
进一步优选，m为0.5米。
与现有技术相比，本发明的优点在于：该定制天线的来料检测方法，通过将定制天线进行封样得到封样天线，并将该封样天线作为负载，进行网络分析仪的负载校准，能够对定制化天线实现精确测定同时方便对后续的来料天线进行定量测定，提高了检测效率，更加方便实用。
附图说明
图1为本发明实施例的定制天线的来料检测方法的流程图。
具体实施方式
以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。
如图1所示，本发明实施例的定制天线通过网络分析仪进行检测，该定制天线的来料检测方法包括一种定制天线的来料检测方法，所述，包括有以下步骤：
步骤1)、根据需求确定定制天线并进行封样，以获得封样天线；本实施例中，根据需求所确定的定制天线的频段有两个，分别为t1～t2和t3～t4，其中，t1<t2<t3<t4；具体地，t1为880MHZ，t2为960MHZ，t3为1710MHZ，t4为1880MHZ；即两个频段分别为880MHZ～960MHZ，1710MHZ～1880MHZ；本实施例中是根据需求确定定制天线的设计方案，并经过各项测试后定型，然后进行封样，以获得封样天线，其中，测试包括有源测试和无源测试；
步骤2)、对网络分析仪的频率范围进行初步设定后，并对网络分析仪进行校准，所述校准包括有开路校准、短路校准以及对步骤1)中封样天线作为负载进行的负载校准，从而获取校准后的网络分析仪；在本实施例中，设定网络分析仪的频率范围为t0～t5，其中，t0<t1，t5>t4，t0为800MHZ，t5为2GHZ；
在本实施例中，在该步骤2)中的负载校准完成后，需要按下网络分析仪上的Marker按钮，选择Marker1为t1，Marker2为t2，Marker3为t3，Marker4为t4，从而将网络分析仪的检测频段设定为t1～t2和t3～t4。
步骤3)、使用步骤2)中校准后的网络分析仪检测后续待检测定制天线在频率范围内的驻波比SWR；本实施例中，需要检测880MHZ～960MHZ频段内的驻波比SWR1，以及1710MHZ～1880MHZ内的驻波比SWR2；
步骤4)、若检测到步骤3)中待检测定制天线在频率范围内的驻波比SWR<2，则执行步骤5)；否则，执行步骤6)；
步骤5)、认为待检测定制天线合格；在本实施例中，当SWR1<2且SWR2<2时，待检测定制天线合格；
步骤6)、待检测定制天线不合格。
本实施例中，在步骤2)中，通过校准件对网络分析仪进行校准，校准件具有开路接头和短路接头，在进行开路校准时，所述校准件的开路接头与网络分析仪的检测口相连接；在进行短路校准时，所述校准件的短路接头与网络分析仪的检测口相连接；在进行负载校准时，封样天线为负载，并与网络分析仪的检测口相连接。
为了防止周围物体影响检测结果，本实施例中，在进行开路校准或短路校准时，所述校准件悬空，并远离周围物体在m米之外；在进行负载校准时，所述封样天线悬空并远离周围物体在m米之外，其中，m为0.5米。
本实施例中，所谓“封样”天线，是指某种物料确认以后，要留一个出来，通过后续来料定制天线与封样天线的物料进行比对，从而判断供应商是否需要对封样天线物料进行更改，后续来料天线是否与原先封样天线的物料完全一致。
以上所述仅为本发明的优选实施方式，应当指出，对于本领域普通技术人员而言，在不脱离本发明的原理前提下，可以对本发明进行多种改型或改进，这些均被视为本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种定制天线的来料检测方法，所述定制天线通过网络分析仪进行检测，其特征在于，包括有以下步骤：
步骤1)、根据需求确定定制天线并进行封样，以获得封样天线；
步骤2)、对网络分析仪的频率范围进行初步设定后，并对网络分析仪进行校准，所述校准包括有开路校准、短路校准以及对步骤1)中封样天线作为负载进行的负载校准，从而获取校准后的网络分析仪；
步骤3)、使用步骤2)中校准后的网络分析仪检测后续待检测定制天线在频率范围内的驻波比SWR；
步骤4)、若检测到步骤3)中待检测定制天线在频率范围内的驻波比SWR<2，则执行步骤5)；否则，执行步骤6)；
步骤5)、认为待检测定制天线合格；
步骤6)、待检测定制天线不合格；
所述的封样天线为在确认定制天线物料后选择其中一个定制天线进行封样，通过后续来料定制天线与封样天线的物料进行比对，以判断是否需要对封样天线物料进行更改或后续来料天线与封样天线是否一致。
2.根据权利要求1所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：在步骤1)中，根据需求所确定的定制天线的频段有两个，分别为t1～t2和t3～t4，其中，t1<t2<t3<t4。
3.根据权利要求2所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：在步骤2)中，设定网络分析仪的频率范围为t0～t5，其中，t0<t1，t5>t4。
4.根据权利要求3所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：t1为880MHZ，t2为960MHZ，t3为1710MHZ，t4为1880MHZ。
5.根据权利要求4所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：t0为800MHZ，t5为2GHZ。
6.根据权利要求5所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：在步骤2)中的负载校准完成后，需要按下网络分析仪上的Marker按钮，选择Marker1为t1，Marker2为t2，Marker3为t3，Marker4为t4，从而将网络分析仪的检测频段设定为t1～t2和t3～t4。
7.根据权利要求1至6中任一项权利要求所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：在步骤2)中，通过校准件对网络分析仪进行校准，所述校准件具有开路接头和短路接头，在进行开路校准时，所述校准件的开路接头与网络分析仪的检测口相连接；在进行短路校准时，所述校准件的短路接头与网络分析仪的检测口相连接；在进行负载校准时，封样天线为负载，并与网络分析仪的检测口相连接。
8.根据权利要求7所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：在进行开路校准或短路校准时，所述校准件悬空，并远离周围物体在m米之外；在进行负载校准时，所述封样天线悬空并远离周围物体在m米之外。
9.根据权利要求8所述的定制天线的来料检测方法，其特征在于：m为0.5米。
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