CN104853021A - 一种手机生产测试系统的校准方法和设备 - Google Patents
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Abstract
本申请中公开了一种手机生产测试系统的校准方法和设备,该方法通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准,也即通过测试设备对射频线和标准综合测仪进行校准,在保证了精度的同时,能进行快速测量,适用于大规模测试无线终端系统中。
Description
技术领域
本申请实施例涉及通信技术领域,特别涉及一种手机生产测试系统的校准方法和设备。
背景技术
现有技术中,需要对手机射频信号的射频指标进行测试,只有达到规定的手机才能进行市场进行销售,现有技术中是通过手机综测仪对手机射频信号的射频指标进行检测,但在进行检测时,手机综测仪需要通过射频线连接手机,而射频线也存在信号衰减,因此在对手机射频信号的射频指标进行检测时,需要对射频线进行校准
而在现有技术中,进行校准方式有以下两种:
方式一,通过矢量网络综测仪进行校准,这种方式精度很高但是无法对射频线连接手机的一端进行测量,且矢量网络综测仪价格昂贵,使得校准的成本很高,并且该种方式无法对手机综测仪器的偏差进行一致性校正。
方式二、通过金机校准,具体的金机是挑选一批次手机中指标较好的手机,在进行测试时,金机通过射频线连接手机综测仪器,而金机的射频指标是确定的,以金机为标准来对射频线以及手机综测仪同时进行校准,该种校准方式需要消耗大量的测试金机,且金机的指标一致性和稳定性相对于仪表存在很大的差距以金机为标准,若金机出现问题,会导致手机的生产测试出现批量故障。
综上可见现有的校准方式中,都无法满足大规模对手机射频信号的射频指标的测试需要。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本申请提出了一种手机生产测试系统的校准方法,应用于包括标准综合测试仪和射频线的无线终端测试系统中,该方法包括:
通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;
通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;
基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准。
优选的,所述测试设备,具体为:具备矢量网络分析仪功能的接收机和模块。
优选的,所述通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损,包括:
将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接;
通过所述测试设备向所述射频线发送信号,并接收所述射频线反射的信号,发送的信号与接收的信号差值的1/2即为所述射频线的线损;
断开所述测试设备与所述射频线的连接。
优选的,所述将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接,包括:
通过定向耦合器将所述测试设备与所述射频线的仪器连接端连接。
优选的,所述仪表差包括上行仪表差和下行仪表差;
通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;包括:
将所述测试设备的发送端与所述标准综合测试仪的接收端直接连接,通过所述测试设备发送信号给所述标准综合测试仪,所述测试设备发送的信号与所述标准综合测试仪接收到的信号的差值即为所述标准综合测试仪的上行仪表差;
将所述测试设备的接收端与所述标准综合测试仪的发送端直接连接,通过所述测试设备接收所述标准综合测试仪发送的信号,所述测试设备接收的信号与所述标准综合测试仪发送的信号的差值即为所述标准综合测试仪的下行仪表差。
本申请还提出了一种手机生产测试系统的校准设备,应用于包括标准综合测试仪和射频线的无线终端测试系统中,该设备包括:
线损获取模块,用于通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;
仪表差获取模块,用于通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;
校准模块,用于基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准。
优选的,所述测试设备,具体为:具备矢量网络分析仪功能的接收机和模块。
优选的,所述线损获取模块,具体用于:
将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接;
通过所述测试设备向所述射频线发送信号,并接收所述射频线反射的信号,发送的信号与接收的信号差值的1/2即为所述射频线的线损;
断开所述测试设备与所述射频线的连接。
优选的,所述线损获取模块将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接,包括:
通过定向耦合器将所述测试设备与所述射频线的仪器连接端连接。
优选的,所述仪表差包括上行仪表差和下行仪表差;
所述仪表差获取模块,具体用于:
将所述测试设备的发送端与所述标准综合测试仪的接收端直接连接,通过所述测试设备发送信号给所述标准综合测试仪,所述测试设备发送的信号与所述标准综合测试仪接收到的信号的差值即为所述标准综合测试仪的上行仪表差;
将所述测试设备的接收端与所述标准综合测试仪的发送端直接连接,通过所述测试设备接收所述标准综合测试仪发送的信号,所述测试设备接收的信号与所述标准综合测试仪发送的信号的差值即为所述标准综合测试仪的下行仪表差。
与现有技术相比,本申请中通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准,也即通过测试设备对射频线和标准综合测仪进行校准,在保证了精度的同时,能进行快速测量,可以适用于大规模测试无线终端系统中。
附图说明
图1为本申请实施例提出一种手机生产测试系统的校准方法的流程示意图;
图1A为本申请实施例提出的一种手机生产测试系统的射频线的示意图;
图1B为本申请实施例提出的一种测试设备连接射频线的示意图;
图1C为本申请实施例提出的一种测试设备连接标准综测仪的示意图;
图2为本申请实施例提出的一种手机生产测试系统的校准设备的结构示意图。
具体实施方式
针对现有技术中的缺陷,本申请实施例提出了一种手机生产测试系统的校准方法,应用于包括标准综合测试仪和射频线的无线终端测试系统中,如图1所示,包括以下步骤:
步骤101、通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;
具体的,测试设备可以为:具备矢量网络分析仪功能的接收机和模块,当然除此以外,还可以是其他的设备,只要能获取射频线的线损以及标准综测仪的仪表差即可。
而具体的,获取线损的过程,包括:
将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接;通过所述测试设备向所述射频线发送信号,并接收所述射频线反射的信号,发送的信号与接收的信号差值的1/2即为所述射频线的线损;断开所述测试设备与所述射频线的连接。
具体的,如图1A所示,射频线有两端,一端为待测试无线终端连接端,用于连接待测试无线终端,例如手机,还有一端是仪器连接端,用来连接标准综测仪,也即仪器连接端,而由于连接带测试无线终端的那端,端口是专门针对待测试无线终端而设计的,无法连接校准设备,因此只能连接仪器连接端,具体的连接过程,如图1B所示,具体为:通过定向耦合器将所述测试设备与所述射频线的仪器连接端连接,其中测试设备有发送端和接收端,发送端与接收端通过一个定向耦合器与射频线实现连接,如此当测试设备(具体是发送端)向射频线发送一个信号,由于射频线会全反射(射频线连接带测试无线终端的一端处于空闲状态),因此测试设备会接收到一个返回的信号,这样由于信号在射频线中往返了一次,也即在射频线中传递了两次,因此总线损将会有两倍线损,由此就需要将获取到的发送的信号与接收的信号差值的1/2作为该射频线的线损,并在线损检测完成之后,断开与射频线的连接,并继续进行步骤102.
步骤102、通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;
具体的,由于标准综合测试仪有发送端和接收端,也即存在上行和下行,因此与此对应的仪表差也包括上行仪表差和下行仪表差;
而具体的获取仪表差的过程,包括:
将所述测试设备的发送端与所述标准综合测试仪的接收端直接连接,通过所述测试设备发送信号给所述标准综合测试仪,所述测试设备发送的信号与所述标准综合测试仪接收到的信号的差值即为所述标准综合测试仪的上行仪表差;
将所述测试设备的接收端与所述标准综合测试仪的发送端直接连接,通过所述测试设备接收所述标准综合测试仪发送的信号,所述测试设备接收的信号与所述标准综合测试仪发送的信号的差值即为所述标准综合测试仪的下行仪表差。
在具体的场景中,测试设备的发送端与标准综合测试仪的接收端直接连接,测试设备的接收端与标准综合测试仪的发送端直接连接,也即是端口直接连接,如图1C所示,在具体的实现中,通过定向耦合器以及宽带合路器进行发送端以及接收端的切换,端口之间的连接可以是通过测试设备的定向耦合器和标准综合测试仪的宽带合路器的连接,并没有其他的线缆之类的进行连接,这也是考虑到存在线缆就会有信号的衰减,因此直接连接,然后各自的发送端发送一个信号,对应的对端设备就会接收到一个信号,然后将发送的信号与接收的信号进行比较,会存在一个差值,该差值即为仪表差,而具体的,以标准综测仪为基准,判断信号是上行还是下行,对应的仪表差值即为对应的上行差值以及下行差值,也就是上行仪表差和下行仪表差。
步骤103、基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准。
在确定了线损,例如为Δ1,而上行仪表差为Δ21,下行仪表差为Δ22,校准值也就存在两个,对应上行的校准值则为Δ1+Δ21,下行的校准值则为Δ1+Δ22,由于线损是射频线的物理属性,并没办法直接在射频线上进行校准,因此线损也是需要在标准综合测试仪进行校准,也即通过标准综合测试仪对标准综合测试仪和射频线进行一并校准。
另外,考虑到随着时间的变化,射频线的线损会发生变化,而标准综合测试仪的仪表差也会发生变化,因此可以在设置一个时间阈值,当距离上一次校准的时间超过时间阈值时,就再次启动校准。而为了保证校准的准确性,可以预先用标定过的仪器对测试设备进行校准,以保证校准的准确性。
本申请实施例还公开了一种手机生产测试系统的校准设备,如图2所示,该设备包括:
线损获取模块201,用于通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;
仪表差获取模块202,用于通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;
校准模块203,用于基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准。
具体的,所述测试设备,具体为:具备矢量网络分析仪功能的接收机和模块。
具体的,所述线损获取模块201,具体用于:
将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接;
通过所述测试设备向所述射频线发送信号,并接收所述射频线反射的信号,发送的信号与接收的信号差值的1/2即为所述射频线的线损;
断开所述测试设备与所述射频线的连接。
所述线损获取模块201将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接,包括:
通过定向耦合器将所述测试设备与所述射频线的仪器连接端连接。
具体的,所述仪表差包括上行仪表差和下行仪表差;
所述仪表差获取模块202,具体用于:
将所述测试设备的发送端与所述标准综合测试仪的接收端直接连接,通过所述测试设备发送信号给所述标准综合测试仪,所述测试设备发送的信号与所述标准综合测试仪接收到的信号的差值即为所述标准综合测试仪的上行仪表差;
将所述测试设备的接收端与所述标准综合测试仪的发送端直接连接,通过所述测试设备接收所述标准综合测试仪发送的信号,所述测试设备接收的信号与所述标准综合测试仪发送的信号的差值即为所述标准综合测试仪的下行仪表差。
与现有技术相比,本申请中通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准,也即通过测试设备对射频线和标准综合测仪进行校准,在保证了精度的同时,能进行快速测量,可以适用于大规模测试无线终端系统中。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可以通过硬件实现,也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本申请的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施场景所述的方法。
本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图,附图中的模块或流程并不一定是实施本申请所必须的。
本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中,也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块,也可以进一步拆分成多个子模块。
上述本申请序号仅仅为了描述,不代表实施场景的优劣。
以上公开的仅为本申请的几个具体实施场景,但是,本申请并非局限于此,任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本申请的保护范围。
Claims (10)
1.一种手机生产测试系统的校准方法,其特征在于,应用于包括标准综合测试仪和射频线的无线终端测试系统中,该方法包括:
通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;
通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;
基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试设备,具体为:具备矢量网络分析仪功能的接收机和模块。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损,包括:
将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接;
通过所述测试设备向所述射频线发送信号,并接收所述射频线反射的信号,发送的信号与接收的信号差值的1/2即为所述射频线的线损;
断开所述测试设备与所述射频线的连接。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接,包括:
通过定向耦合器将所述测试设备与所述射频线的仪器连接端连接。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述仪表差包括上行仪表差和下行仪表差;
通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;包括:
将所述测试设备的发送端与所述标准综合测试仪的接收端直接连接,通过所述测试设备发送信号给所述标准综合测试仪,所述测试设备发送的信号与所述标准综合测试仪接收到的信号的差值即为所述标准综合测试仪的上行仪表差;
将所述测试设备的接收端与所述标准综合测试仪的发送端直接连接,通过所述测试设备接收所述标准综合测试仪发送的信号,所述测试设备接收的信号与所述标准综合测试仪发送的信号的差值即为所述标准综合测试仪的下行仪表差。
6.一种手机生产测试系统的校准设备,其特征在于,应用于包括标准综合测试仪和射频线的无线终端测试系统中,该设备包括:
线损获取模块,用于通过测试设备对射频线进行测试,获取所述射频线的线损;
仪表差获取模块,用于通过所述测试设备对标准综合测试仪进行测试,获取所述标准综合测试仪的仪表差;
校准模块,用于基于所述线损和所述仪表差确定校准值,以便所述标准综合测试仪基于所述校准值对所述标准综合测试仪和所述射频线进行校准。
7.如权利要求6所述的设备,其特征在于,所述测试设备,具体为:具备矢量网络分析仪功能的接收机和模块。
8.如权利要求6或7所述的设备,其特征在于,所述线损获取模块,用于:
将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接;
通过所述测试设备向所述射频线发送信号,并接收所述射频线反射的信号,发送的信号与接收的信号差值的1/2即为所述射频线的线损;
断开所述测试设备与所述射频线的连接。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述线损获取模块将所述测试设备与射频线的仪器连接端连接,包括:
通过定向耦合器将所述测试设备与所述射频线的仪器连接端连接。
10.如权利要求6所述的设备,其特征在于,所述仪表差包括上行仪表差和下行仪表差;
所述仪表差获取模块,具体用于:
将所述测试设备的发送端与所述标准综合测试仪的接收端直接连接,通过所述测试设备发送信号给所述标准综合测试仪,所述测试设备发送的信号与所述标准综合测试仪接收到的信号的差值即为所述标准综合测试仪的上行仪表差;
将所述测试设备的接收端与所述标准综合测试仪的发送端直接连接,通过所述测试设备接收所述标准综合测试仪发送的信号,所述测试设备接收的信号与所述标准综合测试仪发送的信号的差值即为所述标准综合测试仪的下行仪表差。
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