CN109150242B - 测试线损的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种测试线损的方法及装置，包括控制射频测试设备发送第一功率信号；通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N‑SMA转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号；根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。通过测量得到的功率值得到线损值，根据本公开实施例的测试线损的方法及装置能够提高线损值的精度。

Description

测试线损的方法及装置

技术领域

本公开涉及通信技术领域，尤其涉及一种测试线损的方法及装置。

背景技术

射频相关产品的研发、测试以及生产都需要用到射频测试设备（例如综合测试仪）对移动终端的射频功能进行测试和调试，在进行测试和调试前需要对射频测试设备和测试线（例如，射频线缆）的线损进行测试和校准补偿才能保证对终端设备的测试和调试的准确。

相关技术中，测试线的线损可以由短线的线损、射频测试设备的下行内损，以及参考发射功率和测试发射功率确定，误差较大。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种测试线损的方法及装置。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试线损的方法，包括控制射频测试设备发送第一功率信号；通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

在一种可能的实现方式中，所述根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值包括：根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。

在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。

在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。

在一种可能的实现方式中，在通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值之前，所述方法还包括：根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试线损的装置，包括控制模块，用于控制射频测试设备发送第一功率信号；第一获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；第二获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；第一确定模块，用于根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

在一种可能的实现方式中，所述第一确定模块包括：第一确定子模块，用于根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；第二确定子模块，用于根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；第三确定子模块，用于根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。

在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：第三获取模块，用于通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；第四获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；第二确定模块，用于根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。

在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：第五获取模块，用于通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；第三确定模块，用于根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。

在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：校准模块，用于根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种测试线损的装置，包括处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行上述第一方面的方法。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由处理器执行时，使得处理器能够执行上述第一方面的方法。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：在本公开中，根据射频测试设备获取第二功率信号的功率值和射频测试设备获取的第三功率信号的功率值，确定测试线在第一频率的线损值，通过测量得到的功率值得到线损值，提高了线损值的精度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。

图2a示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。

图2b示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。

图2c示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。

图2d示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。

图2e示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的机构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。

图4是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。

图5是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。

图6是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的装置的框图。

图7是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的装置的框图。

图8是根据一示例性实施例示出的一种用于测试线损的装置的框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

相关技术中，在实验室中和工厂中，可利用射频测试设备分别对待测对象（例如手机主板）的射频发射功率进行测试，在实验室中确定的参考发射功率可以表示为公式（1），工厂中测试得到的测试发射功率可以表示为公式（2），参考发射功率和测试发射功率的关系可以表示为公式（3）。

参考发射功率=发射功率-短线的线损-射频测试设备的实验下行内损公式（1）

测试发射功率=发射功率-测试线的线损-射频测试设备的实际下行内损公式（2）

参考发射功率=测试发射功率+插损差值公式（3）

其中，发射功率可以表示待测对象（例如手机主板）的发射功率，短线的线损可以表示实验室中使用的射频线缆的线损，射频测试设备的实验下行内损可以表示实验室中测试射频指标时射频测试设备的下行内损，其中，下行内损表示射频测试设备接收到射频信号时设备自身产生的功率损耗，测试线的线损可以表示工厂产线中使用的射频线缆的线损，射频测试设备的实际下行内损可以表示工厂产线中测试射频指标时射频测试设备的下行内损，插损差值可以表示工厂要将产线的测试发射功率补偿到与实验室中射频人员给出的参考发射功率所需的补偿功率。

根据公式（1）、公式（2）和公式（3），可以得到测试线的线损：

测试线的线损=短线的线损+射频测试设备的实验下行内损-射频测试设备的实际下行内损+插损差值公式（4）

其中，发射功率的频率在600M至1000M的范围内，短线的线损确定为0.6dB；发射功率的频率在1001M至2000M的范围内，短线的线损确定为0.9dB；发射功率的频率在2001M至2700M的范围内，短线的线损确定为1.2dB，这样会带来0.2dB至0.3dB的误差。忽略射频测试设备的实验下行内损-射频测试设备的实际下行内损，这样会带来0.2dB至0.3dB的误差。参考发射功率和测试发射功率的测量波动，导致插损差值波动，这样会带来0.1dB至0.2dB的误差。综上，测试线的线损误差较大。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。该测试线损的方法可以应用于控制设备。如图1所示，该测试线损的方法可包括步骤S11至步骤S14。

在步骤S101中，控制射频测试设备发送第一功率信号。

在步骤S102中，通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号。

在步骤S103中，通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件。

在步骤S104中，根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

在本公开中，根据射频测试设备获取第二功率信号的功率值和射频测试设备获取的第三功率信号的功率值，确定测试线在第一频率的线损值，通过测量得到的功率值得到线损值，提高了线损值的精度。

图2a示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。如图2a所示，该测试系统包括控制设备11、与控制设备11连接的射频测试设备12，以及一端与射频测试设备12直接连接、一端通过N-SMA转接头13与射频测试设备12连接的参考线14。

其中，控制设备11可以为计算机等。射频测试设备12可以为综合测试仪。控制设备11与射频测试设备12之间连接可实现数据（例如，步骤S102中的第二功率信号的功率值和步骤S103中的第三功率信号的功率值）和控制信号（例如，用于在步骤S101中控制射频测试设备发送第一功率信号的信号）的传输。

参考线14可为双N头射频线缆，参考线14的一端可以接在射频测试设备12的输出口上，参考线14的另一端可以接在N-SMA转接头13的N端，N-SMA转接头13的SMA端可以接在射频测试设备12的输入口上。

控制设备11可以控制射频测试设备12发送第一功率信号。第一功率信号的频点为第一频点。如图2a所示，第一功率信号从射频测试设备12的输出口输出，经过参考线14和N-SMA转接头13后进入射频测试设备12的输入口，进入射频测试设备12的输入口的功率信号为第二功率信号。射频测试设备12接收到第二功率信号后，可以测量第二功率信号的功率值。控制设备11可以通过射频测试设备12获取到该第二功率信号的功率值。

图2b示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。如图2b所示，该测试系统包括控制设备11、与控制设备11连接的射频测试设备12，以及一端通过参考线14与射频测试设备12连接、一端通过测试线16与射频测试设备12连接的连接器15。

其中，控制设备11、射频测试设备12和参考线14可以参照图2a，这里不再赘述。

测试线16为待测试线损值的射频线缆。连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件。在本公开实施例中，连接器可用于替代手机测试时的测试点。

如图2b所示，第一功率信号从射频测试设备12的输出口输出，经过参考线14、连接器15和测试线16后进入射频测试设备12的输入口，进入射频测试设备12的输入口的功率信号为第三功率信号。射频测试设备12接收到第三功率信号后，可以测量第三功率信号的功率值。控制设备11可以通过射频测试设备12获取到该第三功率信号的功率值。

控制设备11可以根据第二功率信号的功率值和第三功率信号的功率值，确定测试线16的在第一频点的线损值。

相关技术中，需要在各个频点，测量测试发射功率，确定该测试发射功率和对应参考发射功率的差值（插损差值），通过不断调整该差值，使得各频点下测试发射功率等于对应参考发射功率。这个不断调整的过程，在时间上导致测试过程占用较长的时间。

在本公开实施例中，省去了调整插损差值的过程，可以节省时间。

图3是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。如图3所示步骤S104根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值，可包括步骤S1041至步骤S1043。

在步骤S1041中，根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值。

在步骤S1042中，根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值。

在步骤S1043中，根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。

参照图2a，可以得到以下公式：

第二功率信号的功率-第一功率信号的功率=-（射频测试设备的上行内损+参考线的线损+N-SMA转接头的插损+射频测试设备的下行内损）公式（5）

其中，上行内损表示射频测试设备发送射频信号时设备自身产生的功率损耗。

参照图2b，可以得到以下公式：

第三功率信号的功率-第一功率信号的功率=-（射频测试设备的上行内损+参考线的线损+连接器的插损+测试线的线损+射频测试设备的下行内损）公式（6）

联立公式（5）和公式（6），得到以下公式：

测试线的线损=第二功率信号的功率-第三功率信号的功率+N-SMA转接头的插损-连接器的插损公式（7）

在公式（7）中，第二功率信号的功率值和第三功率信号的功率值可以通过射频测试设备获取。第一频点下N-SMA转接头的插损值可以根据N-SMA转接头的插损值和频点的对应关系确定。第一频点下连接器的插损值可以根据连接器的插损值与频点的对应关系确定。将第二功率信号的功率值、第三功率信号的功率值、第一频点下N-SMA转接头的插损值，以及第一频点下连接器的插损值带入公式（7），可以得到第一频点下测试线的线损值。

在一种可能的实现方式中，N-SMA转接头的插损值和频点的对应关系，以及连接器的插损值与频点的对应关系可由实际测量得到，即测量各频点下的N-SMA转接头的插损值建立N-SMA转接头的插损值和频点的对应关系，测量各频点下连接器的插损值建立连接器的插损值与频点的对应关系。需要说明的是，频点的频率和N-SMA转接头的插损值（连接器的插损值）呈正相关，频点的频率低，N-SMA转接头的插损值（连接器的插损值）小，频点的频率高，N-SMA转接头的插损值（连接器的插损值）大。

图4是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。如图4所示，该测试线损的方法还可包括步骤S105至步骤S107。

在步骤S105中，通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号。

在步骤S106中，通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号。

在步骤S107中，根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。

图2c示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。如图2c所示，该测试系统包括控制设备11、与控制设备连接的射频测试设备12、与控制设备的连接的功率探测设备18，以及参考线14和N-N转接头17。其中，参考线14的一端与射频测试设备12直接连接、一端通过N-N转接头17与功率探测设备18连接。

其中，控制设备11、射频测试设备12和参考线14可以参照图2a，这里不再赘述。

功率探测设备18为可以测量功率值的设备，例如功率探测头、功率计等。控制设备11月功率探测设备18之间连接可实现数据（例如，步骤S104中的第四功率信号的功率值和步骤S105中的第五功率信号的功率值）的传输。

如图2c所示，第一功率信号从射频测试设备12的输出口输出，经过参考线14和N-N转接头17后进入功率探测设备18，进入功率探测设备18的功率信号为第四功率信号。功率探测设备接收到第四功率信号后，可以测量第四功率信号的功率值。控制设备11可以通过功率探测设备18获取到该第四功率信号的功率值。

图2d示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的结构示意图。如图2d所示，该测试系统包括控制设备11、射频测试设备12和参考线14。其中，控制设备11、射频测试设备12和参考线14可以参照图2a这里，这里不再赘述。

如图2d所示，第一功率信号从射频测试设备12的输出口输出，经过参考线14后进入射频测试设备12的输入口，进入射频测试设备12的输入口的功率信号为第五功率信号。射频测试设备12接收到第五功率信号后，可以测量第五功率信号的功率值。控制设备11可以通过射频测试设备12获取到该第五功率信号的功率值。

控制设备11可以根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定射频测试设备12在第一频点的下行内损值。

参照图2c，可以得到以下公式：

第四功率信号的功率-第一功率信号的功率=-（射频测试设备的上行内损+参考线的线损+N-N转接头的插损）公式（8）

参照图2d，可以得到以下公式：

第五功率信号的功率-第一功率信号的功率=-（射频测试设备的上行内损+参考线的线损+射频测试设备的下行内损）公式（9）

联立公式（8）和公式（9），得到以下公式：

射频测试设备的下行内损=第四功率信号的功率-第五功率信号的功率+N-N转接头的插损公式（10）

在公式（10）中，第一频点的频率在9G以下时，N-N转接头的插损值小于0.05dB，可以忽略不计。因此公式（10）可以转化为：

射频测试设备的下行内损=第四功率信号的功率-第五功率信号的功率公式（11）

图5是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的方法的流程图。如图5所示，该测试线损的方法还可包括步骤S108和步骤S109。

在步骤S108中，通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号。

在步骤S109中，根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。

图2e示出本公开实施例的一个示例性的测试系统的机构示意图。如图2e所示，该测试系统包括控制设备11、与控制设备11连接的射频测试设备12，以及与射频测试设备12直接连接的功率探测设备18。其中，控制设备11和射频测试设备12可以参照图2a，功率探测设备18可以参照图2c，这里不再赘述。

如图2e所示，第一功率信号从射频测试设备12的输出口输出后直接进入功率探测设备18，进入功率探测设备18的功率信号为第六功率信号。功率探测设备18接收到第六功率信号后，可以测量第六功率信号的值。控制设备11可以通过功率探测设备18获取到该第六功率信号的值。

控制设备11可以根据第一功率信号的功率值和第六功率信号的功率值，确定射频测试设备12在第一频点上的下行内损值。

参照图2e，可以得到以下公式：

第六功率信号的功率-第一功率信号的功率=-射频测试设备的上行内损。

在一种可能的实现方式中，在通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，控制设备可以根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。

应用示例

第一阶段：设备校准

按照图2c连接控制设备11、射频测试设备12、参考线14、N-N转接头17和功率探测设备18。控制设备11可以控制射频测试设备12发送第一功率信号，通过功率探测设备18获取第四功率信号的功率值。

按照图2d连接控制设备11、射频测试设备12和参考线14。控制设备11可以控制射频测试设备12发送第一功率信号，通过射频测试设备12获取第五功率信号的功率值。

控制设备11可以根据第四功率信号的功率值和第五功率信号的功率值，确定射频测试设备12在第一频点下的下行内损值。

按照图2e连接控制设备11、射频测试设备12和功率探测设备18。控制设备11可以控制射频测试设备12发送第一功率信号，通过功率探测设备获取第六功率信号的功率值。

第五步，控制设备11可以根据第一功率信号的功率值和第六信号的功率值，确定射频测试设备12在第一频点下的上行内损值。

控制设备11可以根据功率探测设备18的下行内损值和上行内损值，对射频探测设备18进行校准。

第二阶段，线损测试

按照图2a连接控制设备11、射频测试设备12、参考线14和N-SMA转接头13。控制设备11可以控制射频测试设备12发送第一功率信号，通过射频测试设备12获取第二功率信号的功率值。

按照图2b连接控制设备11、射频测试设备12、参考线14、连接器15和测试线16。控制设备11可以控制射频测试设备12发送第一功率信号，通过射频测试设备12获取第三功率信号的功率值。

控制设备可以根据第二功率信号的功率值和第三功率信号的功率值，确定测试线16在第一频点的线损值。

图6是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的装置的框图。参照图6，该装置50可包括：控制模块51、第一获取模块52、第二获取模块53和第一确定模块54。

该控制模块51被配置为控制射频测试设备发送第一功率信号；

该第一获取模块52被配置为通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；

该第二获取模块53被配置为通过所述射频测试设备获取第三功率信号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；

该第一确定模块54被配置为根据所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

在本公开中，根据射频测试设备获取第二功率信号的功率值和射频测试设备获取的第三功率信号的功率值，确定测试线在第一频率的线损值，通过测量得到的功率值得到线损值，提高了线损值的精度。

图7是根据一示例性实施例示出的一种测试线损的装置的框图。参照图7，在一种可能的实现方式中，第一确定模块54可包括：第一确定子模块541、第二确定子模块542和第三确定子模块543。

该第一确定子模块541被配置为根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；

该第二确定子模块542被配置为根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；

该第三确定子模块543被配置为根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。

在一种可能的实现方式中，该装置50还可包括：第三获取模块55、第四获取模块56和第二确定模块57。

该第三获取模块55被配置为通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；

该第四获取模块56被配置为通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；

该第二确定模块57被配置为根据所述第四功率信号的功率值和所述第五功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。

在一种可能的实现方式中，该装置50还可包括：第五获取模块58和第三确定模块59。

该第五获取模块58被配置为通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；

该第三确定模块59被配置为根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。

在一种可能的实现方式中，该装置还可包括：校准模块60。

该校准模块60被配置为根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

图8是根据一示例性实施例示出的一种用于测试线损的装置800的框图。例如，装置800可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图8，装置800可以包括以下一个或多个组件：处理组件802，存储器804，电源组件806，多媒体组件808，音频组件810，输入/输出（I/ O）的接口812，传感器组件814，以及通信组件816。

处理组件802通常控制装置800的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件802可以包括一个或多个模块，便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如，处理组件802可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。

存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在装置800的操作。这些数据的示例包括用于在装置800上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（SRAM），电可擦除可编程只读存储器（EEPROM），可擦除可编程只读存储器（EPROM），可编程只读存储器（PROM），只读存储器（ROM），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件806为装置800的各种组件提供电力。电源组件806可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置800生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件808包括在所述装置800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器（LCD）和触摸面板（TP）。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置800处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件810包括一个麦克风（MIC），当装置800处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中，音频组件810还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/ O接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件814包括一个或多个传感器，用于为装置800提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件814可以检测到装置800的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置800的显示器和小键盘，传感器组件814还可以检测装置800或装置800一个组件的位置改变，用户与装置800接触的存在或不存在，装置800方位或加速/减速和装置800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件814还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件816被配置为便于装置800和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置800可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G、3G或4G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件816还包括近场通信（NFC）模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别（RFID）技术，红外数据协会（IrDA）技术，超宽带（UWB）技术，蓝牙（BT）技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置800可以被一个或多个应用专用集成电路（ASIC）、数字信号处理器（DSP）、数字信号处理设备（DSPD）、可编程逻辑器件（PLD）、现场可编程门阵列（FPGA）、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器804，上述指令可由装置800的处理器820执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器（RAM）、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (12)

1.一种测试线损的方法，其特征在于，所述方法包括：

控制射频测试设备发送第一功率信号；

通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；

通过所述射频测试设备获取第三功率信息号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；

根据N-SMA转接头与第一频点对应的第一插损值、连接器与所述第一频点对应的第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；

根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；

通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；

根据所述第四功率信号的功率值、所述第五功率信号的功率值以及第一频点下N-N转接头的插损值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；

根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值之前，所述方法还包括：

根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。

6.一种测试线损的装置，其特征在于，所述装置包括：

控制模块，用于控制射频测试设备发送第一功率信号；

第一获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第二功率信号的功率值，所述第二功率信号为所述第一功率信号经过参考线和N-SMA转接头后输出的信号；

第二获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第三功率信息号的功率值，所述第三功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线、连接器和测试线后输出的信号，所述连接器为用于连接所述参考线和所述测试线的标准元器件；

第一确定模块，用于根据N-SMA转接头与第一频点对应的第一插损值、连接器与所述第一频点对应的第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值，所述第一频点为所述第一功率信号的频点。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块包括：

第一确定子模块，用于根据N-SMA转接头的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第一插损值；

第二确定子模块，用于根据连接器的插损值与频点的对应关系，确定与所述第一频点对应的第二插损值；

第三确定子模块，用于根据所述第一插损值、所述第二插损值、所述第二功率信号的功率值和所述第三功率信号的功率值，确定所述测试线在所述第一频点的线损值。

8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第三获取模块，用于通过功率探测设备获取第四功率信号的功率值，所述第四功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线和N-N转接头后输出的信号；

第四获取模块，用于通过所述射频测试设备获取第五功率信号的功率值，所述第五功率信号为所述第一功率信号经过所述参考线后输出的信号；

第二确定模块，用于根据所述第四功率信号的功率值、所述第五功率信号的功率值以及第一频点下N-N转接头的插损值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的下行内损值。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第五获取模块，用于通过所述功率探测设备获取第六功率信号的功率值，所述第六功率信号为所述功率探测设备探测到的第一功率信号；

第三确定模块，用于根据所述第一功率信号的功率值和所述第六功率信号的功率值，确定所述射频测试设备在所述第一频点的上行内损值。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

校准模块，用于根据所述射频测试设备的下行内损值和所述射频测试设备的上行内损值，对所述射频测试设备进行校准。

11.一种测试线损的装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行如权利要求1至5任一项所述的方法。

12.一种非临时性计算机可读存储介质，其特征在于，当所述存储介质中的指令由处理器执行时，使得处理器能够执行如权利要求1至5任一项所述的方法。

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