CN112816787A - 一种线损点检系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及无线通信领域，公开了一种线损点检系统及方法。线损自动点检系统包括：射频测试设备，生产夹具，开关模块，功率计和控制终端；开关模块包括M个测试端口、参考端口和输出端口；每个测试端口通过对应的测试射频线路连接至射频测试设备；参考端口通过参考射频线路连接至射频测试设备；输出端口连接功率计的校准功率检测点；各个测试端口与输出端口、各个测试端口与参考端口、输出端口与参考端口，能够导通或断开；控制终端，用于根据目标测试射频线路，对开关模块进行选择性导通控制，以对目标测试射频线路进行线损测试。本发明实施例通过软件控制开关模块即可实现线损测量，不用人工手动连线操作，提高了线损测量精度和生产效率。

Description

一种线损点检系统及方法

技术领域

本发明涉及无线通信领域，尤其涉及一种线损点检系统及方法。

背景技术

随着电子信息的发展，电子产品的生产制造也成为了产品开发的一个重要的节点，射频信号的测试都是集成在生产夹具的屏蔽箱里面进行的，生产夹具通过转接线、转接头等射频信号线实现射频测试设备和待生产的电子产品的主板连接。为了快速实现大批量生产，需要快速实现对这种夹具上的射频连接线的损耗点检，从而实现对射频测试的功率标定，快速有效的解决批量生产的问题。

当前的线损点检方案主要有以下三种，分别具有明显的缺陷：

(1)金板线损点检方案，即通过将待生产的电子产品的主板在实验室里面标定好功率，这个主板即视为金板，将金板带到工厂批量生产的线体上进行功率标定，通过调整线损的大小测试达到金板标定的功率和接收灵敏度，即可得到对应频段的上行线损和下行线损。该方案需要单独在实验室制作金板，金板存在有效使用期限(比如一般使用三个月)，并且存在很多不便的因素。

(2)基于矢量网络分析仪进行S参数的检测，然后通过S参数获取对应的线损。该方案使用矢量网络分析仪进行标定测量，需要考虑仪表的内损。

(3)利用功率计直接在工厂的线体上进行功率的上行和下行标定，从而得到对应的射频信号的线损。

第(3)种方案使用功率计标定，是相对比较快捷的一种方案，但是当前的具体实现方案需要进行数次人工接线才能实现对各个通路的线损点检，在实际实施过程中，该人工接线方式不仅对操作员带来很多不便，而且失误率高，会产生比较多的系统误差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种线损点检系统及方法，以克服现有技术存在的因需要多次人工接线导致的操作不便、失误率高及误差大的缺陷。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种线损自动点检系统，包括：

射频测试设备，包括M条测试射频线路的生产夹具，所述M为大于1的自然数；

开关模块，所述开关模块包括参考端口、输出端口和M个测试端口，其中，所述M个测试端中的每个测试端口通过所述M条测试射频线路中的一条测试射频线路连接至所述射频测试设备形成M条测试射频通道，所述参考端口通过参考射频线路连接至所述射频测试设备形成参考射频通道，所述输出端口连接功率计的校准功率检测点，其中，所述M个测试端口中的任意一个测试端口与所述输出端口之间、所述M个测试端口中的任意一个测试端口与所述参考端口之间、所述输出端口与所述参考端口之间，能够导通或断开；

控制终端，用于针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制，完成所述目标测试射频线路的线损测试。

可选的，所述控制终端具体用于：

确定待安装于所述生产夹具上的射频前端设备；

根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息，配置应用于所述开关模块的导通配置文件；

按照所述导通配置文件依次控制所述开关模块实现多种导通状态，以完成所述目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

可选的，所述控制终端，还用于生成所述开关模块的全频段损耗补偿文件，在完成所述上行线损测试以及下行线损测试后，向测试结果文件中合入所述开关模块的全频段损耗补偿文件。

可选的，所述控制终端与所述开关模块之间，通过通用射频控制GRFC端口或者移动产业处理器MIPI端口连接。

可选的，所述控制终端，在所述针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制时，具体用于：

确定与所述目标测试射频线路连接的第i测试端口，1≤i≤M；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备与所述第i测试端口连接的相应端口输出第一设定功率，根据所述第一设定功率以及当前所述功率计获得的第一接收功率，计算所述目标测试射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的所述参考端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备与所述参考端口连接的相应端口输出第二设定功率，根据所述第二设定功率以及当前所述功率计获得的第二接收功率，计算所述参考射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述参考端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第三设定功率，所述射频测试设备与所述第i测试端口连接的相应端口接收功率，根据所述第三设定功率、所述参考射频线路的下行损耗以及所述射频测试设备的接收功率，计算所述目标测试射频线路的上行损耗。

一种线损自动点检方法，应用于如上任一项所述的线损自动点检系统，所述线损自动点检方法包括：

针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制；

对所述目标测试射频线路进行线损测试。

可选的，所述对所述开关模块进行选择性导通控制的方法，包括：

确定待安装于所述生产夹具上的射频前端设备；

根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息，配置应用于所述开关模块的导通配置文件；

按照所述导通配置文件依次调整所述开关模块的导通状态，完成所述目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

可选的，还包括：预先生成所述开关模块的全频段损耗补偿文件，在完成所述上行线损测试以及下行线损测试后，向测试结果文件中合入所述开关模块的全频段损耗补偿文件。

可选的，所述针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制包括：

确定与所述目标测试射频线路连接的第i测试端口；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述第i测试端口连接的相应端口输出第一设定功率，根据所述第一设定功率以及当前所述功率计获得的第一接收功率，计算所述目标测试射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的所述参考端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第二设定功率，根据所述第二设定功率以及当前所述功率计获得的第二接收功率，计算所述参考射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述参考端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第三设定功率，所述射频测试设备的与所述第i测试端口连接的相应端口接收功率，根据所述第三设定功率、所述参考射频线路的下行损耗以及所述射频测试设备的接收功率，计算所述目标测试射频线路的上行损耗。

可选的，在对所述开关模块进行选择性导通控制之前，所述方法还包括：

向所述开关模块传输通用射频控制GRFC控制指令或者移动产业处理器MIPI控制指令，所述GRFC控制指令或者MIPI控制指令用于控制所述开关模块的指定端口导通。

与现有技术相比，本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例公开的线损点检系统，引入一个多入多出的开关模块，通过软件控制这个开关模块即可实现线损测量，测量过程中不用人工手动连线操作(而现有技术中尤其对于5G测试终端DUT，可能需要高达20-40余次的手动点检)，一站式实现了下行线损和上行线损的测量，不用人为干预，一方面提高了系统的线损测量精度，另一方面也实现了生产自动化，提高了生产效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为现有的典型4G方案的线损点检系统示意图。

图2为现有的典型4G方案的线损点检方法流程图。

图3为现有的典型5G方案的线损点检系统示意图。

图4为本发明实施例提供的典型5G方案的线损点检系统示意图。

图5为图4中开关模块的内部结构示意图。

图6为本发明实施例提供的线损点检方法流程图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明实施例方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明实施例一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明实施例中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明实施例保护的范围。

本发明实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在开始阐述该发明的方案之前，先介绍下现有的基于功率计的线损点检方案。图1示出了目前典型的4G方案的功率标定系统示意图，包括：综测仪器(即射频测试设备)、生产夹具、待测主板(即待测的射频前端设备)和功率计。其中，综测仪器、生产夹具和功率计组成线损点检系统。虚线框中是生产夹具的接线部分，DUT就是待测主板，ANT0是TX/PRX(TX：发射信号通路，PRX：主集接收信号通路)，ANT1是DRX(分集接收通路)。

图1中的P1、P2表示的是主板和生产夹具的转接头的连接节点，换句话说，针对图1需要测量出来射频线路L1从端口1到P1的上行损耗和下行损耗，需要测量出来射频线路L2从端口2到P2的上行损耗和下行损耗。

综测仪器上包括有三个端口，端口1连接ANT0，对应的射频夹具线损就是L1的上行线损UL_L1和下行线损DL_L1；端口2连接ANT1，对应的射频夹具线损就是L2的上行线损UL_L2和下行线损DL_L2,；端口3作为一个参考通路，同时作为信号发射器提供上行通路UL损耗的计算。

图2示出了目前典型4G方案的线损点检方法，包括：

步骤101、首先需要对功率计及其连线进行校准，将功率计的损耗校准到图1中的T点，这样实际测试的功率点就是T点测量的值。

步骤102、手动连线3，将功率计的T点和L1的P1点连接，这样，控制综测仪器的端口1输出功率Power_{_设定L1}，通过功率计测试的功率Power_{_功率计L1}就可以算出L1的下行损耗DL_{_L1}，即：

Power_{_设定L1}-Power_{_功率计L1}＝DL_{_L1} (公式1)

步骤103、手动连线1，将功率计的T点和L3的Rt点连接，这样，控制综测仪器的端口3输出功率Power_{_设定L3}，通过功率计测试的功率Power_{_功率计L1}就可以算出L3的下行损耗DL_{_L3}，即：

Power_{_设定L3}-Power_{_功率计L1}＝DL_{_L3} (公式2)

步骤104、手动连线2，将L1的P1点和L3的Rt点连接，这样，控制综测仪器的端口3输出功率Power_{_设定L3}，综测仪器的端口1接收功率Power_{_仪器端口1}，可以算出L1的上行损耗UL_{_L1}：

Power_{_设定L3}-DL_{_L3}–UL_{_L1}＝Power_{_仪器端口1}

即，UL_{_L1}＝Power_{_设定L3}-DL_{_L3}–Power_{_仪器端口1} (公式3)

从上面的(公式1)到(公式3)可以得到射频线路L1的上行和下行损耗，这样手动接线需要进行三次。

基于上述内容，可以了解到，针对图1所示的典型4G方案，为完成基于对L1和L2两根射频线路的功率标定，需要计算出L1和L2两根射频线路的插损，而基于上面的基于功率计的线损点检方案，由于作为参考信号的射频线路L3的上行损耗DL_L3确定，因此总共需要至少进行5次的手动连接。那么针对图3所示的典型的5G功率标定线损点检方案，如果还是传统的方案，那么需要至少手动连线10*2+1＝21次，如果天线端口ANT1-ANT10有不同频段的复用，那么点检过程中手动接线的次数会更多。

为此，本发明实施例提供一种线损点检方案，在常规方案中引入一个开关模块，这样就可以通过一次接线操作实现对生产夹具的所有射频线路的线损测量。

本发明实施例提供的线损点检系统，包括：射频测试设备，提供有M条测试射频线路的生产夹具，开关模块，功率计和控制终端，其中M为大于1的自然数。

开关模块包括M个测试端口、参考端口和输出端口；其中，每个测试端口通过对应的一条测试射频线路连接至射频测试设备，形成M条测试射频通道；参考端口通过参考射频线路连接至射频测试设备，形成参考射频通道；输出端口连接所述功率计的校准功率检测点。

需要说明的是，为了方便区分，本实施例对开关模块的各个端口的功能做了分类，对于用于与待测试的测试射频线路连接的端口称为测试端口，将用于与参考射频线路连接的形成参考信号的的端口称为参考端口。

开关模块内，各个测试端口与输出端口之间、各个测试端口与参考端口之间、输出端口与参考端口之间，能够导通或断开；通过调整控制这些端口的导通方式，即可控制开关模块实现不同导通状态。

控制终端，与射频测试设备、开关模块以及功率计分别控制连接，用于针对M条测试射频线路中的目标测试射频线路，对开关模块进行选择性导通控制，以对目标测试射频线路进行线损测试。

在实际应用中，安装于生产夹具上的待进行射频测试的射频前端设备的类型不同，为完成不同的射频前端设备的功率标定，需要测试生产夹具上不同射频线路的线损，因此在本发明中控制终端只需要根据当前的射频前端设备确定需要进行线损测试的目标测试射频线路，控制开关模块进行相应的导通状态，即可完成所需的线损测试。

相比于传统的人工接线方式，本发明实施例中由于开关模块的引入，只需要在测试前完成一次接线，后续测试过程中可通过控制终端来自动控制开关模块调整为不同的导通状态，即可完成目标测试射频线路的上下行线损测试，不仅大大提高了线损点检的工作效率，而且可有效降低失误率，确保检测结果的准确性。

在一种实施方式中，控制终端，在对开关模块进行选择性导通控制时，具体用于：确定待安装于生产夹具上的射频前端设备，根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息，配置应用于开关模块的导通配置文件，按照导通配置文件依次控制开关模块实现多种导通状态，以完成目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

需要说明的是，目标测试射频线路的数量可以为多条，实际可以根据待安装于生产夹具上的射频前端设备的类型来确定。在目标测试射频线路为多条时，仅需按照相同的逻辑根据实际情况来配置完整的导通配置文件，后续按照此导通配置文件控制开关模块，即可依次完成对各个目标测试射频线路的线损测试。

具体的，射频前端设备可以为2G网络设备、3G网络设备、4G网络设备或者5G网络设备，每种网络类型的通讯设备又可具有不同的工作频段，例如：针对2G网络设备，其天线的工作频段可以为GSM850频段、GSM900频段、GSM1800频段或者GSM1900频段。属于同一网络类型但具有不同工作频段的网络设备，其天线工作通路会有所差异，对应的生产夹具上的物理通路也不同，使得需要测试线损的测试射频线路也不同。因此，实际可以根据安装于生产夹具上的射频前端设备的具体类型，来配置用于控制开关模块导通状态的导通配置文件。

通过导通配置文件的生成，便于控制终端快速准确的对开关模块进行导通控制，使得整个线损测试过程能够高效率的完成。

具体的，控制终端，在对每条目标测试射频线路进行线损测试时，用于：

确定与目标测试射频线路的连接的第i测试端口，1≤i≤M；

控制开关模块的第i测试端口与输出端口导通，并控制射频测试设备的与第i测试端口连接的相应端口输出第一设定功率，根据第一设定功率以及当前功率计获得的第一接收功率，计算第i条测试射频线路的下行损耗；

控制开关模块的参考端口与输出端口导通，并控制射频测试设备的与参考端口连接的相应端口输出第二设定功率，根据第二设定功率以及当前功率计获得的第二接收功率，计算参考射频线路的下行损耗；

控制开关模块的第i测试端口与参考端口导通，并控制射频测试设备的与参考端口连接的相应端口输出第三设定功率，射频测试设备的与第i测试端口连接的相应端口接收功率，根据第三设定功率、参考射频线路的下行损耗以及射频测试设备的接收功率，计算第i条测试射频线路的上行损耗。

请参阅图4，该图为本发明实施例提供的适用于典型5G方案的线损点检系统实例，具体包括综测仪器(即射频测试设备)、生产夹具、开关模块、功率计和电脑PC(即控制终端)。

生产夹具提供有10条测试射频线路(分别为A1-A8、B1和C1)，开关模块具有10个测试端口(分别为ANT1-ANT10)、一个输出端口T和一个参考端口Rt。

开关模块的测试端口ANT1-ANT8通过生产夹具的射频线路以及多工器连接至综测仪器的端口1，开关模块的测试端口ANT9和ANT10直接通过射频线路连接至综测仪器的端口2和端口3；参考端口Rt通过参考射频线路连接至综测仪器的端口4，输出端口T连接功率计的校准功率检测点。

关于开关模块的内部逻辑结构如图5所示，测试端口ANT1-ANT10和输出端口T以及参考端口Ref都有逻辑导通的关系，输出端口T和参考端口Ref也有导通的关系。

关于图4中的开关模块，其通路控制可以根据预先生成的导通配置文件来实现。而导通配置文件可以基于如下表1提供的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及如下表2至表5提供的射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息来生成。

在实际应用过程中，需要将各个表格中的内容对应的补充完整，在功率标定的过程中，软件根据这些关系图，通过上面(公式1)-(公式3)进行对应的功率标定检测，即可获取到对应通路的线损。

表1关系反应了实际的系统连接关系，比如ANT1-ANT8连接的是综测仪器的端口1，ANT9连接的是综测仪器的端口2，ANT10连接的是综测仪器的端口3，Ref连接的是综测仪器表的端口4。

表1 综测仪器端口和DUT天线端口的关系图

ANT1

ANT2

…

ANT8

ANT9

ANT10

Ref

端口1

True

True

True

True

端口2

True

端口3

True

端口4

True

表2是对应2G网络的天线ANT端口和工作频段的关系图，比如，针对GSM850的频段，天线工作通路对应的是ANT1和ANT4这两个物理通路，那么在实际功率标定线损测量的时候，GSM850的功率标定线损测量只用测试ANT1和ANT4这两个通路即可。其他的雷同。另外Ref因为是参考通路，因此每个频段都需要参考标定。

表2 2G频段天线端口和测试频段的关系图

2G频段	GSM850	GSM900	GSM1800	GSM1900
					ANT1	True	True
ANT2
					ANT3			True	True
ANT4	True	True
					ANT5
ANT6
					ANT7
ANT8			True	True
					ANT9
ANT10
					Ref	True	True	True	True

下表3到表5分别是对应3G、4G、5G网络的天线ANT端口和工作频段的关系图，表中枚举了每个天线ANT端口和对应功率频段关系。另外Ref因为是参考通路，因此每个频段都需要参考标定。

表3 3G频段天线端口和测试频段的关系图

表4 4G频段天线端口和测试频段的关系图

表5 5G频段天线端口和测试频段的关系图

另外，需要说明的是，开关模块与控制终端之间通过GRFC(General RadioFrequency Control，通用射频控制)接口连接，也可以是MIPI(Mobile IndustryProcessor Interface，移动产业处理器接口)连接。针对图5的开关示意图，如果是GRFC接口，C1、C2、C3、C4、C5是对应的控制端口，基于GRFC控制端口的一种控制实例，如下表6所示，这种逻辑只是一种实例，不做限定，凡是基于这个方案实现这种逻辑的都是在发明的保护范围内。

表6 基于GRFC控制端口的开关模块的控制实例

基于上述的线损点检系统，本发明实施例还提供了一种线损点检方法，在开始线损测试前，需要先进行以下准备工作：

一、校准：针对图4的校准，如下步骤。

1，功率计的校准：校准将测试线的损耗补偿进去，校准的参考点到T点。

2，开关模块通过矢量网络分析仪器测量出来S21参数(说明下：因为开关模块整体设计都是标准的50欧姆系统，S11的模值会比较大，造成的功率损耗忽略，整个系统的损耗通过S21即可达成精度)，即S(T,ANT1)、S(T,ANT2)、S(T,ANT3)、S(T,ANT4)、S(T,ANT5)、S(T,ANT6)、S(T,ANT7)、S(T,ANT8)、S(T,ANT9)、S(T,ANT10)、S(T,Ref)，这些参数通过该方案的offset参数补偿，具体的实例如下表7所示。该文件通过自动化工具自动测试生成。

表7 开关模块Offset插损表实例

二、校准完成之后，按照图4进行系统的连接。

三、填写表1至表5，根据系统的综测仪端口连接-天线端口-工作频段的关系完成表中的内容，参考的系统硬件设计的对应的通路，这样系统在测试过程中，调用到某个端口，系统就会控制图4的控制接口，将开关控制到对应的导通的天线端口-T以及天线端口-Ref上，实现对应功率的标定和线损的测量。如下表8就是一个具体5G频段对应的实例，可参考表8完成表5的信息填写。

表8 5G天线端口和频段对应的关系图

在准备完成之后，即可进入具体的线损测量过程，如图6所示，包括步骤：

步骤201、生成开关模块的各个端口的全频段损耗补偿文件。

步骤202、校准功率计到参考点，校准综测仪器到N型接头处。

步骤203、确定当前待检测的射频前端设备，据此输入对应天线端口和工作频段的对应关系。

步骤204、按照天线端口和工作频段的对应关系，配置当前应用于开关模块的导通配置文件，完成下行线损测试和上行线损测试。

步骤205、在线损测试结果中，合入开关模块的全频段损耗补偿文件。

此后，可以再进一步生成用于完成后续功率标定的校准线损文件和综测校准文件，并基于线损验证校准、综测TX和RX指标，业界已有成熟的验证方法，例如正态分布cpk确定期望和标准差综合判定系统功率点检的效果。

需要说明的是，综测线损一般是测试那些频段对应的几个信道，就按照信道补偿对应的线损即可。但是对校准来说，一般都是有一个参考信道，那么生成的线损文件就是基于每个频段、每个天线和对应的参考信道生成线损即可。

综上，本发明实施例公开的线损点检系统，引入了一个多入多出的开关模块，通过软件控制这个开关模块实现线损测量，测量过程中不用再手动连线操作(而现有技术中尤其对于5G测试终端DUT，可能需要高达20-40余次的手动点检)，一站式实现了DL下行线损和UL上行线损的测量，不用人为干预，一方面提高了系统的线损测量精度，另一方面也实现了生产自动化，提高了生产效率。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种线损自动点检系统，其特征在于，包括：

射频测试设备，包括M条测试射频线路的生产夹具，所述M为大于1的自然数；

开关模块，所述开关模块包括参考端口、输出端口和M个测试端口，其中，所述M个测试端中的每个测试端口通过所述M条测试射频线路中的一条测试射频线路连接至所述射频测试设备形成M条测试射频通道，所述参考端口通过参考射频线路连接至所述射频测试设备形成参考射频通道，所述输出端口连接功率计的校准功率检测点，其中，所述M个测试端口中的任意一个测试端口与所述输出端口之间、所述M个测试端口中的任意一个测试端口与所述参考端口之间、所述输出端口与所述参考端口之间，能够导通或断开；

控制终端，用于针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制，以对所述目标测试射频线路进行线损测试。

2.根据权利要求1所述的线损自动点检系统，其特征在于，所述控制终端具体用于：

确定待安装于所述生产夹具上的射频前端设备；

根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息，配置应用于所述开关模块的导通配置文件；

按照所述导通配置文件依次控制所述开关模块实现多种导通状态，以完成所述目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

3.根据权利要求1或2所述的线损自动点检系统，其特征在于，所述控制终端，还用于生成所述开关模块的全频段损耗补偿文件，在完成所述上行线损测试以及下行线损测试后，向测试结果文件中合入所述开关模块的全频段损耗补偿文件。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的线损自动点检系统，其特征在于，所述控制终端与所述开关模块之间，通过通用射频控制GRFC端口或者移动产业处理器MIPI端口连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的线损自动点检系统，其特征在于，所述控制终端，在所述针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制时，具体用于：

确定与所述目标测试射频线路连接的第i测试端口，1≤i≤M；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备与所述第i测试端口连接的相应端口输出第一设定功率，根据所述第一设定功率以及当前所述功率计获得的第一接收功率，计算所述目标测试射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的所述参考端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备与所述参考端口连接的相应端口输出第二设定功率，根据所述第二设定功率以及当前所述功率计获得的第二接收功率，计算所述参考射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述参考端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第三设定功率，所述射频测试设备与所述第i测试端口连接的相应端口接收功率，根据所述第三设定功率、所述参考射频线路的下行损耗以及所述射频测试设备的接收功率，计算所述目标测试射频线路的上行损耗。

6.一种线损自动点检方法，其特征在于，应用于所述权利要求1-4中任一项所述的线损自动点检系统，所述线损自动点检方法包括：

针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制；

对所述目标测试射频线路进行线损测试。

7.根据权利要求6所述的线损自动点检方法，其特征在于，所述对所述开关模块进行选择性导通控制的方法，包括：

确定待安装于所述生产夹具上的射频前端设备；

根据预设的射频测试设备的端口与射频前端设备的天线端口的连接关系信息、以及射频前端设备的天线端口与工作频段的映射关系信息，配置应用于所述开关模块的导通配置文件；

按照所述导通配置文件依次调整所述开关模块的导通状态，完成所述目标测试射频线路的上行线损测试以及下行线损测试。

8.根据权利要求6或7所述的线损自动点检方法，其特征在于，还包括：预先生成所述开关模块的全频段损耗补偿文件，在完成所述上行线损测试以及下行线损测试后，向测试结果文件中合入所述开关模块的全频段损耗补偿文件。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的线损自动点检方法，其特征在于，所述针对M条所述测试射频线路中的目标测试射频线路，对所述开关模块进行选择性导通控制，包括：

确定与所述目标测试射频线路连接的第i测试端口；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述第i测试端口连接的相应端口输出第一设定功率，根据所述第一设定功率以及当前所述功率计获得的第一接收功率，计算所述目标测试射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的所述参考端口与所述输出端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第二设定功率，根据所述第二设定功率以及当前所述功率计获得的第二接收功率，计算所述参考射频线路的下行损耗；

控制所述开关模块的第i测试端口与所述参考端口导通，并控制所述射频测试设备的与所述参考端口连接的相应端口输出第三设定功率，所述射频测试设备的与所述第i测试端口连接的相应端口接收功率，根据所述第三设定功率、所述参考射频线路的下行损耗以及所述射频测试设备的接收功率，计算所述目标测试射频线路的上行损耗。

10.根据权利要求6所述的线损自动点检方法，其特征在于，在对所述开关模块进行选择性导通控制之前，所述方法还包括：

向所述开关模块传输通用射频控制GRFC控制指令或者移动产业处理器MIPI控制指令，所述GRFC控制指令或者MIPI控制指令用于控制所述开关模块的指定端口导通。

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