CN104833869A - 天线测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种天线的测试装置,其包括一耦合天线及一网络分析仪,其中该网络分析仪通过一数据线与该耦合天线连接。该耦合天线用于在测试过程中,接收该网络分析仪上产生的入射波,在该入射波的作用下该耦合天线与待测天线发生感应作用,影响该耦合天线的辐射阻抗,从而影响该耦合天线的反射波。该网络分析仪根据入射波与耦合天线反馈的反射波获得一驻波比。本发明还揭露了一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。本发明提供的天线的测试装置及方法由于无需将天线与测试仪器网络分析仪(VNA)进行物理连接,从而大大减小了天线损坏的可能性,另外对于设置于产品内的天线出现异常需要异常,也不需要拆开产品,大大节省了成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种天线测试装置及方法。
背景技术
当前天线的测试通过无源测试来判断天线的好坏,具体为将天线与测试仪器网络分析仪(VNA)进行物理连接,直接测出VSWR等相关参数。该测试方法需物理连接,较不方便,另外,物理连接容易损坏天线。再者,当前手持式设备的天线都在产品内部,在产品闭合前,无线产品的最终测试都是在天线连接下的辐射测试,如果天线异常需要检查,就要拆开产品进行物理连接测试,造成成本增加。
发明内容
有鉴于此,提供一种成本较低且测试较方便的天线测试装置。
另,有必要提供一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。
一种天线测试装置,其包括一网络分析仪及一耦合天线,该耦合天线通过一数据线与所述网络分析仪相连接,所述网络分析仪产生一入射波,所述耦合天线在该入射波的作用下与待测天线产生感应作用,影响所述耦合天线的辐射阻抗,从而影响所述耦合天线的反射波,该网络分析仪根据入射波与所述耦合天线反馈的反射波获得一驻波比。
一种天线测试方法,该方法包括如下步骤:
提供一种天线测试装置,所述天线测试装置包括一耦合天线及一网络分析仪,其中所述网络分析仪通过一数据线与所述耦合天线连接;设置参考天线于距所述耦合天线一预设距离处;控制所述网络分析仪产生一入射波于所述耦合天线,使得所述耦合天线在该入射波的作用下与参考天线发生感应作用,并反馈一反射波于所述网络分析仪中;根据该入射波与反射波获得一上限参考驻波比及一下限参考驻波比并显示于所述网络分析仪中;取下参考天线,放置一待测天线;控制所述网络分析仪产生所述入射波于所述耦合天线,使得所述耦合天线在该入射波的作用下与待测天线发生感应作用,并反馈一反射波于所述网络分析仪中;所述网络分析仪根据所述入射波与所述反射波得到一驻波比;比较该驻波比与一上限参考驻波比及一下限参考驻波比来判断待测天线是否合格。
相较于现有技术,该天线测试装置利用耦合天线在入射波的作用下与待测天线发生感应作用,并反馈一反射波于该网络分析仪中;网络分析仪根据入射波与反射波得到一驻波比,进而判断该待测天线的性能。该天线测试装置无需将天线与测试仪器网络分析仪(VNA)进行物理连接,大大减小了天线损坏的可能性,另外对于设置于产品内的天线出现异常需要异常,也不需要拆开产品,大大节省了成本。
附图说明
图1是本发明天线测试装置的实施方式示意图。
图2是本发明天线测试方法实施方式流程图。
主要元件符号说明
天线测试装置 | 100 |
网络分析仪 | 10 |
耦合天线 | 20 |
数据线 | 30 |
待测天线 | 40 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明较佳实施例的天线测试装置100可以用于测试移动电话等便携试电子装置(图中未示)内的天线,该天线测试装置100包括一网络分析仪10及一耦合天线20,其中该网络分析仪10通过一数据线30,如RF cable,与该耦合天线20连接。该耦合天线20用于在测试过程中,接收该网络分析仪10的入射波,在该入射波的作用下与安装有待测天线40的产品产生感应作用,影响该耦合天线20的辐射阻抗,从而影响该耦合天线20的反射波,所述网络分析仪10根据所述入射波与该反射波得到一驻波比。
请参阅图2,利用该天线测试装置100测试天线性能时,需要通过一数据线30,与该天线测试装置100中的耦合天线20连接。该网络分析仪10产生一入射波,放置一参考天线(图中未示)于距该耦合天线20一预设距离处,该参考天线用于在入射波的作用下与该耦合天线20发生感应作用,得到一上限参考驻波比及一下限参考驻波比,其具体包括以下步骤:
步骤S10,为此测试程序的初始步骤,在网络分析仪10上设置待测天线40所需频段。在本实施例中,该网络分析仪10产生入射波频率的范围为700-2600MHZ。
步骤S12,将参考天线放置在与所述耦合天线20小于或等于预设距离的位置。在本实施例中,该预设距离的范围小于或等于2cm,优选为1cm。
步骤S14,调节该网络分析仪10,该网络分析仪10产生与放置参考天线时相同的入射波。在本实施例中,该入射波通过所述数据线30传输给所述耦合天线20。
步骤S16,所述耦合天线20接受该入射波,使得所述耦合天线20在该入射波的作用下与参考天线发生感应作用,并反馈一反射波于所述网络分析仪10中。在本实施例中,所述耦合天线20与所述待测天线40发生感应作用,所述耦合天线20的辐射阻抗会发生变化,从而影响耦合天线20的反射波。
步骤S18,所述网络分析仪10根据入射波与所述耦合天线20反馈的反射波得到一上限参考驻波比及一下限参考驻波比。
步骤S20,取走参考天线,放置一待测天线40,该待测天线40放置的位置与所述参考天线相同。
步骤S22,调节所述网络分析仪10,所述网络分析仪10产生一入射波,该入射波是与放置参考天线时该网络分析仪10产生的入射波相同。在本实施例中,该入射波通过所述数据线30传输给所述耦合天线20。
步骤S24,所述耦合天线20接受该入射波,使得所述耦合天线20在该入射波的作用下与待测天线40发生感应作用,并反馈一反射波于所述网络分析仪中。在本实施例中,所述耦合天线20与所述待测天线40发生感应作用,所述耦合天线20的辐射阻抗会发生变化,从而影响该耦合天线20的反射波。
步骤S26,所述网络分析仪10根据入射波与所述耦合天线20反馈的反射波得到所述耦合天线20一驻波比。若该驻波比在一上限参考驻波比与一下限参考驻波比范围内,该待测天线合格,反之,不合格。
显然,利用本发明测试装置无需将天线与测试仪器网络分析仪(VNA)进行物理连接,大大减小了天线损坏的可能性,另外对于设置于产品内的天线出现异常需要异常,也不需要拆开产品,大大节省了成本。
Claims (7)
1.一种天线测试装置,该天线测试装置包括一网络分析仪,其特征在于,所述天线测试装置还包括一耦合天线,该耦合天线与所述网络分析仪通过一数据线连接;所述网络分析仪用于产生一入射波;所述耦合天线接收所述入射波并与待测天线发生感应作用,并反馈一反射波于所述网络分析仪中;所述网络分析仪根据所述入射波与所述反射波得到一驻波比,若该驻波比在一上限参考驻波比及一下限参考驻波比的范围内,则该待测天线合格。
2.一种天线测试方法,应用于一天线测试装置中,该方法包括以下步骤:
提供一网络分析仪及一耦合天线,其中该网络分析仪通过一数据线与该耦合天线连接;
设置待测天线于距该耦合天线一预设距离处;
控制该网络分析仪产生一入射波于该耦合天线,使得该耦合天线在该入射波的作用下与待测天线发生感应作用,并反馈一反射波于该网络分析仪中;
根据该入射波与反射波获得一驻波比并显示于所述网络分析仪;
比较该驻波比与一上限参考驻波比与一下限参考驻波比;
若该驻波比在该上限参考驻波比及该下限参考驻波比的范围内,则该待测天线合格,反之,不合格。
3.如权利要求2所述的天线测试方法,其特征在于:所述数据线为RFcable。
4.如权利要求2所述的天线测试方法,其特征在于:所述预设距离的范围为小于或等于2cm。
5.如权利要求2所述的天线测试方法,其特征在于:所述预设距离为1cm。
6.如权利要求2所述的天线测试方法,其特征在于:该天线测试方法还包括获取上限参考驻波比及下限参考驻波比步骤,其中,该获取上限参考驻波比及下限参考驻波比步骤还包括以下步骤:
设置一参考天线于所述耦合天线一预设距离处;
控制该网络分析仪产生一入射波于该耦合天线,使得该耦合天线在该入射波的作用下与参考天线发生感应作用,并反馈一反射波于该网络分析仪中;及
根据该入射波与反射波获得所述一上限参考驻波比及所述一下限参考驻波比并显示于所述网络分析仪中。
7.如权利要求2所述的天线测试方法,其特征在于:该网络分析仪产生入射波频率的范围为700-2600MHZ。
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