CN113866521B - 一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法。其中，该天线检测装置可以包括射频信号板。射频信号板上设置有一个或多个检测单元。该射频信号板用于与矢量网络分析仪连接，以及接收矢量网络分析仪发送的射频测试信号，并将射频测试信号传输给一个或多个检测单元。该一个或多个检测单元用于与待检测天线耦合，并将射频测试信号耦合馈电给待检测天线，以实现对待检测天线的检测。通过该装置，可以对更多数量的天线进行检测，提升对质量不合格的天线的拦截率，还可以避免探针磨损和维修带来的成本以及减少装备时间，还可以实现同时对多个天线进行检测。

Description

一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法

技术领域

本申请涉及天线技术领域，尤其涉及一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法。

背景技术

随着通信技术不断发展，越来越多的天线应用到通信过程中。可理解，天线质量直接影响通信质量。因此，检测天线质量有利于保证通信质量。

传统检测方案是一种利用20余根探针来进行检测的传导检测方法。利用该传统检测方案可以对与探针数量相同的天线进行检测。由于技术发展，目前需要对更多的天线进行检测，传统检测方案难以满足检测需求。也就是说，若天线数量过多，利用传统检测方案就无法进行全面检测，也就无法全面拦截质量不合格的天线。另外，若通过增加探针的方式来对更多天线进行检测，会增加检测成本。

因此，如何在尽量控制成本的情况下全面检测天线是目前亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法。其中，该天线检测装置可以包括射频信号板、一个或多个检测单元。该装置中的检测单元可以包括射频同轴连接器、m根连接线，以及n个耦合馈片。射频同轴连接器和m根连接线设置于射频信号板上。每一个耦合馈片的一端与一根连接线的一端相连，耦合馈片的另一端朝向射频信号板未焊接射频同轴连接器的一侧，与耦合馈片相连的连接线的另一端与射频同轴连接器相连。耦合馈片与连接线相连的一端位于射频信号板的边缘。天线检测系统可以包括上述天线检测装置和信号处理模块。其中，信号处理模块用于对待检测天线的回波响应进行检测和分析。通过上述天线检测装置和天线检测系统，可以对更多数量的天线进行检测，提升对质量不合格的天线的拦截率，还可以避免探针磨损和维修带来的成本以及减少装备时间，还可以实现同时对多个天线进行检测。

第一方面，本申请提供一种天线检测装置。所述装置可以包括：射频信号板；所述射频信号板上设置有一个或多个检测单元；所述射频信号板用于与矢量网络分析仪连接，以及接收所述矢量网络分析仪发送的射频测试信号，并将所述射频测试信号传输给所述一个或多个检测单元；所述一个或多个检测单元用于与待检测天线耦合，并将所述射频测试信号耦合馈电给所述待检测天线，以实现对所述待检测天线的检测。

可理解，本申请中所提及的射频测试信号也可以理解为射频信号或测试信号。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，至少一个所述检测单元包括射频同轴连接器、m根连接线，以及n个耦合馈片；所述射频同轴连接器焊接在所述射频信号板上；所述m根连接线设置于所述射频信号板上；每一个所述耦合馈片的一端与一根所述连接线的一端相连，所述耦合馈片的所述一端位于所述射频信号板的边缘，所述耦合馈片的另一端朝向所述射频信号板未焊接所述射频同轴连接器的一侧；与所述耦合馈片相连的所述连接线的另一端与所述射频同轴连接器相连；所述m为正整数；所述n为不大于m的正整数；所述射频同轴连接器用于传输所述射频测试信号和所述待检测天线的回波响应；所述连接线用于传输所述射频测试信号；所述耦合馈片用于与所述待检测天线进行耦合，并实现对所述待检测天线的阻抗信息的检测。

在本申请提供的方案中，天线检测装置可以包括一个或多个耦合馈片。该耦合馈片用于与待检测天线进行耦合。即耦合馈片上的射频信号传输至待检测天线。待检测天线可以产生回波响应。该回波响应可以包括待检测天线的阻抗信息。又因为待检测天线的回波响应与待检测天线的结构参数密切相关，所以检测人员可以通过分析待检测天线的回波响应来判断待检测天线的结构是否正常，从而实现对待检测天线的检测。

由于该天线检测装置可以包括多个耦合馈片，所以该天线检测装置拓展性强，可以用于对更多数量的天线进行检测，提升了对质量不合格的天线的拦截率。由于该天线检测装置中不包括探针，即无需通过探针进行天线检测，所以还可以避免探针磨损和维修带来的成本。由于通过该天线检测装置进行天线检测的方式为免接触方式，也就是说，无需使用探针接触天线，因此可以避免探针检测所需的装备时间。另外，该天线检测装置中的一个射频同轴连接器可以通过多根连接线与多个耦合馈片相连，因此，该天线检测装置还可以实现同时对多个天线进行检测。

在本申请的一些实施例中，天线检测装置包括的一个或多个耦合馈片中，每一个耦合馈片的一端可以与一根连接线相连，每一个耦合馈片的另一端朝向射频信号板未焊接射频同轴连接器的一侧。也就是说，若将射频信号板焊有射频同轴连接器的一面视为射频信号板的正面，相应的，将射频信号板未焊有射频同轴连接器的一面视为射频信号板的反面，那么，耦合馈片未与连接线相连的一端与射频信号板的反面的距离，比与射频信号板的正面的距离更近。需要说明的是，耦合馈片与连接线相连的一端位于射频信号板的边缘。

在本申请的一些实施例中，耦合馈片与射频信号板之间的角度可以调节。在进行天线设计时，技术人员可以相应的考虑检测过程中耦合馈片与天线的相对位置。也就是说，技术人员可以相应调整耦合馈片与射频信号板之间的角度，使得测试过程中耦合馈片与天线的相对位置处于最优相对位置，从而激励出优质波形，便于更准确地得出对待检测天线的检测结果。

当然，本申请中还可以通过人工或其他部件或装置来进行耦合馈片与射频信号板之间的角度调节，本申请对该角度调节的具体方式不做限定。

在本申请的一些实施例中，射频同轴连接器可以为SMA头。

在本申请的一些实施例中，射频同轴连接器与耦合馈片之间的连接线可以为微带线。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述n个耦合馈片中的至少一个耦合馈片垂直于所述射频信号板。

在本申请提供的方案中，耦合馈片可以垂直于射频信号板。对于一些待检测天线来说，耦合馈片垂直于射频信号板时，可以使得耦合量最佳，从而激励出最优波形，使得拦截不良品天线的准确率提高。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，在所述n大于1的情况下，所述n个耦合馈片的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

在本申请提供的方案中，天线检测装置包括的耦合馈片的数量可以大于1。在这种情况下，耦合馈片在射频信号板上的分布位置，与待检测天线的位置相匹配。这也就意味着，检测人员无需移动天线检测装置的位置即可完成对所有待检测天线的检测。尤其是在待检测天线的数量较多的情况下，利用该天线检测装置进行检测可以节省检测时间，提高了天线检测的效率。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述待检测天线为闭环缝隙结构的天线，所述耦合馈片与所述待检测天线进行耦合时，所述耦合馈片位于所述待检测天线的天线基模或高次模电场大点处。

在本申请提供的方案中，待检测天线可以为闭环缝隙结构的天线。在检测过程中，耦合馈片与待检测天线进行耦合时，耦合馈片可以位于待检测天线的天线基模或高次模电场大点处。在这种情况下，可以使得耦合效果最佳，从而激励出最优波形，使得拦截不良品天线的准确率提高。可理解，在设计天线检测装置中的耦合馈片的分布位置时，设计人员可以根据上述耦合需求来设置耦合馈片的位置，使得检测时耦合馈片可以位于待检测天线的天线基模或高次模电场大点处。

可理解，本申请所提及的闭环缝隙结构的天线也可以理解为闭环缝隙天线。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述待检测天线为开环缝隙结构的天线，所述耦合馈片与所述待检测天线进行耦合时，所述耦合馈片位于所述待检测天线的开环断口处的外侧。

在本申请提供的方案中，待检测天线可以为开环缝隙结构的天线。在检测过程中，耦合馈片与待检测天线进行耦合时，耦合馈片可以位于待检测天线的开环断口处的外侧。在这种情况下，可以使得耦合效果最佳，从而激励出最优波形，使得拦截不良品天线的准确率提高。可理解，在设计天线检测装置中的耦合馈片的分布位置时，设计人员可以根据上述耦合需求来设置耦合馈片的位置，使得检测时耦合馈片可以位于待检测天线的天线基模或高次模电场大点处。

可理解，本申请所提及的开环缝隙结构的天线也可以理解为开环缝隙天线。

第二方面，本申请实施例提供了一种天线检测系统。所述系统可以包括矢量网络分析仪，以及如第一方面及其可能的实现方式所描述的任一种天线检测装置；所述矢量网络分析仪与所述天线检测装置相连；所述矢量网络分析仪用于发送射频测试信号，并将所述射频测试信号传输至所述天线检测装置中的耦合馈片，使得所述射频测试信号被耦合馈电给待检测天线，并检测所述待检测天线产生的回波响应，从而实现对所述待检测天线的检测。

在本申请提供的方案中，天线检测系统可以包括如第一方面及其可能的实现方式所描述的任一种天线检测装置，以及信号处理模块。信号处理模块可以通过连接线来与天线检测装置相连。在利用天线检测系统对待检测天线进行检测的过程中，信号处理模块可以用于对天线检测装置所传输的待检测天线的回波响应进行分析。由于待检测天线的回波响应与待检测天线的结构参数密切相关，所以信号处理模块对待检测天线的回波响应分析之后，可以确定待检测天线的结构是否出现问题。即判断待检测天线是否为良品天线。

在本申请的一些实施例中，信号处理模块可以包括矢量网络分析仪。

该天线检测系统可以用于对更多数量的天线进行检测，提升了对质量不合格的天线的拦截率。由于该天线检测系统不包括探针，即无需通过探针进行天线检测，所以还可以避免探针磨损和维修带来的成本。由于通过该天线检测系统进行天线检测的方式为免接触方式，也就是说，无需使用探针接触待检测天线，因此可以避免探针检测所需的装备时间。另外，该天线检测系统所包括的天线检测装置中的一个射频同轴连接器可以通过多根连接线与多个耦合馈片相连，因此，该天线检测系统还可以实现同时对多个天线进行检测。

可理解，本申请中所提及的良品天线为质量合格的天线。相应的，不良品天线为质量不合格的天线。

在本申请的一些实施例中，信号处理模块可以包括矢量网络分析仪。矢量网络分析仪可以提供宽带发射信号（即射频信号），该信号可以经过连接线传输至耦合馈片，由于耦合馈片与待检测天线进行耦合，该信号可以耦合至待检测天线上，待检测天线产生回波响应，并将其传回至矢量网络分析仪，矢量网络分析仪可以显示待检测天线的S11曲线。该S11曲线为待检测天线的响应曲线，该S11曲线包括待检测天线的阻抗信息。检测人员通过对比该S11曲线和标准曲线，可以判断待检测天线是否为良品天线。可理解，标准曲线为与待检测天线有着相同结构且类型相同的良品天线。

在本申请的一些实施例中，信号处理模块与天线检测装置之间的连接线可以为同轴传输线。

结合第二方面，在第二方面的一种可能的实现方式中，所述系统还可以包括主控板和计算机；所述计算机与所述矢量网络分析仪相连；所述矢量网络分析仪通过所述主控板与所述天线检测装置相连；所述主控板用于控制所述射频测试信号的通断；所述计算机用于对所述待检测天线的回波响应进行分析。

在本申请提供的方案中，信号处理模块可以包括矢量网络分析仪、主控板和计算机。在检测过程中，矢量网络分析仪可以提供宽带发射信号（即射频信号），主控板处于导通状态，即该信号可以经过连接线传输至耦合馈片，由于耦合馈片与待检测天线进行耦合，该信号可以耦合至待检测天线上，待检测天线产生回波响应，并将其传回至矢量网络分析仪，矢量网络分析仪可以显示待检测天线的S11曲线。该S11曲线为待检测天线的响应曲线，该S11曲线包括待检测天线的阻抗信息。矢量网络分析仪将待检测天线的S11曲线发送给计算机，计算机内可以存储标准曲线，并对比分析该S11曲线和标准曲线，从而判断待检测天线是否为良品天线。可理解，标准曲线为与待检测天线有着相同结构且类型相同的良品天线。

可理解，计算机中可以通过执行波形约束算法来分析S11曲线的离散程度，从而实现不同程度的拦截。

结合第二方面，在第二方面的一种可能的实现方式中，所述矢量网络分析仪用于所述检测所述待检测天线产生的回波响应时，具体用于：在所述天线检测系统用于同时对a个待检测天线进行检测的情况下，所述矢量网络分析仪用于检测所述a个待检测天线的回波响应叠加后的回波响应；所述a为不大于n的正整数。

在本申请提供的方案中，天线检测系统可以用于同时对多个待检测天线进行检测。天线检测系统中，天线检测装置包括的射频同轴连接器可以通过多根连接线来连接多个耦合馈片，而这多个耦合馈片可以与多个待检测天线进行耦合，从而实现对多个待检测天线的检测。通过这种方式，可以同时对多个待检测天线进行检测，节省了天线检测的时间，提高了天线检测效率。

在检测过程中，矢量网络分析仪可以提供宽带发射信号（即射频信号），该信号可以经过连接线传输至多个耦合馈片，由于该多个耦合馈片分别与多个待检测天线进行耦合，该信号可以耦合至该多个待检测天线上，该多个待检测天线产生回波响应。该多个待检测天线产生的回波响应可以在射频同轴连接器输入端进行叠加，并传输至矢量网络分析仪，生成一个S11曲线。该S11曲线为该多个待检测天线的响应曲线。也就是说，该S11曲线包括该多个待检测天线的阻抗信息。可理解，矢量网络分析仪可以显示该多个待检测天线的S11曲线。

结合第二方面，在第二方面的一种可能的实现方式中，所述矢量网络分析仪用于所述检测所述待检测天线产生的回波响应时，具体用于：在所述天线检测装置包括的射频信号板上设置有多个检测单元的情况下，所述矢量网络分析仪用于依次检测与所述多个检测单元中的耦合馈片进行耦合的待检测天线的回波响应。

在本申请提供的方案中，天线检测系统中的天线检测装置可以包括多个检测单元。在利用该天线检测系统对待检测天线进行检测的过程中，天线检测系统可以依次对该多个检测单元中的耦合馈片进行耦合的待检测天线进行检测。

第三方面，本申请提供了一种天线检测方法。该方法可以应用于上述第二方面以及第二方面的任一种可能的实现方式中的任一种天线检测系统。该方法可以包括：将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置，以使得所述天线检测装置中的耦合馈片上的射频测试信号耦合至所述待检测天线上，且使得所述待检测天线的回波响应传输至所述天线检测系统中的矢量网络分析仪；所述天线检测装置与所述矢量网络分析仪相连。

在本申请提供的方案中，天线检测系统可以用于对待检测天线进行检测。该天线检测系统可以用于对更多数量的天线进行检测，提升了对质量不合格的天线的拦截率。由于该天线检测系统不包括探针，即无需通过探针进行天线检测，所以还可以避免探针磨损和维修带来的成本。由于通过该天线检测系统进行天线检测的方式为免接触方式，也就是说，无需使用探针接触待检测天线，因此可以避免探针检测所需的装备时间。另外，该天线检测系统所包括的天线检测装置中的一个射频同轴连接器可以通过多根连接线与多个耦合馈片相连，因此，该天线检测系统还可以实现同时对多个天线进行检测。

在本申请的一些实施例中，待检测天线可以包括但不限于开环缝隙结构的天线（即开环缝隙天线）和闭环缝隙结构的天线（即闭环缝隙天线）。可理解，开环缝隙结构的天线具有多个天线枝节。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，所述将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置之后，所述方法还包括：将所述待检测天线置于所述天线检测装置包括的所述射频信号板未焊接有射频同轴连接器一面上。

在本申请提供的方案中，在进行检测的过程中，待检测天线可以置于天线检测装置中的射频信号板未焊接有射频同轴连接器一面上。若待检测天线与射频同轴连接器位于射频信号板的同一面，在对待检测天线进行检测的过程中，射频同轴连接器会对待检测天线产生影响，即影响待检测天线与耦合馈片之间的耦合，从而使得获取的S11曲线所包括的阻抗信息并不全为待检测天线自身的阻抗信息。然而，若待检测天线与射频同轴连接器位于射频信号板的不同面，可以避免射频同轴连接器对待检测天线与耦合馈片之间的耦合产生影响，使得获取的待检测天线的S11曲线所包括的阻抗信息更接近于待检测天线自身的阻抗信息，提高了天线检测的准确性。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，在所述信号处理模块包括矢量网络分析仪的情况下，所述方法还包括：通过所述矢量网络分析仪获取第一曲线；所述第一曲线为与所述待检测天线结构相同且类型相同的良品天线；通过所述矢量网络分析仪获取第二曲线；所述第二曲线为包含所述待检测天线的阻抗信息的曲线；对所述第一曲线和所述第二曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅以及频带宽度进行分析，并判断所述待检测天线的质量是否合格。

在本申请提供的方案中，检测人员可以通过对比分析待检测天线的S11曲线与标准曲线，来判断待检测天线是否为良品天线。可理解，若天线结构出现问题（即天线为不良品），会导致天线的阻抗发生变化，并相应反映在该天线的S11曲线中。并且，天线结构出现的问题不同时，该天线的S11曲线的相应频段的变化不同。因此，检测人员可以通过具体分析待检测天线的S11曲线和标准曲线在各个频段上的区别，来判断天线是否为良品。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以具体对S11曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅以及频带宽度进行分析。具体分析过程会在后面的实施例中说明，在此不再展开说明。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，在所述天线检测系统用于同时对a个待检测天线进行检测的情况下，所述方法还包括：通过所述矢量网络分析仪获取第三曲线；所述第三曲线为与所述a个待检测天线结构相同、类型相同且位置相同的良品天线；通过所述矢量网络分析仪获取第四曲线；所述第四曲线为包括所述a个待检测天线的阻抗信息的曲线；对所述第三曲线和所述第四曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅以及频带宽度进行分析，并判断所述a个待检测天线中是否存在质量不合格的天线。

在本申请提供的方案中，天线检测系统可以用于同时对多个待检测天线进行检测。天线检测系统中，天线检测装置包括的射频同轴连接器可以通过多根连接线来连接多个耦合馈片，而这多个耦合馈片可以与多个待检测天线进行耦合，从而实现对多个待检测天线的检测。通过这种方式，可以同时对多个待检测天线进行检测，节省了天线检测的时间，提高了天线检测效率。

具体地，在检测过程中，矢量网络分析仪可以提供宽带发射信号（即射频信号），该信号可以经过连接线传输至多个耦合馈片，由于该多个耦合馈片分别与多个待检测天线进行耦合，该信号可以耦合至该多个待检测天线上，该多个待检测天线产生回波响应。该多个待检测天线产生的回波响应可以在射频同轴连接器输入端进行叠加，生成S11曲线。该S11曲线包括该多个待检测天线的阻抗信息。检测人员可以通过对比分析该多个待检测天线的S11曲线与标准曲线，来判断待检测天线是否为良品天线。可理解，这里所指的标准曲线指的是与该多个待检测天线结构相同、类型相同且位置相同的多个良品天线的S11曲线。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以具体对S11曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅以及频带宽度进行分析。具体分析过程会在后面的实施例中说明，在此不再展开说明。

在本申请的一些实施例中，a为不大于n的正整数。即待检测天线的数量不大于一个检测单元所包括的耦合馈片的数量。

附图说明

图1A为本申请实施例提供的一种天线检测架构的示意图；

图1B为本申请实施例提供的一种天线检测系统的示意图；

图2为本申请实施例提供的一种天线检测装置的示意图；

图3为本申请实施例提供的又一种天线检测装置的示意图；

图4为本申请实施例提供的一种天线检测方法的流程图；

图5为本申请实施例提供的一种待检测天线的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种天线检测方法的原理图；

图7为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图8为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图9为本申请实施例提供的一种S11曲线图；

图10为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图11A为本申请实施例提供的一种良品天线的立体图；

图11B为本申请实施例提供的一种良品天线的平面图；

图12为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图13A为本申请实施例提供的一种待检测天线的立体示意图；

图13B为本申请实施例提供的一种待检测天线的平面示意图；

图14为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图15A为本申请实施例提供的又一种待检测天线的立体示意图；

图15B为本申请实施例提供的又一种待检测天线的平面示意图；

图16为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图17A为本申请实施例提供的又一种待检测天线的立体示意图；

图17B为本申请实施例提供的又一种待检测天线的平面示意图；

图18为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图19为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图20A为本申请实施例提供的一种USB接口的立体图；

图20B为本申请实施例提供的一种USB接口的平面图；

图21A为本申请实施例提供的又一种USB接口的立体图；

图21B为本申请实施例提供的又一种USB接口的平面图；

图22为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图23为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图24为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图25为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图26为本申请实施例提供的又一种S11曲线图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。其中，在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“/”表示或的意思，例如，A/B可以表示A或B；文本中的“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况，另外，在本申请实施例的描述中，“多个”是指两个或多于两个。

应当理解，本申请的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请提供了一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法。其中，该天线检测装置可以包括射频信号板101、一个或多个检测单元102。检测单元102可以包括射频同轴连接器1021、m根连接线1022，以及n个耦合馈片1023。其中，一根连接线1022的一端可以连接一个耦合馈片1023，该连接线1022的另一端可以连接射频同轴连接器1021。可理解，射频同轴连接器1021可以连接多根连接线1022，再通过该多根连接线1022分别与多个耦合馈片1023相连。天线检测系统可以包括天线检测装置和信号处理模块。通过上述天线检测装置和天线检测系统，可以对更多数量的天线进行检测，提升对质量不合格的天线的拦截率，还可以避免探针磨损和维修带来的成本。由于通过上述天线检测装置和天线检测系统进行天线检测的方式为免接触方式，无需使用探针接触天线，可以避免探针检测所需的装备时间。另外，上述天线检测装置和天线检测系统中可以包括更多的耦合馈片，拓展性强，还可以实现同时对多个天线进行检测。

如图1A所示，本申请提供了一种天线检测系统架构。该天线检测系统架构可以包括信号处理模块、天线检测装置和待检测天线。其中，天线检测装置包括射频信号板。射频信号板上可以设置有一个或多个检测单元。该一个或多个检测单元中可以包括耦合馈片。可理解，耦合馈片可以与待检测天线进行耦合，并将待检测天线产生的回波响应传输至信号处理模块，从而实现对待检测天线的检测。信号处理模块用于对待检测天线产生的回波响应进行检测。在本申请的一些实施例中，信号处理模块可以包括矢量网络分析仪。矢量网络分析仪可以对待检测天线产生的回波响应进行检测，并获取待检测天线的阻抗信息。

可理解，后文会对信号处理模块和天线检测装置进行具体介绍，在此不对其展开说明。

请参阅图1B，图1B为本申请实施例提供的一种天线检测系统200的示意图。天线检测系统200可以包括信号处理模块和天线检测装置100。

在本申请的一些实施例中，信号处理模块可以包括计算机201、矢量网络分析仪202和主控板203。计算机201和矢量网络分析仪202之间可以通过连接线204相连。矢量网络分析仪202与主控板203之间可以通过连接线205相连。可理解，主控板203用于控制射频信号的通断。矢量网络分析仪202用于分析射频信号并得出射频信号的S11曲线。计算机201用于对通过矢量网络分析仪202所获得的S11曲线进行分析处理，实现对不合格的天线的拦截。可理解，S11曲线可以用于表征天线的回波损耗。

信号处理模块与天线检测装置100之间可以通过x根连接线206相连。x为正整数。具体地，信号处理模块中的主控板203可以通过x根连接线206分别连接天线检测装置100中的一个或多个检测单元102中的射频同轴连接器1021。

可理解，连接线206可以用于信号传输。在本申请的一些实施例中，连接线206可以为同轴传输线。

可理解，主控板203可以用于控制天线检测装置100中的一个或多个检测单元102的连通状态。在本申请的一些实施例中，主控板203同时只能连通一个检测单元102。检测人员可以通过主控板203选择需要连通的检测单元102。

在本申请的一些实施例中，天线检测系统200可以包括矢量网络分析仪，但不包括计算机201和主控板203。在这种情况下，检测人员可以通过矢量网络分析仪所得的待检测天线的阻抗信息，来判断该待检测天线是否为良品天线。

请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种天线检测装置100的示意图。天线检测装置可以包括射频信号板101、一个或多个检测单元102。

射频信号板101上可以传输射频信号。在本申请的一些实施例中，射频信号板101可以为印制电路板（Printed Circuit Board，PCB）。例如，射频信号板101可以为FR4基材的PCB板。可理解，FR4是一种耐燃材料等级的代号。当然，射频信号板101还可以为其他类型的电路板，本申请对此不作限制。例如，陶瓷电路板，氧化铝陶瓷电路板，氮化铝陶瓷电路板，线路板，铝基板，高频板，厚铜板，阻抗板，超薄线路板，超薄电路板，印刷（铜刻蚀技术）电路板等。可理解，射频信号板101还可以包括其他元器件和其他连接线，本申请对此不作限制。

检测单元102可以包括射频同轴连接器1021、m根连接线1022，以及n个耦合馈片1023。其中，一根连接线1022的一端可以连接一个耦合馈片1023，该连接线1022的另一端可以连接射频同轴连接器1021。可理解，射频同轴连接器1021可以连接多根连接线1022，再通过该多根连接线1022分别与多个耦合馈片1023相连。

可理解，m为正整数。n为不大于m的正整数。

需要注意的是，在检测单元102包括的n个耦合馈片1023中，每一个耦合馈片1023的一端可以与一根连接线1022相连，每一个耦合馈片1023的另一端朝向射频信号板未焊接射频同轴连接器的一侧。可理解，耦合馈片1023与连接线1022相连的一端位于射频信号板的边缘。

在本申请的一些实施例中，检测单元102所包括的n个耦合馈片1023中的至少一个耦合馈片垂直于射频信号板。

在本申请的一些实施例中，耦合馈片1023与射频信号板之间的角度可以调节。例如，天线检测装置还可以包括角度调节部件，该角度调节部件可以用于调节耦合馈片1023与射频信号板之间的角度。当然，本申请中还可以通过人工或其他部件或装置来进行上述角度调节，本申请对此不作限制。

可理解，射频同轴连接器1021可以应用于微波设备和数字通信设备的射频回路中连接射频同轴电缆或微带线。在本申请的一些实施例中，射频同轴连接器1021可以为SMA头。SMA接头是一种传输线缆接头。其全称为SubMiniature version A。

可理解，连接线1022用于信号传输和电流导通。在本申请的一些实施例中，连接线1022可以为微带线。

可理解，耦合馈片1023用于与待检测天线进行耦合。在本申请的一些实施例中，耦合馈片1023可以为与待检测天线具有一定耦合面积的金属片。当然，耦合馈片1023还可以为由其他能辐射能量的材料制成的馈片，本申请对此不作限制。

需要说明的是，一个或多个检测单元102可以置于射频信号板101上。在本申请的一些实施例中，射频同轴连接器1021可以焊接在射频信号板101上。m根连接线1022可以附在射频信号板101的表面。

在本申请的一些实施例中，如图3所示，检测单元可以包括射频同轴连接器1021、2根连接线1022和2个耦合馈片1023。

需要说明的是，图1B所示的天线检测系统200和图2所示的天线检测装置100，都可以用于对待检测天线进行检测。在检测天线的过程中，检测人员可以通过控制天线检测装置100中的耦合馈片1023与待检测天线的耦合间距、耦合面积以及相对位置来控制二者（耦合馈片1023与待检测天线）的耦合量，使得免阻抗调谐地激励出S11曲线。

由于不同结构在不同频点的阻抗响应是不同的，具体响应表现与其结构参数密切相关。可理解，待检测天线的响应曲线（即S11曲线）可以包括该待检测天线的具体结构的阻抗信息。一旦待检测天线中的一个天线结构不良，会导致阻抗发生变化，相应反映在该待检测天线的S11曲线中。也就是说，待检测天线的结构参数可以体现在该S11曲线的曲线信息中。

可理解，检测人员可以通过分析S11曲线，来判断待检测天线是否合格。这种方式利用基模实现低频检测，丰富了高次模覆盖，实现了多模式检测。

可理解，检测过程中，射频信号传输至耦合馈片1023，并经过耦合馈片1023耦合到待检测天线上，待检测天线产生的回波响应在射频同轴连接器1021生成S11曲线。该S11曲线体现的是待检测天线的结构参数信息。

而在一种实现方式中，检测人员设置检测天线来与待检测天线进行耦合，并分析产生的S11曲线，以此来拦截不合格的待检测天线。这种方式中，产生的S11曲线不仅体现待检测天线的结构参数信息，还体现检测天线的结构参数信息。

也就是说，耦合馈片1023与待检测天线进行耦合所得的S11曲线更接近于待检测天线自身的S11曲线。分析该S11曲线所得的结果更能体现待检测天线的结构。这种方式不仅降低了分析S11曲线时的复杂度，还提供了更精确的判断结果。即通过这种方式能更准确地实现对不合格天线的拦截。

可理解，本申请所提及的待检测天线可以为金属材料制成的金属结构件。具体地，待检测天线可以为一种涉及边框天线或MDA天线的金属结构件。其中，MDA是一种天线制造工艺。例如，通过计算机数字控制雕刻技术等在金属边框四周做出金属天线结构。

在本申请的一些实施例中，待检测天线可以包括但不限于开环缝隙天线和闭环缝隙天线。

根据上述内容，射频同轴连接器1021可以通过连接线1022与多个耦合馈片1023相连。也就意味着，检测人员可以同时对多个待检测天线进行检测，节省了天线检测的时间，提高了天线检测的效率。

另外，在利用天线检测系统200对待检测天线进行检测的过程中，可以通过主控板203来控制不同射频通路的通断，从而使得不同检测单元102中的耦合馈片1023与相应待检测天线进行耦合，实现对分布在不同位置的待检测天线的检测。

下面结合图4介绍本申请实施例提供的一种天线检测方法。该方法可以应用于图1A所示的天线检测架构，图1B所示的天线检测系统200，以及图2、图3所示的天线检测装置100。

S401：检测人员将待检测天线移向天线检测系统中的天线检测装置，使得待检测天线与天线检测装置中射频信号板的未焊接元器件的一面相接触。

在本申请的一些实施例中，天线检测装置是固定且水平放置的，其未焊接元器件的一面朝上。检测人员可以将待检测天线置于天线检测装置上。待检测天线接触天线检测装置未焊接元器件的一面。可理解，这里所提及的元器件包括射频同轴连接器、连接线等。

S402：检测人员控制主控板来导通与待检测天线相耦合的耦合馈片所在的射频通路。

可理解，主控板可以用于控制天线检测装置中的不同检测单元中的射频信号的通断。可理解，耦合馈片的位置与待检测天线的位置相匹配。

S403：检测人员通过矢量网络分析仪发送检测信号至检测天线，以获取待检测天线的阻抗信息。

可理解，检测信号可以为射频信号。射频信号通过连接线传输至耦合馈片，经耦合馈片耦合至待检测天线上，待检测天线产生的回波响应再传回至矢量网络分析仪，生成相应的S11曲线。根据上文，S11曲线中包含有待检测天线的结构参数信息。检测人员可以通过对S11曲线进行分析从而判断待检测天线的质量是否合格。

在本申请的一些实施例中，天线检测方法可用于检测终端设备中的边框天线或MDA天线。可理解，这里所提及的终端设备可以包括但不限于手机、平板电脑、个人电脑等。下面以手机中的边框天线为例对本申请提供的天线检测方法进行说明。

如图5所示，手机300包括边框301。边框301可以包括天线3011和天线3012。其中，天线3011为开环缝隙天线，天线3012为闭环缝隙天线。

可理解，边框301可以包括更多天线，本申请以天线3011和天线3012作为示例进行说明，而对边框301所包括的天线数量和种类不作限制。

在对边框301所包括的天线进行检测的过程中，如图6所示，检测人员可以将边框301移向天线检测装置100。如图7所示，检测人员可以将边框301置于天线检测装置100上，天线检测装置100的未焊接元器件的一面与边框301相接触。可理解，天线检测装置100中的耦合馈片1023的位置与边框301所包括的天线相匹配，使得后续对边框301中的多个天线进行检测时无需挪动边框301或天线检测装置100。

可理解，如图8所示，天线检测装置100还可以通过连接线206来与信号处理模块相连。具体地，天线检测装置100中的射频同轴连接器1021可以通过连接线206来连接主控板203，主控板203通过连接线205来连接矢量网络分析仪202，矢量网络分析仪202再通过连接线204来连接计算机201。

矢量网络分析仪202可以发送射频测试信号，若主控板导通，该射频测试信号可以传输至耦合馈片1023，并相应的耦合至天线3011或天线3012上，天线3011或天线3012产生的回波响应传输回矢量网络分析仪202，矢量网络分析仪202可以显示相应的S11曲线。该S11曲线可以包括天线3011或天线3012的阻抗信息。

需要说明的是，在进行检测之前，检测人员可以对质量合格的天线进行检测，并将对应生成的S11曲线作为后续分析时的标准曲线。也就是说，后续过程中，检测人员对相同结构、相同类型的待检测天线进行检测时，可以将待检测天线对应的S11曲线与标准曲线进行比较。具体地，检测人员可以通过分析待检测天线对应的S11曲线与标准曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅，以及频带宽度，来判断待检测天线的质量是否合格。

下面根据图9对待检测天线对应的S11曲线与标准曲线的对比分析方式进行简要说明。

如图9所示，横坐标表示的是频率，单位是吉赫兹（GHz）。纵坐标表示的是S11参数，单位为分贝（dB）。曲线1为标准曲线。也就是说，曲线1为检测人员对与待检测天线结构相同、类型相同的良品天线（质量合格的天线）进行检测时，所获取的S11曲线。曲线2为待检测天线的S11曲线。

检测人员可以分别确定曲线1和曲线2的频点数量，并判断二者的频点数量是否一致。如图9所示，曲线1的频点为A1、A2和A3，曲线2的频点为B1和B2。曲线1的频点数量为3，曲线2的频点数量为2。曲线2的频点数量比曲线1的频点数量少，可判断曲线2中谐振缺失，从而判断待检测天线的结构可能出现了问题。需要说明的是，频点数量可以理解为曲线的波谷数量，或者，极小值数量。

检测人员可以根据曲线1和曲线2的频点来判断频率偏移量。如图9所示，检测人员可以通过频点A1和频点B1的坐标来确定频率偏移量。在本申请的一些实施例中，检测人员可以将确定的频率偏移量与第一预设阈值进行比较，从而判断待检测天线是否为不良品天线。

检测人员可以根据曲线1和曲线2的谐振深浅来判断待检测天线是否为不良品天线。在本申请中，谐振深浅可以表示为谐振的波峰到波谷的纵坐标之差。如图9所示，曲线1的点C1与点A1的纵坐标之差为频点A1所对应的谐振的深度。在本申请的一些实施例中，检测人员可以将确定的谐振深度与第二预设阈值进行比较，从而判断待检测天线是否为不良品天线。

检测人员可以根据曲线1和曲线2的频带宽度来判断待检测天线是否为不良品天线。在本申请中，频带宽度可以根据波峰和波谷的坐标来确定。如图9所示，曲线1的点C1与点A1的横坐标之差的两倍为频点A1所对应的谐振的频带宽度。在本申请的一些实施例中，检测人员可以将确定的频带宽度与第三预设阈值进行比较，从而判断待检测天线是否为不良品天线。

可理解，第一预设阈值、第二预设阈值和第三预设阈值可以根据实际需求进行设置，本申请对此不作限制。

可理解，检测人员可以根据上述4种方式中的一种或几种来对待检测天线对应的S11曲线与标准曲线进行分析。当然，检测人员还可以根据其他方式来对待检测天线对应的S11曲线与标准曲线进行分析，本申请对此不作限制。

需要说明的是，上述分析过程还可以由天线检测装置200中的计算机201或其他装置完成，本申请对此不作限制。在本申请的一些实施例中，计算机201可以直接给出检测结果。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以对开环缝隙类型的天线进行检测。如图10所示，检测人员可以对天线3011进行检测。天线3011为开环缝隙结构。天线3011由两个天线枝节（天线枝节30111和天线枝节30112）组成。可理解，天线30111为短枝节，天线30112为长枝节。耦合馈片1023处于天线枝节30111和天线30112缝隙的外侧。矢量网络分析仪发出的射频信号可以传输至耦合馈片1023，耦合馈片1023与天线3011进行耦合，将射频信号耦合至天线3011上，天线3011产生回波响应并传回至矢量网络分析仪，生成S11曲线。该S11曲线为包含天线3011的阻抗信息的曲线。

需要说明的是，为了更清楚表现耦合馈片1023和天线3011的耦合情况，图10所示的示意图中并未完全显示天线检测装置100。

可理解，在检测之前，检测人员可以对与天线3011结构相同、类型相同的良品天线进行检测，由此获取的S11曲线作为标准曲线。可理解，与天线3011结构相同、类型相同的良品天线可参考图11A和图11B。其中，图11A展示出了本申请实施例提供的一种良品天线的部分立体结构。图11B展示出了本申请实施例提供的一种良品天线的部分平面结构。

示例性的，如图12所示，曲线3为对天线3011进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图12可得，标准曲线包含三个谐振，分别为2.7GHz、4.14 GHz和6.42 GHz，这三种谐振对应了天线3011的三种电流分布方式。曲线3中2.7 GHz对应的谐振缺失，即低频缺失，而2.7 GHz为长枝节工作谐振，该谐振缺失说明天线3011的长枝节出现问题，即天线枝节30112出现了问题。检测人员可以对天线枝节30112进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线（如图11A和图11B所示），天线枝节30112中部断裂（如图13A和图13B所示）。

示例性的，如图14所示，曲线4为对天线3011进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图14可得，曲线4相较于标准曲线发生频率偏移，且曲线4与标准曲线的谐振深浅不同，这说明天线3011出现了问题。检测人员可以对天线3011进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线（如图11A和图11B所示），天线枝节30112回地点连铝（如图15A和图15B所示）。

示例性的，如图16所示，曲线5为对天线3011进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图16可得，相较于标准曲线，曲线5的谐振缺失，这说明天线3011出现了问题。检测人员可以对天线3011进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线（如图11A和图11B所示），天线枝节30112回地点铣断（如图17A和图17B所示）。

可理解，上述示例中对S11曲线的分析仅为简要分析，在具体检测过程中，可按照前述实施例中给出的分析方法进行分析。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以对闭环缝隙类型的天线进行检测。如图18所示，检测人员可以对天线3012进行检测。天线3012为闭环缝隙结构。耦合馈片1023处于天线3012的天线基模或高次模电场大点处。矢量网络分析仪发出的射频信号可以传输至耦合馈片1023，耦合馈片1023与天线3012进行耦合，将射频信号耦合至天线3012上，天线3012产生回波响应并传回至矢量网络分析仪，生成S11曲线。该S11曲线为包含天线3012的阻抗信息的曲线。

需要说明的是，为了更清楚表现耦合馈片1023和天线3012的耦合情况，图18所示的示意图中并未完全显示天线检测装置100。

可理解，在检测之前，检测人员可以对与天线3012结构相同、类型相同的良品天线进行检测，由此获取的S11曲线作为标准曲线。

可理解，边框天线（例如，边框301）可以包括出音孔或通用串行总线（UniversalSerial Bus，USB）接口处。出音孔或USB接口产生裂纹也表明边框天线质量存在问题。在本申请的一些实施例中，检测人员可以基于上述通过对开环缝隙或闭环缝隙类型的天线进行检测的方式来判断出音孔或USB接口处是否出现了问题。

示例性的，如图19所示，曲线6为对USB接口处进行检测而得到的S11曲线，另一曲线为对应的标准曲线。由图19可得，曲线6与标准曲线存在频率偏移，且二者的谐振深浅存在较大区别，这说明USB接口处出现了问题。检测人员可以对边框天线进行进一步检测，发现相较于质量合格的USB接口（如图20A和图20B所示），所检测的USB接口处存在微裂纹（如图21A和图21B所示）。

可理解，上述示例中对S11曲线的分析仅为简要分析，在具体检测过程中，可按照前述实施例中给出的分析方法进行分析。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以同时对多个天线进行检测。可理解，一个射频同轴连接器1021可以通过多根连接线1022分别与多个耦合馈片1023相连。例如，如图2所示，射频同轴连接器1021通过2根连接线1022分别与2个耦合馈片1023相连。在这种情况下，检测人员可以通过多个耦合馈片1023同时与多个待检测天线进行耦合，从而完成对该多个待检测天线的检测。

在本申请的一些实施例中，边框301可以包括天线3013和天线3014。其中，天线3013为开环缝隙天线，天线3013由一个长枝节天线和一个短枝节天线构成。天线3014为闭环缝隙天线。如图22所示，检测人员可以利用天线检测装置100对天线3013和天线3014同时进行检测。天线检测装置100中的一个耦合馈片1023位于天线3013的长枝节天线和短枝节天线的缝隙外侧。天线检测装置100中的又一个耦合馈片1023位于天线3014的天线基模或高次模电场大点处。可理解，上述内容中提及的2个耦合馈片1023通过2条连接线1022连接至同一个射频同轴连接器1021。在对天线3013和天线3014进行检测的过程中，矢量网络分析仪发出的射频信号可以传输至这2个耦合馈片1023，然后耦合至天线3013和天线3014上。天线3013和天线3014可以产生回波响应。这两个天线产生的回波响应可以在射频同轴连接器1021输入端叠加，然后传输至矢量网络分析仪，从而获取S11曲线。可理解，该S11曲线包括天线3013和天线3014的阻抗信息。

可理解，在进行检测之前，检测人员可以对与天线3013及天线3014的结构相同、类型相同的良品天线进行检测，由此获取的S11曲线作为标准曲线。

示例性的，如图23所示，曲线7为同时对天线3013和天线3014进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图23可得，曲线7与标准曲线的频点数量不同，且存在一定频率偏移量。另外，曲线7和标准曲线在6GHz附近的谐振深浅存在较大区别。这表明天线3013和天线3014出现了问题。检测人员可以对天线3013和天线3014进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线3013和天线3014，天线3014一侧的回地点金属被铣断。

示例性的，如图24所示，曲线8为同时对天线3013和天线3014进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图24可得，曲线8与标准曲线存在较大程度的频率偏移量，并且谐振深浅存在较大区别。这表明天线3013和天线3014出现了问题。检测人员可以对天线3013和天线3014进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线3013和天线3014，天线3013一侧的回地点金属被铣断。

示例性的，如图25所示，曲线9为同时对天线3013和天线3014进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图25可得，曲线9与标准曲线存在一定频率偏移量，且二者谐振深浅有所区别。这表明天线3013和天线3014出现了问题。检测人员可以对天线3013和天线3014进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线3013和天线3014，天线3014一侧的回地点连铝。

示例性的，如图26所示，曲线10为同时对天线3013和天线3014进行检测而得到的S11曲线，另一条曲线为对应的标准曲线。由图26可得，曲线10与标准曲线的频点数量不同，且存在一定频率偏移量。另外，曲线10和标准曲线在6GHz附近的谐振深浅存在较大区别。这表明天线3013和天线3014出现了问题。检测人员可以对天线3013和天线3014进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线3013和天线3014，天线3013一侧的回地点连铝。

可理解，上述示例中对S11曲线的分析仅为简要分析，在具体检测过程中，可按照前述实施例中给出的分析方法进行分析。

需要说明的是，不仅可以由检测人员通过上述装置来检测天线，也可以由自动化机器以及其他具有实现上述检测方法功能的设备通过上述装置来检测天线，本申请对此不作限制。

以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (13)

1.一种天线检测装置，其特征在于，所述装置包括射频信号板；所述射频信号板上设置有一个或多个检测单元；所述射频信号板用于与矢量网络分析仪连接，以及接收所述矢量网络分析仪发送的射频测试信号，并将所述射频测试信号传输给所述一个或多个检测单元；

所述一个或多个检测单元用于与待检测天线耦合，并将所述射频测试信号耦合馈电给所述待检测天线，以实现对所述待检测天线的检测；

其中，至少一个所述检测单元包括射频同轴连接器、m根连接线，以及n个耦合馈片；所述射频同轴连接器焊接在所述射频信号板上；所述m根连接线设置于所述射频信号板上；每一个所述耦合馈片的一端与一根所述连接线的一端相连，所述耦合馈片的所述一端位于所述射频信号板的边缘，所述耦合馈片的另一端朝向所述射频信号板未焊接所述射频同轴连接器的一侧；与所述耦合馈片相连的所述连接线的另一端与所述射频同轴连接器相连；所述m为正整数；所述n为不大于m的正整数；

所述射频同轴连接器用于传输所述射频测试信号和所述待检测天线的回波响应；所述连接线用于传输所述射频测试信号；

所述耦合馈片用于与所述待检测天线进行耦合，并实现对所述待检测天线的阻抗信息的检测；

所述装置还包括角度调节部件；所述角度调节部件用于调节所述耦合馈片和所述射频信号板之间的角度。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述n个耦合馈片中的至少一个耦合馈片垂直于所述射频信号板。

3.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，在所述n大于1的情况下，所述n个耦合馈片的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述待检测天线为闭环缝隙结构的天线，所述耦合馈片与所述待检测天线进行耦合时，所述耦合馈片位于所述待检测天线的天线基模或高次模电场大点处。

5.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述待检测天线为开环缝隙结构的天线，所述耦合馈片与所述待检测天线进行耦合时，所述耦合馈片位于所述待检测天线的开环断口处的外侧。

6.一种天线检测系统，其特征在于，所述系统包括矢量网络分析仪，以及如权利要求1-5任一项所述的天线检测装置；所述矢量网络分析仪与所述天线检测装置相连；所述矢量网络分析仪用于发送射频测试信号，并将所述射频测试信号传输至所述天线检测装置中的耦合馈片，使得所述射频测试信号被耦合馈电给待检测天线，并检测所述待检测天线产生的回波响应，从而实现对所述待检测天线的检测。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括主控板和计算机；所述计算机与所述矢量网络分析仪相连；所述矢量网络分析仪通过所述主控板与所述天线检测装置相连；所述主控板用于控制所述射频测试信号的通断；所述计算机用于对所述待检测天线的回波响应进行分析。

8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述矢量网络分析仪用于所述检测所述待检测天线产生的回波响应时，具体用于：

在所述天线检测系统用于同时对a个待检测天线进行检测的情况下，所述矢量网络分析仪用于检测所述a个待检测天线的回波响应叠加后的回波响应；所述a为不大于n的正整数。

9.如权利要求6-8任一项所述的系统，其特征在于，所述矢量网络分析仪用于所述检测所述待检测天线产生的回波响应时，具体用于：

在所述天线检测装置包括的射频信号板上设置有多个检测单元的情况下，所述矢量网络分析仪用于依次检测与所述多个检测单元中的耦合馈片进行耦合的待检测天线的回波响应。

10.一种天线检测方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求6-9任一项所述的天线检测系统；所述方法包括：

将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置，以使得所述天线检测装置中的耦合馈片上的射频测试信号耦合至所述待检测天线上，且使得所述待检测天线的回波响应传输至所述天线检测系统中的矢量网络分析仪；所述天线检测装置与所述矢量网络分析仪相连。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置之后，所述方法还包括：

将所述待检测天线置于所述天线检测装置包括的射频信号板未焊接有射频同轴连接器一面上。

12.如权利要求10或11所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述矢量网络分析仪获取第一曲线；所述第一曲线为与所述待检测天线结构相同且类型相同的良品天线；

通过所述矢量网络分析仪获取第二曲线；所述第二曲线为包含所述待检测天线的阻抗信息的曲线；

对所述第一曲线和所述第二曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅以及频带宽度进行分析，并判断所述待检测天线的质量是否合格。

13.如权利要求10或11所述的方法，其特征在于，在所述天线检测系统用于同时对a个待检测天线进行检测的情况下，所述方法还包括：

通过所述矢量网络分析仪获取第三曲线；所述第三曲线为与所述a个待检测天线结构相同、类型相同且位置相同的良品天线；

通过所述矢量网络分析仪获取第四曲线；所述第四曲线为包括所述a个待检测天线的阻抗信息的曲线；

对所述第三曲线和所述第四曲线的频点数量、频率偏移量、谐振深浅以及频带宽度进行分析，并判断所述a个待检测天线中是否存在质量不合格的天线。

Images